本技術(shù)涉及固態(tài)硬盤測(cè)試治具，特別涉及一種固態(tài)硬盤測(cè)試治具。

背景技術(shù)：

1、治具的分類，治具可以分為工藝裝配類治具、項(xiàng)目測(cè)試類治具和線路板測(cè)試類治具三類，其中工藝裝配類治具包括裝配治具、焊接治具、解體治具、點(diǎn)膠治具、照射治具、調(diào)整治具和剪切治具；而項(xiàng)目測(cè)試類治具則包括壽命測(cè)試類治具、包裝測(cè)試類治具、環(huán)境測(cè)試類治具、光學(xué)測(cè)試類治具、屏蔽測(cè)試類治具、隔音測(cè)試類治具等等；線路板測(cè)試類治具主要包括ict測(cè)試治具、fct功能治具、smt過(guò)爐治具、bga測(cè)試治具等等，固態(tài)硬盤(ssd)在制造完成后，需進(jìn)行各種測(cè)試，如通過(guò)大批量的寫入數(shù)據(jù)來(lái)考核ssd的壽命承受能力的老化測(cè)試、文件的寫入和讀取準(zhǔn)確度的測(cè)試、讀寫速度測(cè)試等。

2、如此，現(xiàn)有的固態(tài)硬盤測(cè)試時(shí)需要對(duì)固態(tài)硬盤的功能進(jìn)行測(cè)試，從而剔除殘次品，大多都是殘次品與良品一同推出，需要人工進(jìn)行分類收集，從而導(dǎo)致比較費(fèi)工費(fèi)時(shí)，故而需要一種能夠在測(cè)試后將檢測(cè)出的殘次品推出的裝置，因此我們提出一種固態(tài)硬盤測(cè)試治具來(lái)解決上述問(wèn)題。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、本實(shí)用新型的主要目的是提出一種固態(tài)硬盤測(cè)試治具，旨在解決現(xiàn)有固態(tài)硬盤測(cè)試殘次品需要人工進(jìn)行分類收集的技術(shù)問(wèn)題。

2、為實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型提出的一種固態(tài)硬盤測(cè)試治具，包括測(cè)試底座，所述測(cè)試底座的頂部設(shè)有側(cè)板，所述測(cè)試底座的頂部設(shè)有擋板，所述測(cè)試底座的頂部且位于所述擋板的內(nèi)部開設(shè)有插槽，所述插槽的內(nèi)部插接有固態(tài)硬盤，所述測(cè)試底座的前側(cè)設(shè)有控制面板，所述側(cè)板的頂部設(shè)有頂板，所述測(cè)試底座上設(shè)有可對(duì)殘次品所述固態(tài)硬盤進(jìn)行自動(dòng)分類收集的歸類機(jī)構(gòu)；

3、所述歸類機(jī)構(gòu)包括雙軸直線模組、電動(dòng)推桿、限位框架、伺服電機(jī)、螺紋桿、夾板、防護(hù)墊、限位槽、限位塊和收集框，所述雙軸直線模組設(shè)于所述頂板的底部，所述電動(dòng)推桿設(shè)于所述雙軸直線模組的移動(dòng)端，所述限位框架設(shè)于所述電動(dòng)推桿的輸出端，所述伺服電機(jī)設(shè)于所述限位框架的左側(cè)，所述螺紋桿與所述伺服電機(jī)的輸出軸通過(guò)聯(lián)軸器同軸連接，且另一端貫穿并與所述限位框架的內(nèi)壁右側(cè)轉(zhuǎn)動(dòng)連接，所述夾板套設(shè)于所述螺紋桿上，所述防護(hù)墊設(shè)于所述夾板的相對(duì)側(cè)，所述限位槽開設(shè)于所述測(cè)試底座的頂部，所述限位塊與所述限位槽的內(nèi)部滑動(dòng)連接，所述收集框設(shè)于所述限位塊的頂部。

4、可選地，所述插槽的數(shù)量為多個(gè)，多個(gè)所述插槽之間設(shè)置有間隔。

5、可選地，所述控制面板與所述測(cè)試底座、所述雙軸直線模組和所述伺服電機(jī)電連接。

6、可選地，所述螺紋桿上設(shè)有兩段螺紋，所述螺紋桿上的兩段螺紋呈對(duì)稱分布。

7、可選地，所述收集框的內(nèi)部設(shè)有多個(gè)收集槽，多個(gè)所述收集框之間設(shè)置有間隔。

8、可選地，多個(gè)所述收集槽與多個(gè)所述插槽相對(duì)應(yīng)。

9、采用本實(shí)用新型的技術(shù)方案，具有以下有益效果：本實(shí)用新型的技術(shù)方案，通過(guò)設(shè)置有雙軸直線模組、電動(dòng)推桿、限位框架、伺服電機(jī)、螺紋桿、夾板、防護(hù)墊、限位槽、限位塊和收集框，在測(cè)試底座測(cè)試出固態(tài)硬盤有殘次品的時(shí)候，方便對(duì)其達(dá)到自動(dòng)分類收集的目的，完成良品與殘次品的分類，從而無(wú)需工作人員手動(dòng)將殘次品一個(gè)一個(gè)的取出，避免了人工拿取刮破雙手和再次損壞固態(tài)硬盤的問(wèn)題。

技術(shù)特征：

1.一種固態(tài)硬盤測(cè)試治具，其特征在于，包括測(cè)試底座（1），所述測(cè)試底座（1）的頂部設(shè)有側(cè)板（2），所述測(cè)試底座（1）的頂部設(shè)有擋板（3），所述測(cè)試底座（1）的頂部且位于所述擋板（3）的內(nèi)部開設(shè)有插槽（4），所述插槽（4）的內(nèi)部插接有固態(tài)硬盤（5），所述測(cè)試底座（1）的前側(cè)設(shè)有控制面板（6），所述側(cè)板（2）的頂部設(shè)有頂板（7），所述測(cè)試底座（1）上設(shè)有可對(duì)殘次品所述固態(tài)硬盤（5）進(jìn)行自動(dòng)分類收集的歸類機(jī)構(gòu)（8）；

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的固態(tài)硬盤測(cè)試治具，其特征在于，所述插槽（4）的數(shù)量為多個(gè)，多個(gè)所述插槽（4）之間設(shè)置有間隔。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的固態(tài)硬盤測(cè)試治具，其特征在于，所述控制面板（6）與所述測(cè)試底座（1）、所述雙軸直線模組（81）和所述伺服電機(jī)（84）電連接。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的固態(tài)硬盤測(cè)試治具，其特征在于，所述螺紋桿（85）上設(shè)有兩段螺紋，所述螺紋桿（85）上的兩段螺紋呈對(duì)稱分布。

5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的固態(tài)硬盤測(cè)試治具，其特征在于，所述收集框（810）的內(nèi)部設(shè)有多個(gè)收集槽，多個(gè)所述收集框（810）之間設(shè)置有間隔。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的固態(tài)硬盤測(cè)試治具，其特征在于，多個(gè)所述收集槽與多個(gè)所述插槽（4）相對(duì)應(yīng)。

技術(shù)總結(jié)
本技術(shù)公開了一種固態(tài)硬盤測(cè)試治具，包括測(cè)試底座，測(cè)試底座的頂部設(shè)有側(cè)板，測(cè)試底座的頂部設(shè)有擋板，測(cè)試底座的頂部且位于擋板的內(nèi)部開設(shè)有插槽，插槽的內(nèi)部插接有固態(tài)硬盤，測(cè)試底座的前側(cè)設(shè)有控制面板，側(cè)板的頂部設(shè)有頂板，測(cè)試底座上設(shè)有可對(duì)殘次品固態(tài)硬盤進(jìn)行自動(dòng)分類收集的歸類機(jī)構(gòu)。本技術(shù)的技術(shù)方案能夠通過(guò)設(shè)置有雙軸直線模組、電動(dòng)推桿、限位框架、伺服電機(jī)、螺紋桿、夾板、防護(hù)墊、限位槽、限位塊和收集框，在測(cè)試底座測(cè)試出固態(tài)硬盤有殘次品的時(shí)候，方便對(duì)其達(dá)到自動(dòng)分類收集的目的，完成良品與殘次品的分類，從而無(wú)需工作人員手動(dòng)將殘次品一個(gè)一個(gè)的取出，避免了人工拿取刮破雙手和再次損壞固態(tài)硬盤的問(wèn)題。

技術(shù)研發(fā)人員：段俊勇,程毅,林俊
受保護(hù)的技術(shù)使用者：深圳市福祥瑞電子有限公司
技術(shù)研發(fā)日：20240328
技術(shù)公布日：2025/1/6