晶振檢測儀分選機構(gòu)的制作方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實用新型屬于電子器件檢測裝置領(lǐng)域，具體涉及一種晶振檢測儀分選機構(gòu)。
【背景技術(shù)】
[0002]在電子技術(shù)領(lǐng)域的產(chǎn)品生產(chǎn)過程中，經(jīng)常要用到一種原材料一晶體振蕩器，簡稱晶振，產(chǎn)品生產(chǎn)完成后，如果晶振不起振將會影響設(shè)計功能的實現(xiàn)，但是，在生產(chǎn)過程中逐個測量晶振頻率所花費的人力物力較大，因此人們設(shè)計有晶振檢測儀?，F(xiàn)有晶振檢測儀是由振動盤、晶體軌道以及晶體軌道上的檢測機構(gòu)組合而成，檢測后的產(chǎn)品需由人工對合格品或不合格品進(jìn)行分選，費時費力。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0003]本實用新型所要解決的技術(shù)問題便是針對上述現(xiàn)有技術(shù)的不足，提供一種晶振檢測儀分選機構(gòu)，它能夠?qū)崿F(xiàn)檢測晶振后，自動對合格品或不合格品進(jìn)行分選，省時省力，提高檢測效率。
[0004]本實用新型所采用的技術(shù)方案是:一種晶振檢測儀分選機構(gòu)，包括傾斜設(shè)置的晶體軌道，所述晶體軌道上設(shè)置有供單個晶振依次通行的晶振通槽，所述晶體軌道上設(shè)置有檢測裝置，所述晶體軌道下方設(shè)有分選軌道，所述分選軌道上設(shè)有與所述晶振通槽相對應(yīng)吻合的主通槽，所述主通槽的末端分叉為正品通槽和次品通槽，所述主通槽、正品通槽和次品通槽三者交叉連通，所述正品通槽和次品通槽連接位置處設(shè)置有使所述主通槽與正品通槽貫通或所述主通槽與次品通槽貫通的撥片。
[0005]作為優(yōu)選，所述正品通槽與次品通槽相互對稱。
[0006]作為優(yōu)選，所述主通槽、正品通槽和次品通槽形成“人”字形結(jié)構(gòu)。
[0007]作為優(yōu)選，所述撥片的兩側(cè)均設(shè)置有弧形凹陷。
[0008]本實用新型的有益效果在于:由于本實用新型在檢測儀上安裝有分選軌道，分選軌道上設(shè)置有鐵軌交匯似的主通槽、正品通槽以及次品通槽，其可實現(xiàn)對合格品或不合格品的自動分選，無需人工操作，省時省力，大大提高檢測效率。
【附圖說明】
[0009]圖1為本實用新型的結(jié)構(gòu)示意圖。
[0010]圖中:1、晶體軌道；2、晶振通槽；3、檢測裝置；4、分選軌道；5、主通槽；6、正品通槽；7、次品通槽；8、撥片。
【具體實施方式】
[0011]下面將結(jié)合附圖及具體實施例對本實用新型作進(jìn)一步詳細(xì)說明。
[0012]如圖1所示，一種晶振檢測儀分選機構(gòu)，包括傾斜設(shè)置的晶體軌道1，所述晶體軌道I上設(shè)置有供單個晶振依次通行的晶振通槽2，所述晶體軌道I上設(shè)置有檢測裝置3，所述晶體軌道I下方設(shè)有分選軌道4，所述分選軌道4上設(shè)有與所述晶振通槽2相對應(yīng)吻合的主通槽5，所述主通槽5的末端分叉為正品通槽6和次品通槽7，所述主通槽5、正品通槽6和次品通槽7三者交叉連通，正品通槽6與次品通槽7相互對稱，且主通槽5、正品通槽6和次品通槽7形成“人”字形結(jié)構(gòu)，所述正品通槽6和次品通槽7連接位置處設(shè)置有使所述主通槽5與正品通槽6貫通或所述主通槽5與次品通槽7貫通的撥片8。
[0013]由于本實用新型在檢測儀上安裝有分選軌道4，分選軌道4上設(shè)置有鐵軌交匯似的主通槽5、正品通槽6以及次品通槽7，其可實現(xiàn)對合格品或不合格品的自動分選，無需人工操作，省時省力，大大提高檢測效率。當(dāng)檢測裝置3檢出合格品時，其通過控制系統(tǒng)控制撥片8向右側(cè)擺動，使主通槽5與正品通槽6貫通，相應(yīng)合格的晶振會由晶振通槽2進(jìn)入主通槽5，然后再進(jìn)入正品通槽6;而當(dāng)檢測裝置3檢出非合格品時，其通過控制系統(tǒng)控制撥片8向左側(cè)擺動，使主通槽5與次品通槽7貫通，相應(yīng)非合格的晶振則會由晶振通槽2進(jìn)入主通槽5，然后再進(jìn)入次品通槽7。
[0014]主通槽5、正品通槽6和次品通槽7均為僅供單個晶振依次通行，使得晶振在分選后也依次進(jìn)入儲料裝置，避免了晶振在落料過程中亂沖亂撞，起到保護(hù)晶振的作用。
[0015]撥片8的兩側(cè)均設(shè)置有弧形凹陷，使晶振能夠更為順滑地進(jìn)入正品通槽6或次品通槽7。
[0016]以上所述，僅為本實用新型較佳實施例而已，故不能以此限定本實用新型實施的范圍，即依本實用新型申請專利范圍及說明書內(nèi)容所作的等效變化與修飾，皆應(yīng)仍屬本實用新型專利涵蓋的范圍內(nèi)。
【主權(quán)項】
1.一種晶振檢測儀分選機構(gòu)，包括傾斜設(shè)置的晶體軌道(1)，所述晶體軌道(I)上設(shè)置有供單個晶振依次通行的晶振通槽(2)，所述晶體軌道(I)上設(shè)置有檢測裝置(3)，其特征在于:所述晶體軌道(I)下方設(shè)有分選軌道(4)，所述分選軌道(4)上設(shè)有與所述晶振通槽(2)相對應(yīng)吻合的主通槽(5)，所述主通槽(5)的末端分叉為正品通槽(6)和次品通槽(7 )，所述主通槽(5 )、正品通槽(6 )和次品通槽(7 )三者交叉連通，所述正品通槽(6 )和次品通槽(7)連接位置處設(shè)置有使所述主通槽(5)與正品通槽(6)貫通或所述主通槽(5)與次品通槽(7)貫通的撥片(8)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的晶振檢測儀分選機構(gòu)，其特征在于:所述正品通槽(6)與次品通槽(7)相互對稱。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的晶振檢測儀分選機構(gòu)，其特征在于:所述主通槽(5)、正品通槽(6)和次品通槽(7)形成“人”字形結(jié)構(gòu)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的晶振檢測儀分選機構(gòu)，其特征在于:所述撥片(8)的兩側(cè)均設(shè)置有弧形凹陷。
【專利摘要】本實用新型公開一種晶振檢測儀分選機構(gòu)，包括傾斜設(shè)置的晶體軌道，所述晶體軌道上設(shè)置有供單個晶振依次通行的晶振通槽，所述晶體軌道上設(shè)置有檢測裝置，所述晶體軌道下方設(shè)有分選軌道，所述分選軌道上設(shè)有與所述晶振通槽相對應(yīng)吻合的主通槽，所述主通槽的末端分叉為正品通槽和次品通槽，所述主通槽、正品通槽和次品通槽三者交叉連通，所述正品通槽和次品通槽連接位置處設(shè)置有使所述主通槽與正品通槽貫通或所述主通槽與次品通槽貫通的撥片。由于本實用新型在檢測儀上安裝有分選軌道，分選軌道上設(shè)置有鐵軌交匯似的主通槽、正品通槽以及次品通槽，其可實現(xiàn)對合格品或不合格品的自動分選，無需人工操作，省時省力，大大提高檢測效率。
【IPC分類】B07C5-36, B07C5-34
【公開號】CN204523600
【申請?zhí)枴緾N201520233082
【發(fā)明人】李謙平, 李天春, 王立暉
【申請人】福建省將樂縣長興電子有限公司
【公開日】2015年8月5日
【申請日】2015年4月17日