專利名稱：硬幣雙面自動(dòng)檢測(cè)裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種硬幣表面質(zhì)量檢測(cè)裝置，尤其是一種硬幣成品或 坯餅雙面自動(dòng)檢測(cè)裝置，屬于檢測(cè)設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域。
背景技術(shù)：
據(jù)申請(qǐng)人了解，現(xiàn)有的硬幣自動(dòng)檢測(cè)裝置均采用正、背面分開檢 測(cè)的方式進(jìn)行檢測(cè)，至今仍未見正背面同時(shí)檢測(cè)的裝置。因此，現(xiàn)有 的硬幣自動(dòng)檢測(cè)裝置工作效率較低，外廓尺寸大，往往需要配備翻面 機(jī)構(gòu)，因此結(jié)構(gòu)較為復(fù)雜，容易出現(xiàn)故障。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于針對(duì)以上現(xiàn)有技術(shù)存在的缺點(diǎn)，提出一種可 以同時(shí)完成正、背面質(zhì)量檢測(cè)的硬幣雙面自動(dòng)檢測(cè)裝置，從而簡(jiǎn)化結(jié) 構(gòu)，縮減尺寸，減少硬幣的輸送損傷。
為了達(dá)到以上目的，本發(fā)明的硬幣雙面自動(dòng)檢測(cè)裝置包括承載硬 幣的檢測(cè)面、平行光源和與圖像處理系統(tǒng)連接的線陣相機(jī)；其改進(jìn)在 于所述檢測(cè)面傾斜安置，傾斜角大于硬幣和檢測(cè)面的摩擦角，表面 開有長度大于硬幣直徑的成像窄縫；所述成像窄縫處的檢測(cè)面上方和 下方分別安置有正面和背面反光鏡， 一側(cè)安置平行光源和線陣相機(jī)；
上方和下方反射到成像窄縫處，并且將來自所述成^象窄縫處的反射光 二次反射到線陣相機(jī)的位置。
這樣，當(dāng)硬幣經(jīng)過漏斗下幣和理幣輸送，達(dá)到檢測(cè)面時(shí)，將自動(dòng) 沿傾斜的檢測(cè)面下滑，當(dāng)經(jīng)過成像窄縫處時(shí)，硬幣的正面和背面將同
時(shí)接受到光源發(fā)射光的照射，并將照射光線反射回去，經(jīng)正面和背面 反光鏡的二次反射，被線陣相機(jī)攝取，輸送到圖像處理系統(tǒng)中，實(shí)現(xiàn)
硬幣雙面的同時(shí)自動(dòng)檢測(cè)。該裝置的顯著優(yōu)點(diǎn)是檢測(cè)效率高；避免了 硬幣的強(qiáng)制輸送，因此減少了損傷；并且硬幣運(yùn)行距離短，因此結(jié)構(gòu) 緊湊，體積小巧。


下面結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明作進(jìn) 一 步的說明。
圖1為本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例的整機(jī)結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)圖。
圖2為圖1實(shí)施例的局部放大結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)圖。
圖3為圖2的俯視簡(jiǎn)圖。
圖4為圖2檢測(cè)部位的部分A向簡(jiǎn)圖。
圖5為與圖4對(duì)應(yīng)的結(jié)構(gòu)示意圖。
圖6為圖5的俯視圖。
具體實(shí)施方式
實(shí)施例一
本實(shí)施例的硬幣雙面自動(dòng)檢測(cè)裝置整機(jī)結(jié)構(gòu)如圖l所示，包括 漏斗下幣裝置A，用于接收上道工序壓印的成品硬幣；理幣輸送裝置 B,用于將經(jīng)漏斗出幣口的硬幣理齊后輸送到檢測(cè)裝置；正背面同時(shí) 檢測(cè)部分C,用于對(duì)硬幣進(jìn)行正背面同時(shí)檢測(cè)，并剔除有缺陷的硬幣。
具體結(jié)構(gòu)參見圖2、圖3以及圖5和圖6，漏斗下幣裝置A和硬 幣輸送裝置B與現(xiàn)有技術(shù)相同，由漏幣斗1、理幣條2、毛刷3、刮 幣板4、輸幣皮帶5等構(gòu)成。檢測(cè)部分C則由檢測(cè)斜面6、反面反光 鏡7、平行光源8、線陣相機(jī)IO、正面反光鏡ll、剔幣機(jī)構(gòu)12和成 像窄縫13等構(gòu)成。檢測(cè)面一端與輸幣皮帶的輸出端銜接，另一端輸 出到接幣箱，成一定角度朝下傾斜安置，構(gòu)成檢測(cè)斜面，這樣不僅傾
斜角大于硬幣和檢測(cè)面的摩擦角，可以保證硬幣平穩(wěn)下滑，而且滑移
速度適合檢測(cè)。檢測(cè)斜面6表面開有長度大于硬幣9直徑的成像窄縫 13。該成像窄縫處的上方和下方分別安置有正面反光鏡11和背面反 光鏡7, —側(cè)安置平行光源8和線陣相機(jī)10。平行光源8分成上下兩 組，分別朝向正面和背面反光鏡的反光面，正面和背面反光鏡分別位 于將平行光源發(fā)射的兩路平行光束從上方和下方反射到成像窄縫處， 并且將來自通過成像窄縫處硬幣的反射光二次反射到線陣相機(jī)的位 置(參見圖4,其反光面呈45度傾斜)。剔幣機(jī)構(gòu)12安置在4企測(cè)斜 面6上的成像窄縫13之后。
工作時(shí)，硬幣經(jīng)下幣漏斗1進(jìn)入輸幣皮帶5，經(jīng)過理幣條2、毛 刷3、刮幣板4，使硬幣成直線排列，隨后進(jìn)入正背面同時(shí)檢測(cè)斜面 6上。當(dāng)硬幣9下滑經(jīng)過窄縫13時(shí)，正面反光鏡11和背面反光鏡7 在平行光源8的作用下，使硬幣的正、背面圖像同時(shí)成像于線陣相機(jī) 10內(nèi)，采集到的圖像經(jīng)圖像處理系統(tǒng)的處理單元處理后，如果硬幣 存在缺陷，即發(fā)信號(hào)給剔幣機(jī)構(gòu)12剔除該枚硬幣。.
正、背面同時(shí)成像的原理如圖4所示正面反光鏡ll和背面反 光鏡7與檢測(cè)斜面6的上、下表面分別成45度夾角，形成"<"形分 布，硬幣的正面可通過正面反光鏡ll成像于線陣相才幾IO內(nèi)，硬幣的 反面可通過成像窄縫13并由反面反光鏡7成像于線陣相機(jī)10內(nèi)。在 兩反光鏡、窄縫和光源的綜合作用下，硬幣的正、背兩個(gè)表面同時(shí)成 像于線陣相機(jī)10內(nèi)。
歸納起來，本發(fā)明的硬幣雙面自動(dòng)檢測(cè)裝置具有以下優(yōu)點(diǎn)檢測(cè) 效率高；避免了硬幣的強(qiáng)制輸送，因此減少了損傷；硬幣運(yùn)行距離短， 因此結(jié)構(gòu)緊湊，體積小巧；硬幣正反兩面都有光線照射，邊緣成像效
果明顯改善。
本發(fā)明的硬幣是廣義概念，既包括流通硬幣的成品和坯餅，也包 括紀(jì)念章、紀(jì)念幣等硬幣類似物的成品和坯餅。除上述實(shí)施例外，本 發(fā)明還可以有其他實(shí)施方式。凡采用等同替換或等效變換形成的技術(shù) 方案，均落在本發(fā)明要求的保護(hù)范圍。
權(quán)利要求
1.一種硬幣雙面自動(dòng)檢測(cè)裝置，包括承載硬幣的檢測(cè)面、平行光源和與圖像處理系統(tǒng)連接的線陣相機(jī)；其特征在于所述檢測(cè)面傾斜安置，傾斜角大于硬幣和檢測(cè)面的摩擦角，表面開有長度大于硬幣直徑的成像窄縫；所述成像窄縫處的檢測(cè)面上方和下方分別安置有正面和背面反光鏡，一側(cè)安置平行光源和線陣相機(jī)；所述正面和背面反光鏡分別位于將平行光源發(fā)射的兩路平行光束從上方和下方反射到成像窄縫處，并且將來自所述成像窄縫處的反射光二次反射到線陣相機(jī)的位置。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所迷硬幣雙面自動(dòng)檢測(cè)裝置，其特征在于 所述檢測(cè)斜面一端與輸幣皮帶的輸出端銜接，另 一端輸出到接幣箱。
3. 根據(jù)權(quán)利要求2所述硬幣雙面自動(dòng)檢測(cè)裝置，其特征在于 所述平行光源分成上下兩組，分別朝向正面和背面反光#:的反光面。
4. 根據(jù)權(quán)利要求3所述硬幣雙面自動(dòng)檢測(cè)裝置，其特征在于 所述正面反光鏡和背面反光鏡與檢測(cè)斜面的上、下表面分別成45度 夾角，形成"<"形分布。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種硬幣雙面自動(dòng)檢測(cè)裝置，屬于檢測(cè)設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域。該裝置包括承載硬幣的檢測(cè)面、平行光源和與圖像處理系統(tǒng)連接的線陣相機(jī)；檢測(cè)面傾斜安置，傾斜角大于硬幣和檢測(cè)面的摩擦角，表面開有長度大于硬幣直徑的成像窄縫；成像窄縫處的檢測(cè)面上方和下方分別安置有正面和背面反光鏡，一側(cè)安置平行光源和線陣相機(jī)；正面和背面反光鏡分別位于將平行光源發(fā)射的兩路平行光束從上方和下方反射到成像窄縫處，并且將來自所述成像窄縫處的反射光二次反射到線陣相機(jī)的位置。本發(fā)明的顯著優(yōu)點(diǎn)是檢測(cè)效率高；避免了硬幣的強(qiáng)制輸送，因此減少了損傷；并且硬幣運(yùn)行距離短，因此結(jié)構(gòu)緊湊，體積小巧。
文檔編號(hào)B07C5/342GK101339144SQ200810021698
公開日2009年1月7日 申請(qǐng)日期2008年8月14日 優(yōu)先權(quán)日2008年8月14日
發(fā)明者超 周, 唐承德, 張強(qiáng)勇 申請(qǐng)人:中國印鈔造幣總公司