一種晶體自動分選機的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實用新型涉及一種分選機，特別是一種晶體自動分選機。
【背景技術(shù)】
[0002]晶體制作完后需要進行檢測篩選，將達不到要求的晶體挑選出來?，F(xiàn)在常人工手動進行檢測，其檢測效率低，費時費力。另外檢測頭上的探針長時間使用后，針頭與針座之間會出現(xiàn)接觸不良的現(xiàn)象，影響檢測效果。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本實用新型所要解決的技術(shù)問題是針對現(xiàn)有技術(shù)的不足，提供一種設(shè)計合理，使用方便，能有效分選的晶體自動分選機。
[0004]本實用新型所要解決的技術(shù)問題是通過以下的技術(shù)方案來實現(xiàn)的，本實用新型是一種晶體自動分選機，其特點是:包括晶體振動盤和檢測機構(gòu)，所述檢測機構(gòu)設(shè)在晶體振動盤的下前方，晶體振動盤的出料口與檢測機構(gòu)之間通過傾斜的輸送機構(gòu)相連通，所述的輸送機構(gòu)包括與晶體振動盤的出料口相接的晶體輸送軌道，以及設(shè)在檢測機構(gòu)下方的晶體滑軌，所述的晶體滑軌的上端與晶體輸送軌道下端相接，所述晶體輸送軌道和晶體滑軌上沿其長度方向均設(shè)有對接的單個晶體滑槽；所述檢測機構(gòu)包括沿晶體滑槽方向設(shè)置、并與晶體的兩個引腳配合的上探針和下探針，上探針和下探針固定在安裝座上，所述安裝座與驅(qū)動氣缸相連，所述的上探針和下探針均設(shè)有針座和探針體，探針體裝在針座上，所述探針體的針頭與針座之間通過銅線導(dǎo)通。
[0005]本實用新型所要解決的技術(shù)問題還可以通過以下的技術(shù)方案來進一步實現(xiàn)，所述的晶體自動分選機中:在晶體滑軌的單個晶體滑槽的上方設(shè)有擋條。
[0006]本實用新型所要解決的技術(shù)問題還可以通過以下的技術(shù)方案來進一步實現(xiàn)，所述的晶體自動分選機中:在晶體滑軌的出料端設(shè)有擋料板，所述擋料板與擋料氣缸相連。
[0007]本實用新型所要解決的技術(shù)問題還可以通過以下的技術(shù)方案來進一步實現(xiàn)，所述的晶體自動分選機中:在晶體滑軌的下方設(shè)有儲料盒，晶體滑軌的出料端通過滑板與儲料盒相接。
[0008]本實用新型通過晶體振動盤將晶體按序排列通過檢測機構(gòu)，檢測機構(gòu)的兩個探針在氣缸的作用下壓在晶體引線上，進行檢測，檢測完后自動落入儲料盒中。為防止探針長期使用后探針體與針座接觸不好，通過銅線將探針體的針頭與針座導(dǎo)通即可。
[0009]與現(xiàn)有技術(shù)相比，其設(shè)計合理，結(jié)構(gòu)簡單，使用方便，節(jié)約了人力，提高了工作效率，并且提高了探針的使用壽命。
【附圖說明】
[0010]圖1是本實用新型的一種結(jié)構(gòu)示意圖。
【具體實施方式】
[0011]以下參照附圖，進一步描述本實用新型的具體技術(shù)方案，以便于本領(lǐng)域的技術(shù)人員進一步地理解本發(fā)明，而不構(gòu)成對其權(quán)利的限制。
[0012]參照圖1，一種晶體自動分選機，包括晶體振動盤8和檢測機構(gòu)，所述檢測機構(gòu)設(shè)在晶體振動盤8的下前方，晶體振動盤8的出料口與檢測機構(gòu)之間通過傾斜的輸送機構(gòu)相連通。所述的輸送機構(gòu)包括與晶體振動盤8的出料口相接的晶體輸送軌道7，以及設(shè)在檢測機構(gòu)下方的晶體滑軌6，所述的晶體滑軌6的上端與晶體輸送軌道7下端相接，所述晶體輸送軌道7和晶體滑軌6上沿其長度方向均設(shè)有對接的單個晶體滑槽。在晶體輸送軌道7和晶體滑軌6的單個晶體滑槽的上方均設(shè)有擋條5，擋條5可以防止晶體從晶體滑軌6中擠出。
[0013]所述檢測機構(gòu)包括沿晶體滑槽方向設(shè)置、并與晶體的兩個引腳配合的上探針4和下探針2，上探針4和下探針2固定在安裝座上，所述安裝座與驅(qū)動氣缸相連，所述的上探針4和下探針2均設(shè)有針座和探針體，探針體裝在針座上，所述探針體的針頭與針座之間通過銅線3導(dǎo)通。上探針4和下探針2的結(jié)構(gòu)為現(xiàn)有技術(shù)中常用的結(jié)構(gòu)，因為針座內(nèi)有彈簧，長時間使用探針體與針座會接觸不浪，使用銅線3就可以使針座與探針體導(dǎo)通，延長上下探針的使用壽命。
[0014]在晶體滑軌6的出料端設(shè)有擋料板9，所述擋料板9與擋料氣缸相連。在晶體滑軌6的下方設(shè)有儲料盒1，晶體滑軌6的出料端通過滑板與儲料盒I相接。
[0015]檢測時，通過晶體振動盤8將晶體按序排列，依次通過晶體輸送軌道7和晶體滑軌6滑下，通過擋料板9將晶體擋住，然后檢測機構(gòu)上的驅(qū)動氣缸驅(qū)動上探針4和下探針2下降進行檢測，檢測完后擋料板9離開，使檢測完的晶體落入到儲料盒I中，擋料板9再次擋住下一個晶體，這樣重復(fù)操作。
【主權(quán)項】
1.一種晶體自動分選機，其特征在于:包括晶體振動盤和檢測機構(gòu)，所述檢測機構(gòu)設(shè)在晶體振動盤的下前方，晶體振動盤的出料口與檢測機構(gòu)之間通過傾斜的輸送機構(gòu)相連通，所述的輸送機構(gòu)包括與晶體振動盤的出料口相接的晶體輸送軌道，以及設(shè)在檢測機構(gòu)下方的晶體滑軌，所述的晶體滑軌的上端與晶體輸送軌道下端相接，所述晶體輸送軌道和晶體滑軌上沿其長度方向均設(shè)有對接的單個晶體滑槽；所述檢測機構(gòu)包括沿晶體滑槽方向設(shè)置、并與晶體的兩個引腳配合的上探針和下探針，上探針和下探針固定在安裝座上，所述安裝座與驅(qū)動氣缸相連，所述的上探針和下探針均設(shè)有針座和探針體，探針體裝在針座上，所述探針體的針頭與針座之間通過銅線導(dǎo)通。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的晶體自動分選機，其特征在于:在晶體輸送軌道和晶體滑軌的單個晶體滑槽的上方設(shè)有擋條。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的晶體自動分選機，其特征在于:在晶體滑軌的出料端設(shè)有擋料板，所述擋料板與擋料氣缸相連。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的晶體自動分選機，其特征在于:在晶體滑軌的下方設(shè)有儲料盒，晶體滑軌的出料端通過滑板與儲料盒相接。
【專利摘要】本實用新型是一種晶體自動分選機，包括晶體振動盤和檢測機構(gòu)，所述檢測機構(gòu)設(shè)在晶體振動盤的下前方，晶體振動盤的出料口與檢測機構(gòu)之間通過傾斜的輸送機構(gòu)相連通，所述晶體輸送軌道和晶體滑軌上沿其長度方向均設(shè)有對接的單個晶體滑槽；所述檢測機構(gòu)包括沿晶體滑槽方向設(shè)置、并與晶體的兩個引腳配合的上探針和下探針，所述的上探針和下探針均設(shè)有針座和探針體，探針體裝在針座上，所述探針體的針頭與針座之間通過銅線導(dǎo)通。本實用新型通過晶體振動盤將晶體按序排列通過檢測機構(gòu)，檢測機構(gòu)的兩個探針在氣缸的作用下壓在晶體引線上進行檢測。為防止探針長期使用后探針體與針座接觸不好，通過銅線將探針體的針頭與針座導(dǎo)通即可。
【IPC分類】B07C5-34
【公開號】CN204470148
【申請?zhí)枴緾N201520128870
【發(fā)明人】王驥, 關(guān)維國, 朱木典, 朱柳典, 許萍, 白長庚
【申請人】江蘇海峰電子有限公司
【公開日】2015年7月15日
【申請日】2015年3月6日