一種分選粒子用的料倉的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明涉及一種分選粒子用的料倉。
【背景技術(shù)】
[0002]通常情況下，粒子會堆放在檢驗臺上進行檢驗，檢驗員通過觀察粒子表面，挑揀出表面有缺陷的粒子，現(xiàn)有技術(shù)中，檢驗員需要動手將堆放的粒子攤開再進行一一檢驗，粒子數(shù)量龐大，攤開也雜亂無章，檢驗起來費力，檢驗效率和檢驗精度不能同時兼顧。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本發(fā)明所要解決的問題是提供一種分選粒子用的料倉，提高粒子表面缺陷檢驗的效率和精度。
[0004]為了解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明采用如下技術(shù)方案:一種分選粒子用的料倉，所述料倉上設(shè)有進料口和出料口，所述出料口設(shè)在料倉的底部，所述料倉中設(shè)有傾斜板，所述進料口和出料口位于傾斜板的其中一側(cè)，所述傾斜板和料倉之間連接有振動機構(gòu)，所述振動機構(gòu)位于傾斜板的另一側(cè)。粒子堆放到料倉中，傾斜板的設(shè)置使得粒子的堆放區(qū)呈倒錐形，使得粒子不斷往出料口集中，經(jīng)出料口落到檢驗臺上，通過出料口大小的控制使得粒子掉落一定數(shù)量后會堵在出料口處而停止掉落，待掉落的粒子檢驗完成后，通過振動機構(gòu)振動料倉使粒子再次掉落，粒子的數(shù)量得以控制，便于檢驗員檢驗，粒子自動掉落，無需人工操作，既提高了檢驗效率又能保證檢驗精度。
[0005]改進的，所述出料口為條形口。對粒子起到一定的分散作用。
[0006]改進的，所述出料口為直線型的條形口。使粒子齊整分散。
[0007]有益效果:
[0008]采用上述技術(shù)方案后，該發(fā)明一種分選粒子用的料倉，粒子堆放到料倉中，傾斜板的設(shè)置使得粒子的堆放區(qū)呈倒錐形，使得粒子不斷往出料口集中，經(jīng)出料口落到檢驗臺上，通過出料口大小的控制使得粒子掉落一定數(shù)量后會堵在出料口處而停止掉落，待掉落的粒子檢驗完成后，通過振動機構(gòu)振動料倉使粒子再次掉落，粒子的數(shù)量得以控制，便于檢驗員檢驗，粒子自動掉落，無需人工操作，既提高了檢驗效率又能保證檢驗精度。
【附圖說明】
[0009]下面結(jié)合附圖對本發(fā)明的【具體實施方式】作進一步說明:
[0010]圖1為本發(fā)明一種分選粒子用的料倉的結(jié)構(gòu)圖。
【具體實施方式】
[0011]如圖1所示，一種分選粒子用的料倉，料倉I的頂部敞開形成進料口 11，料倉的底部設(shè)有出料口 12，在本實施例中，出料口為直線型的條形口，料倉中設(shè)有傾斜板2，傾斜板將料倉隔成兩個內(nèi)腔，其中一個內(nèi)腔為倒錐狀且連通出料口和進料口，另一個內(nèi)腔中安裝有振動機構(gòu)3且振動機構(gòu)連接在傾斜板和料倉的內(nèi)壁之間。當然，也可以直接將料倉設(shè)為倒錐狀，振動機構(gòu)安裝在料倉的外壁上。
[0012]除上述優(yōu)選實施例外，本發(fā)明還有其他的實施方式，本領(lǐng)域技術(shù)人員可以根據(jù)本發(fā)明作出各種改變和變形，只要不脫離本發(fā)明的精神，均應(yīng)屬于本發(fā)明所附權(quán)利要求所定義的范圍。
【主權(quán)項】
1.一種分選粒子用的料倉，其特征在于:所述料倉(I)上設(shè)有進料口(11)和出料口(12)，所述出料口設(shè)在料倉的底部，所述料倉中設(shè)有傾斜板(2)，所述進料口和出料口位于傾斜板的其中一側(cè)，所述傾斜板和料倉之間連接有振動機構(gòu)(3)，所述振動機構(gòu)位于傾斜板的另一側(cè)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種分選粒子用的料倉，其特征在于:所述出料口為條形口。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種分選粒子用的料倉，其特征在于:所述出料口為直線型的條形口。
【專利摘要】本發(fā)明公開了一種分選粒子用的料倉，所述料倉上設(shè)有進料口和出料口，所述出料口設(shè)在料倉的底部，所述料倉中設(shè)有傾斜板，所述進料口和出料口位于傾斜板的其中一側(cè)，所述傾斜板和料倉之間連接有振動機構(gòu)，所述振動機構(gòu)位于傾斜板的另一側(cè)。粒子堆放到料倉中，傾斜板的設(shè)置使得粒子的堆放區(qū)呈倒錐形，使得粒子不斷往出料口集中，經(jīng)出料口落到檢驗臺上，通過出料口大小的控制使得粒子掉落一定數(shù)量后會堵在出料口處而停止掉落，待掉落的粒子檢驗完成后，通過振動機構(gòu)振動料倉使粒子再次掉落，粒子的數(shù)量得以控制，便于檢驗員檢驗，粒子自動掉落，無需人工操作，既提高了檢驗效率又能保證檢驗精度。
【IPC分類】B07B13-16
【公開號】CN104772283
【申請?zhí)枴緾N201510117042
【發(fā)明人】姚曉峰, 季中毅, 孫孝明, 饒晨
【申請人】浙江中科新光銘光電科技有限公司
【公開日】2015年7月15日
【申請日】2015年3月17日