專利名稱：用于診斷阻抗并具有精確的電流源和精確的電壓電平漂移的系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及氣囊安全系統(tǒng)，具體地說，涉及一種診斷點火氣囊引爆器所用電容器的電路。
背景技術(shù)：
氣囊在機動車中是很平常的，用于在碰撞中提高乘客的安全性。事實上，在許多(即使不是大多數(shù))新型的機動車中，氣囊現(xiàn)在已是標準的設(shè)備。氣囊通常放在要害部位，如機動車的方向盤處，一旦發(fā)生事故，用以減小對乘員的傷害。一旦發(fā)生事故，氣囊系統(tǒng)必須可靠地觸發(fā)。為此，至少提供一個存儲電容器，用于存儲為點火氣囊引爆器所需的能量。為了保證這些安全系統(tǒng)的可靠動作，例如在啟動機動車之前或者在預(yù)定的時間間隔轉(zhuǎn)動點火鑰匙時，要對這個存儲電容器進行診斷。
用于監(jiān)視氣囊系統(tǒng)可操作性的系統(tǒng)在本領(lǐng)域中是公知的，例如2002年11月26日頒發(fā)給Schumacher等人的美國專利6,486,566，以及2002年9月10日頒發(fā)給Belau等人的美國專利6,448,784中都有所公開。
使用由兩個電阻器組成的分壓器來實現(xiàn)電流電容器測量電路中的電壓電平漂移(voltage level-shift)。這樣的電路的第一個問題是一個電阻器兩端的電壓電平漂移并不是恒定的，而是與電容器兩端的電壓有關(guān)。另一個缺點是，流過電阻器的電流與溫度有關(guān)，這是因為電阻器有溫度依賴性的緣故。對于這個問題的一個解決方案是，提供電阻足夠大的電阻器，以使溫度依賴性最小。然而，為了提供電阻足夠大的電阻器，電阻器要占據(jù)相當(dāng)大的電路區(qū)域。
基于上述，需要提供一種電容器測量電路，它能夠產(chǎn)生使用較小的電路區(qū)域，并且是精確的而且與溫度無關(guān)的電流以及精確的而且與溫度無關(guān)的電壓電平漂移。

發(fā)明內(nèi)容
于是，本發(fā)明的目的在于提供一種用于診斷阻抗的系統(tǒng)，它能夠產(chǎn)生精確的而且與溫度無關(guān)的電流和精確的而且與溫度無關(guān)的電壓電平漂移。
本發(fā)明的另一目的在于提供一種用于診斷阻抗的系統(tǒng)，它能夠使用很小的電路區(qū)域產(chǎn)生精確的而且溫度無關(guān)的電流和精確的而且溫度無關(guān)的電壓電平漂移。
按照本發(fā)明，提供一種用于測量電子部件阻抗的系統(tǒng)，它包括溫度補償電流源I，它與電源平面(supply plane)Vc和地之間的電子部件并聯(lián)連接，用于向所述電子部件提供預(yù)定的基本為恒定的電流；以及經(jīng)溫度補償?shù)碾妷弘娖狡蒲b置，它與所述電子部件并聯(lián)連接在所述電源平面Vc與地之間，用于檢測所述電子部件兩端的電壓，并提供與其相應(yīng)的經(jīng)電平漂移的輸出電壓Vout。
按照本發(fā)明的一種方案，提供一種用于存儲數(shù)據(jù)的存儲介質(zhì)，執(zhí)行所述數(shù)據(jù)，引出一種系統(tǒng)的集成電路設(shè)計，所述系統(tǒng)用于測量電子部件的阻抗。所述存儲介質(zhì)包括溫度補償電流源I，它與電源平面Vc和地之間的電子部件并聯(lián)連接，用以向所述電子部件提供預(yù)定的基本為恒定的電流；以及經(jīng)溫度補償?shù)碾妷弘娖狡蒲b置，它與所述電子部件并聯(lián)地連接在所述電源平面Vc和地之間，用于檢測所述電子部件兩端的電壓，并提供與其相應(yīng)的經(jīng)電平漂移的輸出電壓Vout。
本發(fā)明還提供一種用于測量電子部件阻抗的方法，所說方法包括如下步驟通過與電源平面Vc和地之間的電子部件并聯(lián)連接溫度補償電流源I，向所述電子部件提供預(yù)定的基本為恒定的電流；以及通過與所述電子部件并聯(lián)地連接在所述電源平面Vc和地之間的經(jīng)溫度補償?shù)碾妷弘娖狡蒲b置，檢測所述電子部件兩端的電壓，并提供與其相應(yīng)的經(jīng)電平漂移的輸出電壓Vout。
按照本發(fā)明，提供一種用于測量電子部件阻抗的系統(tǒng)，所述系統(tǒng)包括電流源I2，它與電源平面Vc和地之間的電子部件并聯(lián)連接，用于向所述電子部件提供電流；以及電壓電平漂移裝置，它與所述電子部件并聯(lián)地連接在所述電源平面Vc和地之間，并與電流源I2并聯(lián)連接。所述電壓電平漂移裝置用于檢測所述電子部件兩端的電壓，并提供與其相應(yīng)的經(jīng)電平漂移的輸出電壓Vout。所述電壓電平漂移裝置包括至少一個電阻器R1，電阻器R1與電流源I1串聯(lián)連接；以及輸出端口，該端口設(shè)在至少一個電阻器R1和電流源I1之間；所述電流源I1和I2具有相反的溫度系數(shù)，因此，提供給電子部件的電流基本上是不變的。
按照本發(fā)明的一種方案，提供一種用于存儲數(shù)據(jù)的存儲介質(zhì)，執(zhí)行所述數(shù)據(jù)，引出一種系統(tǒng)的集成電路設(shè)計，所述系統(tǒng)用于測量電子部件的阻抗。所述存儲介質(zhì)包括電流源I2，它與電源平面Vc和地之間的電子部件并聯(lián)連接，用于向所述電子部件提供電流；以及電壓電平漂移裝置，它與所述電子部件并聯(lián)地連接在所述電源平面Vc和地之間，并與電流源I2并聯(lián)連接。所述電壓電平漂移裝置用于檢測所述電子部件兩端的電壓，并提供與其相應(yīng)的經(jīng)電平漂移的輸出電壓Vout。所述電壓電平漂移裝置包括至少一個電阻器R1，電阻器R1與電流源I1串聯(lián)連接；以及輸出端口，所述端口設(shè)在至少一個電阻器R1和電流源I1之間；所述電流源I1和I2具有相反的溫度系數(shù)，因此，提供給電子部件的電流基本上是不變的。
本發(fā)明還提供一種用于測量電子部件的阻抗的方法，所述方法包括如下步驟通過與電源平面Vc和地之間的電子部件并聯(lián)連接電流源I2，向所述電子部件提供電流；以及通過與所述電子部件并聯(lián)地連接在所述電源平面Vc和地之間，并與電流源I2并聯(lián)連接的電壓電平漂移裝置，檢測所述電子部件兩端的電壓，并提供與其相應(yīng)的經(jīng)電平漂移的輸出電壓Vout。所述電壓電平漂移裝置包括至少一個電阻器R1，電阻器R1與電流源I1串聯(lián)連接；以及輸出端口，所述端口設(shè)在至少一個電阻器R1和電流源I1之間；所述電流源I1和I2具有相反的溫度系數(shù)，因此，提供給電子部件的電流基本上是不變的。
以下結(jié)合附圖詳細描述本發(fā)明的示例性實施例，其中

圖1a是以示意方式表示電容器測試的簡化電路圖；圖1b是以示意方式表示電容器電壓作為時間函數(shù)的簡化示意圖；圖2a是以示意方式表示采用電壓電平漂移裝置與電流源串聯(lián)的電容器測試的簡化電路圖；圖2b是以示意方式表示采用電壓電平漂移裝置與電流源并聯(lián)的電容器測試的簡化電路圖；圖3是以示意方式表示現(xiàn)有技術(shù)采用電壓電平漂移的電容器測試的簡化電路圖；圖4是以示意方式表示本發(fā)明采用恒定電壓電平漂移的電容器測試的簡化電路圖；圖5是以示意方式表示本發(fā)明采用電流源與恒定電壓電平漂移串聯(lián)的電容器測試的簡化電路圖；圖6是以示意方式表示本發(fā)明采用電流源與利用共射共基放大器晶體管之恒定電壓電平漂移串聯(lián)的電容器測試的簡化電路圖；圖7a是以示意方式表示本發(fā)明采電流源與恒定電壓電平漂移并聯(lián)的電容器測試的簡化電路圖；圖7b是以示意方式表示可供選擇替換圖7a所示本發(fā)明電容器測試的簡化電路圖；圖8a是以示意方式表示本發(fā)明電容器測量系統(tǒng)的簡化電路圖；圖8b是以示意方式表示本發(fā)明實施圖7b所示電路的電容器測量系統(tǒng)的簡化電路圖；圖9是以示意方式表示本發(fā)明另一電容器測量系統(tǒng)的簡化電路圖；圖10是以示意方式表示本發(fā)明又一電容器測量系統(tǒng)的簡化電路圖。
具體實施例方式
在下面的描述中，與電容器測量結(jié)合地說明本發(fā)明的各種不同的實施例。有如本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員所顯而易見的，所有的電路都可以擴展到其它電子部件的阻抗測量。
在氣囊安全系統(tǒng)中，比如使用電容器來存儲為點火氣囊引爆器所需的能量。為了保證這些安全系統(tǒng)的可靠動作，要對這些電容器進行診斷。譬如，使用圖1a所示的電路測量電容器的電容。從電容C取出電流I，使電壓隨時間而降低，如圖1b所示。通過測量固定電壓降的時間間隔Δt，或者通過測量固定時間間隔的Δt電壓降ΔV，可將電容確定為
C＝IΔt/ΔV(1)由于電容與電壓有關(guān)，因此，需要在工作電壓下測量所述電容，氣囊系統(tǒng)中的工作電壓約為20伏。因此，就需要有一個電壓電平漂移，以減小進入電源電壓范圍的電壓，以使隨后的處理容易進行。使這個電壓電平漂移VLS或者是與電流源I串聯(lián)，如圖2a所示；或者是與電流源I并聯(lián)，如圖2b所示。
圖3表示在電容器測量電路中實行電壓電平漂移的傳統(tǒng)方法。電流源I使電容器C放電。為了得到極為確定的鈄率，就希望電流源I與溫度和過程都無關(guān)。使用包括電阻器R1和R2的分壓器，在電源電壓的范圍內(nèi)移動輸出電壓Vout，實現(xiàn)電壓電平漂移。第一個問題是，電阻器R1兩端的電壓電平漂移并不是恒定的，而是與電容器C兩端的電壓Vc有關(guān)。另一個更為嚴重的問題是，流過電阻器的電流與溫度有關(guān)，這是電阻器的溫度依賴性所引起的。提供足夠大的電阻器，可使溫度依賴性減至最小，但這要以電阻器占據(jù)的相當(dāng)大的電路區(qū)域為代價。
現(xiàn)在參照附圖4，其中表示本發(fā)明的具有恒定電壓電平漂移的電容器測量電路100。同樣是利用電流源I使電容器放電。使用電阻器RI和電流源I1來實施電壓電平漂移。由于電流源I1是由基準電壓VREF(比如利用帶隙基準電路產(chǎn)生)和基準電阻器RREF(基準電阻器RREF與電阻器RI匹配)確定的，所以電流I1由下式給出I1＝VREF/RREF(2)由此，就導(dǎo)致溫度和過程都與電阻器R1兩端的電壓電平漂移無關(guān)。但是，電流I1受到電阻器R1的溫度依賴性的影響，而且這個電流是從電容器C取出的，因而，電流I1必須足夠地小，電阻器RI的電阻需要足夠地大，于是就需要耗費很大的電路區(qū)域。
有如描述本發(fā)明第二實施例電容器測量電路200的圖5所示那樣，通過使電流源I與恒定的電壓電平漂移串聯(lián)連接，可使精確的電壓電平漂移與精確的電流源組合使用。虛線框中表示的電路用于測量電流I和電流I1之間的差I(lǐng)2。然后從電容器C取出差值電流I2，使從電容器取出的總電流等于電流I。從而，利用電阻器RI和電流源I實現(xiàn)電壓電平漂移。通過從基準電壓VREF和與電阻器R1匹配的基準電阻器RREF導(dǎo)出的電流I1，在電阻器R1的兩端產(chǎn)生與溫度無關(guān)且與過程無關(guān)的電壓電平漂移。因此，電容器測量電路200提供的電壓電平漂移與精確地與溫度和過程無關(guān)，這種電壓電平漂移是與精確地與溫度和過程無關(guān)的電流源結(jié)合在一起的。
比如采用有如圖6所示的共射共基放大器M1，可以實現(xiàn)圖5虛線框中描述的電路，圖6描述本發(fā)明第三實施例的電容器測量電路300。所述共射共基放大器M1把部分不由電流源I1所用但圍繞著I1的精確電流引向電容器C。要說明的是，隨著實行浮動電流源I1會出現(xiàn)某些困難，而且需要有足夠的峰值儲備，以適當(dāng)?shù)仄脙蓚€串聯(lián)連接的電流源I1和I，同時，限制了輸出Vout的信號強度變動。
參照附圖7a，其中表示本發(fā)明第四實施例的電容器測量電路400。這里，電流源I1和I2并聯(lián)連接并接地。同樣是使用電阻器R1和電流源I1實行電壓電平漂移，其中同樣由基準電壓VREF和基準電阻器RREF確定電流源I1。電流源I2用于補償電流源I1的溫度依賴性。例如，若電阻器R1和RREF具有正的溫度系數(shù)，則電流源I1具有負的溫度系數(shù)，因此，要將電流源I2設(shè)計成具有正的溫度系數(shù)。于是，電容器測量電路400提供精確地與溫度和過程無關(guān)的電壓電平漂移，所述電壓電平漂移與溫度和過程無關(guān)的電流源結(jié)合在一起。再有，電流源I1接地，這減小了所需的峰值儲備，使輸出Vout能夠有較大的信號強度變動。
圖8a表示圖7a所示本發(fā)明電容器測量電路400的一個完整系統(tǒng)的實施方案。利用電阻器R1和電流源實行電壓電平漂移，該電流源包括電壓-電流變換器，所述變換器利用電阻器RREF將基準電壓VREF變換成電流。電壓-電流變換器包括放大器A1、晶體管M1、電阻器RREF和電容器C1。作為可供選擇的方式，用共射共基放大器代替電壓-電流變換器，其中，在驅(qū)動共射共基放大器的柵極的基準電壓中，用類似的晶體管補償共射共基放大器的柵-源電壓。然而，這樣的替換方案不太精確。圍繞著放大器A1和晶體管M1的反饋回路控制電阻器RREF兩端的電壓，使該電壓等于基準電壓VREF1，從而產(chǎn)生由電阻器RREF和基準電壓VREF1確定的電流。經(jīng)過放大器A1和晶體管M1從電容器C上取出這個電流，進行測量。于是，得到電阻器R1兩端的精確的電平漂移電壓，這個電壓是由基準電壓VREF1以及電阻器R1和RREF之比確定的。電容器C1需要針對電壓-電流變換器的頻率進行補償。使用類似的電壓-電流變換器產(chǎn)生電流I2，所述電壓-電流變換器包括放大器A2、晶體管M2、電阻器R2和電容器C2，以便由基準電壓VREF和電阻器R2確定電流I2。由比較器CO1和CO2監(jiān)視晶體管M1漏極的電平漂移電壓。當(dāng)電平漂移電壓等于基準電壓VREF3時，啟動計數(shù)器；當(dāng)電平漂移電壓等于基準電壓VREF4時，計數(shù)器停止，產(chǎn)生n比特的數(shù)字輸出，這個輸出正比于電容器C的電容值和由數(shù)字時鐘電壓VCK確定的時間間隔。
需要對電流進行溫度補償。當(dāng)可以得到具有正和負溫度系數(shù)的電阻器時，通過對圖8a所示每個具有正溫度系數(shù)的電阻器和具有負溫度系數(shù)的電阻器進行電阻器組合，實現(xiàn)所述溫度補償。為了獲得足夠的精確度，要對電阻器R2進行微調(diào)，以便對于該電阻器阻值范圍的絕對值進行補償。作為另一種可供選擇的方式，實現(xiàn)溫度補償?shù)姆椒ㄊ菍τ陔娮杵鱎1和基準電阻器RREF使用單個電阻器，并且對于電阻器R2只使用一個組合的電阻器，以使電流I1的溫度變化可被電流I2所補償。由比如高壓DMOS晶體管實現(xiàn)所述晶體管M1和M2，這是因為電容器C的兩端是高電壓的緣故。進而，在不使用所述電路，而且關(guān)閉電流源I1時，要對比較器CO1和CO2的輸入端進行保護。保護的方案比如可以是，使用在晶體管M1的漏極和比較器輸入端之間的開關(guān)，以及在比較器CO1、CO2的兩個輸入端和地之間連接的箝位裝置。
作為可供選擇的方式，采用如圖7b所示的電流源I-I1代替圖7a所示的電流源I2。同樣是使用基于帶隙電壓的電壓來實施電流I1，以及使用類似于R1的電阻器，從R1取出電流，在電阻器R1兩端產(chǎn)生精確的電壓電平漂移。但這里的第二電流源是通過從恒定的與溫度無關(guān)的電流I簡單地扣除I1產(chǎn)生的。結(jié)果，從電容器C取出的電流與恒定電流I一致。
參照圖8b，圖7b所示電路已被加入圖8a所示的系統(tǒng)實施方案中。這個電路類似于圖8a所示的電路。但是，這里使用M11得到電流I的復(fù)制品。然后，利用M12和M13，從恒定電流I扣除I1的復(fù)制品。于是，流過M2的電流等于I-I1。由于I-I1和I1這兩者都是從電容器C上取出的，所以，從C取出的總電流為恒定的電流I。通過微調(diào)電阻器R2，并且使用具有正溫度系數(shù)和負溫度系數(shù)的電阻器組合，電流I是精確地與溫度無關(guān)。
如果只有正溫度系數(shù)的電阻器，則使用如圖9所示的本發(fā)明實施方案的系統(tǒng)600。這個電路等同于圖8a所示的電路，只是使用電阻器R3和R4。通過保證R4的溫度系數(shù)大于另外的電阻器的溫度系數(shù)，使電阻器R2兩端的電壓隨溫度的增加而增加，補償電阻增大，同時導(dǎo)致與溫度無關(guān)的電流。為了補償電流I1的溫度變化，電流源I2應(yīng)是過補償?shù)摹?br> 在圖10所示本發(fā)明實施方案的系統(tǒng)700中，實現(xiàn)電流源I2的不同實施方案。這里使用PTAT電流源實現(xiàn)電流源I2，所述PTAT電流源包括晶體管Q2、Q3、M2、M3以及電阻器R2。PTAT電流源的偏置電流通過晶體管Q1變?yōu)殓R像輸出。PTAT電流源所產(chǎn)生的電壓正比于電阻器R2兩端的絕對溫度。這個電壓的溫度變化補償了電阻器R2的溫度變化，使得電流I2對于溫度來說基本為不敏感的。對于電阻器R2，使用具有兩個不同的正溫度系數(shù)的電阻器的組合，可以實行進一步的調(diào)諧，這還能補償電流I1的溫度變化。
在不偏離所附權(quán)利要求書中限定的本發(fā)明范圍的情況下，本發(fā)明的許多其它實施方式對于本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說都是顯而易見的。
權(quán)利要求
1.一種用于測量電子部件阻抗的系統(tǒng)，它包括溫度補償電流源(I)，與電源平面(Vc)和地(VGND)之間的電子部件(C)并聯(lián)連接，用以向所述電子部件(C)提供預(yù)定的基本為恒定的電流；和經(jīng)溫度補償?shù)碾妷弘娖狡蒲b置，與所述電子部件并聯(lián)地連接在電源平面(Vc)和地(VGND)之間，用以檢測所述電子部件(C)兩端的電壓，并提供與其相應(yīng)的經(jīng)電平漂移的輸出電壓Vout。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于測量電子部件阻抗的系統(tǒng)，其中，所述溫度補償電流源(I)和經(jīng)溫度補償?shù)碾妷弘娖狡蒲b置是串聯(lián)連接的。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的用于測量電子部件阻抗的系統(tǒng)，其中，所述經(jīng)溫度補償?shù)碾妷弘娖狡蒲b置包括與電流源(I1)串聯(lián)連接的至少一個電阻器(R1)和輸出端口，所述端口設(shè)在至少一個電阻器(R1)和電流源(I1)之間。
4.根據(jù)權(quán)利要求1-3任一項所述的用于測量電子部件阻抗的系統(tǒng)，其中，還包括與所述經(jīng)溫度補償?shù)碾妷弘娖狡蒲b置并聯(lián)連接的補償電路，用以提供一個作為電流源(I)和(I1)提供的電流之間差的電流。
5.根據(jù)權(quán)利要求1-4任一項所述的用于測量電子部件阻抗的系統(tǒng)，其中，補償電路包括共射共基放大器。
6.根據(jù)權(quán)利要求3-5任一項所述的用于測量電子部件阻抗的系統(tǒng)，其中，至少一個電阻器(R1)包括具有相反溫度系數(shù)的兩個電阻器。
7.根據(jù)權(quán)利要求1-6任一項所述的用于測量電子部件阻抗的系統(tǒng)，其中，所述電子部件(C)包括電容器。
8.根據(jù)權(quán)利要求1-6任一項所述的用于測量電子部件阻抗的系統(tǒng)，其中，所述電子部件(C)包括氣囊系統(tǒng)的存儲電容器。
9.一種用于存儲數(shù)據(jù)的存儲介質(zhì)，執(zhí)行所述數(shù)據(jù)，引出一種系統(tǒng)的集成電路設(shè)計，所述系統(tǒng)用于測量電子部件的阻抗；所述存儲介質(zhì)包括溫度補償電流源(I)，它與電源平面(Vc)和地(VGND)之間的電子部件并聯(lián)連接，用以向所述電子部件(C)提供預(yù)定的基本為恒定的電流；以及經(jīng)溫度補償?shù)碾妷弘娖狡蒲b置，它與所述電子部件(C)并聯(lián)地連接在電源平面(Vc)和地(VGND)之間，用以檢測所述電子部件(C)兩端的電壓，并提供與其相應(yīng)的經(jīng)電平漂移的輸出電壓Vout。
10.一種用于測量電子部件阻抗的方法，所說方法包括如下步驟通過與電源平面(Vc)和地(VGND)之間的電子部件(C)并聯(lián)連接溫度補償電流源(I)，向所述電子部件(C)提供預(yù)定的基本為恒定的電流；并通過與所述電子部件(C)并聯(lián)地連接在電源平面(Vc)和地(VGND)之間的溫度補償?shù)碾妷弘娖狡蒲b置，檢測所述電子部件(C)兩端的電壓，并提供與其相應(yīng)的經(jīng)電平漂移的輸出電壓Vout。
11.一種用于測量電子部件阻抗的系統(tǒng)，所述系統(tǒng)包括電流源(I2)，它與電源平面(Vc)和地(VGND)之間的電子部件(C)并聯(lián)連接，用以向所述電子部件(C)提供電流；以及電壓電平漂移裝置，它與所述電子部件(C)并聯(lián)地連接在電源平面(Vc)和地(VGND)之間，并與電流源(I2)并聯(lián)連接；所述電壓電平漂移裝置用于檢測所述電子部件(C)兩端的電壓，并提供與其相應(yīng)的經(jīng)電平漂移的輸出電壓Vout；所述電壓電平漂移裝置包括至少一個電阻器(R1)，電阻器(R1)與電流源(I1)串聯(lián)連接；以及輸出端口，所述端口設(shè)在至少一個電阻器(R1)和電流源(I1)之間；所述電流源(I1)和(I2)具有相反的溫度系數(shù)，以使提供給電子部件的電流基本為不變的。
12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的用于測量電子部件阻抗的系統(tǒng)，其中，所述電壓電平漂移裝置包括電壓-電流轉(zhuǎn)換器，用于根據(jù)基準電阻器(RREF1)的電阻和基準電阻器(RREF1)兩端的基準電壓(VREF1)提供電流。
13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的用于測量電子部件阻抗的系統(tǒng)，其中，所述電壓-電流轉(zhuǎn)換器包括晶體管和與所述晶體管基極連接的放大器。
14.根據(jù)權(quán)利要求11-13任一項所述的用于測量電子部件阻抗的系統(tǒng)，其中，所述電流源(I2)包括電壓-電流轉(zhuǎn)換器。
15.根據(jù)權(quán)利要求11-14任一項所述的用于測量電子部件阻抗的系統(tǒng)，其中，還包括與輸出端口通信聯(lián)系的起始比較器(CO1)、起始基準電壓源(VREF3)和計數(shù)器，用于比較輸出電壓Vout與起始基準電壓，并提供比較的結(jié)果，并在比較的結(jié)果表示為匹配時，向計數(shù)器提供與其相應(yīng)的信號；與輸出端口通信聯(lián)系的停止比較器(CO2)、停止基準電壓源(VREF4)計數(shù)器，用于比較輸出電壓Vout與停止基準電壓，并提供比較的結(jié)果，并在比較的結(jié)果表示為匹配時，向計數(shù)器提供與其相應(yīng)的信號。
16.根據(jù)權(quán)利要求15所述的用于測量電子部件阻抗的系統(tǒng)，其中，還包括與計數(shù)器通信的數(shù)字時鐘，用于確定計數(shù)器的起始和停止之間的時間間隔。
17.根據(jù)權(quán)利要求11-16任一項所述的用于測量電子部件阻抗的系統(tǒng)，其中，所述電流源(I2)包括PTAT電流源。
18.根據(jù)權(quán)利要求11-17任一項所述的用于測量電子部件阻抗的系統(tǒng)，其中，所述電子部件(C)包括電容器。
19.權(quán)利要求11-17任一項所述的用于測量電子部件阻抗的系統(tǒng)，其中，所述電子部件(C)包括氣囊系統(tǒng)的存儲電容器。
20.一種用于存儲數(shù)據(jù)的存儲介質(zhì)，執(zhí)行所述數(shù)據(jù)，引出一種系統(tǒng)的集成電路設(shè)計，所述系統(tǒng)用于測量電子部件的阻抗；所述存儲介質(zhì)包括電流源(I2)，它與電源平面(Vc)和地(VGND)之間的電子部件(C)并聯(lián)連接，用于向所述電子部件(C)提供電流；以及電壓電平漂移裝置，它與所述電子部件并聯(lián)地連接在電源平面(Vc)和地(VGND)之間，并與電流源(I2)并聯(lián)連接，所述電壓電平漂移裝置用于檢測所述電子部件兩端的電壓，并提供與其相應(yīng)的經(jīng)電平漂移的輸出電壓Vout；所述電壓電平漂移裝置包括至少一個電阻器(R1)，電阻器(R1)與電流源(I1)串聯(lián)連接；以及輸出端口，所述端口設(shè)在至少一個電阻器(R1)和電流源(I1)之間；所述電流源(I1)和(I2)具有相反的溫度系數(shù)，以使提供給電子部件的電流基本為不變的。
21.一種用于測量電子部件的阻抗的方法，所說方法包括如下步驟通過與電源平面(Vc)和地(VGND)之間的電子部件并聯(lián)連接電流源(I2)，向所述電子部件(C)提供電流；并且通過與所述電子部件并聯(lián)地連接在電源平面(Vc)和地(VGND)之間且與電流源(I2)并聯(lián)連接的的電壓電平漂移裝置，檢測所述電子部件(C)兩端的電壓，并提供與其相應(yīng)的經(jīng)電平漂移的輸出電壓Vout；所述電壓電平漂移裝置包括至少一個電阻器(R1)，電阻器(R1)與電流源(I1)串聯(lián)連接；以及輸出端口，所述端口設(shè)在至少一個電阻器(R1)和電流源(I1)之間；所述電流源(I1)和(I2)具有相反的溫度系數(shù)，以使提供給電子部件的電流基本為不變的。
全文摘要
一種用于測量電容器(C)的系統(tǒng)。電流源(I
文檔編號B60R21/01GK101091118SQ200580045071
公開日2007年12月19日 申請日期2005年10月28日 優(yōu)先權(quán)日2004年10月29日
發(fā)明者克拉斯-揚·德朗根, 約翰·維特 申請人:皇家飛利浦電子股份有限公司