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一種新型二氧化硅膜孔徑的調(diào)控方法及其應(yīng)用與流程

文檔序號:12618453閱讀:403來源:國知局
一種新型二氧化硅膜孔徑的調(diào)控方法及其應(yīng)用與流程

本發(fā)明屬于無機膜材料制備領(lǐng)域,涉及一種新型二氧化硅膜孔徑的調(diào)控方法及其應(yīng)用。



背景技術(shù):

近年來隨著全球氣溫變暖等環(huán)境問題備受關(guān)注,對環(huán)境污染小的研究和開發(fā)越來越受到重視。氫氣是一種新型能源,具有可循環(huán)利用和無污染等優(yōu)點,在化工等工業(yè)上具有廣泛的應(yīng)用前景。氫氣的獲取渠道十分多樣,提取工業(yè)副產(chǎn)品中的氫是獲取氫的高效、廉價、可循環(huán)的有效途徑之一。

膜分離技術(shù)是目前獲取高純氫源最有效途徑之一,用于氫氣分離的膜材料主要有碳分子篩膜、沸石膜、Pd金屬膜以及二氧化硅膜等。二氧化硅膜在氣體分離中不受努森擴散的限制,能夠?qū)崿F(xiàn)分子篩分,被認為是目前最有前景的透氫膜材料之一。但由于傳統(tǒng)無定形二氧化硅膜的平均孔徑在0.4nm左右,對于氫氣篩分分離仍然較大,因此對氫氣的選擇性不夠理想,限制了其在氫氣分離中的大規(guī)模應(yīng)用。



技術(shù)實現(xiàn)要素:

本發(fā)明要解決的技術(shù)問題是:基于上述問題,本發(fā)明提供一種新型二氧化硅膜孔徑的調(diào)控方法及其應(yīng)用。

本發(fā)明解決其技術(shù)問題所采用的一個技術(shù)方案是:一種新型二氧化硅膜孔徑的調(diào)控方法,包括以下步驟:

(1)在異丙醇中,通過烷氧基硅烷、水和HCl的水解聚合反應(yīng),制備倍半硅氧烷溶膠;

(2)將與SiO2-ZrO2溶膠混合的二氧化硅玻璃顆粒涂覆在多孔玻璃管上,高溫條件下煅燒得到膜的過渡層;

(3)將步驟(1)中得到的半硅氧烷溶膠擦涂在步驟(2)中得到的過渡層上,涂完后煅燒得到二氧化硅膜;

(4)把步驟(3)中得到的二氧化硅膜置于高溫高壓的氨氣氣氛中進行原位反應(yīng),得到改性后的二氧化硅膜。

進一步地,步驟(1)中烷氧基硅烷為三甲氧基硅烷、三乙氧基硅烷中的一種或兩種。

進一步地,步驟(1)中的烷氧基硅烷、水和HCl的摩爾比為1:240:0.1。

進一步地,步驟(1)中烷氧基硅烷的質(zhì)量分數(shù)為2.0%,水解聚合反應(yīng)溫度為25~45℃,水解聚合反應(yīng)時間為1~2h。

進一步地,步驟(2)中多孔玻璃管的孔徑為500nm,孔隙率為64%。

進一步地,步驟(2)中二氧化硅玻璃顆粒直徑為300nm,煅燒溫度為550℃,煅燒氣氛為空氣,煅燒時間為30min。

進一步地,步驟(3)中煅燒溫度為400~650℃,煅燒氣氛為氮氣,煅燒時間為30min。

進一步地,步驟(4)中溫度為400~650℃,壓力為200kPa,氨氣的濃度為10~100mol%,氨氣的載體氣體為氦氣。

一種新型二氧化硅膜孔徑的調(diào)控方法的應(yīng)用,二氧化硅膜孔徑的調(diào)控方法適用于含有Si-H鍵的硅膜和含有C-H鍵的碳膜。

本發(fā)明的有益效果是:由于制得的二氧化硅膜內(nèi)部有Si-O-Si網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu),在此基礎(chǔ)上加入NH3與SiO2膜內(nèi)部的Si-H基團發(fā)生原位反應(yīng),在二氧化硅結(jié)構(gòu)中形成Si-NH2和/或Si-NH基團,使膜的網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)變的更加致密,導致H2的滲透率比初始值降低了大約40%,但其他氣體如CO2、N2、CH3等的滲透率比H2降低的更多,使得改性后的SiO2膜對H2具有較高的選擇性,該膜在氫氣分離系統(tǒng)中對氫氣表現(xiàn)出優(yōu)異的選擇性。

附圖說明

下面結(jié)合附圖對本發(fā)明進一步說明。

圖1是SiO2膜進行原位反應(yīng)的機理示意圖;

圖2是在400~650℃N2氣氛下煅燒的SiO2膜的FTIR圖和與NH3進行原位反應(yīng)后的FTIR圖,其中,(a)為與NH3進行原位反應(yīng)之前,(b)為與NH3進行原位反應(yīng)之后;

圖3是在400℃下氣體滲透性與分子大小的關(guān)系圖和在550℃下SiO2膜與NH3進行原位反應(yīng)之后的氣體滲透性與分子大小的關(guān)系圖;

圖4是H2/N2,H2/CH4,H2/CO2的選擇性與NH3(550℃,10mol%)反應(yīng)時間的性能圖。

具體實施方式

現(xiàn)在結(jié)合具體實施例對本發(fā)明作進一步說明,以下實施例旨在說明本發(fā)明而不是對本發(fā)明的進一步限定。

實施例1

(1)在異丙醇中,在25℃下通過TRIES、水和HCl(摩爾比TRIES:H2O:HCl=1:240:0.1)的水解與聚合反應(yīng)1h制備倍半硅氧烷(SQ)溶膠;

(2)將與SiO2-ZrO2溶膠混合的二氧化硅玻璃顆粒(顆粒直徑300nm)涂覆在平均孔徑為500nm和孔隙率為64%的多孔玻璃管上,在空氣氣氛550℃高溫條件下煅燒得到平均孔徑為1~2nm的膜的過渡層;

(3)將步驟(1)中得到的聚合溶膠擦涂在步驟(2)中得到的過渡層上,涂完后在N2氣氛550℃高溫下煅燒30min,得到二氧化硅膜;

(4)在200kPa下,把步驟(3)中得到的膜置于溫度為550℃和濃度為10mol%的NH3(載體氣體:He)中進行原位反應(yīng),在二氧化硅結(jié)構(gòu)中形成Si-NH2和/或Si-NH基團。

實施例2

(1)在異丙醇中,在45℃下通過TRIES、水和HCl(摩爾比TRIES:H2O:HCl=1:240:0.1)的水解與聚合反應(yīng)2h制備倍半硅氧烷(SQ)溶膠;

(2)將與SiO2-ZrO2溶膠混合的二氧化硅玻璃顆粒(顆粒直徑300nm)涂覆在平均孔徑為500nm和孔隙率為64%的多孔玻璃管上,在空氣氣氛550℃高溫條件下煅燒得到平均孔徑為1~2nm的膜的過渡層;

(3)將步驟(1)中得到的聚合溶膠擦涂在步驟(2)中得到的過渡層上,涂完后在N2氣氛650℃高溫下煅燒30min,得到二氧化硅膜;

(4)在200kPa下,把步驟(3)中得到的膜置于溫度為650℃和濃度為10mol%的NH3(載體氣體:He)中進行原位反應(yīng),在二氧化硅結(jié)構(gòu)中形成Si-NH2和/或Si-NH基團。

如圖2示,(a)圖為在400~650℃氮氣氣氛下的二氧化硅膜的紅外光譜圖,從圖中可以看出有Si-O-Si網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)和Si-H鍵;高溫惰性氣氛下Si-H鍵并沒有變化;(b)圖為改性后的二氧化硅膜的紅外光譜圖,從圖中可以看出在550~650℃下Si-H鍵消失,Si-NH2鍵和Si-NH鍵出現(xiàn),說明了二氧化硅膜中的Si-H鍵在550~650℃下與NH3發(fā)生了反應(yīng)。

如圖3示,經(jīng)過NH3的改性之后的絕大部分氣體滲透率都有下降,但是H2滲透率下降幅度較CO2、N2和CH4等氣體更少,說明改性之后的膜對H2具有更好的選擇性。

如圖4示,隨著原位NH3反應(yīng)時間的延長,在H2/CH4、H2/N2或H2/CO2分離體系中,膜對H2的選擇性在逐步提高。

以上述依據(jù)本發(fā)明的理想實施例為啟示,通過上述的說明內(nèi)容,相關(guān)工作人員完全可以在不偏離本項發(fā)明技術(shù)思想的范圍內(nèi),進行多樣的變更以及修改。本項發(fā)明的技術(shù)性范圍并不局限于說明書上的內(nèi)容,必須要根據(jù)權(quán)利要求范圍來確定其技術(shù)性范圍。

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