專利名稱:優(yōu)先級邏輯模塊的制作方法
優(yōu)先級邏輯模塊背景技術(shù)[0001]核電站是復(fù)雜系統(tǒng)，可能具有多種多樣的傳感器監(jiān)視過程參數(shù)，比如舉例而言溫度、壓力、流量和中子通量，以及控制系統(tǒng)向控制器、安全邏輯電路或安全動作系統(tǒng)發(fā)出命令。核環(huán)境受到多種多樣的規(guī)章管轄，它們要求嚴格的安全措施。例如，這些安全措施包括組合不同的儀表、分離安全和非安全裝備、硬件冗余等。典型情況下，對于每個性質(zhì)和/或測量參數(shù)，在電站運行期間，來自三個或四個獨立傳感器的信號被收集。這些信號受到處理并用于監(jiān)視性能、驗證相關(guān)聯(lián)儀表的正確運行以及檢測過程異常。優(yōu)先級邏輯模塊(PLM) 是在啟動安全和/或控制系統(tǒng)與連接到所述安全和/或控制系統(tǒng)的多臺傳動設(shè)備之間放置的邏輯組件。PLM接收安全和/或非安全命令并在它們之間進行判優(yōu)，通過從多條設(shè)備傳動命令中選擇優(yōu)先級命令信號而響應(yīng)沖突的指令。
發(fā)明內(nèi)容
[0002]在某實施例中，在核過程控制系統(tǒng)中，公開了優(yōu)先級邏輯模塊(PLM)。優(yōu)先級邏輯模塊包括多個輸入端口，每個輸入端口都與多個優(yōu)先級之一相關(guān)聯(lián)，多個輸出端口，以及與測試模式選擇信號相關(guān)聯(lián)的測試模式選擇端口。測試模式選擇信號選擇正常模式或測試模式之一，每個模式都與將由輸入端口接收的信號和輸出端口發(fā)送的信號進行匹配相關(guān)聯(lián)。 優(yōu)先級邏輯模塊進一步包括可配置的優(yōu)先級邏輯電路，其中，優(yōu)先級邏輯電路將輸入端口之一映射到輸出端口之一。[0003]在某實施例中，在核過程控制系統(tǒng)中，公開了優(yōu)先級邏輯模塊。優(yōu)先級邏輯模塊包括多個輸入端口和一個輸出端口、預(yù)編程的優(yōu)先級邏輯電路，其中，優(yōu)先級邏輯電路將輸入端口之一映射到輸出端口，以及連接到優(yōu)先級邏輯電路的可編程性抑制器，可編程性抑制器禁用優(yōu)先級邏輯電路的可編程功能。[0004]在某實施例中，公開了測試方法。所述方法包括按照測試模式選擇信號選擇測試模式以及接收多個輸入信號，其中，每個輸入信號都是與優(yōu)先級相關(guān)聯(lián)的IE級信號。所述方法進一步包括從輸入信號產(chǎn)生至少一個輸出信號，從最低優(yōu)先級輸入信號產(chǎn)生輸出信號，從輸入信號產(chǎn)生測試輸出信號，向傳動設(shè)備發(fā)送輸出信號，以及向測試設(shè)備發(fā)送測試輸出信號。[0005]連同附圖和權(quán)利要求
書，從以下詳細說明將更清楚地理解這些和其他特征。
[0006]為了更全面地理解本公開，現(xiàn)在參考以下簡要說明，連同附圖和詳細說明，其中相同的附圖標記表示相同的部件。[0007]圖1是根據(jù)本公開的實施例的過程控制系統(tǒng)的框圖；[0008]圖2是根據(jù)本公開的實施例的優(yōu)先級邏輯模塊(PLM)架構(gòu)的框圖；[0009]圖3展示了根據(jù)本公開的實施例的輸入/輸出結(jié)構(gòu)；[0010]圖4展示了根據(jù)本公開的實施例的優(yōu)先級邏輯的功能行為；[0011]圖5是根據(jù)本公開的實施例的測試方法的流程圖；[0012]圖6展示了根據(jù)本公開的實施例的示范計算機系統(tǒng)。
具體實施方式
[0013]開始時應(yīng)當(dāng)理解，盡管下面展示了一個或多個實施例的展示性實施，所公開的系統(tǒng)和方法可以使用任何數(shù)目的技術(shù)實施，無論當(dāng)前公知或尚未存在。所述公開完全不應(yīng)當(dāng)限制為下面展示的展示性實施、附圖和技術(shù)，而是可以在附帶的權(quán)利要求
書的范圍連同其等同內(nèi)容的完全范圍內(nèi)修改。[0014]公開了使用復(fù)雜可編程邏輯器件(CPLD)實施的以用于高可靠性自動過程控制應(yīng)用中的優(yōu)先級邏輯模塊(PLM)。在某實施例中，優(yōu)先級邏輯模塊可以采用在IE級核過程控制系統(tǒng)中。優(yōu)先級邏輯模塊接收多個輸入并且根據(jù)優(yōu)先化的邏輯從輸入產(chǎn)生單一控制輸出。例如，根據(jù)四個不同的輸入，優(yōu)先級邏輯模塊或者發(fā)信號活化螺線管或者發(fā)信號去活化螺線管。輸入可以包括一個或多個手動超馳輸入以及一個或多個自動過程控制輸入。優(yōu)先級邏輯模塊進一步接收測試模式輸入，它可以把優(yōu)先級邏輯模塊置于測試運行模式下。[0015]在復(fù)雜可編程邏輯器件中實施優(yōu)先級邏輯模塊便于降低與改變優(yōu)先級邏輯相關(guān)聯(lián)的認證成本。優(yōu)先級邏輯可以不同，取決于被提供的特定控制功能。例如，用于控制反應(yīng)堆控制棒的優(yōu)先級邏輯可以不同于控制冷卻劑閥的優(yōu)先級邏輯。要是這兩種不同的邏輯功能在第一專用集成電路(ASIC)和第二專用集成電路中實施，可能需要對兩種專用集成電路都進行完全獨立的認證測試。這樣的認證測試可能非常昂貴且耗時并且可能招致若干物理測試，比如輻射測試、環(huán)境測試、地震測試、傳導(dǎo)排放測試、輻射排放測試等等。因為同一硬件物品，給定的復(fù)雜可編程邏輯器件，可以通過預(yù)編程用于實施不同的優(yōu)先級邏輯，所以 CPLD實施的優(yōu)先級邏輯模塊能夠被一次認證，而昂貴和耗時程度低得多的改變沖擊分析文檔能夠支持不同的優(yōu)先級邏輯功能編程。[0016]在某實施例中，優(yōu)先級邏輯模塊通過將編程時鐘接地和將優(yōu)先級邏輯模塊封裝在外殼內(nèi)而阻止在現(xiàn)場中的重新編程或者盜版優(yōu)先級邏輯模塊的企圖。例如，當(dāng)優(yōu)先級邏輯模塊被制造和完成其裝配時，最后步驟可以包括將編程時鐘接地和封裝優(yōu)先級邏輯模塊。 這支持規(guī)章約束1E級核環(huán)境中使用的優(yōu)先級邏輯模塊不可現(xiàn)場編程。反之，本公開教導(dǎo)的優(yōu)先級邏輯模塊促進了在制造和/或開發(fā)實驗室環(huán)境中重新編程的便利。例如，該優(yōu)先級邏輯模塊可以快速、方便地由開發(fā)人員重新編程以在典型的測試-修改循環(huán)中提升編程設(shè)計或邏輯設(shè)計。該優(yōu)先級邏輯模塊促進了讀出邏輯版本的標識，這支持了工程開發(fā)。[0017]優(yōu)先級邏輯模塊支持測試運行模式，它提供了高可靠性現(xiàn)場設(shè)備例如螺線管的連續(xù)控制，同時并發(fā)地測試該優(yōu)先級邏輯。例如，在測試運行模式下，低優(yōu)先級輸入可以驅(qū)動輸出控制現(xiàn)場設(shè)備而三個最高優(yōu)先級輸入根據(jù)正常運行模式期間占優(yōu)勢的優(yōu)先級邏輯驅(qū)動測試輸出。[0018]圖1顯示了過程控制系統(tǒng)的實施例100，包括多個輸入系統(tǒng)110、包含連接到基板 135的至少一個PLM 140的優(yōu)先級邏輯組件130、至少一臺傳動設(shè)備180和測試設(shè)備190。 在某實施例中，PLM 140可以包括CPLD，對它可能已經(jīng)禁用了可編程能力。在另一個實施例中，PLM 140可以包括現(xiàn)場可編程門陣列(PFGA)，對它可能已經(jīng)禁用了可編程能力。在某實施例中，四個PLM 140可以連接到基板135。[0019]在某實施例中，PLM 140可以被認證用于IE級核過程控制系統(tǒng)，其中IE級被定義為對反應(yīng)堆緊急關(guān)閉絕對必要的電氣裝備和系統(tǒng)的安全級別。在某實施例中，用于IE 級核過程控制系統(tǒng)的認證可以包括與美國電力研究院(Erai)技術(shù)成果(TR) 107330標準合規(guī)。PLM140可以與多個標準合規(guī)地運行。例如在某些實施例中，PLM 140可以與一個或多個以下標準的要求合規(guī)地運行用于軟件驗證與確認的美國電氣和電子工程師協(xié)會 (IEEE) 1012標準、國際電工委員會(IEC)61513、IEC 60880、美國核管理委員會(NRC)規(guī)定和指南(RG)L 180以及NRC數(shù)字儀控中期審查指南DI&C-ISG-04。[0020]用于IE級核過程控制系統(tǒng)的控制設(shè)備的認證可以涉及一項或多項以下測試。輻射測試可以在連接到基板135的PLM 140被置于腔室中并以伽馬射線照射時進行。環(huán)境測試可以在PLM 140被置于腔室中并經(jīng)受極端溫度和濕度時進行。地震測試可以在PLM 140 被螺栓固定到固定裝置并搖動以模擬五次大地震和一次非常極端地震時進行。[0021]所執(zhí)行的排放測試可以在PLM 140正在運行時進行，使得測試連接到PLM 140的導(dǎo)線發(fā)出的可能影響其他裝備的噪聲。輻射排放測試可以在PLM 140正在運行時進行。所執(zhí)行的敏感度測試可以在把噪聲注入連接到PLM 140的導(dǎo)線而它正在運行時進行，以查看在這種條件下PLM 140是否能夠繼續(xù)正確地運行。輻射敏感度測試可以在射頻噪聲跨越寬廣頻率范圍輻射而PLM 140正在運行時進行，以查看在這種條件下PLM 140是否能夠繼續(xù)正確地運行。磁場輻射敏感度測試可以在PLM 140周圍產(chǎn)生強磁場時進行，以查看在這種條件下PLM 140是否能夠繼續(xù)正確地運行。[0022]快速瞬變-浪涌-振鈴波測試可以在把大電壓尖峰信號或一系列電壓尖峰信號注入連接到PLM 140的導(dǎo)線而它正在運行時進行，以查看在這種條件下PLM 140是否能夠繼續(xù)正確地運行。靜電放電測試可以在大靜電荷放電到PLM 140的金屬部件之一或PLM 140 周圍空氣中而它正在運行時進行，以查看在這種條件下PLM 140是否能夠繼續(xù)正確地運行。[0023]應(yīng)當(dāng)認識到，進行這些和其他測試可能消耗相當(dāng)數(shù)量的時間和金錢。應(yīng)當(dāng)注意，一旦給定的復(fù)雜可編程邏輯器件已經(jīng)成功地通過了以上標識的測試，它就不需要僅僅因為復(fù)雜可編程邏輯器件的編程邏輯已經(jīng)改變而重復(fù)這些測試。當(dāng)改變編程時，僅僅由改變沖擊分析文檔就可以支持對PLM 140的改變。[0024]優(yōu)先級邏輯組件130可以從輸入系統(tǒng)110接收多個信號，并且可以向PLM 140轉(zhuǎn)發(fā)多個信號。PLM 140可以使用正常模式邏輯或測試模式邏輯產(chǎn)生多個信號，并且PLM 140 可以向優(yōu)先級邏輯組件130轉(zhuǎn)發(fā)這些信號。優(yōu)先級邏輯組件130可以向至少一臺傳動設(shè)備 180發(fā)送這些信號至少其一，而PLM 140可以向測試設(shè)備190發(fā)送這些信號之一。在某實施例中，基板135提供了輸入系統(tǒng)110與PLM 140之間以及PLM 140與傳動設(shè)備180或測試設(shè)備190之間的連接。在某實施例中，基板135可以提供一個或多個PLM 140使用的備用電源。[0025]圖2顯示了 PLM架構(gòu)的實施例200，包括PLM 140、外殼141、多個輸入120、輸出 160和測試輸出165。每個輸入120都與輸入端口 121相關(guān)聯(lián)；輸出160與輸出端口 161相關(guān)聯(lián)；而測試輸出165與測試輸出端口 166相關(guān)聯(lián)。PLM架構(gòu)200進一步包括測試模式選擇 126，包括與測試啟用1端口 123相關(guān)聯(lián)的測試啟用1122信號以及與測試啟用2端口 125相關(guān)聯(lián)的測試啟用21M信號。PLM架構(gòu)200進一步包括優(yōu)先級邏輯220，包括正常模式判優(yōu)邏輯表410和測試模式判優(yōu)邏輯表420。PLM架構(gòu)200進一步包括與編程端口 231相關(guān)聯(lián)的編程端口時鐘輸入230。在某實施例中，輸入120可以包括IE級設(shè)備產(chǎn)生的IE級信號。[0026]在某實施例中，外殼141可以包括某器件，例如盒或蓋，它防止接觸到PLM 140。每個輸入端口 121都可以與優(yōu)先級相關(guān)聯(lián)，例如通過邏輯編程進入PLM 140。正如本文所用， 術(shù)語“最高優(yōu)先級輸入端口，，指明“與最高優(yōu)先級相關(guān)聯(lián)的輸入端口 ”，術(shù)語“第二高優(yōu)先級輸入端口 ”指明“與第二高優(yōu)先級相關(guān)聯(lián)的輸入端口 ”，術(shù)語“第三高優(yōu)先級輸入端口 ”指明 “與第三高優(yōu)先級相關(guān)聯(lián)的輸入端口 ”，術(shù)語“最低優(yōu)先級輸入端口 ”指明“與最低優(yōu)先級相關(guān)聯(lián)的輸入端口”，等等。PLM 140可以執(zhí)行判優(yōu)方案在這些輸入120之間判優(yōu)，根據(jù)與輸入端口 121相關(guān)聯(lián)的優(yōu)先級，選擇至少一個輸入120以產(chǎn)生輸出160和測試輸出165。應(yīng)當(dāng)理解，根據(jù)PLM 140的編程，可以改變這些輸入之間的優(yōu)先級，以及由此術(shù)語“最高優(yōu)先級輸入端口 ”、“第二高優(yōu)先級輸入端口，，等對特定輸入端口的歸屬。[0027]因為多種多樣的原因可以改變優(yōu)先級邏輯。例如，因為與特定現(xiàn)場設(shè)備相關(guān)聯(lián)的控制策略和/或控制政策可能改變所以可以改變優(yōu)先級邏輯。作為替代，因為PLM 140可以作為與不同的現(xiàn)場設(shè)備一起使用的目標，所以可以改變優(yōu)先級邏輯。正如本文所用，改變和/或重新編程PLM 140的優(yōu)先級邏輯的概念包括將第一優(yōu)先級邏輯編程到第一 PLM 140 中以及將第二優(yōu)先級邏輯編程到第二PLM 140中的思路，其中第一PLM 140和第二PLM 140 都可能先前一直是未編程的和/或處于從復(fù)雜可編程邏輯器件的制造商收到它們時的狀態(tài)。[0028]在某實施例中，PLM 140可以包括輸入端口 121a_d，每個輸入端口 121都被配置為接收輸入120。在圖2展示的實例中，輸入端口 120a(圖中的‘輸入1’)是與最高優(yōu)先級輸入端口相關(guān)聯(lián)的信號，輸入端口 120b(圖中的‘輸入2’ )是與第二高優(yōu)先級輸入端口相關(guān)聯(lián)的信號，輸入端口 120c(圖中的‘輸入3’)是與第三高優(yōu)先級輸入端口相關(guān)聯(lián)的信號，而輸入端口 120d(圖中的‘輸入4’ )是與最低優(yōu)先級輸入端口相關(guān)聯(lián)的信號。PLM 140可以進一步包括被配置為發(fā)送輸出160(圖中的‘輸出1’ )的輸出端口 161以及被配置為發(fā)送測試輸出165(圖中的‘測試輸出1’ )的輸出端口 166。在某實施例中，在測試模式下，PLM 140可以從最低優(yōu)先級輸入120d經(jīng)由正常模式邏輯產(chǎn)生輸出160并且可以使用測試邏輯從全部輸入120a-d產(chǎn)生測試輸出165。在某實施例中，在測試模式下，PLM 140可以使用測試模式判優(yōu)邏輯表420產(chǎn)生輸出160和測試輸出165。在手動測試模式下，PLM 140可以首先通過分開地激活每個輸入120并產(chǎn)生僅有的測試輸出165進行“不合格試。然后PLM 140可以通過分開地激活每個輸入120并驗證與相應(yīng)輸出160相關(guān)聯(lián)的傳動設(shè)備180的激活來進行“合格”測試。[0029]在某實施例中，與輸入端口 121a_d相關(guān)聯(lián)的優(yōu)先級可以是在設(shè)置中可編程的，其中PLM 140在現(xiàn)場設(shè)置中是裝配的卻不是可編程的，例如在PLM 140被用于控制現(xiàn)場設(shè)備的發(fā)電廠中或制造廠中。PLM 140可以被裝配為禁用可編程特征。例如，PLM 140的編程時鐘插針可以被接地。在某些語境中，這可以被稱為可編程禁止器。本公開設(shè)想了在其他實施例中可以以其他結(jié)構(gòu)和/或使用其他方法實施可編程禁止器。不過在裝配環(huán)境中，工程師或技術(shù)員能夠容易地重新啟用可編程特征并重新編程優(yōu)先級邏輯。例如，工程師可以拆除外殼，拆除連接到編程時鐘的地線，例如接地跳線或接地導(dǎo)線，然后重新編程PLM 140，例如使用標準接口電纜。不過在現(xiàn)場設(shè)置中，沒有專用工具，外殼可能不可拆除，因此或許不可能訪問以重新編程PLM 140。作為替代，外殼可以在現(xiàn)場無需專用工具可拆除，但是外殼拆除花費的時間量可能與暗地篡改PLM 140不相容。另外，不接觸復(fù)雜可編程邏輯器件的原理圖和/或沒有復(fù)雜可編程邏輯器件如何運行的高深工程知識，現(xiàn)場環(huán)境中工作的雇員不會知道如何啟用PLM 140的禁用可編程功能。[0030]在某實施例中，PLM 140可以被配置為接收表明手動測試模式的測試模式選擇 126，該信號包括測試啟用1122信號和測試啟用21M信號。PLM 140可以進一步被連接到編程端口時鐘輸入230，它被配置為對編程端口 231計時，PLM可以通過該端口被編程。在某實施例中，編程端口時鐘輸入230可以接地以禁用PLM 140的可編程性能。在某實施例中，PLM 140可以包括CPLD，包括聯(lián)合測試行動小組(JTAG)端口，并且編程端口時鐘輸入 230可以包括TCK信號。[0031]圖3顯示了根據(jù)輸入/輸出結(jié)構(gòu)的實施例。在某實施例中，每個輸入120都可以包括輸入對310，包括兩個信號In A 313包括輸入A312和輸入A LED 314，而化B 317 包括輸入B 316和輸入B LED 318。輸入A LED 314和輸入B LED 318每個都可以包括半導(dǎo)體光源，包括發(fā)光二極管(LED)，分別表明何時輸入A 312和/或輸入B 316活化。輸入 A 312和輸入B 316可以由備用儀表產(chǎn)生，比如舉例來說由兩個獨立傳感器。測試模式選擇1 可以包括類似于輸入對310的結(jié)構(gòu)，其中測試啟用1122和測試啟用21M信號可以包括分別與h A 313和h B 317相同的結(jié)構(gòu)。[0032]在某實施例中，PLM 140可以被配置為接收四個輸入對310。在某實施例中，每個輸出160都可以包括輸出對320，包括兩個信號0ut A 323包括輸出A 322和輸出A LED 324，而Out B 327包括輸出B 3 和輸出B LED 328，其中輸出A LED 324和輸出B LED328 每個都可以包括LED信號，表明相應(yīng)的輸出何時活化。在某實施例中，輸出A 322和輸出B 3 每個都包括4位信號。每個測試輸出165都可以包括測試輸出對330，包括兩個信號 Test Out A 333包括測試輸出A 332和測試輸出A LED 334，而iTest Out B 337包括測試輸出B 336和測試輸出B LED 338，其中測試輸出A LED 334和測試輸出B LED 338每個都可以包括LED信號，表明相應(yīng)的輸出何時活化。在某實施例中，測試輸出A 322和測試輸出 B 336每個都包括4位信號。[0033]圖4展示了 PLM 140的功能行為的實施例，以功能行為表400表示。功能行為表 400包括正常模式判優(yōu)邏輯表410、測試模式判優(yōu)邏輯表A 420a和測試模式判優(yōu)邏輯表B 420b，其中‘1，表示‘1，信號，‘0，表示‘0，信號，而‘X，表示〈不關(guān)注〉。應(yīng)當(dāng)理解，在某實施例中，以功能行為表400表示功能行為可以以多種方式實施，例如以功能為本質(zhì)而不是基于查閱表的非常高清晰度語言(VHDL)實施。[0034]在某實施例中，正常模式下PLM 140的功能行為可以由正常模式判優(yōu)邏輯表410 表示。例如，響應(yīng)PLM 140的輸入的PLM 140的輸出可以由正常模式判優(yōu)邏輯表410表示。 測試模式下PLM 140關(guān)于測試輸出330的功能行為可以由測試模式判優(yōu)邏輯表A 420a表示。測試模式下PLM 140關(guān)于輸出320的功能行為可以由測試模式判優(yōu)邏輯表B 420b表示。注意，在測試模式下輸出320僅僅取決于低優(yōu)先級輸入輸入4A和輸入4B。[0035]在某實施例中，功能行為表400中的測試模式選擇條目可以包括測試模式選擇 1 并且可以是測試啟用1122信號與測試啟用21M信號的乘積。在某實施例中，把測試啟用1122信號與測試啟用21M信號都設(shè)置為‘1’可以表明測試模式。在某實施例中，(輸入1A、輸入IB)可以表明與最高優(yōu)先級輸入端口相關(guān)聯(lián)的輸入120信號，(輸入2A、輸入2B) 可以表明與第二高優(yōu)先級輸入端口相關(guān)聯(lián)的輸入120信號，(輸入3A、輸入3B)可以表明與第三高優(yōu)先級輸入端口相關(guān)聯(lián)的輸入120信號，(輸入4A、輸入4B)可以表明與最低優(yōu)先級輸入端口相關(guān)聯(lián)的輸入120信號，(輸出1A、輸出1B)可以表明輸出160，而(測試輸出1A、 測試輸出1B)可以表明測試輸出165。[0036]例如，在正常模式下，如果輸入IA信號為‘1，，PLM 140可以設(shè)置輸出IA信號的數(shù)值為‘1’，輸出IB信號的數(shù)值為‘0’，測試輸出IA信號的數(shù)值為‘1’，而測試輸出IB信號的數(shù)值為‘0’，不考慮其他輸入的數(shù)值。在另一個實例中，在測試模式下，如果輸入4A信號為 ‘1’，PLM 140可以設(shè)置輸出IA信號的數(shù)值為‘1’，輸出IB信號的數(shù)值為‘0’，而測試輸出 IA信號和測試輸出IB信號的數(shù)值可以由三個更高優(yōu)先級的輸入確定。應(yīng)當(dāng)理解，表410、 420a和420b表示的優(yōu)先級邏輯220能夠由重新編程PLM 140改變。另外應(yīng)當(dāng)理解，與同一基板135和/或同一優(yōu)先級邏輯組件130相關(guān)聯(lián)的不同PLM 140可以以不同的優(yōu)先級邏輯編程。因此，與同一基板135和/或同一優(yōu)先級邏輯組件130相關(guān)聯(lián)的不同PLM 140可以每個實施不同的功能行為表400。[0037]正如以上指出，功能行為表400在圖4中的描述是示范實施例中PLM 140的明確表示的和/或描述的行為的設(shè)計并且不暗示所表示功能的任何特定實施。在某實施例中， 在功能行為表400中概念地表示的優(yōu)先級邏輯可以以VHDL語句實施，合成并且位于PLM 140的復(fù)雜可編程邏輯器件中。例如在某實施例中，優(yōu)先級邏輯可以以類似編程語言的 if-elsif-end結(jié)構(gòu)的一系列VHDL語句實施。[0038]例如，R0UT_VECT可以定義兩位向量，它驅(qū)動兩個規(guī)則輸出輸出IA和輸出1B，并且 T0UT_VECT可以定義兩位向量，它驅(qū)動兩個測試輸出測試輸出IA和測試輸出1B。兩位向量VECT可以定義某中間值，它可以條件地用于確定R0UT_VECT和/或T0UT_VECT。VECT可以被定義在如下類似編程語言的if-elsif-end結(jié)構(gòu)的VHDL語句中
權(quán)利要求
1.一種在核過程控制系統(tǒng)中的優(yōu)先級邏輯模塊PLM，包括多個輸入端口，每個輸入端口都與多個優(yōu)先級之一相關(guān)聯(lián)；多個輸出端口；與測試模式選擇信號相關(guān)聯(lián)的測試模式選擇端口，測試模式選擇信號選擇正常模式或測試模式之一，每個模式都與將由輸入端口接收的信號和輸出端口發(fā)送的信號進行匹配相關(guān)聯(lián)；可配置的優(yōu)先級邏輯結(jié)構(gòu)，其中，優(yōu)先級邏輯電路將輸入端口之一映射到輸出端口之一。
2.根據(jù)權(quán)利要求
1的優(yōu)先級邏輯模塊，其中，優(yōu)先級邏輯模塊包括復(fù)雜可編程邏輯器件 CPLD。
3.根據(jù)權(quán)利要求
1的優(yōu)先級邏輯模塊，其中，優(yōu)先級邏輯結(jié)構(gòu)是優(yōu)先級邏輯模塊內(nèi)的組件，以及配置優(yōu)先級邏輯包括修改至少一個邏輯組件。
4.根據(jù)權(quán)利要求
1的優(yōu)先級邏輯模塊，其中，優(yōu)先級邏輯在制造時可配置。
5.根據(jù)權(quán)利要求
1的優(yōu)先級邏輯模塊，其中，優(yōu)先級邏輯模塊不可現(xiàn)場編程。
6.根據(jù)權(quán)利要求
1的優(yōu)先級邏輯模塊，其中，優(yōu)先級邏輯模塊進一步包括測試輸出端□。
7.根據(jù)權(quán)利要求
1的優(yōu)先級邏輯模塊，其中，優(yōu)先級邏輯模塊被配置為發(fā)送至少一個輸出信號，該至少一個輸出信號從由與最低優(yōu)先級相關(guān)聯(lián)的輸入端口接收的輸入信號產(chǎn)生。
8.根據(jù)權(quán)利要求
1的優(yōu)先級邏輯模塊，其中，優(yōu)先級邏輯模塊為了在IE級核過程控制系統(tǒng)中使用而被認證，輸入端口被配置為接收包括多個輸入對的IE級信號，以及輸出端口被配置為發(fā)送包括多個輸出對的信號。
9.根據(jù)權(quán)利要求
8的優(yōu)先級邏輯模塊，包括每個都被配置為接收與優(yōu)先級相關(guān)聯(lián)的輸入對的四個輸入端口，被配置為向傳動設(shè)備發(fā)送一個輸出對的一個輸出端口，以及被配置為向測試設(shè)備發(fā)送一個測試輸出對的一個測試輸出端口。
10.根據(jù)權(quán)利要求
9的優(yōu)先級邏輯模塊，其中，(輸入1A、輸入1B)是與最高優(yōu)先級輸入端口相關(guān)聯(lián)的輸入對，(輸入2A、輸入2B)是與第二高優(yōu)先級輸入端口相關(guān)聯(lián)的輸入對， (輸入3A、輸入3B)是與第三高優(yōu)先級輸入端口相關(guān)聯(lián)的輸入對，(輸入4A、輸入4B)是與第四高優(yōu)先級輸入端口相關(guān)聯(lián)的輸入對，測試模式選擇是被設(shè)置為‘0’的信號，(輸出1A、 輸出1B)是輸出對，(測試輸出1A、測試輸出1B)是測試輸出對，輸出對和測試輸出對從輸入對產(chǎn)生，以及以下表格表示優(yōu)先級邏輯結(jié)構(gòu)的功能行為
11. ISI^^ sii^ik^. F0y S輸入輸出輸入4 A輸入4 B測試模式選擇輸出1 A輸出1 B00100011011X110表中‘1，表示‘1，信號，‘0，表示‘0，信號，而‘X，表示〈不關(guān)注〉。
12.—種在核過程控制系統(tǒng)中的優(yōu)先級邏輯模塊，包括 多個輸入端口和一個輸出端口；預(yù)編程的優(yōu)先級邏輯電路，其中，優(yōu)先級邏輯電路將輸入端口之一映射到輸出端口 ；以及連接到優(yōu)先級邏輯電路的可編程性抑制器，可編程性抑制器禁用優(yōu)先級邏輯電路的可編程功能。
13.根據(jù)權(quán)利要求
12的優(yōu)先級邏輯模塊，其中，可編程性抑制器將優(yōu)先級邏輯電路的編程時鐘信號接地。
14.根據(jù)權(quán)利要求
12的優(yōu)先級邏輯模塊，其中，優(yōu)先級邏輯電路包括復(fù)雜可編程邏輯器件CPLD。
15.根據(jù)權(quán)利要求
14的優(yōu)先級邏輯模塊，其中，復(fù)雜可編程邏輯器件包括聯(lián)合測試行動小組(JTAG)端口，以及可編程性抑制器將聯(lián)合測試行動小組端口的TCK信號接地。
16.一種測試方法，包括按照測試模式選擇信號選擇測試模式；接收多個輸入信號，其中，每個輸入信號都是與優(yōu)先級相關(guān)聯(lián)的IE級信號； 從輸入信號產(chǎn)生至少一個輸出信號； 從最低優(yōu)先級輸入信號產(chǎn)生輸出信號； 從輸
17.根據(jù)權(quán)利要求
16的方法，其中，所述方法由優(yōu)先級邏輯模塊PLM實施，測試模式選擇信號表明正常模式或測試模式，輸入信號包括多個輸入對，輸出信號包括輸出對，以及測試輸出信號包括測試輸出對。
18.根據(jù)權(quán)利要求
17的方法，其中，所述方法進一步包括配置判優(yōu)邏輯。
19.根據(jù)權(quán)利要求
18的方法，其中，(輸入1A、輸入1B)是與最高優(yōu)先級輸入端口相關(guān)聯(lián)的輸入對，(輸入2A、輸入2B)是與第二高優(yōu)先級輸入端口相關(guān)聯(lián)的輸入對，(輸入3A、輸入3B)是與第三高優(yōu)先級輸入端口相關(guān)聯(lián)的輸入對，(輸入4A、輸入4B)是與第四高優(yōu)先級輸入端口相關(guān)聯(lián)的輸入對，測試模式選擇是被設(shè)置為‘0’的信號，(輸出1A、輸出1B)是輸出對，(測試輸出1A、測試輸出1B)是測試輸出對，輸出對和測試輸出對從輸入對產(chǎn)生，以及以下表格表示優(yōu)先級邏輯結(jié)構(gòu)的功能行為
專利摘要
在核過程控制系統(tǒng)中，提供了優(yōu)先級邏輯模塊(PLM)。優(yōu)先級邏輯模塊包括多個輸入端口，每個輸入端口都與多個優(yōu)先級之一相關(guān)聯(lián)，多個輸出端口，以及與測試模式選擇信號相關(guān)聯(lián)的測試模式選擇端口。測試模式選擇信號選擇正常模式或測試模式之一，每個模式都與將由輸入端口接收的信號和輸出端口發(fā)送的信號進行匹配相關(guān)聯(lián)。優(yōu)先級邏輯模塊進一步包括可配置的優(yōu)先級邏輯電路，其中，優(yōu)先級邏輯電路將輸入端口之一映射到輸出端口之一。
文檔編號G21C7/36GKCN102543226SQ201110356396
公開日2012年7月4日 申請日期2011年11月11日
發(fā)明者A·P·米什拉, G·T·胡夫頓, H·V·恩古延, J·A·迪巴爾托羅米歐, K·胡得森, P·P·克拉爾, 小F·W·沃爾克 申請人:因文西斯系統(tǒng)公司導(dǎo)出引文BiBTeX, EndNote, RefMan