專利名稱：測試光學(xué)模塊的裝置與方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明有關(guān)于一種測試光學(xué)模塊的方法及裝置，特別用在測試圖像提取裝置的光學(xué)模塊的方法及裝置。
背景技術(shù)：
圖像提取裝置其原理是將光線照射至欲獲取圖像的物體上，光線反射回來后由光學(xué)模塊接收，并將光學(xué)信號(hào)轉(zhuǎn)換為模擬信號(hào)，最后再轉(zhuǎn)換為計(jì)算機(jī)可以顯示、編輯、儲(chǔ)存和輸出的數(shù)字格式。其中圖像是指照片、文字頁、圖形和插畫等，甚至如硬幣或紡織品等三維物件都算是圖像的一種。
由于光學(xué)模塊是確保圖像質(zhì)量的重要關(guān)鍵，因此在圖像提取裝置出廠之前的測試中都會(huì)有測試光學(xué)模塊的項(xiàng)目，以確保圖像質(zhì)量。請參閱圖1a、1b，圖像提取裝置100包含一視窗玻璃102(window glass)及一光學(xué)模塊103。公知技術(shù)中測試光學(xué)模塊方法的說明請參閱圖2，公知技術(shù)中測試光學(xué)模塊方法為在圖像提取裝置100組裝完畢(步驟201)；在視窗玻璃102上放置一測試圖101(test chart)(步驟202)；啟動(dòng)圖像提取裝置100(步驟203)；光學(xué)模塊103移動(dòng)(步驟204)，并通過測試圖(test chart)101；提取測試圖101的圖像(步驟205)；獲得圖像圖(image graph)(步驟206)；比較測試圖101及圖像圖(步驟207)；判斷圖像圖是否多一亮線(步驟208)；當(dāng)圖像圖較測試圖101多出亮線時(shí)，則可知該光學(xué)模塊103具有缺陷(步驟209)。
然而，由于是在光學(xué)模塊103在圖像提取裝置100組裝完成后進(jìn)行測試，因此當(dāng)判斷光學(xué)模塊103具有缺陷時(shí)，必須拆解整個(gè)圖像提取裝置100，檢視光學(xué)模塊103以分析缺陷來源。而拆解裝置耗時(shí)耗人力、效率低。除此之外，組裝圖像提取裝置100屬后段制造程序，因此當(dāng)發(fā)現(xiàn)光學(xué)模塊103具有缺陷，則同批使用同樣條件、機(jī)臺(tái)制造出的光學(xué)模塊亦有缺陷的疑慮，必須整批追回以進(jìn)行詳盡的測試，費(fèi)時(shí)費(fèi)力亦不符合經(jīng)濟(jì)效益。

發(fā)明內(nèi)容
鑒于上述公知技術(shù)中的測試光學(xué)模塊的缺點(diǎn)，本發(fā)明提出一種測試光學(xué)模塊的方法及裝置，在一光學(xué)模塊制成時(shí)即可測試光學(xué)模塊。
本發(fā)明的一方面提供一種測試光學(xué)模塊的方法，在一光學(xué)模塊制成后即可測試光學(xué)模塊，可提早發(fā)現(xiàn)具有缺陷的光學(xué)模塊及造成缺陷的來源，提高經(jīng)濟(jì)效益。
本發(fā)明的另一方面是提供一種光學(xué)模塊測試裝置，可使一光學(xué)模塊即裝即測，精確并有效率測試光學(xué)模塊，具有高經(jīng)濟(jì)效益。
依據(jù)本發(fā)明具體實(shí)施例的測試光學(xué)模塊方法，使用一光學(xué)模塊測試裝置以測試一光學(xué)模塊。測試光學(xué)模塊方法將光學(xué)模塊固定在光學(xué)模塊測試裝置，再移動(dòng)一測試圖使測試圖通過光學(xué)模塊，以提取測試圖的圖像而獲得一圖像圖，最后判斷光學(xué)模塊是否具有缺陷。
依據(jù)本發(fā)明具體實(shí)施例的光學(xué)模塊測試裝置，包含一裝載單元及一驅(qū)動(dòng)單元。其中裝載單元用于固定一光學(xué)模塊；驅(qū)動(dòng)單元用以移動(dòng)一測試圖，使測試圖通過光學(xué)模塊，以提取測試圖的圖像而獲得一圖像圖，判斷光學(xué)模塊是否具有缺陷。


圖1a為圖像提取裝置的俯視圖；圖1b為圖像提取裝置的側(cè)視圖；圖2為公知技術(shù)的測試光學(xué)模塊的流程圖；圖3a為本發(fā)明的光學(xué)模塊測試裝置的俯視圖；圖3b、3c為本發(fā)明的光學(xué)模塊測試裝置的圖(圖3a為I至I′切面圖，圖3b為II至II′切面圖)；圖4為本發(fā)明的測試光學(xué)模塊的流程圖；圖5a、b為測試6a、b為測試光學(xué)模塊所得的圖像圖附圖元件符號(hào)說明100圖像提取裝置 101，301測試圖102視窗玻璃 103，303光學(xué)模塊300光學(xué)模塊測試裝置 305黑色區(qū)域307白色區(qū)域 309裝載單元
311驅(qū)動(dòng)單元 313手插排線315控制單元 316馬達(dá)317轉(zhuǎn)軸 318皮帶319測試平臺(tái) 320連接單元具體實(shí)施方式
本發(fā)明是一種測試光學(xué)模塊的方法及裝置，在一光學(xué)模塊制成時(shí)即可進(jìn)行光學(xué)模塊測試，以免除公知技術(shù)中須拆解整個(gè)圖像提取裝置100所需的人力及時(shí)間，符合經(jīng)濟(jì)效益。
依據(jù)本發(fā)明具體實(shí)施例的測試光學(xué)模塊方法使用一種光學(xué)模塊測試裝置300以測試一光學(xué)模塊303，請參閱圖3a、3b，該光學(xué)模塊測試裝置300包含一裝載單元309及一驅(qū)動(dòng)單元311。本發(fā)明具體實(shí)施例的測試光學(xué)模塊方法請參閱圖4，以獲得詳細(xì)的說明。測試光學(xué)模塊方法首先固定光學(xué)模塊303在光學(xué)模塊測試裝置300上(步驟401)，以裝載單元309容納并承載光學(xué)模塊303在光學(xué)模塊測試裝置300上，使得光學(xué)模塊303固定并與光學(xué)模塊測試裝置300電氣連接。其后啟動(dòng)光學(xué)模塊測試裝置300(步驟402)。通過驅(qū)動(dòng)單元311，移動(dòng)測試圖301，并使測試圖301通過光學(xué)模塊303(步驟403)。當(dāng)測試圖301通過光學(xué)模塊303時(shí)，光學(xué)模塊303提取測試像(步驟404)以獲得一圖像圖(步驟405)。提取圖像過程是光線照射至測試圖301，再經(jīng)反射后由光學(xué)模塊303接收并將模擬信號(hào)解讀后，模擬信號(hào)再轉(zhuǎn)成數(shù)字信號(hào)送至光學(xué)模塊測試裝置300。
在制造圖像提取裝置的過程中，因機(jī)器耗損及人為疏失等原因，造成光學(xué)模塊303具有缺陷。光學(xué)模塊303的缺陷包含落在光學(xué)模塊303鏡面上的灰塵(mirror dust)，諸如毛絲、白點(diǎn)、黑點(diǎn)、印痕等，以及鏡面亮點(diǎn)、氣孔等質(zhì)量缺陷。這種缺陷對提取到的圖像造成影響，一般會(huì)在圖像上留下一條亮線，影響圖像提取的質(zhì)量。
因此，如圖5所示，本發(fā)明所使用的測試圖301至少包含一黑色區(qū)域305(圖5a)，或是兼具黑色區(qū)域305(圖5a)與一白色區(qū)域307(圖5b)，當(dāng)光學(xué)模塊303具有缺陷時(shí)，例如灰塵諸如毛絲、白點(diǎn)、黑點(diǎn)、印痕等落在光學(xué)模塊303鏡片上，或鏡片本身具有亮點(diǎn)、氣孔等質(zhì)量缺陷時(shí)，光線照射至測試圖301，再經(jīng)反射后由具有缺陷的光學(xué)模塊303接收將形成一亮點(diǎn)，因此當(dāng)測試圖301黑色區(qū)域305通過該光學(xué)模塊303時(shí)，將在所得的圖像黑色區(qū)域上形成亮線。測試光學(xué)模塊303所得的圖像圖參見圖6a、6b，圖6a是正常的光學(xué)模塊303所得的圖像圖，圖6b是異常的光學(xué)模塊303所得的圖像圖，圖6b箭頭所指為光學(xué)模塊303異常所造成的亮線。在獲得圖像圖后(步驟405)，比較測試圖及圖像圖(步驟406)，判斷圖像圖是否多亮線(步驟407)，例如由肉眼或機(jī)械判斷該圖像圖是否較測試圖301多亮線。較佳實(shí)施例采用一具有黑色區(qū)域305與白色區(qū)域307相鄰的測試圖301，此時(shí)圖像圖的亮線尤為明顯。
當(dāng)圖像圖較測試圖301多出亮線時(shí)，則光學(xué)模塊303異常，具有缺陷(步驟408)，將光學(xué)模塊303拔出光學(xué)模塊測試裝置300，則可替換光學(xué)模塊303(步驟409)以進(jìn)行下一次測試。反之，圖像圖較測試圖301無亮線，則表示光學(xué)模塊303正常(步驟410)，組裝圖像提取裝置(步驟411)則可出貨(步驟412)。使用本發(fā)明的測試光學(xué)模塊方法，在光學(xué)模塊303制成后即可進(jìn)行測試，因此當(dāng)光學(xué)模塊303具有缺陷時(shí)，僅需將光學(xué)模塊303拔出，即可進(jìn)行下一次光學(xué)模塊的測試，以進(jìn)行一連串測試光學(xué)模塊。如此可免除公知技術(shù)拆解整個(gè)圖像提取裝置100所需的人力及時(shí)間，并可提早發(fā)現(xiàn)具有缺陷的光學(xué)模塊及造成缺陷的來源，以減少制造操作所做的努力，借此降低工時(shí)，提高經(jīng)濟(jì)效益。
相較于公知技術(shù)中測試光學(xué)模塊方法移動(dòng)光學(xué)模塊103使光學(xué)模塊103通過測試圖101，獲得圖像圖。與其不同，本發(fā)明光學(xué)模塊測試以固定光學(xué)模塊303，移動(dòng)測試圖301使測試圖301通過光學(xué)模塊303以獲得圖像圖。若圖像圖較測試圖301多出亮線，即光學(xué)模塊具有缺陷時(shí)，公知技術(shù)須拆除圖像提取裝置100(步驟210)，替換光學(xué)模塊103(步驟211)，并再組裝成圖像提取裝置100以進(jìn)行下一次測試光學(xué)模塊，至光學(xué)模塊正常(步驟212)才可出貨(步驟213)。與其不同，本發(fā)明在光學(xué)模塊303具有缺陷時(shí)僅需將光學(xué)模塊303拔出以替換光學(xué)模塊303，并插入另一個(gè)光學(xué)模塊，當(dāng)光學(xué)模塊測試正常即組裝成圖像提取裝置并出貨。此為本發(fā)明與公知技術(shù)明顯區(qū)別之處。
依據(jù)本發(fā)明具體實(shí)施例的光學(xué)模塊測試裝置，請參閱圖3a、3b，以獲得詳細(xì)的說明。光學(xué)模塊測試裝置300包含一裝載單元309、一傳動(dòng)單元311。裝載單元309用于容納并承載光學(xué)模塊303，連接光學(xué)模塊303及光學(xué)模塊測試裝置300，使得光學(xué)模塊303固定并與光學(xué)模塊測試裝置300電氣連接，例如以一手插排線313電氣連接光學(xué)模塊303與光學(xué)模塊測試裝置300。
驅(qū)動(dòng)單元311作為移動(dòng)測試圖301之用，驅(qū)動(dòng)單元311在一具體實(shí)施例中包含一馬達(dá)316、一轉(zhuǎn)軸317、一皮帶318及一可移動(dòng)式測試平臺(tái)319。馬達(dá)316及轉(zhuǎn)軸317帶動(dòng)皮帶318，皮帶318以一連接單元320連接皮帶318及可移動(dòng)式測試平臺(tái)319，則當(dāng)皮帶318移動(dòng)時(shí)帶動(dòng)可移動(dòng)式測試平臺(tái)319運(yùn)動(dòng)，使測試平臺(tái)319上置放的測試圖301移動(dòng)。當(dāng)測試圖301通過光學(xué)模塊303，則測試圖301的圖像得以被提取而形成一圖像圖。其中，測試圖301包含一黑色區(qū)域305，當(dāng)光學(xué)模塊303具有缺陷時(shí)，比較測試圖301及圖像圖，則可明顯觀察到一亮線在圖像圖的黑色區(qū)域。測試圖301較佳實(shí)施例包含黑色區(qū)域305(圖5a)及一白色區(qū)域307(圖5b)時(shí)，具有缺陷的光學(xué)模塊303使得圖像圖的黑色區(qū)域與白色區(qū)域相鄰處的亮線尤為明顯。
本發(fā)明具體實(shí)施例的光學(xué)模塊測試裝置還包含一控制單元315以記錄并執(zhí)行圖像比較。控制單元315記錄圖像圖并比較測試圖301及圖像圖，當(dāng)控制單元315讀取到一連續(xù)白色數(shù)據(jù)，則控制單元315送出光學(xué)模塊303具有缺陷的信號(hào)，此時(shí)的圖像圖較測試圖301多亮線。參見圖6，圖6a是正常的光學(xué)模塊303所得的圖像圖，圖6 b是異常的光學(xué)模塊303所得的圖像圖。
使用本發(fā)明的光學(xué)模塊測試裝置300可精確并有效率測試光學(xué)模塊303，當(dāng)光學(xué)模塊303具有缺陷時(shí)，僅需將光學(xué)模塊303與裝載單元309連接處拆除即可拆卸光學(xué)模塊303，以利進(jìn)行下一次測試。而公知技術(shù)是將測試圖101置于待測試的圖像提取裝置100上，以獲得圖像圖，當(dāng)光學(xué)模塊103具有缺陷時(shí)須拆解整個(gè)圖像提取裝置100，以檢視光學(xué)模塊103。因此，本發(fā)明的光學(xué)模塊測試裝置300提供一個(gè)可使光學(xué)模塊303即裝即測的裝置，可免除公知技術(shù)拆解整個(gè)圖像提取裝置100的缺點(diǎn)，可減少所需的人力及時(shí)間。
本發(fā)明通過參考不同的實(shí)施例描述如上，本領(lǐng)域的技術(shù)人員會(huì)認(rèn)識(shí)到，若干一般的替換無疑地亦不脫離本發(fā)明的精神及范疇。然而，不能以其限定本發(fā)明的范圍，即依本發(fā)明所揭示的構(gòu)思所進(jìn)行的等效變化或修改，仍應(yīng)涵蓋在本發(fā)明的范圍內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種測試光學(xué)模塊的方法，利用具有一裝載單元的一光學(xué)模塊測試裝置及一測試圖，該方法包含下列步驟將該光學(xué)模塊固定在該裝載單元內(nèi)；移動(dòng)該測試圖使該測試圖通過該光學(xué)模塊，以提取該測試圖的圖像而獲得一圖像圖；以及比較該測試圖及該圖像圖，以判斷該光學(xué)模塊是否具有缺陷。
2.如權(quán)利要求1所述的方法，其中該測試圖包含一黑色區(qū)域。
3.如權(quán)利要求2所述的方法，其中比較該測試圖及該圖像圖的步驟中，當(dāng)該圖像圖較該測試圖多一亮線時(shí)，則表示該光學(xué)模塊具有缺陷。
4.如權(quán)利要求1所述的方法，其中該光學(xué)模塊可由該裝載單元拔出。
5.如權(quán)利要求2所述的方法，其中該測試圖還包含與該黑色區(qū)域相鄰的一白色區(qū)域。
6.一種光學(xué)模塊測試裝置，應(yīng)用于測試一光學(xué)模塊，該裝置包含一裝載單元，用于容納該光學(xué)模塊；以及一驅(qū)動(dòng)單元，用以移動(dòng)一測試圖，使該測試圖通過該光學(xué)模塊，以提取該測試圖的圖像而獲得一圖像圖，以判斷該光學(xué)模塊是否具有缺陷。
7.如權(quán)利要求6所述的光學(xué)模塊測試裝置，其中該測試圖包含一黑色區(qū)域。
8.如權(quán)利要求7所述的光學(xué)模塊測試裝置，其中判斷該光學(xué)模塊是否具有缺陷比較該測試圖及該圖像圖，當(dāng)該圖像圖較該測試圖多一亮線時(shí)，則表示該光學(xué)模塊具有缺陷。
9.如權(quán)利要求7所述的光學(xué)模塊測試裝置，該裝置還包含一控制單元，用以記錄該圖像圖并判斷該光學(xué)模塊是否具有缺陷。
10.如權(quán)利要求9所述的光學(xué)模塊測試裝置，其中判斷該光學(xué)模塊是否具有缺陷用該控制單元比較該測試圖及該圖像圖，當(dāng)該圖像圖較該測試圖多一亮線時(shí)，則表示該光學(xué)模塊具有缺陷。
11.如權(quán)利要求8所述，其中該測試圖還包含與該黑色區(qū)域相鄰的一白色區(qū)域。
全文摘要
本發(fā)明有關(guān)于測試光學(xué)模塊的方法及裝置。本發(fā)明的方法使用一光學(xué)模塊測試裝置以測試一光學(xué)模塊，該方法包含將光學(xué)模塊固定在光學(xué)模塊測試裝置，再移動(dòng)一測試圖使測試圖通過光學(xué)模塊，以獲得一圖像圖，判斷光學(xué)模塊是否具有缺陷。本發(fā)明的光學(xué)模塊測試裝置用于測試一光學(xué)模塊，該裝置包含一裝載單元以及一驅(qū)動(dòng)單元。其中裝載單元用于固定光學(xué)模塊；驅(qū)動(dòng)單元用以移動(dòng)一測試圖，使測試圖通過光學(xué)模塊，獲得一圖像圖以判斷光學(xué)模塊是否具有缺陷。
文檔編號(hào)G01N21/896GK1621817SQ20031011795
公開日2005年6月1日 申請日期2003年11月26日 優(yōu)先權(quán)日2003年11月26日
發(fā)明者馮勇 申請人:明基電通股份有限公司