本實用新型涉及致冷件生產技術領域的設備，具體地說是涉及晶粒的挑選裝置。

背景技術：

半導體致冷件包括瓷板和晶粒，晶粒是由晶板切割而成的，合格的晶粒應該是規(guī)整（角、棱規(guī)范的）的正方體或長方體的結構，在加工過程中，有時會產生一些不規(guī)整的晶粒，例如缺角的晶粒和少棱的晶粒，這些晶粒就是廢品，不能使用，在下一步生產中需要將這些廢品的晶粒挑選出去，保證只能是合格品才可以流入下一道工序；現有技術中，使用的是人工挑選，還沒有自動化程度高的挑選裝置，使用人工挑選具有勞動強度大、漏檢率高的缺點。

技術實現要素：

本發(fā)明的目的就是針對上述缺點，提供一種勞動強度小、漏檢率低的全自動晶粒挑選裝置。

本發(fā)明的技術方案是這樣實現的：全自動晶粒挑選裝置，其特征是：它包括機架，在機架上具有原料斗，原料斗下面具有原料斗出口，在原料斗出口下面有轉盤安裝在機架上，晶粒從料斗出口落在轉盤上隨著轉盤運行，晶粒在轉盤上的位置是晶粒承載位置，還有攝像裝置對著晶粒承載位置，攝像裝置連接著控制裝置，在機架上還安裝第一吹氣槍，第一裝吹氣槍連接控制裝置，第一吹氣槍具有第一出口，在轉盤下面、并在第一出口下面安裝第一收集斗，第一吹氣槍吹氣可以將合格品晶粒吹下并落在第一收集斗中，所述的控制裝置里面有合格品和廢品的識別軟件。

進一步地講，所述的攝像裝置是多個的，多個攝像裝置分別朝著晶粒承載位置的左側、右側、下側。

進一步地講，所述的轉盤是玻璃的，還有攝像裝對著對著晶粒承載置上側。

進一步地講，所述的第一吹氣槍是多個的。

進一步地講，在機架側面還裝安第二吹氣槍，第二裝吹氣槍連接控制裝置，第二吹氣槍具有第二出口，在轉盤下面、并在第二出口下面安裝第二收集斗。

進一步地講，所述的原料斗上面還有振動裝置。

進一步地講，還有送料導槽連接在料斗出口和轉盤之間，所述的送料導槽只能容納單排晶粒通過。

本發(fā)明的有益效果是：這樣的全自動晶粒挑選裝置具有勞動強度小、漏檢率低的優(yōu)點；

所述的攝像裝置是多個的，多個攝像裝置分別朝著晶粒承載位置的左側、右側、下側，具有對晶粒各個部位進行挑選的優(yōu)點，降低漏檢率。

進一步地講，所述的轉盤是玻璃的，還有攝像裝對著對著晶粒承載位置上側，可以對晶粒下面進行檢測，發(fā)現不合格的除去，降低漏檢率；

進一步地講，所述的第一裝吹氣槍是多個的，防止廢品較多、挑選速度慢；

進一步地講，在機架側面還安裝第二吹氣槍，第二吹氣槍連接控制裝置，第二吹氣槍具有第二出口，出轉盤下面、第二出口下面安裝第二收集斗，還可以挑選合格品；

進一步地講，所述的原料斗上面還有振動裝置，可以使原料斗里面的原料均勻下落；

進一步地講，還有送料導槽連接在料斗出口和轉盤之間，所述的送料導槽只能容納單排晶粒通過，可以使晶粒順次排列下落在晶粒承載位置上。

附圖說明

圖1是本實用新型的側面結構示意圖。

圖2是本實用新型的俯視結構示意圖。

其中：1、機架 2、原料斗 3、原料斗出口 4、轉盤 5、晶粒 6、攝像裝置 7、第一吹氣槍 8、第一收集斗 9、第二裝吹氣槍 10、第二收集斗 11、振動裝置 12、送料導槽。

具體實施方式

下面結合附圖對本發(fā)明作進一步說明。

如圖1、2所示，全自動晶粒挑選裝置，其特征是：它包括機架1，在機架上具有原料斗2，原料斗下面具有原料斗出口3，在原料斗出口下面有轉盤4安裝在機架上，晶粒5從原料斗出口落在轉盤上隨著轉盤運行，晶粒在轉盤上的位置是晶粒承載位置，還有攝像裝置6對著晶粒承載位置，攝像裝置連接著控制裝置，在機架上還安裝第一吹氣槍7，第一裝吹氣槍連接控制裝置，第一吹氣槍具有第一出口，在轉盤下面、并在第一出口下面安裝第一收集斗8，第一吹氣槍吹氣可以將合格品晶粒吹下并落在第一收集斗中，所述的控制裝置里面有合格品和廢品的識別軟件。

還有攝像裝置6對著晶粒承載位置，可以采集轉盤上面運行的晶粒的信息，并將信息傳送給控制裝置，所述的控制裝置里面有合格品和廢品的識別軟件，可以識別出廢品和合格品的晶粒，并將信號傳遞給第一吹氣槍，第一吹氣槍吹氣，可以將合格品吹到第一收集斗中，整個過程不要人工參與，實現本實用新型的目的。

進一步地講，所述的攝像裝置是多個的，多個攝像裝置分別朝著晶粒承載位置的左側、右側、下側，晶粒在轉盤上運行，這些攝像裝置分別對著晶粒的左側、右側、下側，避免遺漏。

進一步地講，所述的轉盤是玻璃的，還有攝像裝置對著晶粒承載位置上側，這樣攝像裝置可以采集晶粒下面部位的信息。

進一步地講，所述的第一吹氣槍是多個的，這樣可以避免一個第一裝吹氣槍吹氣剔除不及的缺點。

進一步地講，在機架側面還安裝第二吹氣槍9，第二吹氣槍連接控制裝置，第二吹氣槍具有第二出口，在轉盤下面、并在第二出口下面安裝第二收集斗10，第二吹氣槍吹動廢品落下，這樣可以收集廢品。

進一步地講，所述的原料斗上面還有振動裝置11，這樣可以實現原理-晶粒連續(xù)輸出到轉盤上。

進一步地講，還有送料導槽12連接在原料斗出口和轉盤之間，所述的送料導槽只能容納單排晶粒通過，這樣可以實現晶粒單排排隊進入轉盤上，防止漏檢。

以上所述僅為本發(fā)明的具體實施例，但本發(fā)明的結構特征并不限于此，任何本領域的技術人員在本發(fā)明的領域內，所作的變化或修飾皆涵蓋在本發(fā)明的專利范圍內。