專利名稱：一種測(cè)試接頭的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種接頭，特別是一種測(cè)試用接頭。
背景技術(shù)：
現(xiàn)有的測(cè)試接頭都是采用螺紋連接，即在接頭的連接部分開設(shè)螺紋，該結(jié)構(gòu)雖然能保證與被測(cè)試的工件連接時(shí)的可靠性，但是作為測(cè)試用的接頭，其在保證連接可靠的同時(shí)，還特別要求使用時(shí)快速、方便，便于更換連接被測(cè)試的工件，而螺紋接頭顯然不符合要求，而且螺紋的加工也耗時(shí)耗力。

發(fā)明內(nèi)容
發(fā)明目的:針對(duì)上述問題，本發(fā)明的目的是提供一種使用快速、方便的測(cè)試接頭。技術(shù)方案:一種測(cè)試接頭，包括前端的連接部分，所述連接部分表面為光面，所述連接部分的外徑尺寸與被測(cè)試的工件的內(nèi)徑尺寸匹配，所述連接部分與被測(cè)試的工件插拔連接。最佳的，所述連接部分表面為具有粗糙度的光面，在連接部分的外徑尺寸與被測(cè)試的工件的內(nèi)徑尺寸匹配的前提下，通過提高表面粗糙度，增加連接部分與被測(cè)試的工件連接時(shí)的可靠性。有益效果:與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)是將測(cè)試接頭的連接部分表面采用光面，與被測(cè)試的工件形成插拔連接，并通過尺寸的匹配，保證測(cè)試接頭與被測(cè)試的工件的連接可靠性，滿足測(cè)試性能的同時(shí)，使用快速、方便，提高測(cè)試的工作效率。


圖1為本發(fā)明半剖結(jié)構(gòu)示意圖；圖2為本發(fā)明與被測(cè)試的工件插拔對(duì)接的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施例方式下面結(jié)合附圖和具體實(shí)施例，進(jìn)一步闡明本發(fā)明，應(yīng)理解這些實(shí)施例僅用于說明本發(fā)明而不用于限制本發(fā)明的范圍，在閱讀了本發(fā)明之后，本領(lǐng)域技術(shù)人員對(duì)本發(fā)明的各種等價(jià)形式的修改均落于本申請(qǐng)所附權(quán)利要求所限定的范圍。如附圖1、2所示，一種測(cè)試接頭，其前端為連接部分1，該連接部分I表面為光面，其外徑尺寸與被測(cè)試的工件的內(nèi)徑尺寸匹配，連接部分I與被測(cè)試的工件插拔連接。為了增加連接部分I與被測(cè)試的工件連接時(shí)的可靠性，對(duì)連接部分I表面的光面加工形成一定的粗糙度。
權(quán)利要求
1.一種測(cè)試接頭，包括前端的連接部分(I)，其特征在于:所述連接部分(I)表面為光面，所述連接部分(I)的外徑尺寸與被測(cè)試的工件的內(nèi)徑尺寸匹配，所述連接部分(I)與被測(cè)試的工件插拔連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種測(cè)試接頭，其特征在于:所述連接部分(I)表面為具有粗糙度的光面。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種測(cè)試接頭，包括前端的連接部分，所述連接部分表面為光面，所述連接部分的外徑尺寸與被測(cè)試的工件的內(nèi)徑尺寸匹配，所述連接部分與被測(cè)試的工件插拔連接。本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)是將測(cè)試接頭的連接部分表面采用光面，與被測(cè)試的工件形成插拔連接，并通過尺寸的匹配，保證測(cè)試接頭與被測(cè)試的工件的連接可靠性，滿足測(cè)試性能的同時(shí)，使用快速、方便，提高測(cè)試的工作效率。
文檔編號(hào)F16L37/02GK103090140SQ20121045850
公開日2013年5月8日 申請(qǐng)日期2012年11月15日 優(yōu)先權(quán)日2012年11月15日
發(fā)明者嚴(yán)功明 申請(qǐng)人:鎮(zhèn)江步云電子有限公司