專(zhuān)利名稱(chēng)：一種光電二極管芯片的篩選方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明有關(guān)一種芯片的篩選方法，特別是指一種用于挑除不合格的光電二極管芯片的分揀篩選方法。
背景技術(shù)：
目前，光電二極管芯片在經(jīng)過(guò)光電測(cè)試時(shí)一般都是采用打墨點(diǎn)的方式標(biāo)注出不合格芯片，之后再將這些不合格品進(jìn)行挑除。挑除的方法有兩種，一是人工挑除法，即人在顯微鏡下用鑷子將不合格芯片一個(gè)個(gè)夾出，這種方法不僅需要大量的人力，而且所需時(shí)間長(zhǎng)效率低，并且人在挑除的過(guò)程中還會(huì)存在漏挑、誤挑、夾碎、誤傷及造成污染其他合格芯片的風(fēng)險(xiǎn)，增加了成本；二是設(shè)備挑除法，此種設(shè)備價(jià)格昂貴，且挑除時(shí)需要用頂針刺破藍(lán)膜來(lái)頂起芯片以便吸取，所以芯片篩選后還需進(jìn)行芯片翻轉(zhuǎn)，將合格芯片轉(zhuǎn)移到另一張全新的藍(lán)膜上，芯片的翻轉(zhuǎn)不僅費(fèi)時(shí)費(fèi)力，且在翻轉(zhuǎn)時(shí)需要給芯片一定的壓力來(lái)實(shí)現(xiàn)翻轉(zhuǎn)，對(duì)芯片造成了二次損傷。

發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此，本發(fā)明的主要目的在于提供一種成本低、效率高、能夠一次性將不合格芯片剔除且不會(huì)對(duì)合格芯片造成額外損傷的光電二極管芯片的篩選方法。為達(dá)到上述目的，本發(fā)明提供一種光電二極管芯片的篩選方法，該方法包括: 步驟一、取解理好的芯片進(jìn)行光電測(cè)試，利用打點(diǎn)器在不合格芯片上噴打UV膠水進(jìn)行
標(biāo)記；
步驟二、測(cè)試完成后將電子級(jí)透明玻璃紙貼到芯片的上表面，使UV膠水與不合格芯片及玻璃紙充分的接觸；
步驟三、將蓋好玻璃紙的芯片放入紫外燈下照射，使UV膠水固化從而使不合格芯片與玻璃紙充分粘合；
步驟四、將芯片從紫外燈下取出，撕去玻璃紙，通過(guò)UV膠水與玻璃紙間的粘性將測(cè)試不合格的芯片一次性剔除。所述UV膠水在室溫下成液態(tài)，且流動(dòng)性適中，既不會(huì)過(guò)粘堵塞打點(diǎn)器，又不能過(guò)稀流動(dòng)性過(guò)大造成對(duì)周?chē)细裥酒奈廴?。所述步驟三中，照射時(shí)間至少為5秒。本發(fā)明的方法可以把所有不合格芯片一次性剔除掉，省時(shí)省力，準(zhǔn)確率高，不存在誤挑漏挑問(wèn)題，操作簡(jiǎn)單，成本低廉，且不會(huì)對(duì)合格芯片造成額外的損傷。


圖1為本發(fā)明光電二極管芯片的篩選方法的步驟流程圖。
具體實(shí)施方式
為便于對(duì)本發(fā)明的方法及達(dá)到的效果有進(jìn)一步的了解，現(xiàn)結(jié)合附圖并舉較佳實(shí)施例詳細(xì)說(shuō)明如下。如圖1所示，本發(fā)明光電二極管芯片的篩選方法的步驟包括:
步驟1、取解理好的芯片進(jìn)行光電測(cè)試，將傳統(tǒng)的打墨點(diǎn)標(biāo)注不合格芯片的方法改成噴打UV (Utlraviolet,紫外線(xiàn))膠水進(jìn)行標(biāo)記，此膠水在室溫下成液態(tài)，且流動(dòng)性適中，既不會(huì)過(guò)粘堵塞打點(diǎn)器，又不能過(guò)稀流動(dòng)性過(guò)大造成對(duì)周?chē)细裥酒奈廴荆?br> 步驟2、測(cè)試完成后將電子級(jí)透明玻璃紙小心的貼到芯片的上表面，使膠水與不合格芯片及玻璃紙充分的接觸；
步驟3、將蓋好玻璃紙的芯片放入紫外燈下照射，照射時(shí)間至少為5秒，即可使膠水固化從而使不合格芯片與玻璃紙充分粘合；
步驟4、將芯片從紫外燈下取出，撕去玻璃紙，由于不合格芯片與玻璃紙粘合在一起，因此可通過(guò)膠水與玻璃紙間的粘性將測(cè)試不合格的芯片去除。由上述可見(jiàn)，本發(fā)明采用適當(dāng)?shù)腢V膠水及紫外燈照射的方法使不合格芯片粘在玻璃紙上并通過(guò)撕去玻璃紙的方法一次性剔除不合格芯片。本發(fā)明的方法相對(duì)于現(xiàn)有技術(shù)具有以下有益效果:
I本發(fā)明能一次性去除所有測(cè)試不合格芯片，不存在人為遺漏；
2本發(fā)明不需要昂貴的設(shè)備，降低了生產(chǎn)成本；
3改善了傳統(tǒng)挑除方法中人力需求多，效率低等問(wèn)題；
4本發(fā)明的整個(gè)操作過(guò)程不會(huì)對(duì)合格芯片造成二次污染及損傷，減少了芯片的浪費(fèi)。以上所述，僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例而已，并非用于限定本發(fā)明的保護(hù)范圍。
權(quán)利要求
1.一種光電二極管芯片的篩選方法，其特征在于，該方法包括: 步驟一、取解理好的芯片進(jìn)行光電測(cè)試，利用打點(diǎn)器在不合格芯片上噴打UV膠水進(jìn)行標(biāo)記； 步驟二、測(cè)試完成后將電子級(jí)透明玻璃紙貼到芯片的上表面，使UV膠水與不合格芯片及玻璃紙充分的接觸； 步驟三、將蓋好玻璃紙的芯片放入紫外燈下照射，使UV膠水固化從而使不合格芯片與玻璃紙充分粘合； 步驟四、將芯片從紫外燈下取出，撕去玻璃紙，通過(guò)UV膠水與玻璃紙間的粘性將測(cè)試不合格的芯片一次性剔除。
2.如權(quán)利要求1所述的光電二極管芯片的篩選方法，其特征在于，所述UV膠水在室溫下成液態(tài)，且流動(dòng)性適中，既不會(huì)過(guò)粘堵塞打點(diǎn)器，又不能過(guò)稀流動(dòng)性過(guò)大造成對(duì)周?chē)细裥酒奈廴尽?br> 3.如權(quán)利要求1所述的光電二極管芯片的篩選方法，其特征在于，所述步驟三中，照射時(shí)間至少為5秒。
全文摘要
本發(fā)明公開(kāi)了一種光電二極管芯片的篩選方法，該方法包括步驟一、取解理好的芯片進(jìn)行光電測(cè)試，利用打點(diǎn)器在不合格芯片上噴打UV膠水進(jìn)行標(biāo)記；步驟二、測(cè)試完成后將電子級(jí)透明玻璃紙貼到芯片的上表面，使UV膠水與不合格芯片及玻璃紙充分的接觸；步驟三、將蓋好玻璃紙的芯片放入紫外燈下照射，使UV膠水固化從而使不合格芯片與玻璃紙充分粘合；步驟四、將芯片從紫外燈下取出，撕去玻璃紙，通過(guò)UV膠水與玻璃紙間的粘性將測(cè)試不合格的芯片一次性剔除。本發(fā)明的方法可以把所有不合格芯片一次性剔除掉，省時(shí)省力，準(zhǔn)確率高，不存在誤挑漏挑問(wèn)題，操作簡(jiǎn)單，成本低廉，且不會(huì)對(duì)合格芯片造成額外的損傷。
文檔編號(hào)B07C5/00GK103143507SQ20131006265
公開(kāi)日2013年6月12日 申請(qǐng)日期2013年2月27日 優(yōu)先權(quán)日2013年2月27日
發(fā)明者陳如山, 金燦, 陳曉莉, 王權(quán)兵 申請(qǐng)人:武漢電信器件有限公司