本發(fā)明涉及一種,具體是涉及一種利用頻率直方圖法進行煤田測井曲線標(biāo)準(zhǔn)化的方法。
背景技術(shù):
測井曲線可間接反映地下介質(zhì)的巖性信息,然而,實際工作中,由于受泥漿、井徑和儀器等因素的影響,如果直接利用這些原始的測井曲線進行地震資料反演等操作,必然會影響反演結(jié)果的質(zhì)量,所以需要對測井曲線進行預(yù)處理,消除非地質(zhì)因素的影響,使得測井資料能真實的反映地質(zhì)特征,為地震反演提供比較可靠的測井?dāng)?shù)據(jù)。在煤田測井曲線標(biāo)準(zhǔn)化過程中,所選取的標(biāo)準(zhǔn)層的厚度通常比較薄,采樣點少,甚至?xí)霈F(xiàn)在全區(qū)找不到合適的標(biāo)準(zhǔn)層的情況。并且常規(guī)的測井曲線標(biāo)準(zhǔn)化方法,只能將測井?dāng)?shù)據(jù)整體標(biāo)準(zhǔn)化到同一范圍,但是由于測井?dāng)?shù)據(jù)中的極值,測井曲線標(biāo)準(zhǔn)化后不能真實反映數(shù)據(jù)的分布范圍,導(dǎo)致測井曲線標(biāo)準(zhǔn)化不理想。
技術(shù)實現(xiàn)要素:
為了克服上述現(xiàn)有技術(shù)的不足,本發(fā)明提供了一種適用于煤田的基于頻率直方圖的測井曲線標(biāo)準(zhǔn)化方法,該方法能夠針對煤田測井曲線實際情況進行有效的測井曲線標(biāo)準(zhǔn)化。
本發(fā)明所采用的技術(shù)方案是:一種基于頻率直方圖法適用于煤田測井曲線標(biāo)準(zhǔn)化的方法,主要包括以下步驟:
(1)在煤田工區(qū)內(nèi)測井中選取標(biāo)準(zhǔn)測井;
(2)在煤田工區(qū)內(nèi)測井研究地層內(nèi)選取標(biāo)準(zhǔn)層;
(3)應(yīng)用頻率直方圖法分析各測井?dāng)?shù)據(jù);
(4)利用標(biāo)準(zhǔn)化公式進行煤田測井曲線標(biāo)準(zhǔn)化;
(5)綜上步驟后,得到標(biāo)準(zhǔn)化后的測井曲線,為后續(xù)的反演等工作提供高質(zhì)量的測井?dāng)?shù)據(jù)。
進一步優(yōu)化的,步驟(1)中所述的選取標(biāo)準(zhǔn)井的方法,應(yīng)該盡量滿足標(biāo)準(zhǔn)井在工區(qū)的中部位置,沉積條件穩(wěn)定,測井曲線種類齊全及測井曲線質(zhì)量佳等條件。
進一步優(yōu)化的,步驟(2)中所述的選取標(biāo)準(zhǔn)層,不同于油田測井曲線標(biāo)準(zhǔn)層的選取。煤系地層巖性變化復(fù)雜,其間薄互層發(fā)育明顯,有效厚度達(dá)不到要求,采樣點較少,很難找到穩(wěn)定的層位作為標(biāo)準(zhǔn)層,而唯一穩(wěn)定且有一定厚度的煤層,是工區(qū)研究的目的層,不可作為標(biāo)準(zhǔn)層用于標(biāo)準(zhǔn)化處理。因此,選取全井測井地層作為標(biāo)準(zhǔn)層,這樣更符合統(tǒng)計學(xué)規(guī)律,能夠消除因為局部測井?dāng)?shù)據(jù)極值引起的誤差。
進一步優(yōu)化的,步驟(2)中所述的選取標(biāo)準(zhǔn)層,基巖面以上的地層由于風(fēng)化作用,地震波在該層傳播速度較基巖面以下地層要低很多,稱為低速帶,相應(yīng)的測井曲線值與基巖以下相比也異常低。煤田測井?dāng)?shù)據(jù)采集時,部分測井是直接從基巖面開始采集數(shù)據(jù)的,沒有受到低速帶的測井低值影響,所以有低速帶的測井曲線和無低速帶的測井曲線同時進行標(biāo)準(zhǔn)化將導(dǎo)致值域范圍的不一致,含低速帶的測井曲線由于基巖面以上的測井低值影響,經(jīng)過標(biāo)準(zhǔn)化后基巖面以下的值變得更高,從而使得標(biāo)準(zhǔn)化效果的不理想,所以在選取標(biāo)準(zhǔn)層時,要把基巖面以上的部分全部剔除。
進一步優(yōu)化的,步驟(3)中所述的應(yīng)用頻率直方圖法,頻率直方圖是一種反映數(shù)據(jù)分布規(guī)律的圖形,通常用橫軸表示樣本數(shù)據(jù)分組情況,在橫軸上分出等長的若干段,每段長表示組距,縱軸表示頻率與組距的比值,以每個組距為底,以各組頻率與組距的商為高,分別畫成矩形,這樣就得到了頻率分布直方圖。測井?dāng)?shù)據(jù)分布符合正態(tài)分布即:x~n(μ,σ2),其概率密度函數(shù)為:
進一步優(yōu)化的,步驟(4)中所述的標(biāo)準(zhǔn)化公式為:
acb'=(acb-b)/(b1-b)*(a1-a)+a
式中a為標(biāo)準(zhǔn)井?dāng)?shù)據(jù),其測井曲線直方圖分布范圍是a~a1,b為待標(biāo)準(zhǔn)化井?dāng)?shù)據(jù),其分布范圍b~b1。acb是指標(biāo)準(zhǔn)化前b井的測井?dāng)?shù)據(jù),acb'是指的標(biāo)準(zhǔn)化后b井的測井?dāng)?shù)據(jù)。a有效地保證了整個測井曲線的基值處在同一起點;(acb-b)/(b1-b)*(a1+a)則決定了測井曲線標(biāo)準(zhǔn)化后的整體形態(tài)擁有較好的一致性,因此利用標(biāo)準(zhǔn)化公式能夠?qū)崿F(xiàn)測井曲線的標(biāo)準(zhǔn)化。
本發(fā)明的有益效果是:適用于在煤田中的測井曲線標(biāo)準(zhǔn)化。能夠解決煤田測井曲線標(biāo)準(zhǔn)化中出現(xiàn)的標(biāo)準(zhǔn)層厚度較薄或者在全區(qū)找不到合適的標(biāo)準(zhǔn)層的復(fù)雜問題,并且全井測井曲線的平均化效應(yīng)有效地保證了標(biāo)準(zhǔn)層數(shù)據(jù)的正確性。應(yīng)用頻率直方圖法,有效地解決了由于測井曲線中的極值而引起的標(biāo)準(zhǔn)化不準(zhǔn)確問題。
附圖說明
圖1:為本發(fā)明的工作流程圖。
圖2:為本發(fā)明的測井曲線標(biāo)準(zhǔn)化示意圖。
圖3:為本發(fā)明的全區(qū)測井曲線標(biāo)準(zhǔn)化參數(shù)圖。
圖4:為本發(fā)明的全區(qū)密度曲線標(biāo)準(zhǔn)化前圖。
圖5:為本發(fā)明的全區(qū)密度曲線標(biāo)準(zhǔn)化后圖。
圖6:為本發(fā)明的全區(qū)自然伽馬曲線標(biāo)準(zhǔn)化前圖。
圖7:為本發(fā)明的全區(qū)自然伽馬曲線標(biāo)準(zhǔn)化后圖。
圖8:為本發(fā)明的全區(qū)視電阻率曲線標(biāo)準(zhǔn)化前圖。
圖9:為本發(fā)明的全區(qū)視電阻率曲線標(biāo)準(zhǔn)化后圖。
具體實施方式
以下結(jié)合具體實施例對本發(fā)明的技術(shù)方案和技術(shù)效果進行詳細(xì)的說明,但本發(fā)明的范圍并不限制于以下具體實施例。
dwp工區(qū)內(nèi)一共收集到了鉆孔61個,其中43口井資料含有密度速度、自然伽馬和視電阻率曲線,能夠用來進行反演,其余鉆孔測井曲線不齊全。
為了消除由于儀器采集等各方面原因?qū)η€造成的誤差,提高反演結(jié)果的準(zhǔn)確性,需要對這43口鉆孔的密度曲線、自然伽馬曲線和視電阻率曲線進行標(biāo)準(zhǔn)化處理。一般認(rèn)為,不同井點同一標(biāo)準(zhǔn)層應(yīng)具有相似的或呈規(guī)律性變化的測井響應(yīng),根據(jù)頻率直方圖確定的極值就可以定性分析與定量校正。如圖2所示,如果標(biāo)準(zhǔn)井a(chǎn)的測井曲線直方圖分布范圍是a~a1,b井的分布范圍是b~b1,將它們調(diào)到同一個值域范圍,可利用歸一化公式:
acb'=(acb-b)/(b1-b)*(a1-a)+a
根據(jù)對研究區(qū)鉆井測井資料的統(tǒng)計,由于sh_155井位于研究區(qū)中部位置且其測井資料全面準(zhǔn)確、質(zhì)量好,所以進行測井標(biāo)準(zhǔn)化處理時選取sh_155井為標(biāo)準(zhǔn)井。各鉆井的測井曲線標(biāo)準(zhǔn)化參數(shù)見圖3,由于研究區(qū)巖性復(fù)雜,故取3#煤層向上2m~向上182m之間的巖性作為標(biāo)準(zhǔn)層進行標(biāo)準(zhǔn)化統(tǒng)計。圖4和圖5分別是全區(qū)密度曲線標(biāo)準(zhǔn)化前后的對照,圖6和圖7分別是全區(qū)自然伽馬曲線標(biāo)準(zhǔn)化前后的對照,圖8和圖9分別是全區(qū)視電阻率曲線標(biāo)準(zhǔn)化前后的對照。經(jīng)過標(biāo)準(zhǔn)化之后,全區(qū)的測井基本消除了外部因素的影響,只反映巖性的變化,因而能夠用來進行反演。
上述實施例并非是對本發(fā)明的限制,本領(lǐng)域相關(guān)的普通技術(shù)人員應(yīng)該清楚,在不脫離本發(fā)明的基本構(gòu)思和范圍的情況內(nèi)還可以有多重變形或替代,所有等同的技術(shù)方案也應(yīng)該包含在本發(fā)明的保護范圍內(nèi)。本發(fā)明的專利保護范圍以權(quán)力要求的限定為準(zhǔn)。