專利名稱：Ccd像元光譜響應均勻性定標裝置的制作方法
技術領域：
本實用新型涉及一種CCD像元光譜響應均勻性定標裝置。
背景技術：
目前，在靜態(tài)干涉光譜成像儀中采用的是面陣CCD探測器。從該探測器的每一幀輸出數(shù)據(jù)中，得到的是一維空間圖像數(shù)據(jù)和一維光譜圖像數(shù)據(jù)。為了保證探測器輸出數(shù)據(jù)的精度，必須對探測器各像元之間光譜響應的均勻性進行定標。測量CCD光譜響應均勻性的方法稱作小光點注入法。該方法是將CCD置于X、Y移動臺上，接通電源；用透鏡將光源聚焦成小于被測量CCD像元尺寸的小光點；將小光點調在位于X、Y移動臺的CCD的某一像元上；通過數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)采集該像元的響應數(shù)據(jù)；移動X、Y移動臺，使小光點聚焦在CCD的另一像元上，并采集、測量該像元的響應數(shù)據(jù)。用小光點注入法可測量CCD各光敏元響應的非均勻性和最大偏差。但是，由于光源光譜的限制，采用小光點注入法只能測量CCD各光敏元白光響應的非均勻性，而無法測量不同波長光譜的響應。
實用新型內容本實用新型解決了背景技術中無法測量不同波長光譜響應的技術問題。
本實用新型的技術解決方案是一種CCD像元光譜響應均勻性定標裝置，包括激光器1和計算機6，其特殊之處在于它還包括積分球9，所述的激光器1設置于積分球9的入口3處，所述的激光器1與積分球9之間設置有激光功率穩(wěn)定器2；所述積分球9的測量口4處設置有與計算機6相連的光譜輻射計5，所述積分球9的測量口8處設置有與計算機6相連的待測CCD7。
上述激光器1可以是干涉光譜成像儀光譜范圍內不同波長的激光器。
上述待測CCD7以與積分球9的測量口8平行為宜。
本實用新型具有以下優(yōu)點1.可測量面陣CCD各像元光譜響應的均勻性與最大偏差；2.光源光譜不受限制。在干涉光譜成像儀光譜范圍內，可選擇不同波長激光器做單色光源，從而可測量不同波長光譜的響應；3.選擇美國產(chǎn)LPC-VIS型激光功率控制器，其穩(wěn)定精度可至0.05％max；4.使用積分球可在其出口B處得到均勻的面光源，其面均勻性應優(yōu)于2％。
附圖為本實用新型的結構示意圖。
具體實施方式
本實用新型的激光器1設于積分球9的入口3處，激光器1與積分球9之間設置有激光功率穩(wěn)定器2，積分球9的測量口4處設置有與計算機6相連的光譜輻射計5，積分球9的測量口8處設置有與計算機6相連的待測CCD7。在干涉光譜成像儀光譜范圍內，本實用新型可選擇不同波長的激光器做單色光源。待測CCD7以與積分球9的測量口8平行為宜。由激光器1射出的激光束通過激光功率穩(wěn)定器2后，成為功率穩(wěn)定的光束。該光束由積分球9的入口3處進入積分球9，在其測量口8處形成均勻度優(yōu)于2％的均勻面源。通過計算機6、待測CCD7構成的CCD數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)采集各像元的響應值DXY(λi)；同時，通過光譜輻射計5測量積分球9測量口4處的光譜輻亮度值B(λi)，該值與測量口8處的光譜輻亮度值相等。更換另一種波長的激光器，重復上述操作。比較各像元的DXY(λi)值，即可得到不同波長時各像元的響應均勻性和最大偏差。將DXY(λi)進行歸一化處理得到DXY(λi)/B(λi)，從而得到各項元的光譜響應。
權利要求1.一種CCD像元光譜響應均勻性定標裝置，包括激光器(1)和計算機(6)，其特征在于它還包括積分球(9)，所述的激光器(1)設置于積分球(9)的入口(3)處，所述的激光器1與積分球(9)之間設置有激光功率穩(wěn)定器(2)；所述積分球(9)的測量口(4)處設置有與計算機(6)相連的光譜輻射計(5)，所述積分球(9)的測量口(8)處設置有與計算機(6)相連的待測CCD(7)。
2.如權利要求1所述的CCD像元光譜響應均勻性定標裝置，其特征在于所述的激光器(1)是干涉光譜成像儀光譜范圍內不同波長的激光器。
3.如權利要求1或2所述的CCD像元光譜響應均勻性定標裝置，其特征在于所述的待測CCD(7)與積分球(9)的測量口(8)平行。
專利摘要一種CCD像元光譜響應均勻性定標裝置，其激光器設置于積分球的入口處，激光器與積分球之間設置有激光功率穩(wěn)定器；積分球的一測量口處設置有與計算機相連的光譜輻射計，其另一測量口處設置有與計算機相連的待測CCD。本實用新型解決了背景技術中無法測量不同波長光譜響應的技術問題，其可測量面陣CCD各像元光譜響應的均勻性與最大偏差，光源光譜不受限制，在干涉光譜成像儀光譜范圍內，可選擇不同波長激光器做單色光源，從而可測量不同波長光譜的響應。
文檔編號G01M11/00GK2718553SQ200320109869
公開日2005年8月17日 申請日期2003年12月25日 優(yōu)先權日2003年12月25日
發(fā)明者相里斌, 王忠厚, 李立英, 黃旻 申請人:中國科學院西安光學精密機械研究所