專利名稱:一種石英晶體諧振器的測試裝置制造方法
【專利摘要】本實用新型公開了一種石英晶體諧振器的測試裝置,它包括裝置本體(1)、測試臺(2)、兩個測試頭(4),所述的裝置本體(1)包括底座(5)和頂部支架(6),所述的頂部支架(6)上設(shè)置有與測試頭(4)相配合的矩形槽(7),所述的測試臺(2)底部設(shè)置有與其相配合的滑軌(3),滑軌(3)的底部固定安裝在底座(5)上,所述的測試頭(4)設(shè)置于矩形槽(7)內(nèi);所述的底座(5)內(nèi)部設(shè)置有測試電路。本實用新型進行測試的時候,待測石英晶體諧振器放置在測試臺(2)上,通過滑軌(3)調(diào)節(jié)測試臺(2)的位置,通過矩形槽(7)調(diào)節(jié)測試頭(4)的距離,可以對不同大小形狀的待測石英晶體諧振器進行測試。
【專利說明】一種石英晶體諧振器的測試裝置
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實用新型涉及一種石英晶體諧振器的測試裝置。
【背景技術(shù)】
[0002]石英晶體振蕩器,石英諧振器簡稱為晶振,它是利用具有壓電效應(yīng)的石英晶體片制成的。這種石英晶體薄片受到外加交變電場的作用時會產(chǎn)生機械振動,當交變電場的頻率與石英晶體的固有頻率相同時,振動便變得很強烈,這就是晶體諧振特性的反應(yīng)。利用這種特性,就可以用石英諧振器取代LC(線圈和電容)諧振回路、濾波器等。由于石英諧振器具有體積小、重量輕、頻率的準確性高及穩(wěn)定性高的特點,在現(xiàn)代電子行業(yè)如通訊、電腦、娛樂設(shè)備及其它我們所涉及的領(lǐng)域是不可缺少的一部分。
[0003]在石英晶體振蕩器的生產(chǎn)過程中,測試是不可缺少的一道工序,然而現(xiàn)有的對石英晶體諧振器的測試中,不能提供一種可以針對不同大小的石英晶體振蕩器進行測試的測試裝置。
實用新型內(nèi)容
[0004]本實用新型的目的在于克服現(xiàn)有技術(shù)的不足,提供一種測試臺和測試頭可以調(diào)節(jié)位置的石英晶體諧振器的測試裝置,解決現(xiàn)有技術(shù)無法對不同大小的石英晶體諧振器進行測試的問題。
[0005]本實用新型的目的是通過以下技術(shù)方案來實現(xiàn)的:一種石英晶體諧振器的測試裝置,它包括裝置本體、測試臺、兩個測試頭,所述的裝置本體包括底座和頂部支架,所述的頂部支架上設(shè)置有與測試頭相配合的矩形槽,所述的測試臺底部設(shè)置有與其相配合的滑軌,滑軌的底部固定安裝在底座上,所述的測試頭設(shè)置于矩形槽內(nèi);所述的底座內(nèi)部設(shè)置有測試電路。
[0006]所述的測試電路包括輸入衰減器和輸出衰減器,所述的輸入衰減器依次與待檢測石英晶體諧振器Yl和輸出衰減器串聯(lián)。
[0007]所述的輸入衰減器包括電阻R1、電阻R2和電阻R3,所述的電阻R2與電阻R3串聯(lián)后與電阻Rl并聯(lián),電阻R2與電阻R3接地。
[0008]所述的輸出衰減器包括電阻R4、電阻R5和電阻R6,所述的電阻R5與電阻R6串聯(lián)后與電阻R4并聯(lián),電阻R5與電阻R6接地。
[0009]所述的測試電路還包括電容Cl、電容C2和電容C3,所述的電容Cl、電容C2和電容C3為由石英晶體諧振器插座和引線引入的雜散電容。
[0010]本實用新型的有益效果是:本實用新型進行測試的時候,待測石英晶體諧振器放置在測試臺上,通過滑軌調(diào)節(jié)測試臺的位置,通過矩形槽調(diào)節(jié)測試頭的距離,可以對不同大小形狀的待測石英晶體諧振器進行測試。
【附圖說明】
[0011]圖1為本實用新型外部結(jié)構(gòu)示意圖。
[0012]圖2為本實用新型內(nèi)部測試電路結(jié)構(gòu)圖。
[0013]圖中,1-裝置本體,2-測試臺,3-滑軌,4-測試頭,5-底座,6_支架,7_矩形槽。
【具體實施方式】
[0014]下面結(jié)合附圖進一步詳細描述本實用新型的技術(shù)方案,但本實用新型的保護范圍不局限于以下所述。
[0015]如圖1所示,一種石英晶體諧振器的測試裝置,它包括裝置本體1、測試臺2、兩個測試頭4,所述的裝置本體I包括底座5和頂部支架6,所述的頂部支架6上設(shè)置有與測試頭4相配合的矩形槽7,所述的測試臺2底部設(shè)置有與其相配合的滑軌3,滑軌3的底部固定安裝在底座5上,所述的測試頭4設(shè)置于矩形槽7內(nèi);所述的底座5內(nèi)部設(shè)置有測試電路。
[0016]所述的測試電路包括輸入衰減器和輸出衰減器,所述的輸入衰減器依次與待檢測石英晶體諧振器Yl和輸出衰減器串聯(lián)。
[0017]所述的輸入衰減器包括電阻R1、電阻R2和電阻R3,所述的電阻R2與電阻R3串聯(lián)后與電阻Rl并聯(lián),電阻R2與電阻R3接地。
[0018]所述的輸出衰減器包括電阻R4、電阻R5和電阻R6,所述的電阻R5與電阻R6串聯(lián)后與電阻R4并聯(lián),電阻R5與電阻R6接地。
[0019]所述的測試電路還包括電容Cl、電容C2和電容C3,所述的電容Cl、電容C2和電容C3為由待測石英晶體諧振器與測試臺2的接觸部位和引線引入的雜散電容。
[0020]進行測試的時候,待測石英晶體諧振器放置在測試臺2上,通過滑軌3調(diào)節(jié)測試臺2的位置,通過矩形槽7調(diào)節(jié)測試頭4的距離,可以對不同大小的待測石英晶體諧振器進行測試。
【權(quán)利要求】
1.一種石英晶體諧振器的測試裝置,其特征在于:它包括裝置本體(I)、測試臺(2)、兩個測試頭(4),所述的裝置本體(I)包括底座(5)和頂部支架(6),所述的頂部支架(6)上設(shè)置有與測試頭(4)相配合的矩形槽(7),所述的測試臺(2)底部設(shè)置有與其相配合的滑軌(3),滑軌(3)的底部固定安裝在底座(5)上,所述的測試頭(4)設(shè)置于矩形槽(7)內(nèi);所述的底座(5)內(nèi)部設(shè)置有測試電路。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種石英晶體諧振器的測試裝置,其特征在于:所述的測試電路包括輸入衰減器和輸出衰減器,所述的輸入衰減器依次與待檢測石英晶體諧振器Yl和輸出衰減器串聯(lián)。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種石英晶體諧振器的測試裝置,其特征在于:所述的輸入衰減器包括電阻R1、電阻R2和電阻R3,所述的電阻R2與電阻R3串聯(lián)后與電阻Rl并聯(lián),電阻R2與電阻R3接地。4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種石英晶體諧振器的測試裝置,其特征在于:所述的輸出衰減器包括電阻R4、電阻R5和電阻R6,所述的電阻R5與電阻R6串聯(lián)后與電阻R4并聯(lián),電阻R5與電阻R6接地。5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種石英晶體諧振器的測試裝置,其特征在于:所述的測試電路還包括電容Cl、電容C2和電容C3,所述的電容Cl、電容C2和電容C3為由待測石英晶體諧振器與測試臺(2)的接觸部位和引線引入的雜散電容。
【文檔編號】G01R31-00GK204269741SQ201420696164
【發(fā)明者】楊溢 [申請人]東晶銳康晶體(成都)有限公司