專利名稱:測量定位夾具的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域:
本實(shí)用新型涉及一種測量定位夾具,特別是一種利用于光譜分析儀中定位PS偏極性轉(zhuǎn)換器的測量定位夾具。
在光學(xué)元件中,PS偏極性轉(zhuǎn)換器常被應(yīng)用于液晶投影機(jī),尤其是高亮度液晶投影機(jī)。PS偏極性轉(zhuǎn)換器的功用是將投影機(jī)內(nèi)的光源做偏振光的轉(zhuǎn)換,以提供足夠的光源來做液晶投影。
在現(xiàn)有的PS偏極性轉(zhuǎn)換器檢測中,一般是利用一測量夾具3來固定一PS偏極性轉(zhuǎn)換器4,如
圖1所示。光譜分析儀的光源穿過測量夾具3的狹縫31后,入射至PS偏極性轉(zhuǎn)換器4中,由于繞射的關(guān)系,所發(fā)射出的光線條紋為一系列平行的條紋,再利用光檢測器(未顯示)檢測所欲檢測的光線條紋。此方法在測量時(shí),由于欲測光線條紋容易受到鄰近光線條紋的干擾,因此無法精確測得所需的結(jié)果,所以此方法所得結(jié)果的精確度較低以及再現(xiàn)性亦較差。又,因?yàn)閿[放PS偏極性轉(zhuǎn)換器的溝槽尺寸為固定的,當(dāng)PS偏極性轉(zhuǎn)換器的厚度與溝槽尺寸不同時(shí),測量結(jié)果容易因PS偏極性轉(zhuǎn)換器移動(dòng)或晃動(dòng)而產(chǎn)生誤差。
為達(dá)到上述目的,本實(shí)用新型提供一種測量定位夾具,其是用以在一光譜分析儀中定位一PS偏極性轉(zhuǎn)換器,測量定位夾具包含一第一夾具構(gòu)件、一第二夾具構(gòu)件以及一定位構(gòu)件。其中,第一夾具構(gòu)件設(shè)有一第一固定部及一第一遮光部,第一固定部及第一遮光部是以一角度相互連接;第二夾具構(gòu)件設(shè)有一第二固定部及一第二遮光部,第二固定部及第二遮光部是以第一固定部與第一遮光部所成的角度相互連接,且第二夾具構(gòu)件是相對于該角度方向而置于第一夾具構(gòu)件之上;定位構(gòu)件是用以將第二夾具構(gòu)件定位于第一夾具構(gòu)件之上。
本實(shí)用新型還包含,一扣合構(gòu)件,用以扣制該第二夾具構(gòu)件,以使該第二夾具構(gòu)件于一適當(dāng)范圍中移動(dòng)。
本實(shí)用新型的優(yōu)點(diǎn)是與現(xiàn)有技術(shù)相比,本實(shí)用新型提供一種測量定位夾具,設(shè)有一具有狹縫、且作為移動(dòng)用構(gòu)件的第二夾具構(gòu)件,可避免所測量的光線條紋受到鄰近光線條紋的干擾,進(jìn)而增加測量的準(zhǔn)確度以及再現(xiàn)性。再者,可依需要調(diào)整狹縫的位置,讓使用者能夠輕易進(jìn)行操作,進(jìn)而減少測量時(shí)間,減少制造成本。又,第二夾具構(gòu)件的位置可依PS極性轉(zhuǎn)換器的厚度而調(diào)整,可減少PS極性轉(zhuǎn)換器因移動(dòng)或晃動(dòng)而產(chǎn)生的測量誤差。
圖中符號說明1 測量定位夾具11第一夾具構(gòu)件111 第一固定部1111 定位孔1112 位移孔112 遮光部1121 狹縫12第二夾具構(gòu)件121 第二固定部1211 位移孔
122 遮光部1221 狹縫13 定位構(gòu)件14 扣合構(gòu)件15 固定構(gòu)件2PS偏極性轉(zhuǎn)換器21 PS轉(zhuǎn)換層22 高反射層23 1/2波長板24 抗反射層3測量夾具31 狹縫4PS偏極性轉(zhuǎn)換器如圖2A及2B所示,本實(shí)施例的一種測量定位夾具1,其用以在一光譜分析儀(未顯示)中定位一PS偏極性轉(zhuǎn)換器2(顯示于圖3),測量定位夾具1包含一第一夾具構(gòu)件11、一第二夾具構(gòu)件12以及一定位構(gòu)件13。
其中,第一夾具構(gòu)件11設(shè)有一第一固定部111及一第一遮光部112,第一固定部111及第一遮光部112是以一角度相互連接;第二夾具構(gòu)件12設(shè)有一第二固定部121及一第二遮光部122,第二固定部121及第二遮光部122是以第一固定部111與第一遮光部112所成的角度相互連接,且第二夾具構(gòu)件12是相對于該角度方向而置于第一夾具構(gòu)件11之上;定位構(gòu)件13用以將第二夾具構(gòu)件12定位于第一夾具構(gòu)件11之上。
在此,第一固定部111具有多個(gè)定位孔1111,該定位孔1111用以讓第一夾具構(gòu)件11能夠定位于光譜分析儀中,防止測量定位夾具1在更換PS偏極性轉(zhuǎn)換器2(顯示于圖3)時(shí)因移動(dòng)而造成測量誤差,進(jìn)而影響再現(xiàn)性。另外,第一固定部111亦具有一位移孔1112,此位移孔1112平行于第一固定部111與第一遮光部112連接的端緣,亦即與圖中的X軸平行,位移孔1112是用以控制第二夾具構(gòu)件12沿X軸方向的位移。
再者,第一遮光部112具有一狹縫1121,此狹縫1121用以讓光譜分析儀中的部分檢測光源透過。當(dāng)部分光源進(jìn)入狹縫1121,通過PS偏極性轉(zhuǎn)換器2(顯示于圖3)之后會(huì)造成繞射現(xiàn)象,形成多條平行的光線條紋。
于第二夾具構(gòu)件12中,第二固定部121亦具有一位移孔1211,此位移孔1211垂直于第二固定部與第二遮光部的連接端緣,亦即與Y軸平行,其用以控制第二夾具構(gòu)件12沿圖中的Y軸方向的位移。藉此,第二固定部121的位置可依照PS偏極性轉(zhuǎn)換器2(顯示于圖3)的厚度不同而調(diào)整,PS偏極性轉(zhuǎn)換器2(顯示于圖3)能夠更緊密地置于第一遮光部112與第二遮光部122之間,測量結(jié)果亦不會(huì)因?yàn)镻S偏極性轉(zhuǎn)換器2(顯示于圖3)位置的改變而有所誤差。
再者,第二遮光部122亦具有一狹縫1221,此狹縫1221用以選擇通過第一夾具構(gòu)件11的狹縫1121中所欲測量的光線,其功能是防止其余因繞射所產(chǎn)生的光線條紋重疊,進(jìn)而影響測量的準(zhǔn)確度。
另外,定位構(gòu)件13為一螺接元件,螺接元件鎖定第一固定部111的位移孔1112以及第二固定部121的位移孔1211的交點(diǎn),用以固定第二夾具構(gòu)件12于第一夾具構(gòu)件11之上。
再請參考圖2A及圖2B,本實(shí)施例的測量定位夾具1還包含一扣合構(gòu)件14,此扣合構(gòu)件14用以扣制第二夾具構(gòu)件12,以使第二夾具構(gòu)件12于一適當(dāng)范圍沿著X軸移動(dòng),讓使用者能輕易調(diào)整第二夾具構(gòu)件12的位置。
于本實(shí)施例中,測量定位夾具1還包含一固定構(gòu)件15,此固定構(gòu)件15經(jīng)由第一固定部111的定位孔1111,而將第一夾具構(gòu)件11固定在光譜分析儀中。并且,固定構(gòu)件15所插入的位置依照光譜儀中的固定孔(未顯示)的位置而做適時(shí)的調(diào)整。
如圖3所示,PS偏極性轉(zhuǎn)換器2置于第一遮光部112與第二遮光部122之間。當(dāng)光譜分析儀的光源由第一夾具構(gòu)件11的狹縫1121射入后,穿透PS偏極性轉(zhuǎn)換器2,再通過第二夾具構(gòu)件12的狹縫1221,進(jìn)而投射至光檢測器(未顯示)中。并且,第二夾具構(gòu)件12的狹縫1221的位置亦配合所需測量的光線而調(diào)整。
測量定位夾具1的詳細(xì)操作以及原理如圖4a至圖4f所示。請參考圖4a,入射光源為P偏振光(P polarized light)與S偏振光(Spolarized light),當(dāng)經(jīng)過第一夾具構(gòu)件11的狹縫1121入射至一PS轉(zhuǎn)換層(PS converter)21時(shí),P偏振光直線穿過,而S偏振光垂直反射至一高反射層22。P偏振光直線穿過PS轉(zhuǎn)換層21,接著通過一1/2波長板23,的后P偏振光變成S偏振光;S偏振光垂直反射至高反射層22之后,通過一抗反射層24后,射出為S偏振光。
當(dāng)?shù)诙A具構(gòu)件12的狹縫1221的位置如圖4a所示時(shí),入射至光檢測器的是S偏振光,在此,光檢測器前放置一檢偏器(未顯示)。由于PS轉(zhuǎn)換層21無法完全精確地將P偏振光與S偏振光分離,所以光檢測器所檢測的光線占有少許百分比的P偏振光,檢測者可由P偏振光所占的比例得知PS轉(zhuǎn)換層21穿透P偏振光的良率。亦即,當(dāng)P偏振光的比例大于可接受的范圍時(shí),表示PS轉(zhuǎn)換層21分離P偏振光以及S偏振光的良率不合格。
當(dāng)?shù)诙A具構(gòu)件12的狹縫1221的位置如圖4b所示時(shí),同理可知入射至光檢測器的是S偏振光,由于少許的P偏振光亦會(huì)反射至高反射層22,所以檢測者可由P偏振光所占的比例得知PS轉(zhuǎn)換層21反射S偏振光的良率。
請參考圖4c,入射光源為單一P偏振光,當(dāng)經(jīng)過第一夾具構(gòu)件11的狹縫1121入射至一PS轉(zhuǎn)換層21時(shí),P偏振光直線穿過,接著通過一1/2波長板23,之后P偏振光變成S偏振光。
當(dāng)?shù)诙A具構(gòu)件12的狹縫1221的位置如圖4c所示時(shí),入射至光檢測器的是S偏振光,在此,光檢測器前無需再加一偏檢器。由于PS轉(zhuǎn)換層21無法完全精確地將P偏振光與S偏振光分離,有少許的S偏振光會(huì)穿透PS轉(zhuǎn)換層21,S偏振光通過1/2波長板23時(shí)變成P偏振光,所以光檢測器所檢測的光線占有少許百分比的P偏振光,此時(shí)光檢測器所檢測到的S偏振光在此定義為Tp。
當(dāng)?shù)诙A具構(gòu)件12的狹縫1221的位置如圖4d所示時(shí),少許P偏振光經(jīng)由PS轉(zhuǎn)換層21反射至高反射層22,所以光檢測器所檢測到的光線為P偏振光,在此,定義的反射率為Rp。經(jīng)由Tp與Rp的數(shù)值可以得知到PS轉(zhuǎn)換層21的良率。
再請參考圖4e,入射光源為單一S偏振光,當(dāng)經(jīng)過第一夾具構(gòu)件11的狹縫1121入射至一PS轉(zhuǎn)換層21時(shí),少量S偏振光通過PS轉(zhuǎn)換層21,S偏振光在經(jīng)過1/2波長板23后,S偏振光變成P偏振光,在光檢測器所檢測到的P偏振光百分率此時(shí)定義的穿透率為Ts。
再請參考圖4f,大部分的S偏振光經(jīng)由PS轉(zhuǎn)換層21垂直射入高反射層22,穿過抗反射層23后射出的光線仍為S偏振光,此時(shí)定義此反射率為Rs。利用Ts與Rs的數(shù)值可以得知PS轉(zhuǎn)換層21的良率。
由上述方法可知,在測量PS極性轉(zhuǎn)換器2的良率時(shí),利用調(diào)整第二夾具構(gòu)件12的狹縫1221的位置,可以精確測量所欲測量的光線條紋,而不受到鄰近光線條紋的干擾。
本實(shí)用新型所提供的測量定位夾具,設(shè)有一具有狹縫的第二夾具構(gòu)件,能夠防止光線條紋在測量當(dāng)中受到鄰近光線條紋的干擾。與現(xiàn)有技術(shù)相比,利用第二夾具構(gòu)件上的狹縫可選擇所需測量的光線,并且避免鄰近光線的干擾,可增加測量上的精確度以及再現(xiàn)性。再者,使用者可輕易調(diào)整第二夾具構(gòu)件來選擇欲測量的光線條紋,在測量上可減少時(shí)間的浪費(fèi),進(jìn)而減低制造成本。又,第二夾具構(gòu)件的位置可依照PS極性轉(zhuǎn)換器的厚度而調(diào)整,不僅適用于各種厚度的PS極性轉(zhuǎn)換器,更減少PS極性轉(zhuǎn)換器因移動(dòng)或晃動(dòng)而產(chǎn)生的誤差。
上述僅為舉例性,而非為限制性。任何未脫離本實(shí)用新型的精神與范疇,而對其進(jìn)行的等效修改或變更,均應(yīng)包含于本實(shí)用新型的保護(hù)范圍中。
權(quán)利要求1.一種測量定位夾具,其是用以在光譜分析儀中定位PS偏極性轉(zhuǎn)換器,其特征在于該測量定位夾具包含一第一夾具構(gòu)件,設(shè)有一第一固定部及一第一遮光部,該第一固定部及該第一遮光部以一角度相互連接;一第二夾具構(gòu)件,設(shè)有一第二固定部及一第二遮光部,該第二固定部及該第二遮光部以該第一固定部與第一遮光部所成的角度相互連接,且該第二夾具構(gòu)件是相對于該角度方向而置于該第一夾具構(gòu)件之上;以及一定位構(gòu)件,用以將該第二夾具構(gòu)件定位于該第一夾具構(gòu)件之上。
2.如權(quán)利要求1所述的測量定位夾具,其特征在于還包含,一扣合構(gòu)件,用以扣制該第二夾具構(gòu)件。
3.如權(quán)利要求1所述的測量定位夾具,其特征在于該第一固定部具有多個(gè)定位孔。
4.如權(quán)利要求3所述的測量定位夾具,其特征在于還包含一固定構(gòu)件,經(jīng)由該第一固定部的定位孔,而將該第一夾具構(gòu)件固定于該光譜分析儀中。
5.如權(quán)利要求1所述的測量定位夾具,其特征在于該第一固定部具有一位移孔,該位移孔平行于該第一固定部與該第一遮光部連接端緣。
6.如權(quán)利要求1所述的測量定位夾具,其特征在于該第一遮光部具有一狹縫。
7.如權(quán)利要求1所述的測量定位夾具,其特征在于該第二固定部具有一位移孔,該位移孔垂直于該第二定部及該第二遮光部連接端緣。
8.如權(quán)利要求1所述的測量定位夾具,其特征在于該第二遮光部具有一狹縫。
9.如權(quán)利要求1所述的測量定位夾具,其特征在于還包含該定位構(gòu)件為一螺接元件,該螺接元件鎖定該第一固定部的位移孔與該第二固定部的位移孔的交點(diǎn)。
10.如權(quán)利要求1所述的測量定位夾具,其特征在于該P(yáng)S偏極性轉(zhuǎn)換器置于該第一遮光部與該第二遮光部之間。
專利摘要一種測量定位夾具,用以在光譜分析儀中定位PS偏極性轉(zhuǎn)換器,其包含第一、第二夾具構(gòu)件及定位構(gòu)件。第一夾具構(gòu)件設(shè)有第一固定部及第一遮光部,第一固定部及第一遮光部以一角度相互連接;第二夾具構(gòu)件設(shè)有第二固定部及第二遮光部,第二固定部及第二遮光部以上述角度相互連接,且第二夾具構(gòu)件相對于該角度方向置于第一夾具構(gòu)件之上;定位構(gòu)件將第二夾具構(gòu)件定位于第一夾具構(gòu)件之上。本實(shí)用新型可避免所測量的光線條紋受到鄰近光線條紋的干擾,增加測量的準(zhǔn)確度及再現(xiàn)性。并可依需要調(diào)整狹縫的位置,而輕易進(jìn)行操作,以減少測量時(shí)間及制造成本。第二夾具構(gòu)件的位置可依PS極性轉(zhuǎn)換器的厚度調(diào)整,減少PS極性轉(zhuǎn)換器因移動(dòng)或晃動(dòng)產(chǎn)生的測量誤差。
文檔編號G01J3/02GK2549447SQ0223694
公開日2003年5月7日 申請日期2002年6月5日 優(yōu)先權(quán)日2002年6月5日
發(fā)明者詹淑靜, 方裕賢, 金克恕, 余安華, 張智能 申請人:精碟科技股份有限公司