專利名稱：光纖綜合測(cè)試儀的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型與通信光纖的測(cè)試有關(guān)，特別是一種用于光纖參數(shù)，包括光纖損耗、截止波長(zhǎng)和模場(chǎng)直徑測(cè)量的光纖綜合測(cè)試儀的結(jié)構(gòu)改進(jìn)。
由此可見，現(xiàn)有的光纖參數(shù)測(cè)試儀還存在不足之處1、儀器既要配主機(jī)的探測(cè)器，又要配模場(chǎng)直徑測(cè)試附件，結(jié)構(gòu)重復(fù)，必然造價(jià)高；2、對(duì)光纖進(jìn)行模場(chǎng)直徑測(cè)試必須對(duì)探測(cè)器進(jìn)行變換，即用主探測(cè)器3對(duì)光纖損耗和截止波長(zhǎng)進(jìn)行測(cè)試，然后換用模場(chǎng)直徑測(cè)試附件3’對(duì)光纖進(jìn)行模場(chǎng)直徑測(cè)試，測(cè)試過程繁瑣不方便；
本實(shí)用新型光纖綜合測(cè)試儀的技術(shù)解決方案是一種光纖綜合測(cè)試儀，由光源單色儀及光注入系統(tǒng)、探測(cè)器系統(tǒng)、鎖相放大器、數(shù)據(jù)采集和計(jì)算機(jī)構(gòu)成，其特征在于所說探測(cè)器系統(tǒng)由光闌盤、透鏡、探測(cè)器和步進(jìn)馬達(dá)構(gòu)成，所說光闌盤是一圓周上均勻地設(shè)有一系列孔徑不同的光闌孔的圓盤；所說的透鏡應(yīng)滿足下列條件.在光譜范圍即1.0μm～1.7μm內(nèi)，透鏡焦距不變，具有優(yōu)良的成像質(zhì)量；.通光孔徑為Φ32mm；.數(shù)值孔徑NA＞0.30；.透過率＞98％；當(dāng)步進(jìn)馬達(dá)驅(qū)動(dòng)光闌盤旋轉(zhuǎn)時(shí)，入射的主光束將依次通過光闌盤上每個(gè)光闌孔，通過光闌孔的光束經(jīng)透鏡聚焦后匯聚到位于透鏡焦平面的探測(cè)器探測(cè)平面上。
本發(fā)明的技術(shù)效果是①采用此裝置，按國標(biāo)模場(chǎng)直徑測(cè)試的可變孔徑法，可以測(cè)量包括G652、G655在內(nèi)的單模光纖的模場(chǎng)直徑；②采用光闌盤φ20孔，其數(shù)值孔徑達(dá)0.274，可以測(cè)量光纖的損耗；③實(shí)驗(yàn)效果證明，本實(shí)用新型既縮小了體積，節(jié)省了成本，又保證了質(zhì)量，而且使用簡(jiǎn)便可靠；④本裝置測(cè)試結(jié)果正確。
圖2是本實(shí)用新型光纖綜合測(cè)試儀光學(xué)原理圖。
圖3是本實(shí)用新型探測(cè)器系統(tǒng)光路結(jié)構(gòu)示意圖。
圖4是本實(shí)用新型光闌盤結(jié)構(gòu)最佳實(shí)施例示意圖。圖中1—光源、單色儀及光注入系統(tǒng) 2—光纖21—光纖輸入端 22—光纖輸出端 3—探測(cè)器系統(tǒng)3’—探測(cè)器附件 31—光闌盤 32—透鏡33—探測(cè)器 34—步進(jìn)馬達(dá)4—鎖相放大器5—數(shù)據(jù)采集 6—計(jì)算機(jī) ①②③…… 光闌孔光纖參數(shù)測(cè)試過程如下1、將待測(cè)光纖2通過夾具(圖中未畫)裝入儀器中，并精細(xì)調(diào)整，使光源及單色儀發(fā)出的所需的單色光注入光纖2，光纖2的出射光通過光闌盤31的光闌孔經(jīng)透鏡32聚焦后匯聚到探測(cè)器33接收，光信號(hào)經(jīng)鎖相放大器4放大，然后由數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)5及計(jì)算機(jī)6采集并處理，最后結(jié)果可顯示在熒光屏上或由打印機(jī)輸出。
2、通過步進(jìn)馬達(dá)34，驅(qū)動(dòng)光闌盤31旋轉(zhuǎn)，當(dāng)最大的光闌孔①φ20孔套住光束時(shí)，由于這時(shí)φ20mm的光闌孔大于從光纖2輸出端22發(fā)出的光束直徑(光闌孔不擋光)，而且透鏡32的透過率＞98％，因此可用于測(cè)量光纖損耗和截止波長(zhǎng)；3、當(dāng)步進(jìn)馬達(dá)34驅(qū)動(dòng)光闌盤31進(jìn)一步旋轉(zhuǎn)，分別使光纖輸出端22的出射光通過光闌孔②、③、④……

即可獲得光纖模場(chǎng)直徑的數(shù)據(jù)。
本實(shí)用新型經(jīng)測(cè)試證明，具有如下技術(shù)效果①采用此裝置，按國標(biāo)模場(chǎng)直徑測(cè)試的可變孔徑法，可以測(cè)量包括G652、G655在內(nèi)的單模光纖的模場(chǎng)直徑。
②采用光闌盤φ20孔，其數(shù)值孔徑達(dá)0.274，可以測(cè)量光纖的損耗和截止波長(zhǎng)。
③本實(shí)用新型簡(jiǎn)便可靠，既縮小了體積，節(jié)省了成本，又保證了質(zhì)量。
權(quán)利要求1.一種光纖綜合測(cè)試儀，由光源、單色儀及光注入系統(tǒng)(1)、探測(cè)器系統(tǒng)(3)、鎖相放大器(4)、數(shù)據(jù)采集(5)和計(jì)算機(jī)(6)構(gòu)成，其特征在于所說探測(cè)器系統(tǒng)(3)由光闌盤(31)、透鏡(32)、探測(cè)器(33)和步進(jìn)馬達(dá)(34)構(gòu)成，所說光闌盤(31)的一圓周上均勻地設(shè)有一系列孔徑不同的光闌孔；所說的透鏡(32)應(yīng)滿足下列條件.在光譜范圍內(nèi)，即1.0μm～1.7μm，透鏡焦距不變，具有優(yōu)良的成像質(zhì)量；.通光孔徑為Φ32mm；.數(shù)值孔徑NA＞0.30；.透過率＞98％；當(dāng)步進(jìn)馬達(dá)(34)驅(qū)動(dòng)光闌盤(31)旋轉(zhuǎn)時(shí)，入射的主光束將依次通過光闌盤(31)上每個(gè)光闌孔，通過光闌孔的光束經(jīng)透鏡(32)聚焦后匯聚到位于透鏡(32)焦平面的探測(cè)器(33)的探測(cè)平面上。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光纖綜合測(cè)試儀，其特征在于所說光闌盤(31)的光闌孔共有19個(gè)，其孔徑和相應(yīng)的數(shù)值孔徑依次為
專利摘要一種光纖綜合測(cè)試儀，由光源、單色儀及光注入系統(tǒng)、探測(cè)器系統(tǒng)、鎖相放大器、數(shù)據(jù)采集和計(jì)算機(jī)構(gòu)成，其特征在于所說探測(cè)器系統(tǒng)由光闌盤、透鏡、探測(cè)器和步進(jìn)馬達(dá)構(gòu)成，所說光闌盤的一圓周上均勻地設(shè)有一系列孔徑不同的光闌孔；所說的透鏡應(yīng)滿足下列條件(1)在光譜范圍內(nèi)，即1.0μm～1.7μm，透鏡焦距不變，具有優(yōu)良的成像質(zhì)量；(2)通光孔徑為Φ32mm；(3)數(shù)值孔徑NA＞0.30；(4)透過率＞98％；當(dāng)步進(jìn)馬達(dá)驅(qū)動(dòng)光闌盤旋轉(zhuǎn)時(shí)，入射的主光束將依次通過光闌盤上每個(gè)光闌孔，通過光闌孔的光束經(jīng)透鏡聚焦后匯聚到位于透鏡焦平面的探測(cè)器的探測(cè)平面上。
文檔編號(hào)G01M11/02GK2543027SQ02217789
公開日2003年4月2日 申請(qǐng)日期2002年5月30日 優(yōu)先權(quán)日2002年5月30日
發(fā)明者陸潤(rùn)華, 沈國勛, 江斌, 涂建坤 申請(qǐng)人:上海賽克力光電纜有限責(zé)任公司