體的能譜峰位值是否都滿足能譜峰位值判斷條件，所述 能譜峰位值判斷條件是晶體的能譜峰位值落入包含目標(biāo)峰位值的預(yù)設(shè)數(shù)值區(qū)間。如果否， 執(zhí)行步驟203。
[0114] 在步驟201中，針對一個光電倍增管位置區(qū)域內(nèi)多個晶體的能譜峰位值進行檢測； 則對應(yīng)的步驟202具體可以有以下兩種可選的處理方式。
[0115] 第一種可選的處理方式是，計算針對一個光電倍增管檢測到的多個晶體的能譜峰 位值的均值，再判斷每個光電倍增管對應(yīng)的均值是否都滿足能譜峰位值判斷條件。
[0116] 這種處理方式就是利用光電倍增管位置區(qū)域內(nèi)的多個晶體的能譜峰位值的均值 來衡量光電倍增管的增益情況。一般情況下，在采用均值判斷時，最好是選擇檢測位置距離 較近的多個晶體，這樣能夠保證均值的可靠性較高。
[0117] 第二種可選的處理方法是，判斷檢測到的每個光電倍增管的多個晶體的能譜峰位 值是否都滿足能譜峰位值判斷條件。如果一個光電倍增管的一個晶體的能譜峰位值不滿足 能譜峰位值判斷條件，則認為該光電倍增管的增益不滿足能譜峰位值判斷條件，則該光電 倍增管的增益需要被調(diào)整。
[0118] 當(dāng)步驟202判斷結(jié)果為是時，說明在探測器內(nèi)晶體產(chǎn)生的熒光信號經(jīng)過與其耦合 的PMT之后，生成的多個電信號將會達成一致。此時，就無需作任何處理。
[0119] 當(dāng)步驟202判斷結(jié)果為否時，說明在探測器內(nèi)晶體產(chǎn)生的熒光信號經(jīng)過與其耦合 的PMT之后，生成的多個電信號無法達成一致，不能滿足探測器對信號一致性的需求，此時， 就需要對PMT的增益作調(diào)整，以保證每個PMT輸出的電信號達成一致。當(dāng)步驟202的判斷結(jié)果 為否時，觸發(fā)步驟203。
[0120]步驟203:針對不滿足能譜峰位值判斷條件的晶體所對應(yīng)的光電倍增管的電壓進 行調(diào)整，以使所有的光電倍增管的增益滿足增益判斷條件。
[0121] 其中，增益判斷條件如上文實施例所描述，此處不再贅述。
[0122] 關(guān)于步驟203,本發(fā)明還提供了兩種可選的實現(xiàn)方式，分別如下：
[0123] 第一種可選的實現(xiàn)方式是，對光電倍增管的整體電壓進行調(diào)整。
[0124] 第二種可選的實現(xiàn)方式是，對光電倍增管的打拿極電壓進行調(diào)整。
[0125] 光電倍增管打拿極的作用是使電子逐級放大，改變打拿級電壓就會改變打拿級的 倍增系數(shù)，從而改變光電倍增管的增益。
[0126] 接下來，結(jié)合PMT的高壓分配電路結(jié)構(gòu)對步驟203作進一步解釋說明。
[0127] 一般情況下，PMT通常需要1-2KV的電源為其提供正或負的高壓，PMT增益非常大， 電壓的變化對其增益的影響就會非常靈敏，并且在一定區(qū)間范圍內(nèi)，PMT增益是隨著電壓變 化成正比例變化。本發(fā)明就是基于PMT具有這樣的物理特性，提出了通過改變PMT電壓的方 式來調(diào)整PMT增益的技術(shù)思路。
[0128] 結(jié)合PMT的高壓分配電路的結(jié)構(gòu)，本發(fā)明針對步驟203還提供了可選的實現(xiàn)方式。
[0129] 第一種可選的實現(xiàn)方式是，針對不滿足能譜峰位值判斷條件的晶體所對應(yīng)的光電 倍增管的可調(diào)電阻阻值進行調(diào)節(jié)，以調(diào)整光電倍增管的電壓，使得所述不滿足能譜峰位值 判斷條件的晶體所對應(yīng)的光電倍增管的增益滿足增益判斷條件;所述可調(diào)電阻位于所述光 電倍增管的分壓電路中。
[0130] 其中，光電倍增管的分壓電路可以有兩種形式，分別參加圖3和圖4出的兩種不同 的PMT的分壓電路。
[0131] 在圖4中，PMT分壓電路中的可調(diào)電阻的作用是，調(diào)整光電倍增管的整體電壓。
[0132] 在圖5中，PMT分壓電路中的可調(diào)電阻的作用是，調(diào)整光電倍增管的打拿極電壓。
[0133] 這里需要說明的是，在圖4、5中示出的不可調(diào)電阻的個數(shù)僅僅為示例性的，在具體 實現(xiàn)時，根據(jù)PMT的具體電路結(jié)構(gòu)要求來確定電阻的個數(shù)和連接方式。圖4、5中示出的一個 可調(diào)電阻也僅僅是示例性的，在實際應(yīng)用中，也可以采用多個可調(diào)電阻來實現(xiàn)。尤其是，針 對每個打拿極至少應(yīng)該設(shè)置有一個可調(diào)電阻。
[0134] 在實際應(yīng)用中，由于在探測器內(nèi)，有些元件在運行中容易受到溫度、濕度等因素的 影響，導(dǎo)致其物理性能發(fā)生較大變化，無法保持性能穩(wěn)定性?；诖耍瑸榱吮ＷC上述技術(shù)方 案的具有更好的技術(shù)效果，則在調(diào)整增益之后，可以再循環(huán)執(zhí)行步驟201-203,直到確定所 有晶體的能譜峰位值均滿足判定條件時為止。
[0135] 與上述方法相對應(yīng)的，本發(fā)明還提供了一種探測器的增益調(diào)整裝置，參見圖6,示 出的本發(fā)明提供的一種探測器的增益調(diào)整裝置的結(jié)構(gòu)圖，下面結(jié)合該裝置的工作原理進一 步介紹其內(nèi)部結(jié)構(gòu)以及連接關(guān)系。該裝置包括：
[0136] 增益判斷單元501，用于判斷探測器內(nèi)所有光電倍增管的增益是否都滿足增益判 斷條件，所述增益判斷條件是光電倍增管的增益落入包含目標(biāo)增益的預(yù)設(shè)數(shù)值區(qū)間；如果 否，觸發(fā)增益調(diào)整單元；
[0137] 所述增益調(diào)整單元502,用于采用調(diào)整光電倍增管電壓的方式，調(diào)整不滿足增益判 斷條件的光電倍增管的增益，使得所有光電倍增管的增益滿足預(yù)設(shè)條件。
[0138] 可選的，所述增益判斷單元，包括：
[0139] 能譜峰位值檢測子單元，用于檢測每個光電倍增管位置區(qū)域內(nèi)一個或多個晶體對 應(yīng)的能譜峰位值；
[0140] 能譜峰位值判斷子單元，用于判斷檢測到的晶體對應(yīng)的能譜峰位值是否都滿足能 譜峰位值判斷條件，所述能譜峰位值判斷條件是晶體的能譜峰位值落入包含目標(biāo)峰位值的 預(yù)設(shè)數(shù)值區(qū)間；所述目標(biāo)峰位值是指光電倍增管增益達到目標(biāo)增益時，測量得到的晶體對 應(yīng)的能譜位值。
[0141] 可選的，所述增益判斷單元，包括：
[0142] 計數(shù)率檢測子單元，用于檢測光電倍增管輸出端的信號，統(tǒng)計單位時間內(nèi)信號大 于預(yù)設(shè)閾值的總個數(shù)得到光電倍增管的計數(shù)率；
[0143] 計數(shù)率判斷子單元，用于判斷所有光電倍增管的計數(shù)率是否都滿足計數(shù)率判斷條 件，所述計數(shù)率判斷條件是光電倍增管的計數(shù)率落入包含目標(biāo)計數(shù)率的預(yù)設(shè)數(shù)值區(qū)間；所 述目標(biāo)計數(shù)率是指光電倍增管增益達到目標(biāo)增益時，測量得到的光電倍增管的計數(shù)率。
[0144] 可選的，所述增益調(diào)整單元包括：
[0145] 打拿極電壓調(diào)整子單元，用于針對不滿足增益判斷條件的光電倍增管的，以調(diào)整 光電倍增管的增益;或者，
[0146] 整體電壓調(diào)整子單元，用于針對不滿足增益判斷條件的光電倍增管的整體電壓進 行調(diào)整，以調(diào)整光電倍增管的增益。
[0147] 可選的，所述增益調(diào)整單元具體用于：
[0148] 通過調(diào)整光電倍增管的分壓電路中的可調(diào)電阻阻值的方式，對不滿足增益判斷條 件的光電倍增管的電壓進行調(diào)整，以調(diào)整光電倍增管的增益，以使所有光電倍增管的增益 滿足預(yù)設(shè)條件。
[0149] 可選的，所述增益調(diào)整單元包括：
[0150]差值計算子單元，用于針對不滿足增益判斷條件的光電倍增管，計算該光電倍增 管位置區(qū)域內(nèi)的晶體的能譜峰位值與目標(biāo)峰位值之間的差值；
[0151] 可調(diào)電阻阻值查找子單元，用于在預(yù)先建立的增益調(diào)整表中，查找與該差值和目 標(biāo)峰位值對應(yīng)的可調(diào)電阻阻值；
[0152] 阻值調(diào)整子單元，用于根據(jù)查找到的可調(diào)電阻阻值調(diào)整該光電倍增管的分壓電路 中的可調(diào)電阻。
[0153] 可選的，所述可調(diào)電阻為數(shù)字電位計。
[0154] 另外，本發(fā)明還提供了一種光電倍增管探測器，參見圖7,示出的本發(fā)明提供的一 種探測器的硬件結(jié)構(gòu)示意圖，為了便于本領(lǐng)域技術(shù)人員理解此方案，圖7僅以包括兩個光電 倍增管，每個光電倍增管與一個晶體連接的結(jié)構(gòu)為例。該光電倍增管探測器包括：
[0155] 至少兩個光電倍增管和上述光電倍增管探測器的增益調(diào)整裝置；
[0156] 每個光電倍增管與至少一個晶體連接；
[0157] 每個光電倍增管配置有一個高壓分配電阻網(wǎng)絡(luò)模塊，所述高壓分配電阻網(wǎng)絡(luò)模塊 用于將光電倍增管上的高壓分配給每一個打拿極。
[0158] 可選的，所述高壓分配網(wǎng)絡(luò)模塊包括至少一個可調(diào)電阻；
[0159] 可選的，所述可調(diào)電阻為數(shù)字電位計。
[0160]其中，光電倍增管和晶體可以采用耦合方式進行連接。
[0161] 所述領(lǐng)域的技術(shù)人員可以清楚地了解到，為了描述的方便和簡潔，上述描述的系 統(tǒng)、裝置和單元的具體工作過程，可以參考前述方法實施例中的對應(yīng)過程，在此不再贅述。
[0162] 在本發(fā)明所提供的幾個實施例中，應(yīng)該理解到，所揭露的系統(tǒng)、裝