專利名稱：耳溫計探測套罩及其制造方法
技術領域：
本發(fā)明屬于診斷用器具輔助部件，特別是一種耳溫計探測套罩及其制造方法。
背景技術：
近年來，由于耳溫計具有量測快速及使用便利的優(yōu)點，利用耳溫計量測耳溫已逐漸成為目前常見的體溫量測方式。而為了避免耳溫計使用久了囤積極耳垢或產(chǎn)生不同使用者間互相感染病菌的危險，通常在量測耳溫時，在耳溫計探頭外套設套罩，且于每次使用后丟棄，以確保安全及衛(wèi)生無虞。
套罩的設計攸關使用時的舒適與否。如圖1所示，美國專利第5163418號所揭露的耳溫計探測套罩包括膜罩10及環(huán)狀基座12。膜罩10系由紅外線可穿透的薄膜制成，膜罩10的封閉端呈平整狀而構成紅外線的窗口區(qū)102，周壁104則成褶疊狀，而膜罩10開放端周緣則黏著于環(huán)狀基底12上。環(huán)狀基底12系可設計成與耳溫計探測部密合，借由套罩的基底12套上耳溫計探測部時，使窗口區(qū)102平貼于耳溫計探測部的前端。然而，此種套罩于進入耳道內(nèi)時，膜罩10周壁的褶痕會刮到耳道表面而令人非常不舒服，且膜罩10本身受到擠壓時會發(fā)出相當剌耳的噪音。再者將此套罩裝設在耳溫計探測部時，紅外線窗口區(qū)102容易產(chǎn)生皺摺，導致紅外線的雜散輻射(stray radiation)的發(fā)生而影響量測準確度。
如圖2所示，美國專利第5088834號揭露的耳溫計探測套罩包括膜罩10’及接合在膜罩10’開放端的環(huán)狀基座12’。膜罩10’的厚度由開放端往封閉端漸縮，從而使得位于封閉端的紅外線窗口區(qū)102’厚度最薄，約在0.001至0.005英寸(in)之間。此種套罩膜罩10’周壁無摺痕，使用上較為舒適。然亦有其缺點，即因為膜罩10’系由開放端借材料加壓塑性變形而延展至封閉端，以使膜罩10’的厚度自0.03英寸(in)漸縮至0.0005英寸(in)，此塑性變形的距離甚長，在制造過程中品質的控制較為困難，存在良率低及成本高的缺失。
另外，我國專利公告第378750號專利的套罩亦是使膜罩表面厚度自開口端朝向封閉端逐漸變薄而為一體成型。另我國專利公告第381699號專利的套罩，其系利用吹氣成型方式將生胚吹氣形成中空套蓋，使其開口端向外延伸且厚度漸薄而形成封閉端。上述兩項專利同樣存在厚度不易控制的制程缺失，從而使感測誤差變大。其他習知相關技術如專利公告第424140號、美國專利US6254271及US4911559所揭露的技術仍然無法有效克服前述存在的缺失。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種使用舒適、制造容易、提高品質、降低成本、操作簡便的耳溫計探測套罩及其制造方法。
本發(fā)明耳溫計探測套罩包括環(huán)狀基底及以為紅外線穿透材質制成的膜罩；膜罩具有與環(huán)狀基底結合的開放部及封閉部；膜罩側壁的長度短于耳溫計探測部的長度且可變形拉伸一段距離以貼覆于探測部外。
本發(fā)明耳溫計探測套罩制造方法包括如下步驟提供環(huán)狀基底及可供紅外線穿透材質的薄膜片步驟；將環(huán)狀基底置于沖壓裝置上，并將薄膜片放于環(huán)狀基底上，令沖壓裝置沖頭向上穿過環(huán)狀基底的中空部使薄膜片凸出第一距離的一次沖頂薄膜片步驟；將薄膜片位于環(huán)狀基底上方部位往下壓使其與環(huán)狀基底結合而固結的熱壓結合步驟；令沖頭伸出第二距離以使對膜罩預拉伸的預拉伸膜罩步驟。
其中膜罩封閉部的面積大于耳溫計探測部的前端面，以使膜罩變形拉伸后封閉端與探測部前端吻合且使膜罩貼覆于探測部外。
封閉部周緣形成連續(xù)的凹凸部。
膜罩套設于探測部外而拉伸后，其周壁前段形成平滑表面而與探測部貼合，周壁中段因封閉部周緣連續(xù)凹凸部的拉伸而形成連續(xù)的長條凹凸狀。
膜罩以開放部周緣與環(huán)狀基底系以熱壓方式結合。
膜罩以開放部周緣與環(huán)狀基底系以膠黏方式結合。
提供環(huán)狀基底及薄膜片步驟中環(huán)狀基底系以射出成型方式成型。
提供環(huán)狀基底及薄膜片步驟中環(huán)狀基底系以壓出沖切成型方式成型。
熱壓結合環(huán)狀基底及薄膜片中薄膜片與環(huán)狀基底以熱壓方式結合。
熱壓結合環(huán)狀基底及薄膜片中薄膜片與環(huán)狀基底以膠黏方式結合。
熱壓結合環(huán)狀基底及薄膜片中在壓合薄膜片及環(huán)狀基底的同時，將薄膜片位于環(huán)狀基底外緣部位予以切除。
提供環(huán)狀基底及薄膜片步驟中沖頭橫截面周面系為呈連續(xù)凹凸狀。
由于本發(fā)明耳溫計探測套罩包括環(huán)狀基底及以為紅外線穿透材質制成的膜罩；膜罩具有與環(huán)狀基底結合的開放部及封閉部；膜罩側壁的長度短于耳溫計探測部的長度且可變形拉伸一段距離以貼覆于探測部外；制造方法包括提供環(huán)狀基底及可供紅外線穿透材質的薄膜片步驟；將環(huán)狀基底置于沖壓裝置上，并將薄膜片放于環(huán)狀基底上，令沖壓裝置沖頭向上穿過環(huán)狀基底的中空部使薄膜片凸出第一距離的一次沖頂薄膜片步驟；將薄膜片位于環(huán)狀基底上方部位往下壓使其與環(huán)狀基底結合而固結的熱壓結合步驟及令沖頭伸出第二距離以使對膜罩預拉伸的預拉伸膜罩步驟。使用時，本發(fā)明以其膜罩套設于耳溫計探測部外且經(jīng)過拉伸變形后，其周壁自然貼覆于探測部上而形成光滑表面，以達到具有使用舒適感的功效，并因膜罩已先經(jīng)過預拉伸處理，因此，在使用時，將本發(fā)明耳溫計探測套罩套上耳溫計的探測部作再拉伸動作時，可達到容易操作的目的。因此，本發(fā)明可有效解決習知使用不舒適及制作不易的缺點，提供品質穩(wěn)定、價格便宜且容易操作的耳溫計探測套罩。制作時，由于膜罩的預拉伸非為整體的局部延展拉伸，故在加工制造上較為容易，以確切改善習知技藝制造困難的問題，同時確保較佳的品質。另一方面，借由預拉伸膜罩步驟將膜罩預先拉伸一段距離，借以檢測環(huán)狀基底與膜罩是否熱壓固定。若存在熱壓不良時，此時，即可立即發(fā)現(xiàn)，以有效篩檢瑕疵品，不僅使良率大幅提升，同時可減輕檢測人員的工作量，甚至無須再進行不良品的檢測，故可有效降低生產(chǎn)成本。不僅使用舒適，而且制造容易、提高品質、降低成本、操作簡便，從而達到本發(fā)明的目的。


圖1、為美國專利第5163418號耳溫計探測套罩結構示意側視圖。
圖2、為美國專利第5088834號耳溫計探測套罩結構示意側視圖。
圖3、為本發(fā)明耳溫計探測套罩結構示意剖視圖。
圖4、為本發(fā)明耳溫計探測套罩結構示意俯視圖。
圖5、為本發(fā)明耳溫計探測套罩使用于耳溫計探測部分解結構示意側視圖。
圖6、為本發(fā)明耳溫計探測套罩裝設于耳溫計探測部上結構示意側視圖。
圖7、為本發(fā)明耳溫計探測套罩制造方法步驟一示意圖。
圖8、為本發(fā)明耳溫計探測套罩制造方法步驟示意圖。
圖9、為本發(fā)明耳溫計探測套罩制造方法步驟示意圖。
圖10、為本發(fā)明耳溫計探測套罩制造方法步驟示意圖。
圖11、為本發(fā)明耳溫計探測套罩制造方法步驟使用的沖頭結構示意橫剖視圖。
具體實施例方式
如圖3、圖4、圖5所示，本發(fā)明耳溫計探測套罩20包括環(huán)狀基底22及膜罩24。
膜罩24具有開放部242及封閉部244，側壁248的長度短于耳溫計30探測部32的長度。
封閉部244周緣形成連續(xù)的凹凸部246，封閉部246的面積大于耳溫計30探測部32的前端面34。
膜罩24以開放部242周緣與環(huán)狀基底22結合在一起，通常系以熱壓或膠黏方式結合。膜罩24系以可為紅外線穿透的材質制成。
使用時，如圖5、圖6所示，本發(fā)明耳溫計探測套罩20套設于耳溫計30的探測部32外，并在以其膜罩22套設于耳溫計30的探測部32上后，將膜罩22拉伸一段距離使其延展變形，如此，即形成較小的封閉部244，從而使封閉部244與探測部32的前端面34吻合，同時拉伸后的周壁248前段及后段形成平滑表面而與探測部32緊密貼合，周壁248的中段則因連續(xù)凹凸部246的拉伸而形成明顯的連續(xù)的長條凹凸狀。如此，在耳溫計30插入于人體的耳道內(nèi)量測耳溫時，因探測部32僅需利用包覆膜罩24的光滑前段插入于耳道中，故使用上非常舒適而無任何刮痛感。另外，借由膜罩24周壁248形成的長條凹凸狀可使膜罩24與耳溫計30的探測部32形成空間間隔，故可減少熱傳導。
如圖7所示，本發(fā)明耳溫計探測套罩制造時使用的裝置包括沖壓裝置40及熱壓裝置50。
沖壓裝置40具有內(nèi)設有動作結構44的沖壓臺42，動作結構44中設有可往復伸縮的沖頭46，如圖11所示，沖頭46橫截面的周面系為呈連續(xù)凹凸狀，且沖頭46的截面積大于耳溫計30探測部32的前端面34。
熱壓裝置50系設置于沖壓裝置40上方，其具有可往復伸縮并呈環(huán)形的壓具52，壓具52底部為平面且底部外周緣環(huán)設切刀54。
本發(fā)明耳溫計探測套罩制造方法包括如下步驟步驟一提供環(huán)狀基底22及薄膜片60如圖7所示，提供環(huán)狀基底22及裁剪適當大小的薄膜片60，薄膜片60系為可供紅外線穿透的材質；環(huán)狀基底22通常系以射出成型方式或壓出沖切成型方式成型，壓出沖切成型系先以壓出技術壓出薄板，再以沖模沖出所需要的形狀。
步驟二一次沖頂薄膜片60如圖8所示，將環(huán)狀基底22置于沖壓臺42上，并將薄膜片60平放于環(huán)狀基底22上，啟動沖壓裝置40，令沖頭46向上穿過環(huán)狀基底22的中空部進行一次沖頂薄膜片60，使薄膜片60凸出第一距離1X。
步驟三熱壓結合環(huán)狀基底22及薄膜片60如圖9所示，啟動熱壓裝置50，令壓具52向下伸出而將薄膜片60位于環(huán)狀基底22上方部位往下壓，使其與環(huán)狀基底22熱壓結合而固結在一起，在壓具52壓合薄膜片60及環(huán)狀基底22的同時，借由壓具52底部外周緣的切刀54將薄膜片60位于環(huán)狀基底22外緣部位予以切除，形成以熱壓方式或膠黏方式與環(huán)狀基底22結合的膜罩24。
步驟四預拉伸膜罩24如圖9所示，啟動沖壓裝置40，令沖頭46繼續(xù)向上穿過環(huán)狀基底22的中空部伸出第二距離1Y，使膜罩24凸出大于第一距離1X的第二距離1Y，以使膜罩24達到預拉伸作用。
步驟五取出耳溫計探測套罩20如圖10所示，退回熱壓裝置50的壓具52，且退回沖壓裝置40的沖頭46至第一距離1X的位置，如此，即可取出制作完成的本發(fā)明耳溫計探測套罩20的成品，以便接續(xù)重復上述制作流程。
其中，由于膜罩24的預拉伸非為整體的局部延展拉伸，故在加工制造上較為容易，以確切改善習知技藝制造困難的問題，同時確保較佳的品質。另一方面，借由預拉伸膜罩24的步驟四將膜罩24預先拉伸一段距離，借以檢測環(huán)狀基底22與膜罩24是否熱壓固定。若存在熱壓不良時，此時，即可立即發(fā)現(xiàn)，以有效篩檢瑕疵品，不僅使良率大幅提升，同時可減輕檢測人員的工作量，甚至無須再進行不良品的檢測，故可有效降低生產(chǎn)成本。又因膜罩24已先經(jīng)過預拉伸處理，因此，在使用時，將本發(fā)明耳溫計探測套罩20套上耳溫計30的探測部32作再拉伸動作時，可達到容易操作的目的。
故本發(fā)明耳溫計探測套罩20以其膜罩24套設于耳溫計30探測部32外且經(jīng)過拉伸變形后，其周壁248自然貼覆于探測部32上而形成光滑表面，以達到具有使用舒適感的功效，因此，本發(fā)明可有效解決習知使用不舒適及制作不易的缺點，提供品質穩(wěn)定、價格便宜且容易操作的耳溫計探測套罩20。
權利要求
1.一種耳溫計探測套罩，它包括環(huán)狀基底及以為紅外線穿透材質制成的膜罩；膜罩具有與環(huán)狀基底結合的開放部及封閉部；其特征在于所述的膜罩側壁的長度短于耳溫計探測部的長度且可變形拉伸一段距離以貼覆于探測部外。
2.根據(jù)權利要求1所述的耳溫計探測套罩，其特征在于所述的膜罩封閉部的面積大于耳溫計探測部的前端面，以使膜罩變形拉伸后封閉端與探測部前端吻合且使膜罩貼覆于探測部外。
3.根據(jù)權利要求1所述的耳溫計探測套罩，其特征在于所述的封閉部周緣形成連續(xù)的凹凸部。
4.根據(jù)權利要求3所述的耳溫計探測套罩，其特征在于所述的膜罩套設于探測部外而拉伸后，其周壁前段形成平滑表面而與探測部貼合，周壁中段因封閉部周緣連續(xù)凹凸部的拉伸而形成連續(xù)的長條凹凸狀。
5.根據(jù)權利要求1所述的耳溫計探測套罩，其特征在于所述的膜罩以開放部周緣與環(huán)狀基底系以熱壓方式結合。
6.根據(jù)權利要求1所述的耳溫計探測套罩，其特征在于所述的膜罩以開放部周緣與環(huán)狀基底系以膠黏方式結合。
7.一種耳溫計探測套罩制造方法，其特征在于它包括如下步驟提供環(huán)狀基底及可供紅外線穿透材質的薄膜片步驟；將環(huán)狀基底置于沖壓裝置上，并將薄膜片放于環(huán)狀基底上，令沖壓裝置沖頭向上穿過環(huán)狀基底的中空部使薄膜片凸出第一距離的一次沖頂薄膜片步驟；將薄膜片位于環(huán)狀基底上方部位往下壓使其與環(huán)狀基底結合而固結的熱壓結合步驟；令沖頭伸出第二距離以使對膜罩預拉伸的預拉伸膜罩步驟。
8.根據(jù)權利要求7所述的耳溫計探測套罩制造方法，其特征在于所述的提供環(huán)狀基底及薄膜片步驟中環(huán)狀基底系以射出成型方式成型。
9.根據(jù)權利要求7所述的耳溫計探測套罩制造方法，其特征在于所述的提供環(huán)狀基底及薄膜片步驟中環(huán)狀基底系以壓出沖切成型方式成型。
10.根據(jù)權利要求7所述的耳溫計探測套罩制造方法，其特征在于所述的熱壓結合環(huán)狀基底及薄膜片中薄膜片與環(huán)狀基底以熱壓方式結合。
11.根據(jù)權利要求7所述的耳溫計探測套罩制造方法，其特征在于所述的熱壓結合環(huán)狀基底及薄膜片中薄膜片與環(huán)狀基底以膠黏方式結合。
12.根據(jù)權利要求7所述的耳溫計探測套罩制造方法，其特征在于所述的熱壓結合環(huán)狀基底及薄膜片中在壓合薄膜片及環(huán)狀基底的同時，將薄膜片位于環(huán)狀基底外緣部位予以切除。
13.根據(jù)權利要求7所述的耳溫計探測套罩制造方法，其特征在于所述的提供環(huán)狀基底及薄膜片步驟中沖頭橫截面周面系為呈連續(xù)凹凸狀。
全文摘要
一種耳溫計探測套罩及其制造方法。為提供一種使用舒適、制造容易、提高品質、降低成本、操作簡便的診斷用器具輔助部件，提出本發(fā)明，耳溫計探測套罩包括環(huán)狀基底及以為紅外線穿透材質制成的膜罩；膜罩具有與環(huán)狀基底結合的開放部及封閉部；膜罩側壁的長度短于耳溫計探測部的長度且可變形拉伸一段距離以貼覆于探測部外；制造方法包括提供環(huán)狀基底及可供紅外線穿透材質的薄膜片、將環(huán)狀基底置于沖壓裝置上并將薄膜片放于環(huán)狀基底上且令沖壓裝置沖頭向上穿過環(huán)狀基底的中空部使薄膜片凸出第一距離的一次沖頂薄膜片、將薄膜片位于環(huán)狀基底上方部位往下壓使其與環(huán)狀基底結合而固結的熱壓結合及令沖頭伸出第二距離以使對膜罩預拉伸的預拉伸膜罩等步驟。
文檔編號G01K1/08GK1483386SQ0315340
公開日2004年3月24日 申請日期2003年8月12日 優(yōu)先權日2003年8月12日
發(fā)明者林增隆 申請人:熱映光電股份有限公司