專利名稱：時(shí)鐘精度的測(cè)試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及通信產(chǎn)品測(cè)試方法，尤指一種通信產(chǎn)品時(shí)鐘精度的測(cè)試方法。
背景技術(shù)：
目前，幾乎所有通信產(chǎn)品都有自身的實(shí)時(shí)時(shí)鐘模塊，其主要功能是為產(chǎn)品提供高精度實(shí)時(shí)時(shí)鐘。而對(duì)生產(chǎn)出來(lái)的通信產(chǎn)品，要求不論是在單板上電還是斷電或者故障的情況下該系統(tǒng)都能不間斷地提供時(shí)鐘信號(hào)。由于所述時(shí)鐘對(duì)產(chǎn)品在計(jì)費(fèi)、服務(wù)等方面都起到比較重要的作用，因此，對(duì)其精度的測(cè)試是電子產(chǎn)品測(cè)試的關(guān)鍵步驟。
事實(shí)上，為了使生產(chǎn)出來(lái)的通信產(chǎn)品符合要求，產(chǎn)品生產(chǎn)過(guò)程中的測(cè)試環(huán)節(jié)是必不可少的。圖1是現(xiàn)有通信產(chǎn)品生產(chǎn)測(cè)試的工藝流程，一個(gè)通信產(chǎn)品從單板加工到發(fā)貨以前包括以下的測(cè)試環(huán)節(jié)結(jié)構(gòu)測(cè)試11、ESS(環(huán)境應(yīng)力篩選，即老化)12、老化后FT2測(cè)試(功能測(cè)試)13和發(fā)貨前ST測(cè)試(系統(tǒng)測(cè)試)14。其中老化前結(jié)構(gòu)測(cè)試11又包括AOI(自動(dòng)光學(xué)檢測(cè))110、AXI(自動(dòng)X射線檢測(cè))111和ICT(在線測(cè)試)112。實(shí)際操作中，根據(jù)單板實(shí)際情況，以上的測(cè)試環(huán)節(jié)會(huì)略有調(diào)整，如在沒(méi)有ICT測(cè)試設(shè)備的情況下，一般會(huì)增加老化前FT1測(cè)試環(huán)節(jié)。
結(jié)構(gòu)測(cè)試11中，ICT測(cè)試112是最常用的一種標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試手段，其通過(guò)對(duì)在線元器件(制成板上的元器件)的電性能及電氣連接進(jìn)行測(cè)試來(lái)克服生產(chǎn)制造中存在的缺陷及找出不良元器件。隨著ICT設(shè)備的智能化，目前ICT設(shè)備除了完成常規(guī)在線測(cè)試外，還能完成邏輯器件加載、Flash加載等功能。
另外，為防止老化時(shí)電源短路等故障情況的發(fā)生，上述老化前測(cè)試環(huán)節(jié)也是必不可少的，根據(jù)“浴盆曲線”的原理，老化前測(cè)試環(huán)節(jié)可以剔除大部分器件和加工缺陷。一般，在產(chǎn)品經(jīng)過(guò)老化后還需經(jīng)過(guò)1～2個(gè)測(cè)試環(huán)節(jié)才能出廠，如圖1所示的，大多數(shù)情況下是先經(jīng)過(guò)老化后FT測(cè)試，測(cè)試后入庫(kù)，在發(fā)貨前根據(jù)需要裝配成整機(jī)進(jìn)行發(fā)貨前ST測(cè)試。個(gè)別產(chǎn)品或單板在發(fā)貨前會(huì)根據(jù)自身情況選擇FT、ST其中一個(gè)測(cè)試環(huán)節(jié)進(jìn)行測(cè)試。
現(xiàn)有對(duì)產(chǎn)品的實(shí)時(shí)時(shí)鐘模塊時(shí)鐘精度的測(cè)試，一般在老化后FT測(cè)試環(huán)節(jié)進(jìn)行，有如下的兩種方案第一種技術(shù)方案，在老化后FT測(cè)試環(huán)節(jié)中向?qū)崟r(shí)時(shí)鐘模塊的RTC(實(shí)時(shí)時(shí)鐘)芯片寫入調(diào)測(cè)計(jì)算機(jī)的實(shí)時(shí)時(shí)鐘，在所述老化后FT測(cè)試環(huán)節(jié)完成前讀出所述RTC芯片中的時(shí)鐘，通過(guò)與調(diào)測(cè)計(jì)算機(jī)的實(shí)時(shí)時(shí)鐘比較可以測(cè)試實(shí)時(shí)時(shí)鐘模塊的時(shí)鐘精度；其中時(shí)鐘的寫入、讀取都是由單板上微處理器通過(guò)所述RTC芯片通信接口實(shí)現(xiàn)；上述技術(shù)方案是一種最簡(jiǎn)單的實(shí)時(shí)時(shí)鐘精度測(cè)試方案，但存在下面的缺點(diǎn)由于FT測(cè)試環(huán)節(jié)測(cè)試時(shí)間一般都不會(huì)超過(guò)1個(gè)小時(shí)，顯然這樣短的時(shí)間得到的實(shí)時(shí)時(shí)鐘精度是不夠的，測(cè)試存在較大誤差；第二種技術(shù)方案，在老化后FT測(cè)試環(huán)節(jié)向?qū)崟r(shí)時(shí)鐘模塊的RTC芯片寫入調(diào)測(cè)計(jì)算機(jī)的實(shí)時(shí)時(shí)鐘，在發(fā)貨前ST測(cè)試環(huán)節(jié)讀取所述RTC芯片中的實(shí)時(shí)時(shí)鐘并與調(diào)測(cè)計(jì)算機(jī)的實(shí)時(shí)時(shí)鐘比較以測(cè)試時(shí)鐘精度，在該方案中，時(shí)間的寫入、讀取也是由單板上微處理器通過(guò)所述RTC芯片通信接口實(shí)現(xiàn)；所述第二種技術(shù)方案存在下面的缺點(diǎn)由于是在整機(jī)發(fā)貨前，即ST測(cè)試后才能發(fā)現(xiàn)時(shí)鐘精度的故障，給發(fā)貨造成了很大的壓力，并且按照早期發(fā)現(xiàn)故障能大大降低調(diào)測(cè)成本的理論，上述發(fā)貨前調(diào)測(cè)時(shí)鐘精度的方案會(huì)大大增加生產(chǎn)制造成本。

發(fā)明內(nèi)容
為解決現(xiàn)有技術(shù)通信產(chǎn)品實(shí)時(shí)時(shí)鐘模塊時(shí)鐘精度測(cè)試中存在較大誤差的問(wèn)題，本發(fā)明提出一種時(shí)鐘精度的測(cè)試方法，采用該方法可以減少精度測(cè)試的誤差。
具體的，本發(fā)明提出的時(shí)鐘精度的測(cè)試方法，用于測(cè)試通信產(chǎn)品實(shí)時(shí)時(shí)鐘模塊的時(shí)鐘精度，所述方法包括以下步驟a)在老化前測(cè)試環(huán)節(jié)向?qū)崟r(shí)時(shí)鐘模塊寫入調(diào)測(cè)實(shí)時(shí)時(shí)鐘；b)在老化后功能測(cè)試環(huán)節(jié)讀出實(shí)時(shí)時(shí)鐘模塊中所述調(diào)測(cè)實(shí)時(shí)時(shí)鐘，然后與本地調(diào)測(cè)實(shí)時(shí)時(shí)鐘比較，并獲取精度測(cè)試結(jié)果。
其中，步驟a)所述老化前測(cè)試環(huán)節(jié)為在線測(cè)試環(huán)節(jié)或老化前功能測(cè)試環(huán)節(jié)。
進(jìn)一步，步驟a)在在線測(cè)試環(huán)節(jié)向?qū)崟r(shí)時(shí)鐘模塊寫入調(diào)測(cè)實(shí)時(shí)時(shí)鐘是將在線測(cè)試設(shè)備的兩個(gè)測(cè)試針?lè)謩e接在實(shí)時(shí)時(shí)鐘模塊的串行數(shù)據(jù)輸入口和串行時(shí)鐘輸入口，由所述在線測(cè)試設(shè)備向?qū)崟r(shí)時(shí)鐘模塊寫入所述調(diào)測(cè)實(shí)時(shí)時(shí)鐘，包括以下步驟a11)在線測(cè)試設(shè)備向?qū)崟r(shí)時(shí)鐘模塊的實(shí)時(shí)時(shí)鐘芯片發(fā)送通信開始信號(hào)；a12)在線測(cè)試設(shè)備模擬單板微處理器向所述實(shí)時(shí)時(shí)鐘芯片寫入包括實(shí)時(shí)時(shí)鐘芯片地址及讀指示位的數(shù)據(jù)；a13)所述實(shí)時(shí)時(shí)鐘芯片回送響應(yīng)信號(hào)；a14)在線測(cè)試設(shè)備開始向所述實(shí)時(shí)時(shí)鐘芯片寫入調(diào)測(cè)實(shí)時(shí)時(shí)鐘；a15)所述調(diào)測(cè)實(shí)時(shí)時(shí)鐘寫入完畢，在線測(cè)試設(shè)備發(fā)送停止位或發(fā)送新一輪通信開始信號(hào)結(jié)束本次通信。
另外，所述在在線測(cè)試環(huán)節(jié)寫入調(diào)測(cè)實(shí)時(shí)時(shí)鐘還包括在線測(cè)試設(shè)備將調(diào)測(cè)實(shí)時(shí)時(shí)鐘寫入后，將所述寫入的調(diào)測(cè)實(shí)時(shí)時(shí)鐘讀出來(lái)，進(jìn)行校驗(yàn)，以確保寫入的數(shù)據(jù)無(wú)誤。
另外，步驟a)在老化前功能測(cè)試環(huán)節(jié)寫入調(diào)測(cè)實(shí)時(shí)時(shí)鐘的步驟包括a21)單板微處理器向?qū)崟r(shí)時(shí)鐘模塊的實(shí)時(shí)時(shí)鐘芯片發(fā)送通信開始信號(hào)；a22)單板微處理器向所述實(shí)時(shí)時(shí)鐘芯片寫入包括實(shí)時(shí)時(shí)鐘芯片地址及讀指示位的數(shù)據(jù)；a23)所述實(shí)時(shí)時(shí)鐘芯片回送響應(yīng)信號(hào)；a24)單板微處理器開始向所述實(shí)時(shí)時(shí)鐘芯片寫入調(diào)測(cè)實(shí)時(shí)時(shí)鐘；a25)所述調(diào)測(cè)實(shí)時(shí)時(shí)鐘寫入完畢，單板微處理器發(fā)送停止位或發(fā)送新一輪通信開始信號(hào)結(jié)束本次通信。
進(jìn)一步，步驟b)在老化后功能測(cè)試環(huán)節(jié)讀出所述實(shí)時(shí)時(shí)鐘模塊中的調(diào)測(cè)實(shí)時(shí)時(shí)鐘的步驟包括b1)單板微處理器向所述實(shí)時(shí)時(shí)鐘模塊的實(shí)時(shí)時(shí)鐘芯片發(fā)送通信開始信號(hào)；b2)單板微處理器向所述實(shí)時(shí)時(shí)鐘芯片寫入包括實(shí)時(shí)時(shí)鐘芯片地址及寫指示位的數(shù)據(jù)；b3)所述實(shí)時(shí)時(shí)鐘芯片開始向單板微處理器發(fā)送調(diào)測(cè)實(shí)時(shí)時(shí)鐘；
b4)所述調(diào)測(cè)實(shí)時(shí)時(shí)鐘發(fā)送完畢，單板微處理器發(fā)送停止位或發(fā)送新一輪通信開始信號(hào)結(jié)束本次通信。
優(yōu)化的，所述方法還包括，采用網(wǎng)絡(luò)時(shí)間協(xié)議使各調(diào)測(cè)終端系統(tǒng)的時(shí)間與網(wǎng)絡(luò)中指定的時(shí)鐘服務(wù)器同步。
與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明具有以下的優(yōu)點(diǎn)1、在ICT測(cè)試環(huán)節(jié)，由ICT設(shè)備模擬微處理器與實(shí)時(shí)時(shí)鐘模塊的RTC芯片通信，寫入調(diào)測(cè)實(shí)時(shí)時(shí)鐘，或在老化前FT測(cè)試環(huán)節(jié)寫入調(diào)測(cè)實(shí)時(shí)時(shí)鐘，然后在老化后FT測(cè)試環(huán)節(jié)讀取先前寫入的調(diào)測(cè)實(shí)時(shí)時(shí)鐘并與本地調(diào)測(cè)實(shí)時(shí)時(shí)鐘比較，由于測(cè)試跨越了老化環(huán)節(jié)，本發(fā)明時(shí)鐘精度測(cè)試時(shí)間相對(duì)較長(zhǎng)，因此，與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明的測(cè)試誤差相對(duì)降低；2、由于本發(fā)明老化后FT測(cè)試完即結(jié)束時(shí)鐘精度測(cè)試，按照上述早期發(fā)現(xiàn)能降低成本的理論，本發(fā)明相對(duì)現(xiàn)有技術(shù)降低了生產(chǎn)制造成本；3、本發(fā)明中還采用網(wǎng)絡(luò)時(shí)間協(xié)議同步各個(gè)調(diào)測(cè)終端系統(tǒng)的實(shí)時(shí)時(shí)鐘，更進(jìn)一步提高了測(cè)試時(shí)鐘的精度。


圖1是現(xiàn)有技術(shù)電子產(chǎn)品生產(chǎn)測(cè)試的工藝流程示意圖；圖2是現(xiàn)有實(shí)時(shí)時(shí)鐘模塊組成示意圖；圖3是本發(fā)明具體實(shí)時(shí)例的流程圖；圖4是本發(fā)明時(shí)鐘精度的測(cè)試方法所采用RTC芯片DS1307器件管腳示意圖；圖5是圖4所示的DS1307數(shù)據(jù)傳遞時(shí)序圖；圖6是圖4所示的DS1307接收數(shù)據(jù)模式時(shí)序圖；圖7是圖4所示的DS1307發(fā)送數(shù)據(jù)模式時(shí)序圖；圖8是本發(fā)明時(shí)鐘精度的測(cè)試方法中ICT設(shè)備模擬單板微處理器向DS1307寫入實(shí)時(shí)時(shí)鐘的流程圖；圖9是本發(fā)明時(shí)鐘精度的測(cè)試方法中老化前FT測(cè)試環(huán)節(jié)向?qū)崟r(shí)時(shí)鐘模塊的RTC芯片寫入調(diào)測(cè)實(shí)時(shí)時(shí)鐘的流程圖；圖10是本發(fā)明時(shí)鐘精度的測(cè)試方法中在老化后FT測(cè)試環(huán)節(jié)單板微處理器從實(shí)時(shí)時(shí)鐘模塊的RTC芯片讀取老化前寫入的調(diào)測(cè)實(shí)時(shí)時(shí)鐘的流程圖。
具體實(shí)施例方式
下面結(jié)合附圖以具體實(shí)施方式
進(jìn)一步說(shuō)明本發(fā)明的方法。
首先來(lái)看通信產(chǎn)品中的實(shí)時(shí)時(shí)鐘模塊，通信產(chǎn)品中，所需的實(shí)時(shí)時(shí)鐘通常是由產(chǎn)品控制板的實(shí)時(shí)時(shí)鐘模塊提供。
參考圖2是現(xiàn)有通信產(chǎn)品中實(shí)時(shí)時(shí)鐘模塊組成示意圖，所述實(shí)時(shí)時(shí)鐘模塊主要包括三個(gè)基本功能部分晶振模塊201、電源模塊202和RTC(實(shí)時(shí)時(shí)鐘)芯片203；所述晶振模塊201主要功能是給RTC芯片203提供高精度的頻率時(shí)鐘；所述電源模塊202的主要功能是給RTC芯片203提供兩個(gè)工作電源。一個(gè)主用電源，由外部電源轉(zhuǎn)換提供；一個(gè)備用電源，由單板上的備用電池提供；RTC芯片203一般具有實(shí)時(shí)時(shí)鐘、地址寄存和用戶預(yù)留的三種寄存器結(jié)構(gòu)。其通過(guò)串行口與單板微處理器通信以便獲取實(shí)時(shí)時(shí)鐘，其可根據(jù)月份和閏年的情況自動(dòng)調(diào)整月份的結(jié)束日期。時(shí)鐘可由用戶決定是以24小時(shí)制式或12小時(shí)制式工作。而在主用電源失效的情況下，還可由備用電源繼續(xù)提供晶體振蕩并維持芯片在低功耗模式下工作。控制邏輯控制RTC芯片選擇使用主用電源還是備用電源。
下面說(shuō)明實(shí)時(shí)時(shí)鐘模塊的工作原理通常單板微處理器通過(guò)與RTC芯片的通信接口向RTC芯片的實(shí)時(shí)時(shí)鐘寄存器寫入實(shí)時(shí)時(shí)鐘。RTC芯片則給晶體提供激勵(lì)，使晶體產(chǎn)生一個(gè)基準(zhǔn)頻率時(shí)鐘提供給RTC芯片，RTC芯片內(nèi)部分頻得到實(shí)時(shí)時(shí)鐘基準(zhǔn)，自動(dòng)更新實(shí)時(shí)時(shí)鐘寄存器。單板在上電時(shí)RTC芯片工作的電壓是用的外部電源提供的電壓，此時(shí)單板微處理器可以讀/寫RTC芯片內(nèi)部實(shí)時(shí)時(shí)鐘。例如，在現(xiàn)有技術(shù)一和現(xiàn)有技術(shù)二中，都是通過(guò)單板微處理器向RTC芯片讀/寫實(shí)時(shí)時(shí)鐘。
當(dāng)外部電源提供的電壓低于某特定值時(shí)，RTC芯片由控制邏輯控制自動(dòng)采用本板電池提供的電壓，并控制RTC芯片進(jìn)入低功耗狀態(tài)。
而從背景技術(shù)對(duì)現(xiàn)有技術(shù)的分析中可看出實(shí)時(shí)時(shí)鐘精度測(cè)試需要測(cè)量時(shí)間較長(zhǎng)以保證精度測(cè)試的誤差較?。煌瑫r(shí)從成本考慮，則需盡量保證測(cè)試越早完成越好以便降低生產(chǎn)的成本。圖3是本發(fā)明具體實(shí)施例的流程圖，本發(fā)明基于以上兩點(diǎn)的考慮，主要采取以下的步驟
步驟301在老化前測(cè)試環(huán)節(jié)向?qū)崟r(shí)時(shí)鐘模塊寫入調(diào)測(cè)實(shí)時(shí)時(shí)鐘，老化前測(cè)試環(huán)節(jié)一般為ICT測(cè)試環(huán)節(jié)，在沒(méi)有ICT測(cè)試的情況下可采用老化前FT測(cè)試，即可在ICT測(cè)試環(huán)節(jié)中或老化前FT測(cè)試環(huán)節(jié)中向RTC芯片寫入所述的調(diào)測(cè)實(shí)時(shí)時(shí)鐘；步驟302在老化后FT測(cè)試環(huán)節(jié)讀出所述實(shí)時(shí)時(shí)鐘模塊中的所述調(diào)測(cè)實(shí)時(shí)時(shí)鐘，然后與本地調(diào)測(cè)實(shí)時(shí)時(shí)鐘比較，并獲取時(shí)鐘精度測(cè)試的結(jié)果。
采用上述的方法，不但可以使測(cè)試精度達(dá)到實(shí)時(shí)時(shí)鐘模塊所要求的精度，也可以在生產(chǎn)測(cè)試早期發(fā)現(xiàn)故障單板、剔除不良芯片。
下面以一典型實(shí)施例進(jìn)行說(shuō)明，本實(shí)施例實(shí)時(shí)時(shí)鐘模塊的RTC芯片采用DS1307，請(qǐng)看圖4所示的DS1307器件管腳示意圖，所述DS1307包括如下管腳管腳8 VCC主電源輸入管腳1、2 X1、X2 連接32.768KHz晶體管腳3 Vbat +3V電池輸入端管腳4 GND地管腳5 SDA串行數(shù)據(jù)管腳6 SCL串行時(shí)鐘管腳7 SQW 方波輸出如前述實(shí)時(shí)時(shí)鐘模塊的原理說(shuō)明，DS1307通過(guò)串口SDA、SCL與單板微處理器通信接口I2C總線接口相連并進(jìn)行通信。下面先對(duì)現(xiàn)有技術(shù)單板微處理器與RTC芯片通信的原理進(jìn)行說(shuō)明，以更進(jìn)一步揭示本發(fā)明通過(guò)ICT設(shè)備模擬單板微處理器與RTC芯片通信的思想。
圖5-圖7是單板微處理器與圖4所示RTC芯片通信的時(shí)序圖。
其中圖5是圖4所示DS1307的數(shù)據(jù)傳遞時(shí)序圖，通信總是由單板微處理器發(fā)起，單板微處理器首先向DS1307發(fā)送一個(gè)通信開始信號(hào)S，然后開始發(fā)送數(shù)據(jù)，以8位數(shù)據(jù)為一組數(shù)據(jù)發(fā)送，其中第一個(gè)8位數(shù)據(jù)位中前7位是DS1307的地址，第8位則是讀/寫指示位，以后開始傳送有效數(shù)據(jù)，直到單板微處理器發(fā)送停止信號(hào)或新一輪通信開始信號(hào)終止此次通信過(guò)程。
DS1307有兩種工作模式接收數(shù)據(jù)模式和發(fā)送數(shù)據(jù)模式，圖6是圖4所示DS1307接收數(shù)據(jù)模式時(shí)序圖，在接收數(shù)據(jù)模式下單板微處理器向DS1307寫入數(shù)據(jù)。通信過(guò)程如下單板微處理器向DS1307發(fā)送一個(gè)通信開始信號(hào)S，接下來(lái)發(fā)送的8位數(shù)據(jù)位中前7位是DS1307設(shè)備地址，如“1101000”，第八位則是讀/寫指示位“1”或“0”，其中“1”代表讀有效，“0”則代表寫有效。DS1307接收到此信息后，回送一個(gè)響應(yīng)信號(hào)“ACK”。隨后開始正常通信，即單板微處理器向DS1307發(fā)送8位數(shù)據(jù)位，DS1307向單板微處理器發(fā)送響應(yīng)信號(hào)“ACK”，直至單板微處理器發(fā)送停止信號(hào)P或新一輪通信開始信號(hào)終止此次通信過(guò)程。
圖7是圖4所示DS1307發(fā)送數(shù)據(jù)模式時(shí)序圖，在發(fā)送數(shù)據(jù)模式下，DS1307向單板微處理器上報(bào)有用信息，如實(shí)時(shí)時(shí)鐘、用戶數(shù)據(jù)等信息。在此模式下仍然是單板微處理器發(fā)起通信過(guò)程。首先單板微處理器發(fā)送一個(gè)通信開始信號(hào)S，在接下來(lái)的8位數(shù)據(jù)位中發(fā)送7位DS1307設(shè)備地址，如“1101000”和1位讀有效信號(hào)“1”。DS1307接收到此信息后，回送一個(gè)響應(yīng)信號(hào)“ACK”。隨后開始正常通信，DS1307向單板微處理器發(fā)送8位數(shù)據(jù)，單板微處理器向DS1307發(fā)送響應(yīng)信號(hào)“ACK”，直至單板微處理器響應(yīng)DS1307的“NACK”信號(hào)終止通信。
上述詳細(xì)說(shuō)明了單板微處理器與DS1307通信的過(guò)程。下面對(duì)老化前ICT測(cè)試環(huán)節(jié)向DS1307寫入調(diào)測(cè)實(shí)時(shí)時(shí)鐘為例對(duì)本發(fā)明進(jìn)行說(shuō)明。
本發(fā)明在ICT測(cè)試環(huán)節(jié)寫入調(diào)測(cè)實(shí)時(shí)時(shí)鐘是由ICT設(shè)備模擬單板微處理器進(jìn)行的。由于在ICT測(cè)試環(huán)節(jié)中單板不上電，因此，要在ICT測(cè)試環(huán)節(jié)利用單板微處理器實(shí)現(xiàn)向DS1307寫入實(shí)時(shí)時(shí)鐘顯然不可行，為此，可利用ICT設(shè)備進(jìn)行上述的工作。寫入前，先把ICT設(shè)備的兩個(gè)測(cè)試針?lè)謩e連在實(shí)時(shí)時(shí)鐘模塊的串行數(shù)據(jù)輸入口SDA和串行時(shí)鐘輸入口SCL上。在SCL上傳輸時(shí)鐘信號(hào)，在SDA上傳輸數(shù)據(jù)信號(hào)。I2C總線的時(shí)鐘信號(hào)、通信的開始和停止條件都由ICT設(shè)備提供，調(diào)測(cè)實(shí)時(shí)時(shí)鐘也由ICT設(shè)備產(chǎn)生。傳送數(shù)據(jù)時(shí)，8位數(shù)據(jù)位為一組，接收端每收到8個(gè)位的數(shù)據(jù)，就回發(fā)送端一個(gè)響應(yīng)位(ACK)通知發(fā)送端成功接收。
通信總是由ICT設(shè)備發(fā)起，第一個(gè)8位數(shù)據(jù)中前7位是DS1307的地址，第8位是讀/寫指示位。以后開始8位數(shù)據(jù)位為一組，發(fā)送有效數(shù)據(jù)，直至ICT設(shè)備發(fā)送停止信號(hào)或新一輪通信開始信號(hào)終止此次通信過(guò)程。
下面具體說(shuō)明ICT設(shè)備向被測(cè)單板上DS1307寫入調(diào)測(cè)實(shí)時(shí)時(shí)鐘的過(guò)程。
寫入調(diào)測(cè)實(shí)時(shí)時(shí)鐘之前，在DS1307的接收數(shù)據(jù)模式下，ICT設(shè)備向DS1307時(shí)鐘寄存器的第0寄存器的最后一位寫入1，以禁止DS1307的時(shí)鐘在進(jìn)行時(shí)鐘讀寫時(shí)運(yùn)行，并且待ICT校驗(yàn)完成之后，再使寄存器內(nèi)實(shí)時(shí)時(shí)鐘正常走動(dòng)，這一步主要是為了保持時(shí)間的前后一致，用于ICT設(shè)備對(duì)寫入的時(shí)間進(jìn)行校驗(yàn)。
上述校驗(yàn)正確即可向DS1307寫入調(diào)測(cè)實(shí)時(shí)時(shí)鐘了，所述調(diào)測(cè)實(shí)時(shí)時(shí)鐘可以是一個(gè)時(shí)間服務(wù)器的時(shí)間也可以是ICT調(diào)測(cè)終端系統(tǒng)的時(shí)間。所述時(shí)間服務(wù)器是提供時(shí)間標(biāo)準(zhǔn)的機(jī)器，這里以采用ICT調(diào)測(cè)終端系統(tǒng)時(shí)間為例，具體實(shí)施時(shí)，用ICT設(shè)備調(diào)測(cè)系統(tǒng)的時(shí)間命令，獲取系統(tǒng)當(dāng)前的時(shí)間作為調(diào)測(cè)實(shí)時(shí)時(shí)鐘，由于DS1307的時(shí)鐘數(shù)據(jù)在時(shí)鐘寄存器中為連續(xù)的7個(gè)字節(jié)，共56位，有特定的格式。所以要把獲取的系統(tǒng)的時(shí)間按照時(shí)鐘寄存器的格式要求，轉(zhuǎn)化為一個(gè)56位的數(shù)組，然后在DS1307的數(shù)據(jù)接收模式中，開始向所述DS1307寫入調(diào)測(cè)實(shí)時(shí)時(shí)鐘，參考圖8所示本發(fā)明ICT設(shè)備模擬單板微處理器向DS1307寫入調(diào)測(cè)實(shí)時(shí)時(shí)鐘的流程圖，包括以下的步驟步驟801ICT設(shè)備向DS1307發(fā)送一個(gè)通信開始信號(hào)；步驟802以8位數(shù)據(jù)為一組，ICT設(shè)備開始向DS1307寫入數(shù)據(jù)，即首先寫入8位數(shù)據(jù)，所述8位數(shù)據(jù)中前7位數(shù)據(jù)位是DS1307的地址，最后1位則是讀指示位；步驟803 DS1307向ICT設(shè)備回送響應(yīng)信號(hào)，開始正常的通信，ICT設(shè)備向DS1307發(fā)送調(diào)測(cè)實(shí)時(shí)時(shí)鐘，根據(jù)要求順次把獲取的系統(tǒng)時(shí)間寫入DS1307的時(shí)鐘寄存器中；步驟804時(shí)鐘發(fā)送完畢，ICT設(shè)備發(fā)送停止位或新一輪通信開始信號(hào)終止此次通信過(guò)程。
上述方法，在DS1307的數(shù)據(jù)發(fā)送模式中還需把時(shí)鐘寄存器中先前寫入的調(diào)測(cè)實(shí)時(shí)時(shí)鐘讀出來(lái)，進(jìn)行校驗(yàn)，以確保寫入的時(shí)鐘內(nèi)容無(wú)誤；最后在DS1307的接收數(shù)據(jù)模式下，還需向DS1307的第0寄存器的最后一位寫入0，然后在數(shù)據(jù)發(fā)送模式下讀出這個(gè)“0”，并校驗(yàn)這個(gè)“0”是否正確寫入，所述“0”使能DS1307中的振蕩器，使時(shí)鐘正常運(yùn)行，以上就完成了對(duì)DS1307寫入調(diào)測(cè)實(shí)時(shí)時(shí)鐘的操作。
本發(fā)明另一個(gè)在老化前測(cè)試環(huán)節(jié)寫入調(diào)測(cè)實(shí)時(shí)時(shí)鐘可施行的方案是在老化前FT測(cè)試環(huán)節(jié)寫入調(diào)測(cè)實(shí)時(shí)時(shí)鐘，其原理已在前面述及，都是通過(guò)本地串口、網(wǎng)口或Telnet(遠(yuǎn)程登陸)控制單板上的微處理器完成對(duì)RTC芯片的讀/寫，這里簡(jiǎn)單描述如下，參考圖9，本發(fā)明老化前FT測(cè)試環(huán)節(jié)向RTC芯片DS1307寫入調(diào)測(cè)實(shí)時(shí)時(shí)鐘包括以下步驟步驟901單板微處理器向DS1307發(fā)送通信開始信號(hào)發(fā)起通信；步驟902開始發(fā)送數(shù)據(jù)，單板微處理器向DS1307寫入8個(gè)數(shù)據(jù)位，所述8個(gè)數(shù)據(jù)位前7位是DS1307地址，第8位是讀指示位；步驟903 DS1307回送響應(yīng)信號(hào)；步驟904單板微處理器開始向ICT設(shè)備寫入調(diào)測(cè)實(shí)時(shí)時(shí)鐘，寫入完畢，單板微處理器發(fā)送停止信號(hào)或新一輪通信開始信號(hào)終止此次通信過(guò)程。
這里所述寫入的調(diào)測(cè)實(shí)時(shí)時(shí)鐘可由時(shí)間服務(wù)器或老化前FT調(diào)測(cè)終端系統(tǒng)獲取。
上述通過(guò)兩個(gè)實(shí)施例分別說(shuō)明了在老化前測(cè)試環(huán)節(jié)向RTC芯片DS1307寫入實(shí)時(shí)時(shí)鐘的方法，在經(jīng)過(guò)老化后，進(jìn)入老化后測(cè)試流程。還參考圖1所示現(xiàn)有通信產(chǎn)品生產(chǎn)測(cè)試的工藝流程，寫入調(diào)測(cè)實(shí)時(shí)時(shí)鐘到DS1307是在老化前的ICT測(cè)試環(huán)節(jié)或老化前FT測(cè)試環(huán)節(jié)，然后在老化后的FT測(cè)試環(huán)節(jié)將寫入DS1307的調(diào)測(cè)實(shí)時(shí)時(shí)鐘讀出來(lái)，參考圖10，在老化后FT測(cè)試環(huán)節(jié)單板微處理器從DS1307讀取老化前寫入的調(diào)測(cè)實(shí)時(shí)時(shí)鐘，包括以下步驟步驟s101單板微處理器向DS1307發(fā)送通信開始信號(hào)發(fā)起通信；步驟s102開始發(fā)送數(shù)據(jù)，單板微處理器向DS1307寫入8位數(shù)據(jù)位，所述8位數(shù)據(jù)位前7位是DS1307地址，第8位是寫指示位；步驟s103 DS1307回送響應(yīng)信號(hào)；步驟s104 DS1307開始向單板微處理器發(fā)送調(diào)測(cè)實(shí)時(shí)時(shí)鐘，發(fā)送完畢，單板微處理器發(fā)送停止位或新一輪通信開始信號(hào)終止通信流程。
上述讀出老化前向DS1307時(shí)鐘積存器中寫入的調(diào)測(cè)實(shí)時(shí)時(shí)鐘后，將所述的調(diào)測(cè)實(shí)時(shí)時(shí)鐘與本地調(diào)測(cè)實(shí)時(shí)時(shí)鐘比較，即可獲取精度測(cè)試的結(jié)果。
所述的本地調(diào)測(cè)實(shí)時(shí)時(shí)鐘可以是老化后FT調(diào)測(cè)終端系統(tǒng)時(shí)間，也可以是其他系統(tǒng)的時(shí)間，只要所述的本地調(diào)測(cè)實(shí)時(shí)時(shí)鐘與寫入前的調(diào)測(cè)實(shí)時(shí)時(shí)鐘同步即可。
由于在讀取與寫入之間有老化環(huán)節(jié)，單板在經(jīng)過(guò)ICT測(cè)試環(huán)節(jié)或老化前FT測(cè)試環(huán)節(jié)后一般要經(jīng)過(guò)至少2天的時(shí)間才能進(jìn)行老化后測(cè)試。因此，本發(fā)明的方法能達(dá)到很高的測(cè)試精度，遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于在一個(gè)測(cè)試環(huán)節(jié)讀/寫調(diào)測(cè)實(shí)時(shí)時(shí)鐘時(shí)的精度測(cè)試，而且在測(cè)試前期就可以檢測(cè)出故障單板，有利于降低生產(chǎn)成本。
實(shí)際測(cè)試中，實(shí)時(shí)時(shí)鐘模塊精度測(cè)試的指標(biāo)一般隨器件和產(chǎn)品要求不同而不同。對(duì)實(shí)時(shí)時(shí)鐘模塊精度要求高的產(chǎn)品測(cè)試的精度要求也比較高?？刹捎肗TP(網(wǎng)絡(luò)時(shí)間協(xié)議)進(jìn)一步提高測(cè)試的精度。
NTP協(xié)議是一個(gè)應(yīng)用層協(xié)議，主要用于分布式時(shí)間服務(wù)器和客戶端之間進(jìn)行時(shí)間同步。一般稱提供時(shí)間標(biāo)準(zhǔn)的機(jī)器為時(shí)間服務(wù)器，接收時(shí)間服務(wù)的機(jī)器稱為客戶端?？梢允挂粋€(gè)調(diào)測(cè)終端同步另一個(gè)的時(shí)間，或者兩個(gè)都同步一臺(tái)標(biāo)準(zhǔn)服務(wù)器的時(shí)間，下面對(duì)本發(fā)明應(yīng)用NTP協(xié)議進(jìn)一步提高測(cè)試精度進(jìn)行說(shuō)明。
本發(fā)明中，作為優(yōu)化采取的步驟，對(duì)測(cè)試涉及的各調(diào)測(cè)終端系統(tǒng)，可以采用NTP協(xié)議同步各調(diào)測(cè)終端系統(tǒng)的時(shí)間，也即使各調(diào)測(cè)終端系統(tǒng)的時(shí)間與網(wǎng)絡(luò)中指定的時(shí)鐘服務(wù)器時(shí)鐘同步，舉例說(shuō)明，一個(gè)應(yīng)用的例子windows操作系統(tǒng)環(huán)境下，在局域網(wǎng)中要使局域網(wǎng)中某個(gè)調(diào)測(cè)終端系統(tǒng)的時(shí)間與某個(gè)時(shí)間服務(wù)器同步?？梢酝ㄟ^(guò)“net time”這個(gè)命令來(lái)同步局域網(wǎng)內(nèi)的時(shí)間。執(zhí)行該“net time”命令后，即可按照NTP協(xié)議的方法同步局域網(wǎng)內(nèi)的時(shí)間，應(yīng)用方法如下“<服務(wù)器名>”這個(gè)部分換成實(shí)際使用的服務(wù)器名即可(也可使用IP地址)。net time\\<服務(wù)器名>/set/yes如net time\\111.111.111.111/set/yes當(dāng)運(yùn)行完成后，即可生效，本機(jī)時(shí)間和時(shí)間服務(wù)器同步。此命令可放在Autoexec.bat中或計(jì)劃任務(wù)中執(zhí)行。該命令還可靈活應(yīng)用，可以節(jié)約不少時(shí)間和精力。應(yīng)用NTP協(xié)議，使兩個(gè)調(diào)測(cè)終端的時(shí)間都與服務(wù)器時(shí)間同步，可大大提高測(cè)試的精度，在具體實(shí)施時(shí)還有多種方式，這里不在贅述。
另外還可采用下面的方法進(jìn)一步提高時(shí)鐘精度，即在老化后測(cè)試環(huán)節(jié)中進(jìn)行實(shí)時(shí)時(shí)鐘模塊精度測(cè)試時(shí)讀出ICT設(shè)備在Flash(閃存)和NVRAM(非易失性隨機(jī)訪問(wèn)存儲(chǔ)器)等非易失性存儲(chǔ)器寫入的時(shí)間，與調(diào)測(cè)終端本地的時(shí)間比較，確定實(shí)時(shí)時(shí)鐘模塊內(nèi)實(shí)時(shí)時(shí)鐘寫入和讀出所經(jīng)過(guò)的時(shí)間長(zhǎng)度，按要求計(jì)算出實(shí)時(shí)時(shí)鐘模塊精度測(cè)試的誤差門限，這樣可以實(shí)現(xiàn)高精度要求的測(cè)試，測(cè)試誤差達(dá)到最高十幾到幾十ppm的精度。
例如，一個(gè)被測(cè)RTC芯片的精度是10ppm，ICT測(cè)試時(shí)寫入RTC芯片的實(shí)時(shí)時(shí)鐘是2003-05-20 10:00:00，這個(gè)時(shí)間同時(shí)保存在SRAM中，經(jīng)過(guò)老化后，在老化后測(cè)試環(huán)節(jié)上讀取的實(shí)時(shí)時(shí)鐘是2003-05-22 15:00:00，同時(shí)讀取SRAM(靜態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器)中保存的ICT寫入的時(shí)間是2003-05-20 10:00:00，調(diào)測(cè)終端可以計(jì)算機(jī)出時(shí)間間隔是53小時(shí)0分0秒。按精度要求是10ppm計(jì)算，誤差允許的范圍是 。
綜上，本發(fā)明采用在老化前測(cè)試環(huán)節(jié)寫入調(diào)測(cè)實(shí)時(shí)時(shí)鐘，特別是采用ICT設(shè)備模擬單板微處理器與RTC芯片之間的接口協(xié)議，向RTC芯片寫入調(diào)測(cè)實(shí)時(shí)時(shí)鐘，經(jīng)過(guò)老化測(cè)試環(huán)節(jié)后，在老化后FT測(cè)試環(huán)節(jié)讀出所述寫入的調(diào)測(cè)實(shí)時(shí)時(shí)鐘，并與本地調(diào)測(cè)終端的實(shí)時(shí)時(shí)鐘比較。由于老化環(huán)節(jié)時(shí)間較長(zhǎng)，因此，時(shí)鐘精度測(cè)試的時(shí)間也較長(zhǎng)，測(cè)試誤差相對(duì)現(xiàn)有技術(shù)?。涣硗?，本發(fā)明還運(yùn)用了NTP協(xié)議同步讀/寫兩個(gè)調(diào)測(cè)終端的時(shí)間，因此，測(cè)試精度相對(duì)更高。
以上所述，僅以優(yōu)選實(shí)施例說(shuō)明了本發(fā)明通過(guò)在老化前測(cè)試環(huán)節(jié)寫入調(diào)測(cè)實(shí)時(shí)時(shí)鐘及老化后FT測(cè)試環(huán)節(jié)讀出所述寫入的調(diào)測(cè)實(shí)時(shí)時(shí)鐘并與本地調(diào)測(cè)終端時(shí)鐘比較獲得實(shí)時(shí)時(shí)鐘模塊時(shí)鐘精度測(cè)試結(jié)果的核心思想，非因此即局限本發(fā)明的權(quán)利范圍，事實(shí)上，在利用NTP協(xié)議同步調(diào)測(cè)終端時(shí)間的方案還有多種，因此，在不脫離本發(fā)明思想的情況下，凡運(yùn)用本發(fā)明說(shuō)明書及附圖內(nèi)容所為的等效變化，均理同包含于本發(fā)明的權(quán)利要求范圍內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種時(shí)鐘精度的測(cè)試方法，用于測(cè)試通信產(chǎn)品實(shí)時(shí)時(shí)鐘模塊的時(shí)鐘精度，其特征在于，該方法包括以下步驟a)在老化前測(cè)試環(huán)節(jié)向?qū)崟r(shí)時(shí)鐘模塊寫入調(diào)測(cè)實(shí)時(shí)時(shí)鐘；b)在老化后功能測(cè)試環(huán)節(jié)讀出實(shí)時(shí)時(shí)鐘模塊中所述調(diào)測(cè)實(shí)時(shí)時(shí)鐘，然后與本地調(diào)測(cè)實(shí)時(shí)時(shí)鐘比較，并獲取精度測(cè)試結(jié)果。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述時(shí)鐘精度的測(cè)試方法，其特征在于，步驟a)所述老化前測(cè)試環(huán)節(jié)為在線測(cè)試環(huán)節(jié)或老化前功能測(cè)試環(huán)節(jié)。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述時(shí)鐘精度的測(cè)試方法，其特征在于，步驟a)在線測(cè)試環(huán)節(jié)向?qū)崟r(shí)時(shí)鐘模塊寫入調(diào)測(cè)實(shí)時(shí)時(shí)鐘是將在線測(cè)試設(shè)備的兩個(gè)測(cè)試針?lè)謩e接在實(shí)時(shí)時(shí)鐘模塊的串行數(shù)據(jù)輸入口和串行時(shí)鐘輸入口，由所述在線測(cè)試設(shè)備向?qū)崟r(shí)時(shí)鐘模塊寫入所述調(diào)測(cè)實(shí)時(shí)時(shí)鐘，包括以下步驟a11)在線測(cè)試設(shè)備向?qū)崟r(shí)時(shí)鐘模塊的實(shí)時(shí)時(shí)鐘芯片發(fā)送通信開始信號(hào)；a12)在線測(cè)試設(shè)備模擬單板微處理器向所述實(shí)時(shí)時(shí)鐘芯片寫入包括實(shí)時(shí)時(shí)鐘芯片地址及讀指示位的數(shù)據(jù)；a13)所述實(shí)時(shí)時(shí)鐘芯片回送響應(yīng)信號(hào)；a14)在線測(cè)試設(shè)備開始向所述實(shí)時(shí)時(shí)鐘芯片寫入調(diào)測(cè)實(shí)時(shí)時(shí)鐘；a15)所述調(diào)測(cè)實(shí)時(shí)時(shí)鐘寫入完畢，在線測(cè)試設(shè)備發(fā)送停止位或發(fā)送新一輪通信開始信號(hào)結(jié)束本次通信。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述時(shí)鐘精度的測(cè)試方法，其特征在于，步驟a14)所述調(diào)測(cè)實(shí)時(shí)時(shí)鐘是在線測(cè)試調(diào)測(cè)終端系統(tǒng)的時(shí)間。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述時(shí)鐘精度的測(cè)試方法，其特征在于，還包括在線測(cè)試設(shè)備將調(diào)測(cè)實(shí)時(shí)時(shí)鐘寫入后，將所述寫入的調(diào)測(cè)實(shí)時(shí)時(shí)鐘讀出來(lái)，進(jìn)行校驗(yàn)。
6.根據(jù)權(quán)利要求2所述時(shí)鐘精度的測(cè)試方法，其特征在于，步驟a)在老化前功能測(cè)試環(huán)節(jié)寫入調(diào)測(cè)實(shí)時(shí)時(shí)鐘的步驟包括a21)單板微處理器向?qū)崟r(shí)時(shí)鐘模塊的實(shí)時(shí)時(shí)鐘芯片發(fā)送通信開始信號(hào)；a22)單板微處理器向所述實(shí)時(shí)時(shí)鐘芯片寫入包括實(shí)時(shí)時(shí)鐘芯片地址及讀指示位的數(shù)據(jù)；a23)所述實(shí)時(shí)時(shí)鐘芯片回送響應(yīng)信號(hào)；a24)單板微處理器開始向所述實(shí)時(shí)時(shí)鐘芯片寫入調(diào)測(cè)實(shí)時(shí)時(shí)鐘；a25)所述調(diào)測(cè)實(shí)時(shí)時(shí)鐘寫入完畢，單板微處理器發(fā)送停止位或發(fā)送新一輪通信開始信號(hào)結(jié)束本次通信。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述時(shí)鐘精度的測(cè)試方法，其特征在于，步驟a24)所述調(diào)測(cè)實(shí)時(shí)時(shí)鐘是功能測(cè)試調(diào)測(cè)終端系統(tǒng)的時(shí)間。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述時(shí)鐘精度的測(cè)試方法，其特征在于，步驟b)在老化后功能測(cè)試環(huán)節(jié)讀出所述實(shí)時(shí)時(shí)鐘模塊中的調(diào)測(cè)實(shí)時(shí)時(shí)鐘的步驟包括b1)單板微處理器向所述實(shí)時(shí)時(shí)鐘模塊的實(shí)時(shí)時(shí)鐘芯片發(fā)送通信開始信號(hào)；b2)單板微處理器向所述實(shí)時(shí)時(shí)鐘芯片寫入包括實(shí)時(shí)時(shí)鐘芯片地址及寫指示位的數(shù)據(jù)；b3)所述實(shí)時(shí)時(shí)鐘芯片開始向單板微處理器發(fā)送調(diào)測(cè)實(shí)時(shí)時(shí)鐘；b4)所述調(diào)測(cè)實(shí)時(shí)時(shí)鐘發(fā)送完畢，單板微處理器發(fā)送停止位或發(fā)送新一輪通信開始信號(hào)結(jié)束本次通信。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述時(shí)鐘精度的測(cè)試方法，其特征在于，步驟b)所述本地調(diào)測(cè)終端時(shí)鐘是老化后功能調(diào)測(cè)終端系統(tǒng)時(shí)間。
10.根據(jù)權(quán)利要求1-9任一項(xiàng)所述時(shí)鐘精度的測(cè)試方法，其特征在于，所述方法還包括，采用網(wǎng)絡(luò)時(shí)間協(xié)議使各調(diào)測(cè)終端系統(tǒng)的時(shí)間與網(wǎng)絡(luò)中指定的時(shí)鐘服務(wù)器同步。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種時(shí)鐘精度的測(cè)試方法，該方法包括以下步驟a)在老化前測(cè)試環(huán)節(jié)向?qū)崟r(shí)時(shí)鐘模塊寫入調(diào)測(cè)實(shí)時(shí)時(shí)鐘；b)在老化后FT測(cè)試環(huán)節(jié)讀出實(shí)時(shí)時(shí)鐘模塊中所述的調(diào)測(cè)實(shí)時(shí)時(shí)鐘，然后與本地調(diào)測(cè)實(shí)時(shí)時(shí)鐘比較，并獲取精度測(cè)試結(jié)果。本發(fā)明由于合理利用了老化固有時(shí)間，時(shí)鐘精度測(cè)試的時(shí)間較長(zhǎng)，因此，與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明的測(cè)試誤差相對(duì)降低；另外由于本發(fā)明老化后FT測(cè)試完即結(jié)束精度測(cè)試，按照上述早期發(fā)現(xiàn)能降低成本的理論，本發(fā)明相對(duì)現(xiàn)有技術(shù)降低了生產(chǎn)制造成本；本發(fā)明中還采用網(wǎng)絡(luò)時(shí)間協(xié)議同步調(diào)測(cè)終端的實(shí)時(shí)時(shí)鐘，更進(jìn)一步提高了測(cè)試時(shí)鐘的精度。
文檔編號(hào)G01R31/00GK1601407SQ0313488
公開日2005年3月30日 申請(qǐng)日期2003年9月26日 優(yōu)先權(quán)日2003年9月26日
發(fā)明者李桂生, 陳定邦 申請(qǐng)人:華為技術(shù)有限公司