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一種方片檢測方法及包裝系統(tǒng)與流程

文檔序號(hào):40527036發(fā)布日期:2024-12-31 13:36閱讀:8來源:國知局
一種方片檢測方法及包裝系統(tǒng)與流程

本發(fā)明涉及方片檢測包裝,具體涉及一種方片檢測方法及包裝系統(tǒng)。


背景技術(shù):

1、鍺方片通常指的是用鍺材料制成的方形片狀物體,廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、光電器件和紅外探測器等領(lǐng)域。鍺是一種重要的半導(dǎo)體材料,具有良好的電導(dǎo)性和光學(xué)特性。

2、cn117147580a及一種硅片倒角崩邊缺陷視覺檢測裝置,包括:輸送裝置,用于沿著前后方向進(jìn)行硅片的運(yùn)輸;多個(gè)視覺檢測機(jī)構(gòu),位于所述輸送裝置的左右兩側(cè),輸送裝置的每一側(cè)均裝配有兩個(gè)視覺檢測機(jī)構(gòu),兩個(gè)所述視覺檢測機(jī)構(gòu)分別用于檢測硅片同一側(cè)兩個(gè)倒角的崩邊缺陷情況。

3、上述技術(shù)方案還公開了一種硅片倒角崩邊缺陷視覺檢測方法,經(jīng)過圖像采集、圖像預(yù)處理、缺陷檢測及分類和判定這些步驟,實(shí)現(xiàn)對(duì)硅片倒角處崩邊缺陷的檢測。通過對(duì)輸送裝置輸送的硅片的四個(gè)倒角邊緣進(jìn)行檢視,以判斷硅片的四個(gè)角是否存在崩邊的問題,在不影響設(shè)備產(chǎn)能的前提下對(duì)硅片倒角進(jìn)行檢測,提高產(chǎn)線良品率。但是上述技術(shù)方案僅能對(duì)硅片的四周進(jìn)行檢測,不能對(duì)硅片的表面情況以及尺寸和倒邊進(jìn)行檢測,而且在檢測完成之后不能進(jìn)行對(duì)合格品和不合格品進(jìn)行分開。


技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、本申請(qǐng)的目的在于解決上述問題,提供了一種方片檢測方法,本檢測方法在承載臺(tái)的上方和下方分別設(shè)置用于提供正光環(huán)境的上光源和用于提供背光環(huán)境的下光源,使方片同時(shí)處于正光環(huán)境和背光環(huán)境中,不僅得到的方片的表面圖像更加清晰,提高了表面檢測、尺寸檢測、倒邊檢測的準(zhǔn)確性。同時(shí),本申請(qǐng)還提供了一種包裝系統(tǒng),本包裝系統(tǒng)通過吸附上料單元實(shí)現(xiàn)自動(dòng)上料,在邊緣檢測單元和表面檢測單元的共同作用下,對(duì)不合格品進(jìn)行記錄,在打包單元中實(shí)現(xiàn)合格品和不合格品分類打包,提高包裝盒檢測的效率,提升產(chǎn)量。

2、為實(shí)現(xiàn)上述目的,本申請(qǐng)?zhí)峁┤缦录夹g(shù)方案:

3、一種方片檢測方法,本方法涉及一種表面檢測單元,表面檢測單元包括用于放置方片的承載臺(tái)、位于承載臺(tái)下方的下光源、位于承載臺(tái)上方的上光源、用于獲取方片的圖像的圖像獲取模塊;

4、上光源和下光源分別用于為方片提供正光環(huán)境和背光環(huán)境;

5、方片以正反交替的方式置于承載臺(tái)上,并同時(shí)處于正光環(huán)境和背光環(huán)境中,圖像獲取模塊在方片的上方獲取正面放置的方片的圖像和反面放置的方片的圖像;

6、上光源的照度為110×104~130×104lx,其中上光源的照度可以采用110×104lx、115×104lx、120×104lx、125×104lx、130×104lx。

7、下光源的照度可以采用110×104lx,120×104lx、130×104lx、140×104lx、150×104lx等,但并不限于所列舉的數(shù)值,在本數(shù)值范圍內(nèi)的其他未列舉的數(shù)值均適用。但只要能滿足圖像獲取,下光源的照度應(yīng)當(dāng)是越低越好,避免導(dǎo)致功能過剩的情況。

8、優(yōu)選地,當(dāng)方片同時(shí)處于正光環(huán)境和背光環(huán)境中時(shí),上光源發(fā)出的第一光線的軸線、方片的軸線、下光源發(fā)出的第二光線的軸線、圖像獲取模塊的軸線位于同一直線上。

9、表面檢測單元上還設(shè)有厚度檢測模塊,厚度檢測模塊位于承載臺(tái)的上方,并用于檢測方片的厚度。

10、優(yōu)選地,上光源為同軸光源;下光源為直射光源;圖像獲取模塊為ccd相機(jī),承載臺(tái)為玻璃材質(zhì)的承載臺(tái)。當(dāng)然,承載臺(tái)也可以采用透明的其他材質(zhì)如亞克力等。

11、其中,同軸光源的型號(hào)為:沃德普co2-100;直線光源的型號(hào)為:沃德普xf-pti080;ccd相機(jī)的型號(hào)為:??祄v-ch250-90tm-c-nf。

12、優(yōu)選地,表面檢測單元還包括第一水平驅(qū)動(dòng)模塊,承載臺(tái)連接在第一水平驅(qū)動(dòng)模塊上,第一水平驅(qū)動(dòng)模塊用于使承載臺(tái)上的多個(gè)方片依次經(jīng)過圖像獲取模塊。

13、同時(shí),本申請(qǐng)還提供了一種包裝系統(tǒng),包括機(jī)架、連接在機(jī)架上的吸附上料單元、邊緣檢測單元、翻面單元、包裝單元和如上的表面檢測單元;

14、吸附上料單元用于將方片輸送至邊緣檢測單元;

15、翻面單元上設(shè)有第一吸附輸送模塊,第一吸附輸送模塊用于將邊緣檢測單元中的方片吸附輸送至表面檢測單元中,并在表面檢測單元完成上表面檢測后對(duì)方片進(jìn)行翻面;

16、包裝單元上設(shè)有第二吸附輸送模塊,第二吸附輸送模塊用于將承載臺(tái)上的方片吸附至包裝單元內(nèi)對(duì)合格品和不合格品進(jìn)行分開打包。

17、優(yōu)選地,吸附上料單元包括連接在機(jī)架上的儲(chǔ)料架、整形單元和第二水平驅(qū)動(dòng)模塊,第二水平驅(qū)動(dòng)模塊上設(shè)有升降機(jī)構(gòu),升降機(jī)構(gòu)上設(shè)有吸附組件;第二水平驅(qū)動(dòng)模塊驅(qū)動(dòng)吸附組件吸取位于儲(chǔ)料架上的方片,并放置在整形單元中進(jìn)行整形,再將整形后的方片吸附輸送至邊緣檢測單元中。

18、優(yōu)選地,邊緣檢測單元包括連接在機(jī)架上的驅(qū)動(dòng)模塊、位于驅(qū)動(dòng)模塊兩側(cè)的側(cè)光源和ccd模塊,驅(qū)動(dòng)模塊上設(shè)有吸嘴,驅(qū)動(dòng)模塊內(nèi)設(shè)有驅(qū)動(dòng)吸嘴旋轉(zhuǎn)的第一旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu);

19、吸附上料單元將方片放置在吸嘴上,第一旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)用于使方片的邊部和角部交替與同側(cè)側(cè)光源和ccd模塊正對(duì),并通過驅(qū)動(dòng)模塊使吸嘴上的方片的邊部或角部依次經(jīng)過側(cè)光源和ccd模塊。

20、其中,ccd模塊的型號(hào)為:??苝n2kzv-140km;側(cè)光源的型號(hào)為:沃德普ln5-200w-fn。

21、優(yōu)選地,翻面單元包括支撐臺(tái),第一吸附輸送模塊上設(shè)有用于使吸附的方片反面朝上的第二旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu),支撐臺(tái)上設(shè)有凹部,第一吸附輸送模塊將反面朝上的方片放置在支撐臺(tái)上,并通過凹部使第一吸附輸送模塊與方片分離,再移動(dòng)至方片的上方吸附方片的反面。

22、優(yōu)選地,包裝單元包括連接在機(jī)架上的輸送帶,輸送帶為兩條且并排布置,輸送帶上設(shè)有輸送下膜的下膜輸送模塊、輸送上膜的上膜輸送模塊、輸送輥組、切斷模塊;輸送輥組內(nèi)設(shè)有加熱組件;

23、第二吸附輸送模塊將合格品方片放置在其中一條輸送帶的下膜輸送模塊上;將不合格品方片放置在另一條輸送帶的下膜輸送模塊上;上膜輸送模塊將上膜貼合在下膜上,并包裹方片,通過輸送輥組加熱并輸送至輸送帶中;切斷模塊用于切斷上膜和下膜。

24、與現(xiàn)有技術(shù)相比,本申請(qǐng)的有益效果是:

25、本檢測方法在承載臺(tái)的上方和下方分別設(shè)置用于提供正光環(huán)境的上光源和用于提供背光環(huán)境的下光源,使方片同時(shí)處于正光環(huán)境和背光環(huán)境中,不僅得到的方片的表面圖像更加清晰,提高了表面檢測、尺寸檢測、倒邊檢測的準(zhǔn)確性。

26、本包裝系統(tǒng)通過吸附上料單元實(shí)現(xiàn)自動(dòng)上料,在邊緣檢測單元和表面檢測單元的共同作用下,對(duì)不合格品進(jìn)行記錄,在打包單元中實(shí)現(xiàn)合格品和不合格品分類打包,提高包裝盒檢測的效率,提升產(chǎn)量。



技術(shù)特征:

1.一種方片檢測方法,其特征在于,所述方法涉及一種表面檢測單元,所述表面檢測單元包括用于放置所述方片的承載臺(tái)、位于所述承載臺(tái)下方的下光源、位于所述承載臺(tái)上方的上光源、用于獲取方片的圖像的圖像獲取模塊;

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方片檢測方法,其特征在于,當(dāng)所述方片同時(shí)處于正光環(huán)境和背光環(huán)境中時(shí),所述上光源發(fā)出的第一光線的軸線、所述方片的軸線、所述下光源發(fā)出的第二光線的軸線、所述圖像獲取模塊的軸線位于同一直線上。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方片檢測方法,其特征在于,所述表面檢測單元上還設(shè)有厚度檢測模塊,所述厚度檢測模塊位于所述承載臺(tái)的上方,并用于檢測所述方片的厚度。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方片檢測方法,其特征在于,所述上光源為同軸光源;所述下光源為直射光源;所述圖像獲取模塊為ccd相機(jī),所述承載臺(tái)為玻璃材質(zhì)的承載臺(tái)。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方片檢測方法,其特征在于,所述表面檢測單元還包括第一水平驅(qū)動(dòng)模塊,所述承載臺(tái)連接在所述第一水平驅(qū)動(dòng)模塊上,所述第一水平驅(qū)動(dòng)模塊用于使所述承載臺(tái)上的多個(gè)方片依次經(jīng)過圖像獲取模塊。

6.一種包裝系統(tǒng),其特征在于,包括機(jī)架、連接在所述機(jī)架上的吸附上料單元、邊緣檢測單元、翻面單元、包裝單元和如權(quán)利要求1~5任一所述的表面檢測單元;

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的包裝系統(tǒng),其特征在于,所述吸附上料單元包括連接在所述機(jī)架上的儲(chǔ)料架、整形單元和第二水平驅(qū)動(dòng)模塊,所述第二水平驅(qū)動(dòng)模塊上設(shè)有升降機(jī)構(gòu),所述升降機(jī)構(gòu)上設(shè)有吸附組件;所述第二水平驅(qū)動(dòng)模塊驅(qū)動(dòng)所述吸附組件吸取位于所述儲(chǔ)料架上的方片,并放置在整形單元中進(jìn)行整形,再將整形后的所述方片吸附輸送至邊緣檢測單元中。

8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的包裝系統(tǒng),其特征在于,所述邊緣檢測單元包括連接在所述機(jī)架上的驅(qū)動(dòng)模塊、位于所述驅(qū)動(dòng)模塊兩側(cè)的側(cè)光源和ccd模塊,所述驅(qū)動(dòng)模塊上設(shè)有吸嘴,所述驅(qū)動(dòng)模塊內(nèi)設(shè)有驅(qū)動(dòng)所述吸嘴旋轉(zhuǎn)的第一旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu);

9.根據(jù)權(quán)利要求6所述的包裝系統(tǒng),其特征在于,所述翻面單元包括支撐臺(tái),所述第一吸附輸送模塊上設(shè)有用于使吸附的方片反面朝上的第二旋轉(zhuǎn)驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu),所述支撐臺(tái)上設(shè)有凹部,所述第一吸附輸送模塊將反面朝上的方片放置在所述支撐臺(tái)上,并通過所述凹部使所述第一吸附輸送模塊與方片分離,再移動(dòng)至方片的上方吸附方片的反面。

10.根據(jù)權(quán)利要求6所述的包裝系統(tǒng),其特征在于,所述包裝單元包括連接在所述機(jī)架上的輸送帶,所述輸送帶為兩條且并排布置,所述輸送帶上設(shè)有輸送下膜的下膜輸送模塊、輸送上膜的上膜輸送模塊、輸送輥組、切斷模塊;所述輸送輥組內(nèi)設(shè)有加熱組件;


技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明涉及方片檢測包裝技術(shù)領(lǐng)域,公開了一種方片檢測方法,本方法涉及一種表面檢測單元,包括承載臺(tái)、下光源、上光源、圖像獲取模塊;上光源和下光源分別用于為方片提供正光環(huán)境和背光環(huán)境;方片以正反交替的方式置于承載臺(tái)上,并同時(shí)處于正光環(huán)境和背光環(huán)境中,圖像獲取模塊在方片的上方獲取第一圖像和第二圖像;不僅得到的方片的表面圖像更加清晰,提高了表面檢測、尺寸檢測、倒邊檢測的準(zhǔn)確性。同時(shí),本發(fā)明還公開了一種包裝系統(tǒng),本包裝系統(tǒng)通過吸附上料單元實(shí)現(xiàn)自動(dòng)上料,在邊緣檢測單元和表面檢測單元的共同作用下,對(duì)不合格品進(jìn)行記錄,在打包單元中實(shí)現(xiàn)合格品和不合格品分類打包,提高包裝盒檢測的效率,提升產(chǎn)量。

技術(shù)研發(fā)人員:金明,王震,李鵬,何家花,歐琳芳,賴永艷
受保護(hù)的技術(shù)使用者:安徽光智科技有限公司
技術(shù)研發(fā)日:
技術(shù)公布日:2024/12/30
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