專(zhuān)利名稱：具有改進(jìn)的可靠性的集成電路測(cè)試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種集成電路測(cè)試裝置。更具體地說(shuō)，但并非排他地，這種裝置適用于旨在用于處理大容量數(shù)據(jù)的集成電路，例如按照MPEG類(lèi)型的標(biāo)準(zhǔn)編碼的數(shù)字信號(hào)的譯碼器電路。
本發(fā)明還涉及用于測(cè)試集成電路的方法。
需要使投放市場(chǎng)的集成電路具有盡量少的缺陷。常規(guī)的測(cè)試裝置產(chǎn)生一些刺激源，并把它們施加于被測(cè)集成電路的各個(gè)輸入腳，收集出現(xiàn)在集成電路的輸出腳上的輸出信號(hào)，并和預(yù)定的輸出信號(hào)比較，按照比較結(jié)果，確定集成電路是好的或者是有缺陷的。
集成電路變得越來(lái)越復(fù)雜，它們具有越來(lái)越多的大量的輸入和輸出腳，并且變得越來(lái)越快。
利用這種測(cè)試裝置，集成電路不能得到充分的檢查。只能發(fā)現(xiàn)它們的結(jié)構(gòu)缺陷。它們的功能缺陷不能被檢測(cè)出。所述功能缺陷只有在集成電路實(shí)際操作時(shí)，這就是說(shuō)，只有在交付用戶之后才能暴露出來(lái)。折中缺陷可以極大地破壞集成電路制造者的聲譽(yù)，因而也有損于其經(jīng)濟(jì)利益，因?yàn)榫哂腥毕莸募呻娐分圃煺呙媾R著失去用戶的危險(xiǎn)。
還需要一個(gè)大的存儲(chǔ)空間，以便使所述測(cè)試更全面和更可靠。
美國(guó)專(zhuān)利US6055661披露了一種測(cè)試裝置，其中使用一個(gè)參考集成電路，所述參考集成電路和要被測(cè)試的集成電路的類(lèi)型相同，并被認(rèn)為是合格的。
所述參考集成電路被安裝在一個(gè)用于執(zhí)行一個(gè)執(zhí)行程序的執(zhí)行電路中。所述執(zhí)行程序產(chǎn)生要被提供給參考集成電路的輸入信號(hào)。參考集成電路提供要被收集和存儲(chǔ)的輸出信號(hào)。輸入信號(hào)也被施加于被測(cè)試的集成電路，并被存儲(chǔ)。然后，在考慮到引入的延遲的情況下，比較由參考集成電路提供的輸出信號(hào)和由被測(cè)試的集成電路提供的輸出信號(hào)。利用比較結(jié)果，可以確定被測(cè)集成電路是合格的還是有缺陷的。
這種裝置不需要產(chǎn)生輸入刺激源，并將其存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器中，這是因?yàn)椋斎胄盘?hào)是由執(zhí)行電路產(chǎn)生的。執(zhí)行電路提供了關(guān)于要施加于被測(cè)集成電路的輸入信號(hào)的附加的靈活性。
然而這種裝置需要許多存儲(chǔ)器空間，用于存儲(chǔ)出現(xiàn)在參考集成電路的輸出端的輸出信號(hào)，與此同時(shí)，在和被測(cè)集成電路的輸出信號(hào)比較之前，還需要存儲(chǔ)被測(cè)集成電路的輸出信號(hào)。此外，延遲的引入大大增加了操作測(cè)試裝置的復(fù)雜性。事實(shí)上，在對(duì)輸出信號(hào)進(jìn)行比較的時(shí)刻，它們必須精確地同步。測(cè)試時(shí)間被增加了，這是因?yàn)?，?shí)際上，在對(duì)被測(cè)集成電路測(cè)試之前，要對(duì)參考集成電路進(jìn)行測(cè)試。
本發(fā)明是一種具有改進(jìn)的可靠性的集成電路測(cè)試裝置，該裝置沒(méi)有上述的存儲(chǔ)容量和同步問(wèn)題。
為實(shí)現(xiàn)上述目的，按照本發(fā)明的的測(cè)試裝置包括輸入裝置，用于產(chǎn)生輸入信號(hào)，并把所述輸入信號(hào)提供給被測(cè)集成電路的輸入端和被認(rèn)為是合格的參考集成電路的輸入端，以及比較裝置，用于響應(yīng)所述輸入信號(hào)實(shí)時(shí)地比較在被測(cè)集成電路的輸出端提供的輸出信號(hào)和在參考集成電路的輸出端提供的輸出信號(hào)，以便根據(jù)比較結(jié)果確定所述被測(cè)集成電路是合格的還是有缺陷的。所述集成電路被并聯(lián)地安裝，并同時(shí)接收輸入信號(hào)，利用這些輸入信號(hào)模擬集成電路在實(shí)用的操作情況下應(yīng)當(dāng)接收的信號(hào)。
所述輸入裝置可以包括中央處理單元，用于產(chǎn)生所述輸入信號(hào)，并和接口模塊協(xié)同工作，所述接口模塊在一方面和被測(cè)集成電路的輸入端相連，在另一方面和參考集成電路的輸入端相連。所述接口模塊復(fù)制由所述中央處理單元產(chǎn)生的并用于所述集成電路的所述輸入信號(hào)。
所述測(cè)試裝置包括連接裝置，用于接收被測(cè)集成電路，當(dāng)所述被測(cè)集成電路被安裝時(shí)，所述接口模塊能夠切斷所述連接裝置的電源，以便避免短路和在不同接口之間的電沖突。
所述接口模塊可以在所述中央處理單元和所述集成電路之間進(jìn)行數(shù)據(jù)交換。
所述接口模塊可以產(chǎn)生要被發(fā)送給所述集成電路和所述比較裝置的時(shí)鐘信號(hào)，以便當(dāng)進(jìn)行測(cè)試時(shí)確保正確的同步。
所述輸入裝置可以包括和所述中央處理單元協(xié)同操作的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器，所述數(shù)據(jù)構(gòu)成所述輸入信號(hào)的基礎(chǔ)。
所述輸入裝置還可以包括和所述中央處理單元協(xié)同操作的程序存儲(chǔ)器。此時(shí)所述存儲(chǔ)器被用于存儲(chǔ)特別是用于控制所述中央處理單元的操作的系統(tǒng)程序。
所述中央處理單元可以和一個(gè)接口相連，所述接口用于通過(guò)微機(jī)和用戶通信，因而用戶可以跟隨測(cè)試的執(zhí)行，并產(chǎn)生統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)，例如測(cè)試效率，或者對(duì)檢測(cè)到的缺陷的類(lèi)型的細(xì)分類(lèi)。
在生產(chǎn)環(huán)境下，所述中央處理單元可以和用于管理所述被測(cè)集成電路的機(jī)器人相連。
所述比較裝置可以包括一個(gè)異或端口。
所述測(cè)試裝置可以包括一個(gè)電源，所述電源具有用于提供供給所述被測(cè)集成電路或者所述參考集成電路的可調(diào)電壓的部分。
所述測(cè)試裝置可以構(gòu)成測(cè)試儀的一部分。
本發(fā)明還涉及一種集成電路測(cè)試方法，所述方法包括以下步驟產(chǎn)生被同時(shí)提供給被測(cè)集成電路的輸入端和被認(rèn)為是合格的參考集成電路的輸入端的輸入信號(hào)，所述輸入信號(hào)模擬所述被測(cè)集成電路和所述參考集成電路在實(shí)用情況下接收的輸入信號(hào)；響應(yīng)所述輸入信號(hào)實(shí)時(shí)地比較在被測(cè)集成電路的輸出端和在參考集成電路的輸出端出現(xiàn)的輸出信號(hào)；根據(jù)比較結(jié)果確定所述被測(cè)集成電路是合格的還是有缺陷的。
本發(fā)明的其它特征和優(yōu)點(diǎn)通過(guò)結(jié)合附圖參閱下面的說(shuō)明將會(huì)更加清楚地看出，其中

圖1是按照本發(fā)明的測(cè)試裝置的原理示意圖；圖2是按照本發(fā)明的尤其適用于測(cè)試數(shù)字電視信號(hào)譯碼集成電路的測(cè)試裝置的原理圖；以及圖3表示按照本發(fā)明的測(cè)試裝置的比較裝置的功能。
參見(jiàn)圖1，其中表示按照本發(fā)明的集成電路測(cè)試裝置的方塊圖。
所述測(cè)試裝置旨在用于測(cè)試集成電路1。被測(cè)試的集成電路1將和參考集成電路2同時(shí)被測(cè)試，所述參考集成電路2被認(rèn)為是合格的，并和被測(cè)集成電路1的類(lèi)型相同。所述參考集成電路2已經(jīng)被成功地測(cè)試過(guò)。兩個(gè)集成電路1，2被并聯(lián)地安裝在輸入裝置3和比較裝置4之間，所述輸入裝置3用于產(chǎn)生輸入信號(hào)，并將所述輸入信號(hào)提供給集成電路1，2，所述比較裝置4用于比較響應(yīng)所述輸入信號(hào)而出現(xiàn)在集成電路的輸出端上的輸出信號(hào)，所述比較實(shí)時(shí)地進(jìn)行，即只要所述輸出信號(hào)一出現(xiàn)，便對(duì)其進(jìn)行比較。
輸入裝置3向兩個(gè)集成電路1，2提供輸入信號(hào)，同時(shí)，比較裝置4接收集成電路1，2響應(yīng)接收的輸入信號(hào)而在輸出端上提供的輸出信號(hào)。
測(cè)試的結(jié)果取決于比較的結(jié)果。如果被測(cè)集成電路1的輸出信號(hào)和參考集成電路2的輸出信號(hào)相同，則被測(cè)集成電路1被認(rèn)為是合格的。否則，被測(cè)集成電路1便被認(rèn)為是有缺陷的，因而被丟棄。
按照本發(fā)明的特征，施加于兩個(gè)集成電路1，2的輸入信號(hào)對(duì)于在操作條件下它們接收的輸入信號(hào)是相同的。集成電路1，2不再經(jīng)受使得不能進(jìn)行可靠測(cè)試的輸入刺激。不像現(xiàn)有技術(shù)中那樣，按照本發(fā)明的測(cè)試裝置檢查被測(cè)集成電路的真實(shí)的功能，而不是檢查其對(duì)于人為規(guī)定的刺激的響應(yīng)。
兩個(gè)集成電路1，2被同時(shí)提供給輸入信號(hào)，并直接地、實(shí)時(shí)地把輸出信號(hào)收集和傳遞到比較裝置4。不再需要在對(duì)輸出信號(hào)比較之前存儲(chǔ)所述輸出信號(hào)的存儲(chǔ)器。
輸入裝置3和輸出信號(hào)比較裝置4可被包括在一個(gè)測(cè)試儀中。所述測(cè)試儀可以模擬集成電路的操作條件。
下面參照?qǐng)D2以尤其適用于測(cè)試用于譯碼數(shù)字電視信號(hào)的集成電路的按照本發(fā)明的測(cè)試裝置為例進(jìn)行詳細(xì)說(shuō)明。
輸入裝置3包括中央處理單元30，其產(chǎn)生要施加于被測(cè)集成電路1和參考集成電路2的輸入信號(hào)。這些輸入信號(hào)可以是用于控制所述集成電路的功能的數(shù)據(jù)或地址，也可以是壓縮的音頻和視頻數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)，所述輸入信號(hào)的類(lèi)型和所述集成電路在譯碼數(shù)字電視圖像時(shí)接收的輸入信號(hào)的類(lèi)型相同。
中央處理單元30和至少一個(gè)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器31，例如閃存類(lèi)型的存儲(chǔ)器相連。其含有能夠使中央處理單元30產(chǎn)生被施加于集成電路1，2的輸入信號(hào)的數(shù)據(jù)。這些數(shù)據(jù)占據(jù)的存儲(chǔ)空間比輸入信號(hào)本身占據(jù)的存儲(chǔ)空間小得多。
中央處理單元30和至少一個(gè)程序存儲(chǔ)器35，例如只讀存儲(chǔ)器相連。其含有用于使中央處理單元執(zhí)行測(cè)試的控制程序。
中央處理單元30還和構(gòu)成中央處理單元30與兩個(gè)集成電路1，2之間的接口的接口模塊32相連。在中央處理單元30和接口模塊32之間，通過(guò)標(biāo)號(hào)為301的總線傳遞數(shù)據(jù)，通過(guò)總線302傳遞地址，通過(guò)總線303傳遞音頻和視頻數(shù)據(jù)。
中央處理單元30可以和接口33相連，以便通過(guò)微機(jī)(未示出)和用戶通信。因而用戶可以跟隨測(cè)試的執(zhí)行，并且在需要時(shí)，進(jìn)行干預(yù)。
在生產(chǎn)環(huán)境中，中央處理單元30可以和接口34相連，以便和用于管理被測(cè)集成電路1的機(jī)器人(未示出)通信。所述機(jī)器人管理要被測(cè)試的電路流，并且根據(jù)測(cè)試結(jié)果，把集成電路導(dǎo)向可用的電路組或者導(dǎo)向被丟棄的電路組。
接口模塊32和每個(gè)集成電路1，2的輸入端相連。在接口模塊32和被測(cè)集成電路1之間，具有數(shù)據(jù)總線311，地址總線312和音頻與視頻數(shù)據(jù)總線313。
以同樣方式，在接口模塊32和參考集成電路2之間，具有數(shù)據(jù)總線321，地址總線322和音頻與視頻數(shù)據(jù)總線323。
當(dāng)集成電路1，2被設(shè)置在測(cè)試位置時(shí)，其管腳(未示出)和用于被測(cè)集成電路1的連接裝置13以及用于參考集成電路2的連接裝置14相連。這些連接裝置13和14構(gòu)成測(cè)試裝置的一部分，用于接收集成電路。
總線311，312，313，321，322，323從集成電路的側(cè)面引向所述連接裝置13和14。
接口模塊復(fù)制其從中央處理單元30接收的輸入信號(hào)，以便把這些信號(hào)傳遞給兩個(gè)集成電路1，2。
但是，其也可以具有其它功能，特別是地址譯碼功能。在傳遞用于模擬集成電路1，2在功能狀態(tài)下接收的信號(hào)之前，測(cè)試從在中央處理單元30和集成電路1，2之間的通信步驟開(kāi)始。因此，在這個(gè)階段，允許中央處理單元30和集成電路交換數(shù)據(jù)。
接口模塊32產(chǎn)生分別通過(guò)總線314，324輸入給被測(cè)集成電路1和參考集成電路2的時(shí)鐘信號(hào)。因而，兩個(gè)集成電路是同步的。
接口模塊32還產(chǎn)生同步信號(hào)，用于使譯碼處理以及輸出數(shù)據(jù)同步。這些信號(hào)通過(guò)總線315輸入給被測(cè)集成電路1，并通過(guò)總線325輸入給參考集成電路2。
測(cè)試裝置包括電源5。優(yōu)選地，所述電源包括用于提供設(shè)置電壓的部分5.1，和用于提供可調(diào)節(jié)的電壓的可編程的部分5.2。第一部分5.1向輸入裝置3、參考集成電路2以及比較裝置4提供設(shè)置電壓?？删幊滩糠?.2用于向被測(cè)集成電路1提供可調(diào)電壓，以便在不同的電壓下對(duì)其進(jìn)行測(cè)試。用這種方式，能夠檢測(cè)如果在一個(gè)電源電壓下檢測(cè)時(shí)則不能發(fā)現(xiàn)缺陷的有缺陷的集成電路。在測(cè)試期間被認(rèn)為是有缺陷的集成電路的數(shù)量的增加，將導(dǎo)致在操作期間被丟棄的集成電路的數(shù)量的減少。因而提高測(cè)試的覆蓋率和可靠性。
在這種數(shù)字集成電路測(cè)試應(yīng)用中，不需要對(duì)參考集成電路施加電源而使其在不同的電壓下進(jìn)行測(cè)試。
但是這種可能性在模擬應(yīng)用中是可用想到的。
當(dāng)被測(cè)集成電路被安裝時(shí)，接口模塊32也能切斷連接裝置13的電源。用這種方式，可以避免在建立連接時(shí)出現(xiàn)短路與/或電沖突的危險(xiǎn)。
在圖2中，集成電路1，2中的每一個(gè)分別和存儲(chǔ)器10和20相連。所述存儲(chǔ)器可以是同步動(dòng)態(tài)隨機(jī)存取存儲(chǔ)器SDRAM。在這種應(yīng)用中，這種存儲(chǔ)器是需要的，以便使所述集成電路能夠操作。在其它的應(yīng)用中，可以不需要所述存儲(chǔ)器。
然后，出現(xiàn)在集成電路1，2的輸出端的信號(hào)在比較器4中實(shí)時(shí)地進(jìn)行比較，只要信號(hào)一出現(xiàn)，便進(jìn)行比較。在這種應(yīng)用中，利用逐位比較器，其包括至少一個(gè)異或端口。
所述比較裝置4通過(guò)至少一個(gè)總線和被測(cè)集成電路1的輸出以及參考集成電路2的輸出相連。在圖2中，提供有一個(gè)用于視頻信號(hào)的總線和一個(gè)用于音頻信號(hào)的總線。在被測(cè)集成電路1的輸出端這些總線的標(biāo)號(hào)分別是11和12，在參考集成電路2的輸出端，分別是21和22。這些總線11，12，21，22在集成電路的一側(cè)和連接裝置13，14相連。
比較裝置4輸出表示測(cè)試結(jié)果的信號(hào)，所述信號(hào)通過(guò)總線41被送到中央處理單元。
圖3表示比較裝置4對(duì)于視頻信號(hào)的功能。其中示出了出現(xiàn)在集成電路的輸出端的視頻信號(hào)的時(shí)序表示。時(shí)序圖A相應(yīng)于在被測(cè)集成電路1的輸出端收集的輸出信號(hào)。時(shí)序圖B相應(yīng)于在參考集成電路2的輸出端收集的輸出信號(hào)。這些信號(hào)作為連續(xù)的位出現(xiàn)。只要這些信號(hào)出現(xiàn)，它們便被輸入到比較裝置4。所述比較裝置4包括兩個(gè)D型觸發(fā)器，其中一個(gè)觸發(fā)器42.1在其輸入端接收來(lái)自被測(cè)集成電路1的信號(hào)A，另一個(gè)觸發(fā)器42.2在其輸入端B接收來(lái)自參考集成電路2的信號(hào)B。這些D型觸發(fā)器42.1，42.2還接收來(lái)自接口模塊32的時(shí)鐘信號(hào)h。觸發(fā)器的輸出和提供表示測(cè)試結(jié)果的信號(hào)的異或端口43的輸入端相連。D型觸發(fā)器通過(guò)進(jìn)行和實(shí)時(shí)比較的原理不矛盾的瞬時(shí)存儲(chǔ)操作，使得相互之間略微有些相位差的信號(hào)能夠進(jìn)行逐位比較。
在這個(gè)例子中，信號(hào)A的位300相應(yīng)于一個(gè)缺陷，其在信號(hào)B中未出現(xiàn)。
異或端口當(dāng)其收到的位相同時(shí)，則輸出邏輯值為“0”的位。只要在其兩個(gè)輸入端收到兩個(gè)不同值的位時(shí)，其便輸出具有邏輯值“1”的位。
出現(xiàn)在異或端口43的輸出端的信號(hào)具有一個(gè)其邏輯值為“1”的位301，這表示被測(cè)集成電路1有缺陷。
在按照本發(fā)明的測(cè)試裝置中，不再需要具有存儲(chǔ)空間用于存儲(chǔ)集成電路的輸出信號(hào)?？梢栽谧銐蜷L(zhǎng)的時(shí)間內(nèi)對(duì)電路施加輸入信號(hào)，以便獲得非?？煽康臏y(cè)試結(jié)果。如果需要利用現(xiàn)有技術(shù)的測(cè)試裝置測(cè)試這種類(lèi)型的集成電路，則測(cè)試只能集中在少數(shù)的幾個(gè)視頻圖像上，因而這不足以保證所述集成電路沒(méi)有缺陷。例如，720×520個(gè)象素的視頻圖像便需要大約900kb的存儲(chǔ)器。
這種測(cè)試裝置能夠測(cè)試用于產(chǎn)生多個(gè)輸出數(shù)據(jù)的在自然環(huán)境中的集成電路，其使用方法特別簡(jiǎn)單，并且成本低。因?yàn)橥ㄟ^(guò)實(shí)時(shí)地比較集成電路的輸出信號(hào)進(jìn)行測(cè)試，所以不需要為進(jìn)行所述測(cè)試而存儲(chǔ)輸出信號(hào)。這種存儲(chǔ)將限制在測(cè)試期間使用的數(shù)據(jù)量，這是因?yàn)閷?duì)于這種存儲(chǔ)所提供的存儲(chǔ)空間具有不能擴(kuò)展的性質(zhì)。因此，本發(fā)明在其應(yīng)用中具有大的靈活性，并且使得不必對(duì)測(cè)試裝置進(jìn)行大的改變，例如擴(kuò)展存儲(chǔ)空間，便可以修改測(cè)試條件。
此外，按照本發(fā)明，只要檢測(cè)到兩個(gè)集成電路的輸出信號(hào)之間的不同，便中斷測(cè)試，這通過(guò)減少測(cè)試階段的總的持續(xù)時(shí)間，使得能夠減少集成電路的總的生產(chǎn)成本。
權(quán)利要求
1.一種集成電路測(cè)試裝置，所述測(cè)試裝置包括輸入裝置(3)，用于產(chǎn)生輸入信號(hào)，并把所述輸入信號(hào)提供給被測(cè)集成電路(1)的輸入端和被認(rèn)為是合格的參考集成電路(2)的輸入端，以及比較裝置(4)，用于響應(yīng)所述輸入信號(hào)實(shí)時(shí)地比較在被測(cè)集成電路(1)的輸出端提供的輸出信號(hào)和在參考集成電路(2)的輸出端提供的輸出信號(hào)，以便根據(jù)比較結(jié)果確定所述被測(cè)集成電路(1)是合格的還是有缺陷的，其特征在于，所述集成電路(1，2)被并聯(lián)地安裝，并同時(shí)接收所述輸入信號(hào)，所述輸入信號(hào)模擬所述集成電路(1，2)在實(shí)用的操作情況下應(yīng)當(dāng)接收的信號(hào)。
2.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試裝置，其特征在于，所述輸入裝置(3)可以包括中央處理單元(30)，用于產(chǎn)生所述輸入信號(hào)，并和一個(gè)接口模塊(32)協(xié)同工作，所述接口模塊(32)在一方面和被測(cè)集成電路(1)的輸入端相連，在另一方面和參考集成電路(2)的輸入端相連，用于復(fù)制由所述中央處理單元(30)產(chǎn)生的并用于所述集成電路(1，2)的所述輸入信號(hào)。
3.如權(quán)利要求2所述的測(cè)試裝置，其特征在于，所述測(cè)試裝置包括連接裝置(13)，用于接收所述被測(cè)集成電路(1)，當(dāng)所述被測(cè)集成電路(1)被安裝時(shí)，所述接口模塊(32)使所述連接裝置(13)的電源被切斷。
4.如權(quán)利要求2所述的測(cè)試裝置，其特征在于，所述接口模塊(32)還用于向所述集成電路(1，2)和所述比較裝置(4)提供時(shí)鐘信號(hào)，從而提供所述集成電路(1，2)的同步。
5.如權(quán)利要求2所述的測(cè)試裝置，其特征在于，所述輸入裝置(3)可以包括和所述中央處理單元(30)協(xié)同操作的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器(31)，所述數(shù)據(jù)是所述輸入信號(hào)的基礎(chǔ)。
6.如權(quán)利要求2所述的測(cè)試裝置，其特征在于，所述輸入裝置(3)包括和所述中央處理單元(30)協(xié)同操作的程序存儲(chǔ)器(35)。
7.如權(quán)利要求2所述的測(cè)試裝置，其特征在于，所述中央處理單元(30)和一個(gè)接口(33)相連，所述接口用于通過(guò)微機(jī)和用戶通信。
8.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試裝置，其特征在于，所述比較裝置(4)用于對(duì)輸出信號(hào)逐位地進(jìn)行比較。
9.如權(quán)利要求8所述的測(cè)試裝置，其特征在于，所述比較裝置(4)包括一個(gè)異或端口(43)。
10.一種集成電路測(cè)試方法，所述方法包括以下步驟產(chǎn)生被同時(shí)提供給被測(cè)集成電路(1)的輸入端和被認(rèn)為是合格的參考集成電路(2)的輸入端的輸入信號(hào)，所述輸入信號(hào)模擬所述被測(cè)集成電路(1)和所述參考集成電路(2)在實(shí)用情況下接收的輸入信號(hào)；響應(yīng)所述輸入信號(hào)實(shí)時(shí)地比較在所述被測(cè)集成電路(1)的輸出端和在所述參考集成電路(2)的輸出端出現(xiàn)的輸出信號(hào)；根據(jù)比較結(jié)果確定所述被測(cè)集成電路(1)是合格的還是有缺陷的。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種集成電路測(cè)試裝置。所述測(cè)試裝置包括輸入裝置(3)，用于產(chǎn)生輸入信號(hào)，并把所述輸入信號(hào)提供給被測(cè)集成電路(1)的輸入端和被認(rèn)為是合格的參考集成電路(2)的輸入端，以及比較裝置(4)，用于響應(yīng)所述輸入信號(hào)實(shí)時(shí)地比較在被測(cè)集成電路(1)的輸出端提供的輸出信號(hào)和在參考集成電路(2)的輸出端提供的輸出信號(hào)，以便根據(jù)比較結(jié)果確定所述被測(cè)集成電路(1)是合格的還是有缺陷的。所述集成電路(1，2)被并聯(lián)地安裝，并同時(shí)接收所述輸入信號(hào)，所述輸入信號(hào)模擬所述集成電路(1，2)在實(shí)用的操作情況下應(yīng)當(dāng)接收的信號(hào)。這種集成電路裝置尤其適用于測(cè)試用于譯碼數(shù)字電視信號(hào)的集成電路。
文檔編號(hào)G01R31/28GK1459027SQ02800632
公開(kāi)日2003年11月26日 申請(qǐng)日期2002年3月12日 優(yōu)先權(quán)日2001年3月13日
發(fā)明者S·布里雷 申請(qǐng)人:皇家菲利浦電子有限公司