專利名稱:便攜智能集成電路在線離線測試儀的制作方法
本實(shí)用新型屬于集成電路測試儀的技術(shù)領(lǐng)域：
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目前，各種集成電路的使用，在電子工業(yè)中已越來越普及化，然而，這些電子設(shè)備一但發(fā)生故障，要在幾十個(gè)甚至幾百個(gè)集成電路中找到損壞的那個(gè)集成塊，并且要知道是哪一只引腳的功能出現(xiàn)故障，這是一件很不容易的事，即使拿目前工廠里使用離線集成電路測試儀檢測，也很不方便，因?yàn)檫@種儀器體積較大，只能固立在某處使用，不能攜帶，因此，當(dāng)某一臺(tái)設(shè)備出現(xiàn)故障時(shí)，要把該設(shè)備搬到這個(gè)測試儀旁來，然后逐個(gè)取下各個(gè)集成電路進(jìn)行測試，這樣不但費(fèi)工、費(fèi)事，而且使用起來也很不方便。
本實(shí)用新型的發(fā)明目的就是針對(duì)以上存在的問題而設(shè)計(jì)制造了一種便攜智能集成電路在線、離線測試儀，即不但輕巧便攜，而且智能化、數(shù)字化、在線離線都能測試。在線測試采用比較法、離線測試采用比較法和直接測試法。
本實(shí)用新型的測試儀主要由中央處理器CPU(7)、接口電路A(8)、接口電路B(9)，讀寄存器EPROM(10)，顯示器(11)、電源(12)、被測電路(1)、電平鑒別(2)、標(biāo)準(zhǔn)電路(3)、電平變換電路(4)、邏輯比較電路(5)、記憶電路(6)所組成。中央處理器CPU(7)分別與電平鑒別電路(2)、讀寄存器EPROM(10)、接口電路A(8)、接口電路B(9)聯(lián)接。電平變換電路(4)分別與接口電路A(8)、被測電路(1)、標(biāo)準(zhǔn)電路(3)聯(lián)接。邏輯比較電路(5)分別與記憶電路(6)、標(biāo)準(zhǔn)電路(3)、電平鑒別電路(2)、被測電路(1)及接口電路B(9)聯(lián)接，接口電路B(9)還同時(shí)與記憶電路(6)，讀寄存器EPROM(10)及接口電路A(8)聯(lián)接，此外，顯示器直接與接口電路A(8)聯(lián)接，被測電路(1)分別同電平鑒別電路(2)和標(biāo)準(zhǔn)電路(3)聯(lián)接。
在線測試時(shí)，該機(jī)采用比較法進(jìn)行測試，中央處理器CPC(7)控制接口B(9)，不斷采集記憶電路(6)發(fā)出的測試結(jié)果信號(hào)，如果采集到被測電路(1)與標(biāo)準(zhǔn)電路(3)輸出邏輯不同時(shí)，中央處理器CPU(7)將以接口B(9)采集到的信號(hào)轉(zhuǎn)變成數(shù)碼，控制接口A(8)，并驅(qū)動(dòng)顯示電路(11)，顯示出邏輯功能不合格的引腳號(hào)碼。
離線測試有兩種方法，一種是采用比較法，另一種是采用直接測試法，當(dāng)采用比較法測試時(shí)，中央處理器CPU(7)從接口B(9)采集到方式信號(hào)后，控制接口A(8)產(chǎn)生測試程序信號(hào)，經(jīng)電平變換電路(4)后，同時(shí)送給被測電路(1)和標(biāo)準(zhǔn)電路(3)，被測電路的輸出經(jīng)電平鑒別電路(2)后與標(biāo)準(zhǔn)電路(3)同時(shí)送入邏輯比較電路(5)，進(jìn)行邏輯正常與否的鑒別，如果被測電路(1)與標(biāo)準(zhǔn)電路(3)邏輯不相同時(shí)，由記憶電路(6)把邏輯功能不正常的輸出記錄下來。中央處理器CPU(7)在測試程序信號(hào)發(fā)送完畢后控制接口B(9)，從記憶電路(6)中采集出錯(cuò)的信息，如果記憶電路(6)中有出錯(cuò)的信息，中央處理器CPU(7)將其轉(zhuǎn)換成數(shù)碼，通過接口A驅(qū)動(dòng)顯示電路(11)以顯示出出錯(cuò)的引腳號(hào)碼。當(dāng)離線測試采用直接測試法的時(shí)候，中央處理器CPU(7)從接口B(9)采集到方式信號(hào)后，控制接口電路A(8)產(chǎn)生測試程序信號(hào)，經(jīng)電平變換電路(4)后送至被測電路(1)。同時(shí)，中央處理器CPU(7)控制接口電路B(9)，采集被測電路(1)輸出的邏輯信號(hào)，中央處理器CPU(7)以被測電路輸出單元?dú)w類進(jìn)行真值壓縮，同時(shí)以讀寄存器EPROM(10)中取出標(biāo)準(zhǔn)值與其進(jìn)行比較，如果有不相符的，中央處理器CPU(7)將算出有故障的引腳號(hào)碼，控制顯示器(11)顯示出有故障的引腳號(hào)碼。
采用本實(shí)用新型的測試儀，不僅輕巧便攜，而且無論是采用在線測試或離線測試都能將出現(xiàn)故障的引腳號(hào)碼顯示出來，因此使用起來十分方便，迅速，準(zhǔn)確。此外，本儀器在存貯器用量的設(shè)計(jì)上由于采用了“真值計(jì)算技術(shù)”，按輸出單元?dú)w類壓縮被測電路所輸出的“真值表”，這樣大大降低了占用存貯器的容量，使得該儀器的硬件簡單，成本降低，體積縮小，能廣泛地應(yīng)用于各種場合。
圖1是本實(shí)用新型的電路框圖。
圖2是本新型的具體電路圖。
中央處理器cpu(7)采用Z80A芯片作為本實(shí)用新型的主控器件，其接口的A0～A15與讀寄存器EPROM(10)相對(duì)應(yīng)的口相連，同時(shí)A0～A3還同時(shí)與接口B(9)相連接，其接口D0～D9同時(shí)與讀寄存器(10)和接口B(9)相對(duì)應(yīng)的口相連。讀寄存器(10)采用集成塊EPROM2732其內(nèi)存為4K。接口A(8)及接口B(9)均采用標(biāo)準(zhǔn)接口芯片8255，其中接口電路A(8)的B口與顯示器(11)直接相連，C口與測試方式選擇開關(guān)相連，A口與記憶電路(6)相連接；接口B(9)的A口與電平鑒別(2)的輸出端及邏輯比較(5)的輸入端連接，B口和C口與電平變換(4)相連。顯示器(11)采用八段LED字碼管。電平鑒別電路(2)使用集成電路LM339，其輸入端接被測電路(1)，其輸出端接邏輯比較(5)和接口B(9)的輸入端。電平變換(4)采用電子開關(guān)CC4066(雙向模擬開關(guān))其輸入端與接口B(9)相連，輸出端與被測電路(1)及標(biāo)準(zhǔn)電路(3)相連。(被測電路及標(biāo)準(zhǔn)電路都是外電路)邏輯比較電路(5)采用集成塊LS86與非 門電組合面成，其輸入端分別與電平鑒別(2)和標(biāo)準(zhǔn)電路(3)相連，其輸出端接記憶電路(6)。記憶電路(6)用了3塊LS79所組成，其輸出端與接口A(8)中的A口相連。為了減少體積，印刷電路板采用兩層雙面印刷電路，并自帶干電池。根據(jù)以上所述，將其組合即成本實(shí)用新型的便攜智能集成電路在線、離線測試儀。
權(quán)利要求
1.一種集成電路測試儀，包括電平變換電路(4)、邏輯比效電路(5)、記憶電路(6)，其特征在于該儀器還由中央處理器cpu(7)、接口A(8)、接口B(9)、讀寄存器(10)、顯示器(11)、被測電路(1)、電平鑒別電路(2)、標(biāo)準(zhǔn)電路(3)所組成，中央處理器cpu(7)采用Z80A，接口B(9)采用標(biāo)準(zhǔn)接口芯片8255，讀寄存器(10)采取EPROM2732，中央處理器cpu(7)的接口A0～A15直接與讀寄存器(10)相連。其接口D0～D9同時(shí)與讀寄存器(10)及接口A(8)和接口B(9)相連接，記憶電路(6)采用3塊LS279集成電路組成，其輸入端與邏輯比較電路(5)的輸出端相連，接口A(8)的B口直接與顯示器(11)相連。C口直接與測試方式選擇開關(guān)相連。接口B(9)中的A口與電平鑒別(2)的輸出端及邏輯比較(5)的輸入端連接。其B口和C口與電平變換(4)相連。電平變換(4)采用電子開關(guān)CC4066，電平鑒別(2)采用LM339，邏輯比較(5)采用LS86。
專利摘要
本實(shí)用新型是用于集成電路測試的儀器，這種儀器采用微處理機(jī)的技術(shù)，因此，使該儀器智能化、數(shù)字化，無論是在線測試還是離線測試，都能將出現(xiàn)故障的引腳號(hào)碼用數(shù)字顯示出來。本儀器在線測試采用比較法，離線測試采用比較法或直接測試法進(jìn)行檢測，中央微處理電路采用Z80CPU芯片，并直接同接口電路聯(lián)接并產(chǎn)生測試程序，其結(jié)構(gòu)簡單，操作方便。
文檔編號(hào)G01R31/28GK87206369SQ87206369
公開日1988年4月6日 申請(qǐng)日期1987年4月9日
發(fā)明者屠錫瑜, 李珍寶 申請(qǐng)人:屠錫瑜, 李珍寶導(dǎo)出引文BiBTeX, EndNote, RefMan