本技術涉及芯片檢測分選的，尤其涉及一種芯片檢測分選裝置。

背景技術：

1、在芯片制造過程中，為保證產(chǎn)品的質(zhì)量和精度，對每片芯片進行檢測是非常重要的，通過檢測設備進行全檢，可以確保每一片芯片的外觀、尺寸、完整度都符合要求，從而提高產(chǎn)品的整體質(zhì)量。

2、現(xiàn)有技術的芯片的外觀檢測通常依靠人工檢測通過ccd將芯片放大到顯示屏，通過人眼識別芯片的缺陷、臟污、劃痕以及有無檢測標識等外觀。人工檢測外觀效率低，長時間人工肉眼觀看容易疲勞，有誤判可能。

3、因此，需要對現(xiàn)有技術進行改進，以解決現(xiàn)有技術依靠人工檢測芯片，檢測周期長且準確率低下的問題。

技術實現(xiàn)思路

1、本實用新型的目的是提供一種芯片檢測分選裝置，以解決現(xiàn)有技術的依靠人工檢測芯片，檢測周期長且準確率低下的技術問題。

2、為了實現(xiàn)上述目的，本實用新型采用以下技術方案：

3、一種芯片檢測分選裝置，其包括檢測件、限位機構(gòu)和移動機構(gòu)，所述移動機構(gòu)包括驅(qū)動組件和移動塊，所述驅(qū)動組件用于帶動所述移動塊移動，所述移動塊設有觀察窗和送料通道，芯片通過所述送料通道移動至第一位置時，所述芯片抵接所述限位機構(gòu)，并正對所述觀察窗，所述檢測件用于檢測所述芯片，并電連接所述驅(qū)動組件和限位機構(gòu)。

4、較佳地，所述驅(qū)動組件包括驅(qū)動器、皮帶輪組件和皮帶，所述皮帶繞設于所述皮帶輪組件上，所述驅(qū)動器連接所述皮帶輪組件，所述移動塊連接所述皮帶，所述驅(qū)動器電連接所述檢測件。

5、較佳地，所述限位機構(gòu)包括限位塊和氣缸，所述移動塊設有出料口，所述氣缸的伸縮端連接所述限位塊，并電連接所述檢測件，第一狀態(tài)下，所述限位塊封堵所述出料口，第二狀態(tài)下，所述氣缸帶動所述限位塊沿遠離觀察窗方向運動，所述出料口連通所述送料通道。

6、較佳地，所述芯片檢測分選裝置還包括滑軌，所述移動塊設于所述滑軌上并滑動連接所述滑軌。

7、較佳地，所述芯片檢測分選裝置還包括良品槽，所述良品槽設有第一開口，所述移動塊移動到第二位置時，所述第一開口正對所述送料通道。

8、較佳地，所述芯片檢測分選裝置還包括不良品槽，所述不良品槽設有第二開口，所述移動塊移動到第三位置時，所述第二開口正對所述送料通道。

9、較佳地，所述檢測件包括采集單元和檢測單元，所述采集單元通過所述觀察窗采集芯片的圖像信息，所述檢測單元電連接所述采集單元、驅(qū)動器和氣缸。

10、較佳地，所述芯片檢測分選裝置還包括儲料件，所述移動塊設有與送料通道相通的進料口，所述儲料件存儲有若干芯片，并設有放料口，所述移動塊移動到第二位置時，所述進料口正對所述放料口。

11、較佳地，所述芯片檢測分選裝置還包括啟動器和推塊，所述儲料件設有避讓口，所述推塊通過所述避讓口，所述啟動器連接所述推塊，并帶動所述推塊推動所述若干芯片沿靠近所述放料口方向運動。

12、較佳地，所述芯片檢測分選裝置還包括調(diào)節(jié)件，所述調(diào)節(jié)件調(diào)節(jié)所述啟動器單次運動的步長，所述啟動器單次運動的步長與芯片的厚度尺寸一致。

13、與現(xiàn)有技術相比，本實用新型的有益效果：

14、本實用新型設計了一種芯片檢測分選裝置，其包括檢測件、限位機構(gòu)和移動機構(gòu)，移動機構(gòu)包括驅(qū)動組件和移動塊，驅(qū)動組件用于帶動移動塊移動，移動塊設有觀察窗和送料通道，芯片通過送料通道移動至第一位置時，芯片抵接限位機構(gòu)，并正對觀察窗，檢測件用于檢測芯片，并電連接驅(qū)動組件和限位機構(gòu)。初始狀態(tài)時，本實用新型的移動塊位于第二位置，芯片通過送料通道并被限定在第一位置時，檢測件可以采集芯片的圖像信息，并進行檢測，檢測結(jié)果為通過時，檢測件可以發(fā)送第一信號，此時驅(qū)動組件不動，限位機構(gòu)啟動沿遠離觀察窗方向運動，芯片可以下滑到良品槽，檢測結(jié)果為不通過時，檢測件可以發(fā)送第二信號，此時驅(qū)動組件帶動移動塊移動至第三位置，限位機構(gòu)啟動，芯片沿遠離觀察窗方向運動，芯片可以下滑到不良品槽，無需人工檢測，檢測效率和準確率大大提升，集檢測與分選功能于一體，普適性大大增強。

技術特征：

1.一種芯片檢測分選裝置，其特征在于：包括檢測件、限位機構(gòu)和移動機構(gòu)，所述移動機構(gòu)包括驅(qū)動組件和移動塊，所述驅(qū)動組件用于帶動所述移動塊移動，所述移動塊設有觀察窗和送料通道，芯片通過所述送料通道移動至第一位置時，所述芯片抵接所述限位機構(gòu)，并正對所述觀察窗，所述檢測件用于檢測所述芯片，并電連接所述驅(qū)動組件和限位機構(gòu)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的芯片檢測分選裝置，其特征在于：所述驅(qū)動組件包括驅(qū)動器、皮帶輪組件和皮帶，所述皮帶繞設于所述皮帶輪組件上，所述驅(qū)動器連接所述皮帶輪組件，所述移動塊連接所述皮帶，所述驅(qū)動器電連接所述檢測件。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的芯片檢測分選裝置，其特征在于：所述限位機構(gòu)包括限位塊和氣缸，所述移動塊設有出料口，所述氣缸的伸縮端連接所述限位塊，并電連接所述檢測件，第一狀態(tài)下，所述限位塊封堵所述出料口，第二狀態(tài)下，所述氣缸帶動所述限位塊沿遠離觀察窗方向運動，所述出料口連通所述送料通道。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的芯片檢測分選裝置，其特征在于：還包括滑軌，所述移動塊設于所述滑軌上并滑動連接所述滑軌。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的芯片檢測分選裝置，其特征在于：還包括良品槽，所述良品槽設有第一開口，所述移動塊移動到第二位置時，所述第一開口正對所述送料通道。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的芯片檢測分選裝置，其特征在于：還包括不良品槽，所述不良品槽設有第二開口，所述移動塊移動到第三位置時，所述第二開口正對所述送料通道。

7.根據(jù)權(quán)利要求3所述的芯片檢測分選裝置，其特征在于：所述檢測件包括采集單元和檢測單元，所述采集單元通過所述觀察窗采集芯片的圖像信息，所述檢測單元電連接所述采集單元、驅(qū)動器和氣缸。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的芯片檢測分選裝置，其特征在于：還包括儲料件，所述移動塊設有與送料通道相通的進料口，所述儲料件存儲有若干芯片，并設有放料口，所述移動塊移動到第二位置時，所述進料口正對所述放料口。

9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的芯片檢測分選裝置，其特征在于：還包括啟動器和推塊，所述儲料件設有避讓口，所述推塊通過所述避讓口，所述啟動器連接所述推塊，并帶動所述推塊推動所述若干芯片沿靠近所述放料口方向運動。

10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的芯片檢測分選裝置，其特征在于：還包括調(diào)節(jié)件，所述調(diào)節(jié)件調(diào)節(jié)所述啟動器單次運動的步長，所述啟動器單次運動的步長與芯片的厚度尺寸一致。

技術總結(jié)
本技術公開了一種芯片檢測分選裝置，其包括檢測件、限位機構(gòu)和移動機構(gòu)，移動機構(gòu)包括驅(qū)動組件和移動塊，驅(qū)動組件用于帶動移動塊移動，移動塊設有觀察窗和送料通道，芯片通過送料通道移動至第一位置時，芯片抵接限位機構(gòu)，并正對觀察窗，檢測件用于檢測芯片，并電連接驅(qū)動組件和限位機構(gòu)。本技術的驅(qū)動組件可以根據(jù)檢測件的檢測結(jié)果驅(qū)動移動塊，檢測通過時限位機構(gòu)啟動，芯片可以下滑到良品槽，檢測不通過時限位機構(gòu)啟動，芯片可以下滑到不良品槽，無需人工檢測，檢測效率和準確率大大提升，集檢測與分選功能于一體，普適性大大增強。

技術研發(fā)人員：藍春合,張佳天,梁光照,雷壘
受保護的技術使用者：上海芯丑半導體設備有限公司
技術研發(fā)日：20240122
技術公布日：2025/1/9