本發(fā)明是有關于一種分類方法及裝置，尤指使用在具有不同特性的電子元件上，將多個電子元件各自依其特性分配至不同收集區(qū)的電子元件分類方法及裝置。

背景技術：

按，一般電子元件由于具有不同的物理特性，故常需經(jīng)由檢測、分選的程序來進行包裝或分類，由于電子元件的微細化及量大屬性，用于作檢測、分類的裝置必須提供精密、迅速的搬送，此外，由于制程因素，同一電子元件的物理特性愈來愈多樣化，因此分類裝置的可分類級(Bin)數(shù)被要求日益提升，由早期的32級增加到64級，至目前常用的128級或256級，甚至業(yè)界已有512級的分類裝置出現(xiàn)，隨著電子元件分類級數(shù)的提升且因其物理特性具有集中于部分料碼(Bin Code)的情形，遂有如專利號第I402108號「用于測試和分類電子元件的系統(tǒng)」的方式，以兩個輸送管道將不同特性的電子元件由旋轉臺移動到高速容器盤或常規(guī)容器盤來提高分類速度，其中，高速容器盤的接收座數(shù)量小于常規(guī)容器盤。

技術實現(xiàn)要素：

惟，已知的兩個輸送管道搭配兩個接收座數(shù)量不同的容器盤的分類方式雖可提高分類速度，但需使用在電子元件的特性集中在少數(shù)料碼之前提下，一般是適用于128級以下的分類，若是使用于256級以上的分類，此種集中在少數(shù)料碼的情形雖然還是會存在，但因級數(shù)的增加，原本高速容器盤的接收座數(shù)量亦需提升，且以256級的分類為例，在分成一個是1至128料碼的容器盤，另一個是129至256料碼的容器盤，在兩個輸送管道搭配兩個容器盤的情形下，請參閱圖10，電子元件由旋轉臺間歇旋轉搬運到定位排出會有四種邏輯，只要電子元件有從旋轉臺排出一次，就需等待一次電子元件在輸送管道內移動至容器盤的移動時間，只有在皆不需要排出的﹝無；無﹞情形，才可節(jié)省該次的移動時間，使旋轉臺快速轉動至下一排出情形發(fā)生，因在256級的分類下電子元件特性一般會較集中于第1至128料碼的區(qū)間，故有一輸送管道單獨使用占了85％的比例，這意謂著另一輸送管道有85％比例閑置，而可節(jié)省移動時間的﹝無；無﹞情形僅有5％比例；換言之，隨著高速容器盤的接收座數(shù)量提升甚至等同于常規(guī)容器盤的接收座數(shù)量時，將會導致一個輸送管道處于過于忙碌狀態(tài)，而另一個輸送管道大部分處于閑置狀態(tài)，產(chǎn)生電子元件在旋轉臺內耗費額外時間等待進入輸送管道處的情形，無法均勻分配兩個輸送管道的效能，電子元件分類速度受到限制。

爰是，本發(fā)明的目的，在于提供一種有效提高電子元件分類速度的電子元件分類方法。

本發(fā)明的另一目的，在于提供一種有效提高電子元件分類速度的電子元件分類裝置。

依據(jù)本發(fā)明目的的電子元件分類方法，包括：使多個電子元件被一檢測機構進行搬送及特性檢測，當電子元件被檢測出其料碼歸類為單數(shù)時，將該電子元件由一第一排出管經(jīng)一第一分配裝置至一第一收集區(qū)收集；當電子元件被檢測出其料碼歸類為雙數(shù)時，將該電子元件由一第二排出管經(jīng)一第二分配裝置至一第二收集區(qū)收集。

依據(jù)本發(fā)明另一目的的電子元件分類裝置，包括：用以執(zhí)行如權利要求1所述種電子元件分類方法的裝置。

依據(jù)本發(fā)明另一目的的另一電子元件分類裝置，包括：一檢測機構，執(zhí)行一間歇旋轉的電子元件搬運流路并檢測電子元件的特性，該檢測機構設有一測盤，該測盤周緣等距環(huán)列布設有多個容槽供電子元件容置；一第一收集區(qū)，該第一收集區(qū)設有多個第一類料盒，用以收集檢測后料碼歸類為單數(shù)的電子元件；一第二收集區(qū)，該第二收集區(qū)設有多個第二類料盒，用以收集檢測后料碼歸類為雙數(shù)的電子元件；一第一分配裝置，該第一分配裝置與一第一排出管連通，該第一排出管對應該測盤其中一容槽，該第一分配裝置設有一分配頭，該分配頭可選擇性的移動對應至一分配座的多個分配管其中之一，該分配管與該第一收集區(qū)的該第一類料盒相對應；一第二分配裝置，該第二分配裝置與一第二排出管連通，該第二排出管對應該測盤其中一容槽，該第二分配裝置設有一分配頭，該分配頭可選擇性的移動對應至一分配座的多個分配管其中之一，該分配管與該第二收集區(qū)的該第二類料盒相對應。

本發(fā)明實施例的電子元件分類方法及裝置，依電子元件檢測后被歸類的料號，將單數(shù)料號的電子元件，借由第一排出管排出至第一分配裝置，經(jīng)水平位移與上下弧形擺移或以第一方向與第二方向水平位移的移動路徑，最后落下至第一收集區(qū)的預定的第一類料盒被收集；而雙數(shù)料號的電子元件，借由第二排出管與第二分配裝置，經(jīng)水平位移與上下弧形擺移或以第一方向與第二方向水平位移的移動路徑，最后落下至第二收集區(qū)的預定的第二類料盒被收集；因第一收集區(qū)與第二收集區(qū)分別收集單數(shù)與雙數(shù)料號的電子元件，第一類料盒與第二類料盒總數(shù)相等，且電子元件由測盤至第一收集區(qū)或第二收集區(qū)的路徑長度相等，可降低電子元件單一集中使用于第一排出管或第二排出管的比例，請參閱圖11，因電子元件均勻分配至第一收集區(qū)與第二收集區(qū)，故測盤排出的四種邏輯會趨向各25％的比例分配，這意謂著可節(jié)省時間的﹝無；無﹞情形比例提升，將可有效提高電子元件整體分類的速度。

【附圖說明】

圖1是本發(fā)明實施例的電子元件分類裝置的示意圖。

圖2是本發(fā)明實施例的第一收集區(qū)的第一類料盒與第二收集區(qū)的第二類料盒料碼配置的示意圖。

圖3是本發(fā)明實施例的第一收集區(qū)的立體示意圖。

圖4是本發(fā)明實施例的第一分配裝置的立體示意圖。

圖5是本發(fā)明實施例的分配座的立體示意圖。

圖6是本發(fā)明實施例的第一分配裝置與第一收集區(qū)的側面示意圖。

圖7是本發(fā)明實施例的第一分配裝置的俯視示意圖。

圖8是本發(fā)明另一實施例的第一分配裝置的立體示意圖。

圖9是本發(fā)明另一實施例的第一分配裝置的俯視示意圖。

圖10是本發(fā)明比較例的電子元件排出邏輯比例示意圖。

圖11是本發(fā)明實施例的電子元件排出邏輯比例示意圖。

【符號說明】

A 檢測機構 A1 測盤

A11 容槽 A2 送料機

A21 輸送槽道 A3 檢測儀器

A4 第一排出管 A5 第二排出管

B 第一收集區(qū) B1 第一類料盒

B2 導料件 B3 拖架

B31 拖座 B311 握把

B4 載臺 B5 撓性管

C 第一收集區(qū) C1 第二類料盒

D 第一分配裝置 D1 模座

D11 操作區(qū)間 D12 第一側座

D13 第二側座 D14 第三側座

D15 滑軌 D2 第一驅動件

D21 皮帶 D3 第二驅動件

D31 輸出軸 D32 驅動臂

D33 連動臂 D4 移擺機構

D41 第一固定座 D42 嵌輪

D43 轉軸 D44 嵌溝

D45 第二固定座 D46 撥架

D47 分配頭 D48 樞座

D5 分配座 D51 上端緣

D6 分配管 D61 端口

D’ 第一分配裝置 D1’ 模座

D11’ 操作區(qū)間 D12’ 第一側座

D13’ 第二側座 D14’ 第三側座

D2’ 第一驅動件 D21’ 輸出軸

D22’ 樞座 D23’ 嵌溝

D3’ 第一滑軌 D4’ 第二滑軌

D5’ 第二驅動件 D51’ 輸出軸

D52’ 驅動臂 D53’ 連動臂

D6’ 滑座 D61’ 第一固定座

D62’ 第二固定座 D63’ 第一嵌輪

D64’ 第二嵌輪 D65’ 皮帶

D66’ 第三滑軌 D67’ 第三固定座

D7’ 分配頭 D8’ 分配座

D9’ 分配管 D91’ 端口

E 第二分配裝置 E’ 第二分配裝置

T 機臺 W 電子元件

【具體實施方式】

請參閱圖1，本發(fā)明實施例的電子元件分選方法可以圖中所示分選裝置為例作說明，包括：

一檢測機構A，包括一可作間歇旋轉的測盤A1，該測盤A1受架高于一機臺T臺面上，周緣環(huán)列布設等間距凹設的容槽A11，可借自震動送料機A2的輸送槽道A21承載電子元件W以間歇性旋轉流路搬送電子元件W；測盤A1上方可設置各種物理特性檢測儀器A3以對位于測盤A1周緣容槽A11中的電子元件W進行檢測；檢測機構A設有一第一排出管A4與一第二排出管A5，該第一排出管A4與該第二排出管A5分別各對應連通測盤A1的不同容槽A11，可用以將完成檢測的電子元件W依其物理特性所歸類的料碼為單數(shù)或雙數(shù)，分別由第一排出管A4或第二排出管A5予以排出分類；

一第一收集區(qū)B，該第一收集區(qū)B設于機臺T臺面下方，用以收集檢測后料碼歸類為單數(shù)的電子元件W；

一第二收集區(qū)C，該第二收集區(qū)C設于機臺T臺面下方，用以收集檢測后料碼歸類為雙數(shù)的電子元件W；

一第一分配裝置D，該第一分配裝置D設于第一收集區(qū)B上方，并與第一排出管A4連通，料碼為單數(shù)的電子元件W經(jīng)第一分配裝置D落下至第一收集區(qū)B；

一第二分配裝置E，該第二分配裝置E設于第二收集區(qū)C上方，并與第二排出管A5連通，料碼為雙數(shù)的電子元件W經(jīng)第二分配裝置E落下至第二收集區(qū)C。

請參閱圖1、2，該第一收集區(qū)B與第二收集區(qū)C內各設有多個第一類料盒B1與第二類料盒C1，該第一類料盒B1是提供料碼為單數(shù)的電子元件W的存儲空間，該第二類料盒C1是提供料碼為雙數(shù)的電子元件W的存儲空間，該第一類料盒B1的總數(shù)等于該第二類料盒C1總數(shù)且分別以矩陣方式排列，在本發(fā)明實施例中，是將電子元件W分成256級，故第一收集區(qū)B的多個第一類料盒B1的料碼分別為1、3、5、…、255，第二收集區(qū)C的多個第二類料盒C1的料碼分別為2、4、6、…、256，各采13×10的矩陣排列且各有兩個位于角落的第一類料盒B1與第二類料盒C1閑置未使用。

請參閱圖1、3，第一收集區(qū)B與第二收集區(qū)C左右對稱且具有相同的機構，在此僅以第一收集區(qū)B作為表示，第一收集區(qū)B包括：多個第一類料盒B1與多個導料件B2；多個第一類料盒B1以矩陣方式排列于一拖架B3中，該拖架B3下部設有一拖座B31，該拖座B31上設有可供手執(zhí)拖移的握把B311；該多個導料件B2各為管狀體且以矩陣方式排列于一載臺B4上，各導料件B2分別各對應一種料號的第一類料盒B1，并各位于所對應第一類料盒B1的相對上方。

請參閱圖1、4，第一分配裝置D與第二分配裝置E左右對稱且具有相同的機構僅左、右配置相反，在此僅以第一分配裝置D作為表示，第一分配裝置D包括：一設于機臺T上的模座D1，其設有一鏤空的操作區(qū)間D11，并經(jīng)由該鏤空的操作區(qū)間D11將模座D1區(qū)隔出位于操作區(qū)間D11一側的第一側座D12，以及對應第一側座D12并與其平行且位于操作區(qū)間D11另一側的第二側座D13，和位于第一側座D12與第二側座D13間，朝相對遠離測盤A1方向的操作區(qū)間D11另一側的第三側座D14；

該第一側座D12上方設有由馬達構成的第一驅動件D2，其輸出軸(圖中未示)平行第一側座D12表面，并朝在遠離測盤A1的方向伸設；第二側座D13下方設有一由馬達構成的第二驅動件D3，其偏靠朝遠離測盤A1的方向設置，其輸出軸D31垂直第二側座D13表面，并凸伸于第二側座D13表面；第三側座D14上設置一移擺機構D4，其以一第一固定座D41樞設一嵌輪D42，嵌輪D42中設有一轉軸D43，該轉軸D43的圓周設有軸向嵌溝D44，轉軸D43的軸向與該第一側座D12上的第一驅動件D2輸出軸平行，轉軸D43的一端凸伸于嵌輪D42后端，轉軸D43借該嵌溝D44嵌卡并與嵌輪D42旋轉連動，但轉軸D43可自由伸經(jīng)嵌輪D42并于其中前后滑移；該轉軸D43位于嵌輪D42的另一端伸經(jīng)第一固定座D41而與一第二固定座D45固定并在軸向位移上連動，但轉軸D43的旋轉不與第二固定座D45連動；該第二固定座D45呈L型而以一側設于第二側座D13上一滑軌D15，該滑軌D15與轉軸D43的軸向平行；轉軸D43伸經(jīng)第二固定座D45前方并于端部固設一與轉軸D43軸向垂直的撥架D46，撥架D46底端設有一分配頭D47，該分配頭D47連通第一排出管A4尾端以承接電子元件W；該第一側座D12上的第一驅動件D2輸出軸(圖中未示)以一與輸出軸軸向垂直圈設的皮帶D21與移擺機構D4嵌輪D42形成連動，使水平設置的轉軸D43可被驅動進行間歇性轉動，而帶動其前端的撥架D46進行與轉軸D43軸向垂直之間歇性旋擺運動；

該第二側座D13的第二驅動件D3的輸出軸D31固設一與輸出軸D31垂直設置的驅動臂D32一端，驅動臂D32另一端則樞設一連動臂D33一端，該連動臂D33另一端則與該移擺機構D4第二固定座D45上一樞座D48樞設，并借此形成連動，以借單獨驅動第二固定座D45在滑軌D15上滑移作間歇性直線運動時，將帶動轉軸D43可沿轉軸軸向作間歇性水平位移，并連動撥架D46及其上分配頭D47在轉軸D43軸向前、后伸移地作間歇性水平位移，此時分配頭D47的移動路徑為一直線并與轉軸D43軸向在相隔一間距下相互平行；

請同時配合參閱圖5、6，在鏤空的操作區(qū)間D11下方設有一三度空間的矩形立體向下凹陷的凹弧狀平面的分配座D5，其三度空間的矩形立體向下凹陷的凹弧狀平面兩側上端緣D51分別各固設于操作區(qū)間D11兩側的第一側座D12及第二側座D13上，而由兩側的第一側座D12及第二側座D13處向下凹陷弧設，分配座D5矩形的凹弧狀平面上設有多個分配管D6，各分配管D6的配設呈由上往下的扇形放射狀配置，其下端各分別接設一透明撓性管B5至對應的導料件B2，各分配管D6上方端口D61呈凹弧狀平面排列布設，分配頭D47是在各分配管D6上方端口D61排列布設的凹弧狀平面作上、下的弧形擺移。

請參閱圖1、6、7，本發(fā)明實施例的電子元件分類裝置在實施上，使多個電子元件W容置于檢測機構A的測盤A1的容槽A11中被測盤A1進行搬送及受測盤A1上方的檢測儀器A3檢測，當電子元件W被檢測出其料碼歸類為單數(shù)時，將該電子元件W由一第一排出管A4排出至第一分配裝置D的分配頭D47，在電子元件W尚未經(jīng)分配頭D47排進預定分配管D6前，第一驅動件D2驅動嵌輪D42連動轉軸D43旋轉，使撥架D46載動分配頭D47作間歇性旋擺運動，并貼靠在分配座D5上方凹弧狀平面排列布設的各分配管D6上方端口D61上緣作上、下的弧形擺移，同時第二驅動件D3也使驅動臂D32驅動連動臂D33使第二固定座D45在滑軌D15上以間歇性直線運動作前、后的水平位移，以連動撥架D46載動分配頭D47作前或后位移，而由該弧形擺移配合直線滑移將撥架D46上分配頭D47選擇性的移動到預定的分配管D6上方端口D61，以令第一排出管A4中的電子元件W經(jīng)分配頭D47被卸放至預定的分配管D6中再自撓性管B5落下至第一收集區(qū)B預定的第一類料盒B1被收集；而當電子元件W被檢測出其料碼歸類為雙數(shù)時，將該電子元件W由一第二排出管A5排出經(jīng)第二分配裝置E至第二收集區(qū)C被收集，因第二分配裝置E、第二收集區(qū)C與第一分配裝置D、第一收集區(qū)B的機構相同，實施方式相同于上述，在此不多加贅述，且電子元件W由測盤A1排出至第一收集區(qū)B的移動路徑長度等于排出至第二收集區(qū)C的移動路徑長度。

請參閱圖1、8、9，本發(fā)明另一實施例的第一分配裝置D’與第二分配裝置E’左右對稱且具有相同的機構僅左、右配置相反，在此僅以第一分配裝置D’作為表示，第一分配裝置D’包括：一設于機臺T上的模座D1’，其設有一操作區(qū)間D11’，并經(jīng)由該操作區(qū)間D11’將模座D1’區(qū)隔出位于操作區(qū)間D11’一側的第一側座D12’，以及對應第一側座D12’并與其平行且位于操作區(qū)間D11’另一側的第二側座D13’，和位于第一側座D12’與第二側座D13’間，且朝相對遠離測盤A1方向的操作區(qū)間D11’另一側的第三側座D14’；

該第一側座D12’上方設有由馬達構成的第一驅動件D2’，其輸出軸D21’平行第一側座D12’表面，并朝在靠近測盤A1的方向伸設，輸出軸D21’末端與模座D1’上一樞座D22’樞設；第一側座D12’同時設有第一滑軌D3’，該第一滑軌D3’與輸出軸D21’平行并位于輸出軸D21’與操作區(qū)間D11’間；該第二側座D13’上設有一第二滑軌D4’設于第二側座D13’上并與第一滑軌D3’平行；該第三側座D14’下方設有一由馬達構成的第二驅動件D5’，其輸出軸D51垂直第二側座D13’表面，并凸伸于第二側座D13’表面；輸出軸D51’固設一與輸出軸D51’垂直設置的驅動臂D52’一端，驅動臂D52’另一端則樞設一連動臂D53’一端，連動臂D53’另一端則與一滑座D6’樞接并與其連動；該第二驅動件D5’的輸出軸D51’位于第二側座D13’一端之外側朝遠離測盤A1的方向設置，其并位于第一滑軌D3’與第二滑軌D4’間；

該滑座D6’與第一滑軌D3’、第二滑軌D4’垂直并設于其上，可受該第二驅動件D5’的連動臂D53’一端連動，而受第二驅動件D3’驅動在第一滑軌D3’與第二滑軌D4’上作滑移；滑座D6’的兩端各伸跨該第一側座D12’、第二側座D13’的上方，且兩端對應在近第一滑軌D3’與第二滑軌D4’上方處分別各設有第一固定座D61’、第二固定座D62’，第一固定座D61’上設有第一嵌輪D63’，第二固定座D62’上設有第二嵌輪D64’，其特征在于，第一驅動件D2’的輸出軸D21’樞經(jīng)第一嵌輪D63’并借輸出軸D21’上設有軸向嵌溝D23’而與其嵌設并連動進行轉動，但第一嵌輪D63’則可于輸出軸D21’上隨第一固定座D61’作滑移，同時于第一嵌輪D63’、第二嵌輪D64’之間繞設有一皮帶D65’；該滑座D6’上設有一橫跨兩端并與第一滑軌D3’、第二滑軌D4’垂直的第三滑軌D66’，皮帶D65’在保持一上、下之間距下設于滑座D6’的第三滑軌D66’上方，第三滑軌D66’上設有一第三固定座D67’，其與繞設的皮帶D65’下方段固設并受其連動地可在第三滑軌D66’上作間歇性位移，第三固定座D67’上設有一分配頭D7’；該分配頭D7’一端以該第三固定座D67’設于第三滑軌D66’上而僅能作第一方向的位移，其與該電子元件W的第一排出管A4連結且呈懸空于該第三滑軌D66’外一側的分配座D8’上方；

該分配頭D7’一端連接第一排出管A4以承接電子元件W，其下方位于該操作區(qū)間D11’上方；該操作區(qū)間D11’中設有分配座D8’，其上設有多數(shù)個分配管D9’，其各分配管D9’的配設呈由上往下的直向狀配置，其下端各分別接設一透明撓性管B5至對應的導料件B2(圖6)，各分配管D9’上方端口D91’呈平面排列布設，分配頭D7’是在各分配管D9’上方端口D91’排列布設的平面作前、后、左、右的位移。

本發(fā)明另一實施例的電子元件分類裝置在實施上，使多個電子元件W容置于于檢測機構A的測盤A1的容槽A11中被測盤A1進行搬送及受測盤A1上方的檢測儀器A3檢測，當電子元件W被檢測出其料碼歸類為單數(shù)時，將該電子元件W由一第一排出管A4排出至第一分配裝置D’的分配頭D7’，在電子元件W尚未經(jīng)分配頭D7’排進預定分配管D9’前，第一驅動件D2’驅動第一嵌輪D63’旋轉以連動皮帶D65’繞轉，使帶動第三固定座D67’在第三滑軌D66’上作間歇性位移，并載動分配頭D7’以間歇性直線運動作面對操作者左、右水平直線的第一方向位移，并貼靠在分配座D8’上方平面排列布設的各分配管D9’上方端口D91’上緣作左、右水平直線位移，同時第二驅動件D5’也使驅動臂D52’驅動連動臂D53’使該滑座D6’在第一滑軌D3’、第二滑軌D4’上以間歇性直線運動作面對操作者前、后水平直線的第二方向位移，以連動分配頭D7’作前、后位移，而由該左、右水平直線位移配合前、后的水平直線位移將分配頭D7’選擇性的移動到預定的分配管D9’上方端口D91’，以令第一排出管A4中的電子元件W經(jīng)分配頭D7’被卸放至預定的分配管D9’再自撓性管B5落下至第一收集區(qū)B預定的第一類料盒B1被收集；而當電子元件W被檢測出其料碼歸類為雙數(shù)時，將該電子元件W由一第二排出管A5排出經(jīng)第二分配裝置E’至第二收集區(qū)C被收集，因第二分配裝置E’、第二收集區(qū)C與第一分配裝置D’、第一收集區(qū)B的機構相同，實施方式相同于上述，在此不多加贅述，且電子元件W由測盤A1排出至第一收集區(qū)B的移動路徑長度等于排出至第二收集區(qū)C的移動路徑長度。

本發(fā)明實施例的電子元件分類方法及裝置，依電子元件W檢測后被歸類的料號，將單數(shù)料號的電子元件W，借由第一排出管A4排出至第一分配裝置D，經(jīng)水平位移與上下弧形擺移或以第一方向與第二方向水平位移的移動路徑，最后落下至第一收集區(qū)B的預定的第一類料盒B1被收集；而雙數(shù)料號的電子元件W，借由第二排出管A5與第二分配裝置E，經(jīng)水平位移與上下弧形擺移或以第一方向與第二方向水平位移的移動路徑，最后落下至第二收集區(qū)C的預定的第二類料盒C1被收集；因第一收集區(qū)B與第二收集區(qū)C分別收集單數(shù)與雙數(shù)料號的電子元件W，第一類料盒B1與第二類料盒C1總數(shù)相等，且電子元件W由測盤A1至第一收集區(qū)B或第二收集區(qū)C的路徑長度相等，可降低電子元件W單一集中使用于第一排出管A4或第二排出管A5的比例，請參閱圖11，因電子元件W均勻分配至第一收集區(qū)B與第二收集區(qū)C，故測盤A1排出的四種邏輯會趨向各25％的比例分配，這意謂著可節(jié)省時間的﹝無；無﹞情形比例提升，將可有效提高電子元件W整體分類的速度。

惟以上所述者，僅為本發(fā)明的較佳實施例而已，當不能以此限定本發(fā)明實施的范圍，即大凡依本發(fā)明申請專利范圍及發(fā)明說明內容所作的簡單的等效變化與修飾，皆仍屬本發(fā)明專利涵蓋的范圍內。