本發(fā)明涉及地質(zhì)數(shù)據(jù)處理,特別涉及一種地層信息提取方法、裝置、計算機設(shè)備和存儲介質(zhì)。
背景技術(shù):
1、隨鉆測井曲線的正演為地質(zhì)導(dǎo)向作業(yè)提供了重要的參考信息,通過對比正演結(jié)果與實鉆測井?dāng)?shù)據(jù)能夠輔助判斷鉆頭所在地層位置,優(yōu)化鉆進方向并保障水平井鉆遇率。目前正演過程中多需要構(gòu)建水平井井周網(wǎng)格地質(zhì)體建模,再通過計算軌跡所處位置及相鄰單元格數(shù)據(jù)獲取正演所需信息,但這種方法要求精細(xì)化建模的同時,整體計算量大速度慢,在待鉆井井周信息少、導(dǎo)向作業(yè)時間短的情況下并不適用。
技術(shù)實現(xiàn)思路
1、基于此,有必要針對上述技術(shù)問題,提供一種地層信息提取方法、裝置、計算機設(shè)備和存儲介質(zhì)。
2、一種地層信息提取方法,包括:
3、獲取參考井的參考軌跡點坐標(biāo);
4、獲取水平井的正鉆軌跡點坐標(biāo);
5、根據(jù)所述參考軌跡點坐標(biāo)和所述正鉆軌跡點坐標(biāo)調(diào)整預(yù)先生成的初始地層控制線,得到正鉆地層控制線;
6、檢測所述水平井的各所述正鉆軌跡點坐標(biāo)是否位于相鄰的兩個所述正鉆地層控制線之間;
7、當(dāng)所述正鉆軌跡點坐標(biāo)位于相鄰的兩個所述正鉆地層控制線之間時,利用相鄰的兩個所述正鉆地層控制線計算所述正鉆軌跡點坐標(biāo)對應(yīng)的軌跡點的地層信息。
8、在其中一個實施例中,所述根據(jù)所述參考軌跡點坐標(biāo)和所述正鉆軌跡點坐標(biāo)調(diào)整預(yù)先生成的初始地層控制線的步驟之前,還包括:
9、獲取參考井的地質(zhì)分層數(shù)據(jù);
10、根據(jù)所述參考井的地質(zhì)分層數(shù)據(jù),生成所述初始地層控制線。
11、在其中一個實施例中,所述根據(jù)所述參考井的地質(zhì)分層數(shù)據(jù),生成所述初始地層控制線的步驟包括:
12、獲取所述參考井的多個地質(zhì)分層界面;
13、基于所述參考井的各所述地質(zhì)分層界面垂深值確定各所述參考地層控制線的地質(zhì)分層點;
14、基于所述地質(zhì)分層點和所述參考井的參考軌跡點坐標(biāo),生成所述初始地層控制線。
15、在其中一個實施例中,所述根據(jù)所述參考軌跡點坐標(biāo)和所述正鉆軌跡點坐標(biāo)調(diào)整預(yù)先生成的初始地層控制線,得到正鉆地層控制線的步驟包括:
16、對比各所述參考軌跡點坐標(biāo)和各所述正鉆軌跡點坐標(biāo),確定與各所述參考軌跡點坐標(biāo)屬于同一層位的各所述正鉆軌跡點坐標(biāo),確定為正鉆控制線坐標(biāo);
17、根據(jù)所述正鉆控制線坐標(biāo)調(diào)整所述初始地層控制線,得到所述正鉆地層控制線。
18、在其中一個實施例中,所述獲取水平井的正鉆軌跡點坐標(biāo)的步驟包括:
19、獲取所述水平井的井口坐標(biāo)、井斜數(shù)據(jù)和方位數(shù)據(jù);
20、根據(jù)所述井口坐標(biāo)、所述井斜數(shù)據(jù)和所述方位數(shù)據(jù)計算獲得所述水平井的多個所述正鉆軌跡點坐標(biāo)。
21、在其中一個實施例中,所述當(dāng)所述正鉆軌跡點坐標(biāo)位于相鄰的兩個所述正鉆地層控制線之間時,利用相鄰的兩個所述正鉆地層控制線計算所述正鉆軌跡點坐標(biāo)對應(yīng)的軌跡點的地層信息的步驟包括:
22、當(dāng)所述正鉆軌跡點坐標(biāo)位于相鄰的兩個所述正鉆地層控制線之間時,利用相鄰的兩個所述正鉆地層控制線計算所述正鉆軌跡點坐標(biāo)對應(yīng)的軌跡點的垂深校正值;
23、根據(jù)所述垂深校正值計算所述軌跡點的地層信息。
24、在其中一個實施例中,所述利用相鄰的兩個所述正鉆地層控制線計算所述正鉆軌跡點坐標(biāo)對應(yīng)的軌跡點的垂深校正值的步驟中,利用下述計算式計算獲得垂深校正值depthoffset;
25、
26、
27、
28、depthoffset=l1.z-t.z+hordis×tan(-β)
29、式中,l1和l2為相鄰的兩個所述正鉆地層控制線,l1.x為正鉆地層控制線l1上首個層位點的x坐標(biāo),l1.y為正鉆地層控制線l1上首個層位點的y坐標(biāo),l1.z為正鉆地層控制線l1上首個層位點的z坐標(biāo);l2.x為正鉆地層控制線l2上首個層位點的x坐標(biāo),l2.y為正鉆地層控制線l2上首個層位點的y坐標(biāo),l2.z為正鉆地層控制線l2上首個層位點的z坐標(biāo)。
30、一種地層信息提取裝置,包括:
31、參考坐標(biāo)獲取模塊,用于獲取參考井的參考軌跡點坐標(biāo);
32、正鉆坐標(biāo)獲取模塊,用于獲取水平井的正鉆軌跡點坐標(biāo);
33、正鉆控制線調(diào)整模塊,用于根據(jù)所述參考軌跡點坐標(biāo)和所述正鉆軌跡點坐標(biāo)調(diào)整預(yù)先生成的初始地層控制線,得到正鉆地層控制線;
34、檢測模塊,用于檢測所述水平井的各所述正鉆軌跡點坐標(biāo)是否位于相鄰的兩個所述正鉆地層控制線之間;
35、地層信息計算模塊,用于當(dāng)所述正鉆軌跡點坐標(biāo)位于相鄰的兩個所述正鉆地層控制線之間時,利用相鄰的兩個所述正鉆地層控制線計算所述正鉆軌跡點坐標(biāo)對應(yīng)的軌跡點的地層信息。
36、一種計算機設(shè)備,包括存儲器和處理器,所述存儲器存儲有計算機程序,其特征在于,所述處理器執(zhí)行所述計算機程序時實現(xiàn)上述任一實施例中所述的地層信息提取方法的步驟。
37、一種計算機可讀存儲介質(zhì),其上存儲有計算機程序,所述計算機程序被處理器執(zhí)行時實現(xiàn)上述任一實施例中所述的地層信息提取方法的步驟。
38、上述地層信息提取方法、裝置、計算機設(shè)備和存儲介質(zhì),根據(jù)參考井的參考軌跡點坐標(biāo)對水平井的正鉆地層控制線進行調(diào)整優(yōu)化,從而利用正鉆地層控制線與水平井的軌跡點計算得到地層信息,實現(xiàn)了快速地為正演算法提供地層信息,提高地質(zhì)導(dǎo)向解釋效率與軌跡調(diào)整精度。
1.一種地層信息提取方法,其特征在于,包括:
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述根據(jù)所述參考軌跡點坐標(biāo)和所述正鉆軌跡點坐標(biāo)調(diào)整預(yù)先生成的初始地層控制線的步驟之前,還包括:
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法,其特征在于,所述根據(jù)所述參考井的地質(zhì)分層數(shù)據(jù),生成所述初始地層控制線的步驟包括:
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述根據(jù)所述參考軌跡點坐標(biāo)和所述正鉆軌跡點坐標(biāo)調(diào)整預(yù)先生成的初始地層控制線,得到正鉆地層控制線的步驟包括:
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述獲取水平井的正鉆軌跡點坐標(biāo)的步驟包括:
6.根據(jù)權(quán)利要求1-5任一項中所述的方法,其特征在于,所述當(dāng)所述正鉆軌跡點坐標(biāo)位于相鄰的兩個所述正鉆地層控制線之間時,利用相鄰的兩個所述正鉆地層控制線計算所述正鉆軌跡點坐標(biāo)對應(yīng)的軌跡點的地層信息的步驟包括:
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法,其特征在于,所述利用相鄰的兩個所述正鉆地層控制線計算所述正鉆軌跡點坐標(biāo)對應(yīng)的軌跡點的垂深校正值的步驟中,利用下述計算式計算獲得垂深校正值depthoffset;
8.一種地層信息提取裝置,其特征在于,包括:
9.一種計算機設(shè)備,包括存儲器和處理器,所述存儲器存儲有計算機程序,其特征在于,所述處理器執(zhí)行所述計算機程序時實現(xiàn)權(quán)利要求1至7中任一項所述方法的步驟。
10.一種計算機可讀存儲介質(zhì),其上存儲有計算機程序,其特征在于,所述計算機程序被處理器執(zhí)行時實現(xiàn)權(quán)利要求1至7中任一項所述的方法的步驟。