專利名稱：新型密度儀探頭的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及油田測井技術(shù)領(lǐng)域，具體地說是一種便于走線、安全可靠的新型密 度儀探頭。
背景技術(shù)：
在我國油田測井中使用的密度儀探頭主要依靠進(jìn)口，其結(jié)構(gòu)主要由探頭外殼體和在 探頭外殼體內(nèi)腔中裝有的耐高溫探測器總成組成，探測器總成與探頭外殼體內(nèi)腔的內(nèi)壁 表面之間有充足的空隙走線，但是由于耐高溫探測器總成的成本很高，為了降低成本， 用普通的非耐高溫探測器總成代替進(jìn)口的耐高溫探測器總成，并且在非耐高溫探測器總 成的外側(cè)套裝一個(gè)圓柱形保溫瓶，這樣就使得探頭外殼體的內(nèi)壁表面與探測器總成之間 無多余空間，無法沿探頭外殼體中空內(nèi)腔走線，而是選擇從探頭外殼體外側(cè)走線，在測 井過程中殼體外側(cè)走線的密度儀探頭，經(jīng)常因線路損壞無法正常工作，線路經(jīng)常損壞必 然導(dǎo)致經(jīng)常維修，增加維修成本、降低了測井效率。 發(fā)明內(nèi)容
本實(shí)用新型的目的是提供一種便于走線、安全可靠的新型密度儀探頭。 本實(shí)用新型的目的是這樣實(shí)現(xiàn)的它包括有探頭外殼體和帶圓柱形保溫瓶的探測器
總成，其特征是在探頭外殼體的內(nèi)腔中裝有帶圓柱形保溫瓶的探測器總成，在探頭外
殼體中的內(nèi)壁表面上設(shè)置有至少一條引線槽。
本實(shí)用新型在出于降低生產(chǎn)成本的目的仍然使用保溫瓶的前提下，采用在探頭外殼
內(nèi)壁表面增設(shè)沿軸向的引線槽，不僅成功的用成本低廉的非耐高溫探測器總成代替進(jìn)口
的高成本耐高溫探測器總成，而且保證其線路的安全性，使其在測井過程中性能穩(wěn)定、
安全可靠。本實(shí)用新型還具備結(jié)構(gòu)簡單、使用方便、便于加工、提高測井效率、降低維
修成本等優(yōu)點(diǎn)。


圖1為本實(shí)用新型的局部剖視示意簡圖； 圖2為圖1中的A-A向剖面結(jié)構(gòu)示意簡圖； 圖3為圖2中B部的放大結(jié)構(gòu)示意圖。
3下面將結(jié)合附圖通過實(shí)例對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步詳細(xì)說明，但下述的實(shí)例僅僅是本 實(shí)用新型其中的例子而已，并不代表本實(shí)用新型所限定的權(quán)利保護(hù)范圍，本實(shí)用新型的 權(quán)利保護(hù)范圍以權(quán)利要求書為準(zhǔn)。
具體實(shí)施方式

如圖1 3所示，本實(shí)用新型主要結(jié)構(gòu)包括探頭外殼體1和帶圓柱形保溫瓶的探測器 總成3，在探頭外殼體1的內(nèi)壁中裝有帶圓柱形保溫瓶的探測器總成3，在探頭外殼體中 空內(nèi)腔的內(nèi)壁表面上沿中空內(nèi)腔軸向設(shè)置有一條電源線、探測器元件連接線的引線槽2。
安裝時(shí)，先將探頭外殼體的端蓋打開，將帶圓柱形保溫瓶的探測器總成裝入探頭外 殼體的內(nèi)腔，圓柱形保溫瓶內(nèi)的探測器總成各引線經(jīng)引線槽引出與測井儀的其他部件連 接。
權(quán)利要求1、一種新型密度儀探頭，它包括有探頭外殼體和帶圓柱形保溫瓶的探測器總成，其特征是在探頭外殼體的內(nèi)腔中裝有帶圓柱形保溫瓶的探測器總成，在探頭外殼體中的內(nèi)壁表面上設(shè)置有至少一條引線槽。
2、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的新型密度儀探頭，其特征是所述的引線槽是沿探頭外殼 體內(nèi)壁軸向設(shè)置的。
3、 根據(jù)權(quán)利要求1所述的新型密度儀探頭，其特征是所述的引線槽為電源線、探 測器元件連接線的引線槽。
專利摘要一種新型密度儀探頭，它包括有探頭外殼體和帶圓柱形保溫瓶的探測器總成，其技術(shù)要求是在探頭外殼體的內(nèi)腔中裝有帶圓柱形保溫瓶的探測器總成，在探頭外殼體中的內(nèi)壁表面上設(shè)置有至少一條引線槽。本實(shí)用新型在出于降低生產(chǎn)成本的目的仍然使用耐溫屏的前提下，采用在中空內(nèi)腔的內(nèi)壁表面增設(shè)沿軸向的引線槽，不僅成功的用成本低廉的非耐高溫探測器總成代替進(jìn)口的高成本耐高溫探測器總成，而且保證其線路的安全性，使其在測井過程中性能穩(wěn)定、安全可靠。本實(shí)用新型還具備結(jié)構(gòu)簡單、使用方便、便于加工、提高測井效率、降低維修成本等優(yōu)點(diǎn)。
文檔編號(hào)E21B49/00GK201407037SQ20092001363
公開日2010年2月17日 申請(qǐng)日期2009年5月12日 優(yōu)先權(quán)日2009年5月12日
發(fā)明者王紹山, 王艷秋 申請(qǐng)人:沈陽新錦精密儀器儀表研究所