專利名稱：用圖標(biāo)顯示測(cè)試點(diǎn)直流電壓的裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種測(cè)試電路板的儀器，尤其涉及一種測(cè)試電路板測(cè)試點(diǎn)直流電壓的儀器。
背景技術(shù)：
電子行業(yè)在生產(chǎn)電路板時(shí)，往往有不少測(cè)試點(diǎn)需要調(diào)整它的直流電平到工藝要求的某個(gè)范圍，目前電子行業(yè)在調(diào)整測(cè)試點(diǎn)的直流電平時(shí)，僅用通用電壓測(cè)量?jī)x器(如數(shù)字電壓表、指針表等)作為顯示，調(diào)整到工藝規(guī)定范圍即可。如果測(cè)試點(diǎn)的電壓用數(shù)字電壓表顯示，由于數(shù)字表數(shù)字的快速閃變，使操做者很難在短時(shí)期內(nèi)準(zhǔn)確判斷被測(cè)電壓是否合格，導(dǎo)致調(diào)試速度慢。如果用指針表顯示則精度不夠。這兩種方式的缺點(diǎn)是電壓顯示不直觀，導(dǎo)致調(diào)試速度慢。

發(fā)明內(nèi)容本實(shí)用新型的主要目的是提供一種用圖標(biāo)顯示測(cè)試點(diǎn)直流電壓的裝置，提高調(diào)試精度和速度。
為實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型提出的技術(shù)方案是一種用圖標(biāo)顯示測(cè)試點(diǎn)直流電壓的裝置，包括內(nèi)部嵌有測(cè)試電壓程序的微處理器1、與微處理器1相連的用于存儲(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)電壓范圍的存儲(chǔ)器2、與微處理器1相連的A/D轉(zhuǎn)換器3和與微處理器1相連的用于顯示測(cè)試結(jié)果的顯示裝置5，所述A/D轉(zhuǎn)換器3包含有用于外接被測(cè)試電路板的輸入通道4。
還包括用于切換測(cè)試模式和學(xué)習(xí)模式的模式切換鍵SW1，所述微處理器1的模式輸入腳通過(guò)上拉電阻接電源，所述模式切換鍵SW1連接在微處理器1的模式輸入腳和地之間。
還包括用于在學(xué)習(xí)模式狀態(tài)下確定輸入電壓中心值的捕捉電壓按鍵SW3，所述微處理器1的標(biāo)準(zhǔn)電壓輸入腳通過(guò)上拉電阻接電源，所述捕捉電壓按鍵SW3連接在微處理器1的標(biāo)準(zhǔn)電壓輸入腳和地之間。
還包括用于在學(xué)習(xí)模式狀態(tài)下確定輸入的標(biāo)準(zhǔn)電壓的精度范圍的精度選擇鍵SW2，所述微處理器1的精度輸入腳通過(guò)上拉電阻接電源，所述精度選擇鍵SW2連接在微處理器1的精度輸入腳和地之間。
還包括量程選擇電路6，所述量程選擇電路6的輸入端與微處理器1的量程指令輸入腳相連，輸出端通過(guò)繼電器的吸合與釋放作用于輸入通道4的雙向開關(guān)，所述雙向開關(guān)被吸合時(shí)接通通過(guò)限流電阻進(jìn)行電壓衰減的支路，被釋放時(shí)接通無(wú)衰減支路。
本實(shí)用新型測(cè)試原理是將被測(cè)試點(diǎn)的電壓輸入微處理器，微處理器從存儲(chǔ)器中讀取標(biāo)準(zhǔn)電壓與輸入電壓值進(jìn)行比較，如果被測(cè)試電壓處于標(biāo)準(zhǔn)電壓的范圍內(nèi)，則用合格圖標(biāo)在顯示屏上顯示，如果被測(cè)試電壓不在標(biāo)準(zhǔn)電壓的范圍內(nèi)，則合格圖標(biāo)不顯示。
為適應(yīng)不同被測(cè)電壓標(biāo)準(zhǔn)，本實(shí)用新還設(shè)計(jì)了學(xué)習(xí)模式，當(dāng)微處理器接受模式鍵的觸發(fā)時(shí)，切換到學(xué)習(xí)模式；將被測(cè)試點(diǎn)的電壓輸入微處理器；微處理器接受捕捉電壓鍵的觸發(fā)記錄輸入電壓作為標(biāo)準(zhǔn)電壓的中心值；微處理器讀取精度選擇鍵的設(shè)定，確定輸入電壓的誤差范圍；將標(biāo)準(zhǔn)電壓的中心值與誤差范圍相加計(jì)算出標(biāo)準(zhǔn)電壓；將標(biāo)準(zhǔn)電壓和量程狀態(tài)存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器中。
本實(shí)用新型的有益效果是本實(shí)用新型通過(guò)將測(cè)試結(jié)果直觀顯示，方便于工作人員的判斷，提高了工作效率，同時(shí)減少了人為判斷的誤差，精確度提高。當(dāng)測(cè)試時(shí)如果未發(fā)現(xiàn)顯示屏上有圖標(biāo)出現(xiàn)，則調(diào)節(jié)被測(cè)試點(diǎn)的電壓值，直到有圖標(biāo)出現(xiàn)在顯示屏上。
本實(shí)用新型的特征及優(yōu)點(diǎn)將通過(guò)實(shí)施例結(jié)合附圖進(jìn)行詳細(xì)說(shuō)明。

圖1表示本實(shí)用新型的電路方框圖；圖2表示本實(shí)用新型的電路圖；圖3表示本實(shí)用新型的測(cè)試流程圖。
具體實(shí)施方式如圖2所示為本實(shí)用新型的電路圖，微處理器1為單片機(jī)89C51，存儲(chǔ)器2為使用I2C總線協(xié)議讀寫的掉電數(shù)據(jù)不丟失的EEPROM存儲(chǔ)器，SCL腳為時(shí)鐘總線，SDA腳為數(shù)據(jù)總線，分別接到單片機(jī)的P3.1腳和P3.0腳，通過(guò)這兩個(gè)腳完成對(duì)存儲(chǔ)器的讀寫，在這里用于保存2個(gè)電壓區(qū)間值，和繼電器的狀態(tài)信息。A/D轉(zhuǎn)換器3與單片機(jī)相連，本實(shí)施例包括兩個(gè)輸入通道IN1、IN2，A/D轉(zhuǎn)換器3的ADDA腳的邏輯電平?jīng)Q定轉(zhuǎn)換哪個(gè)通道(IN1或IN2)的模擬電壓。兩個(gè)輸入通道的衰減及控制電路是一樣的，從單片機(jī)的P1.2腳輸出的控制電平經(jīng)由三極管Q1組成的射隨器和三極管Q3組成的反相器去控制繼電器K1，當(dāng)繼電器K1的簧片與左邊觸點(diǎn)相接通時(shí)，通道1的輸入電壓經(jīng)R08、R09分壓衰減后輸入到A/D轉(zhuǎn)換器，當(dāng)繼電器K1簧片與右邊觸點(diǎn)相接通時(shí)輸入的電壓直接輸入到A/D轉(zhuǎn)換器。
單片機(jī)的模式輸入腳、標(biāo)準(zhǔn)電壓輸入腳和精度輸入腳分別通過(guò)上拉電阻R03、R04、R05接+5V電源，所述模式切換鍵SW1連接在微處理器1的模式輸入腳和地之間，所述捕捉電壓按鍵SW3連接在微處理器1的標(biāo)準(zhǔn)電壓輸入腳和地之間，所述精度選擇鍵SW2、SW4連接在微處理器1的精度輸入腳和地之間，每個(gè)鍵的電路形式一樣。當(dāng)模式切換鍵SW1被按下閉合時(shí)，則單片機(jī)89C51的P3.3腳即模式輸入腳輸入低電平，如果模式切換鍵SW1鍵松開，則由于上拉電阻R03的阻值較小，5V經(jīng)上拉電阻R03輸入到單片機(jī)89C51的P3.3腳。精度選擇鍵SW2、SW4和捕捉電壓按鍵SW3進(jìn)行切換的原理與模式切換鍵SW1進(jìn)行切換的原理相同。
本實(shí)施例中，顯示器為液晶顯示屏，顯示合格指示符和電壓區(qū)間值。
本實(shí)用新型的功能是顯示被測(cè)電壓是否在設(shè)定的電壓區(qū)間內(nèi)，是則在液晶顯示屏上顯示合格指示符，否則合格指示符消失。本實(shí)用新型的工作過(guò)程是打開電源自動(dòng)進(jìn)入測(cè)試模式，測(cè)試模式下不斷輪流測(cè)量輸入到通道IN1、IN2的電壓是否分別在電壓區(qū)間1、電壓區(qū)間2上，并顯示出結(jié)果。按學(xué)習(xí)模式鍵進(jìn)入學(xué)習(xí)模式，此時(shí)再往兩個(gè)通道輸入標(biāo)準(zhǔn)電壓(比如通道1輸入的標(biāo)準(zhǔn)電壓為3.2V，通道2輸入的標(biāo)準(zhǔn)電壓為2.4V)，然后按捕捉鍵把這兩個(gè)電壓記錄下來(lái)，這兩個(gè)電壓決定兩個(gè)電壓區(qū)間的中值，而后自動(dòng)返回測(cè)試模式。本實(shí)用新型允許輸入電壓范圍為0～50V，內(nèi)部根據(jù)電壓值通過(guò)繼電器切換自動(dòng)選擇量程，進(jìn)入學(xué)習(xí)模式時(shí)先自動(dòng)選擇大量程(例如經(jīng)10比1電阻衰減)，輸入被測(cè)電壓后按捕捉鍵后先捕捉一次電壓，判是否低于5V，如果是則切換到不經(jīng)衰減直通的電路，然后再捕捉一次電壓以此為標(biāo)準(zhǔn)記錄下來(lái)，這樣可提高測(cè)量精度，如果高于5V則直接記錄經(jīng)衰減器后的電壓值，同時(shí)也記錄下繼電器的狀態(tài)，測(cè)試模式下繼電器也在此狀態(tài)下。電壓區(qū)間范圍(電壓容許誤差)的大小可通過(guò)精度選擇鍵調(diào)整，兩個(gè)精度選擇鍵SW2、SW4各負(fù)責(zé)一個(gè)通道的設(shè)置。共分1～4級(jí)精度，每按一次精度選擇鍵精度提高一級(jí)，在第4級(jí)下如果再按一下將返回到第1級(jí)，比如當(dāng)前2個(gè)通道都處于第1級(jí)，其容許正負(fù)偏差值(精度)為正負(fù)0.1V，再與上面所述捕捉下來(lái)的電壓相加，得到電壓區(qū)間1為3.1-3.3V，電壓區(qū)間2為2.3V-2.5V。測(cè)試模式下輸入到通道1的電壓只有在3.1V-3.3V之間時(shí)合格指示符1才出現(xiàn)在顯示屏上，輸入到通道2的電壓只有在2.3V-2.5V之間合格指示符2才出現(xiàn)。
本實(shí)用新型通過(guò)單片機(jī)實(shí)現(xiàn)，可靠性較高。對(duì)于測(cè)試電路板的其他參數(shù)(例如元件的阻值、容值)也可用此裝置實(shí)現(xiàn)。
權(quán)利要求1.一種用圖標(biāo)顯示測(cè)試點(diǎn)直流電壓的裝置，其特征在于包括內(nèi)部嵌有測(cè)試電壓程序的微處理器(1)、與微處理器(1)相連的用于存儲(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)電壓范圍的存儲(chǔ)器(2)、與微處理器(1)相連的A/D轉(zhuǎn)換器(3)和與微處理器(1)相連的用于顯示測(cè)試結(jié)果的顯示裝置(5)，所述A/D轉(zhuǎn)換器(3)包含有用于外接被測(cè)試電路板的輸入通道(4)。
2.如權(quán)利要求1所述的用圖標(biāo)顯示測(cè)試點(diǎn)直流電壓的裝置，其特征在于還包括用于切換測(cè)試模式和學(xué)習(xí)模式的模式切換鍵(SW1)，所述微處理器(1)的模式輸入腳通過(guò)上拉電阻接電源，所述模式切換鍵(SW1)連接在微處理器(1)的模式輸入腳和地之間。
3.如權(quán)利要求2所述的用圖標(biāo)顯示測(cè)試點(diǎn)直流電壓的裝置，其特征在于還包括用于在學(xué)習(xí)模式狀態(tài)下確定輸入電壓中心值的捕捉電壓按鍵(SW3)，所述微處理器(1)的標(biāo)準(zhǔn)電壓輸入腳通過(guò)上拉電阻接電源，所述捕捉電壓按鍵(SW3)連接在微處理器(1)的標(biāo)準(zhǔn)電壓輸入腳和地之間。
4.如權(quán)利要求2或3所述的用圖標(biāo)顯示測(cè)試點(diǎn)直流電壓的裝置，其特征在于還包括用于在學(xué)習(xí)模式狀態(tài)下確定輸入的標(biāo)準(zhǔn)電壓的精度范圍的精度選擇鍵(SW2、SW4)，所述微處理器(1)的精度輸入腳通過(guò)上拉電阻接電源，所述精度選擇鍵(SW2、SW4)連接在微處理器(1)的精度輸入腳和地之間。
5.如權(quán)利要求1所述的用圖標(biāo)顯示測(cè)試點(diǎn)直流電壓的裝置，其特征在于還包括量程選擇電路(6)，所述量程選擇電路(6)的輸入端與微處理器(1)的量程指令輸入腳相連，輸出端通過(guò)繼電器的吸合與釋放作用于輸入通道(4)的雙向開關(guān)，所述雙向開關(guān)被吸合時(shí)接通通過(guò)限流電阻進(jìn)行電壓衰減的支路，被釋放時(shí)接通無(wú)衰減支路。
6.如權(quán)利要求1至3中任一項(xiàng)所述的用圖標(biāo)顯示測(cè)試點(diǎn)直流電壓的裝置，其特征在于所述輸入通道(4)包括一組或一組以上的輸入通道。
7.如權(quán)利要求4所述的用圖標(biāo)顯示測(cè)試點(diǎn)直流電壓的裝置，其特征在于所述輸入通道(4)包括一組或一組以上的輸入通道。
8.如權(quán)利要求7所述的用圖標(biāo)顯示測(cè)試點(diǎn)直流電壓的裝置，其特征在于所述輸入通道(4)包括第一、二輸入通道(IN1、IN2)兩組。
9.如權(quán)利要求8所述的用圖標(biāo)顯示測(cè)試點(diǎn)直流電壓的裝置，其特征在于所述精度選擇鍵(SW2、SW4)為兩組，分別控制第一、二輸入通道(IN1、IN2)。
專利摘要本實(shí)用新型涉及電路板的測(cè)試儀器，公開了一種用圖標(biāo)顯示測(cè)試點(diǎn)直流電壓的裝置，包括內(nèi)部嵌有測(cè)試電壓程序的微處理器1、與微處理器1相連的用于存儲(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)電壓范圍的存儲(chǔ)器2、與微處理器1相連的A/D轉(zhuǎn)換器3和與微處理器1相連的用于顯示測(cè)試結(jié)果的顯示裝置5，所述A/D轉(zhuǎn)換器3包含有用于外接被測(cè)試電路板的輸入通道4。本實(shí)用新型將測(cè)試結(jié)果直觀顯示，方便于工作人員的判斷，提高了工作效率，同時(shí)減少了人為判斷的誤差，精確度提高。
文檔編號(hào)G01R19/155GK2682424SQ20032011971
公開日2005年3月2日 申請(qǐng)日期2003年12月26日 優(yōu)先權(quán)日2003年12月26日
發(fā)明者吳偉, 楊軍治, 卓成鈺 申請(qǐng)人:深圳創(chuàng)維－Rgb電子有限公司