本技術(shù)涉及石英晶體分揀設(shè)備領(lǐng)域，具體為一種晶體尺寸檢測用板槽。

背景技術(shù)：

1、石英是主要造巖礦物之一，一般指低溫石英(α-石英)，是石英族礦物中分布最廣的一個礦物；廣義的石英還包括高溫石英(β-石英)和柯石英等；主要成分是sio2，無色透明，常含有少量雜質(zhì)成分，而變?yōu)榘胪该骰虿煌该鞯木w，質(zhì)地堅硬；

2、石英是一種物理性質(zhì)和化學(xué)性質(zhì)均十分穩(wěn)定的礦產(chǎn)資源，晶體屬三方晶系的氧化物礦物；石英塊又名硅石，主要是生產(chǎn)石英砂(又稱硅砂)的原料，也是石英耐火材料和燒制硅鐵的原料；

3、石英是由二氧化硅組成的礦物，化學(xué)式sio2；純凈的石英無色透明，因含微量色素離子或細分散包裹體，或存在色心而呈各種顏色，并使透明度降低；具玻璃光澤，斷口呈油脂光澤；硬度7，無解理，貝殼狀斷口；比重2.65；具壓電性；

4、石英晶體是一種重要的電子材料，不僅具有壓電效應(yīng)，而且還具有優(yōu)良的機械特性、電學(xué)特性和溫度特性；用它設(shè)計制作的諧振器、振蕩器，在穩(wěn)頻和選頻方面都有突出的優(yōu)點；

5、大量的石英晶體在進行使用的時候，需要將差不多大小規(guī)格的石英晶體進行收集在一起，便于進行后續(xù)的開發(fā)利用，針對此技術(shù)中的問題，目前尚未提出有效的解決方案，遂有本案產(chǎn)生。

技術(shù)實現(xiàn)思路

1、本實用新型的目的在于提供一種晶體尺寸檢測用板槽，以解決上述背景技術(shù)中提到的缺陷。

2、為實現(xiàn)上述目的，提供一種晶體尺寸檢測用板槽，包括檢測外框，所述檢測外框的頂部覆蓋安裝板槽蓋，且檢測外框的底部坐落固定在板槽檢測分離座上，同時板槽檢測分離座的內(nèi)部分別固定安裝第一對接板、第二對接板，第一對接板的一側(cè)開設(shè)第一晶片收集區(qū)域，且第一對接板的另一側(cè)開設(shè)第二晶片收集區(qū)域，同時第二對接板的右側(cè)開設(shè)第三晶片收集區(qū)域；

3、檢測外框的內(nèi)壁螺接固定檢測板，且檢測板的表面自左向右分別安裝第一分選板、第二分選板和第三分選板。

4、優(yōu)選的，所述板槽蓋的橫向剖面為“u”形設(shè)置，且板槽蓋的底部開設(shè)剖面為“l(fā)”形的定位槽，同時板槽蓋通過底部的定位槽卡裝在檢測外框的頂部并通過固定螺栓進行螺接固定。

5、優(yōu)選的，所述檢測板的底部分別固定安裝第一隔板、第二隔板，且第一隔板、第二隔板的底部分別卡裝在第一對接板、第二對接板的上端表面。

6、優(yōu)選的，所述板槽檢測分離座的頂部開設(shè)剖面為“l(fā)”形的定位槽，且檢測外框底部卡裝在定位槽的內(nèi)部并通過固定螺栓進行螺接固定。

7、優(yōu)選的，所述第一分選板、第二分選板和第三分選板的目數(shù)呈等差數(shù)列依次增加，且第一分選板、第二分選板和第三分選板的面積一致。

8、優(yōu)選的，所述第一分選板、第二分選板和第三分選板分別覆蓋在第一晶片收集區(qū)域、第二晶片收集區(qū)域、第三晶片收集區(qū)域的上側(cè)表面，且第一晶片收集區(qū)域、第二晶片收集區(qū)域、第三晶片收集區(qū)域的容積一致。

9、與現(xiàn)有技術(shù)相比，本實用新型的有益效果是：不同尺寸的晶片在第一分選板、第二分選板、第三分選板上進行運動，并通過第一分選板、第二分選板、第三分選板進行分選，使得多組晶片按照三組尺寸規(guī)格進行收集，將三組尺寸規(guī)格一致的晶片進行分別收納，便于進行后續(xù)的開發(fā)利用。

技術(shù)特征：

1.一種晶體尺寸檢測用板槽，包括檢測外框(3)，其特征在于：所述檢測外框(3)的頂部覆蓋安裝板槽蓋(1)，且檢測外框(3)的底部坐落固定在板槽檢測分離座(12)上，同時板槽檢測分離座(12)的內(nèi)部分別固定安裝第一對接板(10)、第二對接板(11)，第一對接板(10)的一側(cè)開設(shè)第一晶片收集區(qū)域(13)，且第一對接板(10)的另一側(cè)開設(shè)第二晶片收集區(qū)域(14)，同時第二對接板(11)的右側(cè)開設(shè)第三晶片收集區(qū)域(15)；

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種晶體尺寸檢測用板槽，其特征在于：所述板槽蓋(1)的橫向剖面為“u”形設(shè)置，且板槽蓋(1)的底部開設(shè)剖面為“l(fā)”形的定位槽，同時板槽蓋(1)通過底部的定位槽卡裝在檢測外框(3)的頂部并通過固定螺栓(2)進行螺接固定。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種晶體尺寸檢測用板槽，其特征在于：所述檢測板(4)的底部分別固定安裝第一隔板(8)、第二隔板(9)，且第一隔板(8)、第二隔板(9)的底部分別卡裝在第一對接板(10)、第二對接板(11)的上端表面。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種晶體尺寸檢測用板槽，其特征在于：所述板槽檢測分離座(12)的頂部開設(shè)剖面為“l(fā)”形的定位槽，且檢測外框(3)底部卡裝在定位槽的內(nèi)部并通過固定螺栓(2)進行螺接固定。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種晶體尺寸檢測用板槽，其特征在于：所述第一分選板(5)、第二分選板(6)和第三分選板(7)的目數(shù)呈等差數(shù)列依次增加，且第一分選板(5)、第二分選板(6)和第三分選板(7)的面積一致。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種晶體尺寸檢測用板槽，其特征在于：所述第一分選板(5)、第二分選板(6)和第三分選板(7)分別覆蓋在第一晶片收集區(qū)域(13)、第二晶片收集區(qū)域(14)、第三晶片收集區(qū)域(15)的上側(cè)表面，且第一晶片收集區(qū)域(13)、第二晶片收集區(qū)域(14)、第三晶片收集區(qū)域(15)的容積一致。

技術(shù)總結(jié)
本技術(shù)公開了一種晶體尺寸檢測用板槽，包括檢測外框，所述檢測外框的頂部覆蓋安裝板槽蓋，且檢測外框的底部坐落固定在板槽檢測分離座上，同時板槽檢測分離座的內(nèi)部分別固定安裝第一對接板、第二對接板，第一對接板的一側(cè)開設(shè)第一晶片收集區(qū)域，且第一對接板的另一側(cè)開設(shè)第二晶片收集區(qū)域，同時第二對接板的右側(cè)開設(shè)第三晶片收集區(qū)域。該晶體尺寸檢測用板槽，不同尺寸的晶片在第一分選板、第二分選板、第三分選板上進行運動，并通過第一分選板、第二分選板、第三分選板進行分選，使得多組晶片按照三組尺寸規(guī)格進行收集，將三組尺寸規(guī)格一致的晶片進行分別收納，便于進行后續(xù)的開發(fā)利用。

技術(shù)研發(fā)人員：申紅衛(wèi),王景琰,侯標,翟彥飛
受保護的技術(shù)使用者：濟源石晶光電頻率技術(shù)有限公司
技術(shù)研發(fā)日：20231122
技術(shù)公布日：2024/12/23