專利名稱：片式壓電陶瓷及相關(guān)器件自動(dòng)定位測試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種對(duì)片式壓電陶瓷及相關(guān)器件如片式電容、電感、電阻及陶瓷SMD器件的自動(dòng)定位測試裝置。
背景技術(shù)：
片式壓電陶瓷是目前世界上用量很大的陶瓷材料。由片式壓電陶瓷制作封裝而成的陶瓷諧振器、濾波器、陷波器等是用途極為廣泛的電子器件。片式陶瓷是制作壓電陶瓷器件的基體，在生產(chǎn)加工的過程中需要對(duì)片式壓電陶瓷的頻率、諧振電阻、反諧振電阻、靜電容、帶寬等參數(shù)進(jìn)行檢測并分類，因此片式壓電陶瓷及相關(guān)器件的參數(shù)自動(dòng)測量分選系統(tǒng)成為生產(chǎn)中不可缺少的重要設(shè)備，而自動(dòng)定位測試裝置是測量分選系統(tǒng)的核心。目前生產(chǎn)廠家普遍使用的分選系統(tǒng)的定位測試裝置均采用直線平臺(tái)式定位測試，其工作過程是片式壓電陶瓷及相關(guān)片式器件通過螺旋送料器送至直線送料平臺(tái)，在直線送料平臺(tái)的末端設(shè)有測試位進(jìn)行定位測試。該裝置存在的問題是1、測試效率不高。隨著生產(chǎn)工藝的不斷改進(jìn)，片式壓電陶瓷及相關(guān)片式器件的引線區(qū)域越來越小，測試電極必須與之有效接觸，才能保證測試可靠。采用直線式定位測試方式，由于慣性作用，被測器件在測試位有時(shí)不能有效定位，測試電極與被測器件的引線區(qū)不能有效接觸，導(dǎo)致廢品率提高，測試效率降低。2、破損率高。由于片式壓電陶瓷及相關(guān)器件均為接觸式測試，當(dāng)被測器件定位不到位或有碎片進(jìn)入測試位時(shí)，經(jīng)常會(huì)導(dǎo)致相鄰數(shù)片破損，導(dǎo)致破損率提高。3、測試時(shí)相鄰被測器件之間影響較大。由于測試位設(shè)在直線送料平臺(tái)的末端，片式壓電陶瓷及相關(guān)器件在直線送料平臺(tái)上以自動(dòng)行進(jìn)式方式運(yùn)行，排列較緊，端面互相接觸，彼此之間影響較大，尤其是端面有引線層的器件，導(dǎo)致測試精度降低。

發(fā)明內(nèi)容本實(shí)用新型的目的是提供一種克服上述不足，測量精度高、分選速度快、破損率低、結(jié)構(gòu)簡單，對(duì)片式壓電陶瓷及相關(guān)器件的自動(dòng)定位測試裝置。
本實(shí)用新型的目的是通過以下技術(shù)方案實(shí)現(xiàn)的片式壓電陶瓷及相關(guān)器件自動(dòng)定位測試裝置，主要由送料部分和定位測試部分組成。送料部分包括螺旋送料器和直線送料平臺(tái)，其特征是螺旋送料器在驅(qū)動(dòng)電路作用下作電磁振動(dòng)，將片式器件作定向運(yùn)動(dòng)并有序排列送到直線送料平臺(tái)上，在直線送料平臺(tái)上設(shè)有螺旋送料器控制光耦，控制螺旋送料器的工作；直線送料平臺(tái)上設(shè)有由平臺(tái)下側(cè)的可調(diào)節(jié)刀口和壓塊構(gòu)成的送料槽，保證片式器件單排單層通過。定位測試部分由測試位、定位光纖傳感器、定位片、上、下測試電極等組成，其特征是在直線送料平臺(tái)的末端有一段傾斜的直線送料槽作為測試位，傾斜的直線送料槽與水平直線平臺(tái)的角度可為10∽60度，理想角度為30∽45度；作為測試位的直線送料槽處設(shè)有光纖傳感器和凸起的定位片，保證被測器件精確到位并傳送測試信號(hào)；測試位上、下兩側(cè)采用可自動(dòng)伸縮的對(duì)電極接觸片式器件并進(jìn)行測量，電極與網(wǎng)絡(luò)測試儀或振蕩器相連并與被測器件構(gòu)成回路，在計(jì)算機(jī)控制下完成參數(shù)測試。
本實(shí)用新型的進(jìn)一步改進(jìn)是與傾斜的直線送料槽相連接的水平的直線送料槽末端設(shè)有吸氣孔，測試時(shí)能吸住排列在水平直線送料槽末端的片式器件，避免后續(xù)器件對(duì)已在測試位的待測器件的影響。本改進(jìn)特別適用于較小體積的片式壓電陶瓷及相關(guān)器件，如SMD陶瓷器件的測試。
本實(shí)用新型的工作過程是螺旋送料器在驅(qū)動(dòng)電路作用下作電磁振動(dòng)，將被測器件作定向運(yùn)動(dòng)并有序排列送至直線送料平臺(tái)上，直線送料平臺(tái)在驅(qū)動(dòng)電路作用下作定向振動(dòng)，將被測器件送至傾斜的直線送料槽內(nèi)的檢測位，定位光纖傳感器檢測到被測器件時(shí)，將檢測信號(hào)傳輸給計(jì)算機(jī)，計(jì)算機(jī)通過PCL控制電路使直線送料平臺(tái)停止振動(dòng)，被測器件在慣性及自身重力作用下被凸起的定位片擋住，恰好停留在測試位，此時(shí)計(jì)算機(jī)控制上、下電極動(dòng)作，將被測器件夾持住并打開測試閘門進(jìn)行測量。對(duì)于小型片式器件，計(jì)算機(jī)同時(shí)控制吸氣電路工作，將在直線送料平臺(tái)末端的被測器件吸住，避免滑落影響在測器件的測量。測試完畢后，上電極迅速脫離，下電極將被測器件輕頂?shù)交纼?nèi)后收回，落片完畢后，直線送料平臺(tái)開始振動(dòng)，將下一片送至測試位，重復(fù)上次動(dòng)作。
本實(shí)用新型與現(xiàn)有的技術(shù)相比，其顯著優(yōu)點(diǎn)是1、采用傾斜式的測位，實(shí)現(xiàn)了被測器件的片間分離，大大提高了測試精度，降低了被測器件的破損率。2、采用高精度光纖定位，定位精確。3、采用行進(jìn)式自動(dòng)送料方式，分選速度快。4、結(jié)構(gòu)簡單，調(diào)整方便。
四

以下結(jié)合附圖和實(shí)施例對(duì)實(shí)用新型作進(jìn)一步詳述圖1是本實(shí)用新型結(jié)構(gòu)示意圖，圖2是本實(shí)用新型直線送料平臺(tái)結(jié)構(gòu)示意圖，螺旋送料器(1)、螺旋送料器控制光耦(2)、壓塊(3)、輸送槽靠板、驅(qū)動(dòng)氣缸(5)、吸氣孔(17)、上電極(7)、定位光纖(8)、直線送料平臺(tái)(9)、定位片(10)、下電極(11)、滑道(12)、片式壓電陶瓷及相關(guān)器件(13)、下刀口(14)、下部墊塊(15)、驅(qū)動(dòng)氣缸(16)、驅(qū)動(dòng)氣缸(16)、測位(18)。
具體實(shí)施方式
片式壓電陶瓷及相關(guān)器件在圖1中螺旋送料器(1)的振動(dòng)下作定向運(yùn)動(dòng)并有序排列至直線送料平臺(tái)(9)上，在直線送料平臺(tái)(9)的入口端設(shè)有螺旋送料器控制光耦(2)，當(dāng)控制光耦感應(yīng)到被測器件時(shí)，螺旋送料器(1)停止工作，保證被測器件在螺旋送料器中不致過多的磨損。片式壓電陶瓷及相關(guān)器件(13)在直線送料平臺(tái)(9)定向振動(dòng)下，通過由壓塊(3)及下刀口(14)構(gòu)成的輸送槽，被送到直線送料平臺(tái)末端傾斜的直線送料槽內(nèi)的測試位，當(dāng)定位光纖(8)感應(yīng)到被測器件時(shí)，直線送料平臺(tái)(9)在計(jì)算機(jī)控制下停止振動(dòng)，被測器件(13)被凸起的定位片(10)擋住，恰好停在測試位上，此時(shí)上電極(7)在驅(qū)動(dòng)氣缸(5)的作用下先行下壓，與被測器件的上表面電極接觸，下電極(11)在驅(qū)動(dòng)氣缸(16)的作用下后行與被測器件的下表面電極接觸，上、下電極分別與外接電路相連構(gòu)成測試回路，此時(shí)測試閘門打開進(jìn)行測試，被測器件的參數(shù)同步顯示在顯示器或網(wǎng)絡(luò)分析儀上。測試完畢后，上電極(7)先行與被測器件分離，下電極(11)將被測器件輕頂?shù)交?12)后收回，完成一片被測器件的測試，此時(shí)直線送料平臺(tái)在計(jì)算機(jī)的控制下開始振動(dòng)，將下一片被測器件送至測試位，重復(fù)上述定位測試過程。
對(duì)于小型片式器件，當(dāng)定位光纖(8)感應(yīng)到被測物體時(shí)，計(jì)算機(jī)同時(shí)控制吸氣電路工作，在圖2中的吸氣孔(17)產(chǎn)生負(fù)壓，將直線送料平臺(tái)末端的一片被測器件吸住，避免滑落影響在測器件的測量。
在圖1中，直線送料平臺(tái)(9)安裝在與水平面成一定傾角的振動(dòng)基座上，其傾斜角度可為10-80度，理想角度為30-60度。
在圖1中，上電極(7)與下電極(11)分別由1-5根帶有彈性的金屬測試針構(gòu)成，其排列間距與被測器件的引線腳間距一致。
在圖2中，傾斜的直線送料槽與水平直線平臺(tái)的角度可為10∽60度，理想角度為30∽45度。
權(quán)利要求1.片式壓電陶瓷及相關(guān)器件自動(dòng)定位測試裝置，由送料部分和定位測試部分組成，送料部分包括螺旋送料器和直線送料平臺(tái)，螺旋送料器在驅(qū)動(dòng)電路作用下作電磁振動(dòng)，將片式器件作定向運(yùn)動(dòng)并有序排列送到直線送料平臺(tái)上；直線送料平臺(tái)上設(shè)有由平臺(tái)下側(cè)的可調(diào)節(jié)刀口和壓塊構(gòu)成的送料槽，保證片式器件單排單層通過；定位測試部分由測試位、定位光纖傳感器、定位片、上、下測試電極組成，測試位上、下兩側(cè)采用可自動(dòng)伸縮的對(duì)電極接觸片式器件并進(jìn)行測量，其特征是在直線送料平臺(tái)的末端有一段傾斜的直線送料槽作為測試位，傾斜的直線送料槽與水平直線平臺(tái)的角度為10∽60度，作為測試位的直線送料槽處設(shè)有光纖傳感器和凸起的定位片。
2.由權(quán)利要求1所述的片式壓電陶瓷及相關(guān)器件自動(dòng)定位測試裝置，其特征是傾斜的直線送料槽與水平直線平臺(tái)的角度優(yōu)選30∽45度；
3.由權(quán)利要求1所述的片式壓電陶瓷及相關(guān)器件自動(dòng)定位測試裝置，其特征是與傾斜的直線送料槽相連接的水平的直線送料槽末端設(shè)有吸氣孔。
4.由權(quán)利要求1所述的片式壓電陶瓷及相關(guān)器件自動(dòng)定位測試裝置，其特征是直線送料平臺(tái)(9)的下側(cè)安裝有可調(diào)節(jié)的刀口(14)，通過旋轉(zhuǎn)調(diào)節(jié)手柄(4)調(diào)整刀口的高度，保證片式器件單層通過送料平臺(tái)。
5.由權(quán)利要求1所述的片式壓電陶瓷及相關(guān)器件自動(dòng)定位測試裝置，其特征是直線送料平臺(tái)亦安裝在與水平面成一定傾角的振動(dòng)基座上，其傾斜角度可為10-80度，理想角度為30-60度。
6.由權(quán)利要求1所述的片式壓電陶瓷及相關(guān)器件自動(dòng)定位測試裝置，其特征是直線送料平臺(tái)(9)的入口端設(shè)有螺旋送料器控制光耦(2)，當(dāng)控制光耦感應(yīng)到被測器件時(shí)，螺旋送料器(1)停止工作。
7.由權(quán)利要求1所述的片式壓電陶瓷及相關(guān)器件自動(dòng)定位測試裝置，其特征是測試電極的上電極(7)與下電極(11)分別由1-5根帶有彈性的金屬測試針構(gòu)成，壓力可調(diào)，保證與被測器件能有效接觸，其排列間距與被測器件的引線腳間距一致。
專利摘要片式壓電陶瓷及相關(guān)器件自動(dòng)定位測試裝置，由送料部分和定位測試部分組成，送料部分包括螺旋送料器和直線送料平臺(tái)，直線送料平臺(tái)上設(shè)有由平臺(tái)下側(cè)的可調(diào)節(jié)刀口和壓塊構(gòu)成的送料槽，保證片式器件單排單層通過；定位測試部分由測試位、定位光纖傳感器、定位片、上、下測試電極組成，在直線送料平臺(tái)的末端有一段傾斜的直線送料槽作為測試位，傾斜的直線送料槽與水平直線平臺(tái)的角度為10～60度，作為測試位的直線送料槽處設(shè)有光纖傳感器和凸起的定位片。本實(shí)用新型采用傾斜式的測位，實(shí)現(xiàn)了被測器件的片間分離，大大提高了測試精度，降低了被測器件的破損率。采用行進(jìn)式自動(dòng)送料方式，分選速度快；結(jié)構(gòu)簡單，調(diào)整方便。
文檔編號(hào)G01B7/02GK2716805SQ0327889
公開日2005年8月10日 申請日期2003年9月29日 優(yōu)先權(quán)日2003年9月29日
發(fā)明者徐華軍, 肖歧, 陳曉爭, 周月萍 申請人:南京熊貓儀器儀表有限公司