專利名稱：絕緣設(shè)備診斷系統(tǒng)和局部放電探測方法
本申請是申請日為1997年12月8日、名稱為“絕緣設(shè)備診斷系統(tǒng)和局部放電探測方法”、申請?zhí)枮?7125433.8的申請的分案申請。
近幾年來，由于電力設(shè)施安裝在遠(yuǎn)處，或者由于城市供電增長，必須要加強(qiáng)變電站設(shè)施。為滿足這些需求，諸如氣體絕緣斷路器或變壓器的氣體絕緣設(shè)備已經(jīng)得到推廣和使用，諸如隔離開關(guān)或斷路器的變電站設(shè)備安裝在一個(gè)有優(yōu)良絕緣和滅弧能力的SF6氣體的密封容器中，以改善對(duì)環(huán)境的適應(yīng)性，并且減少每kVA的安裝體積。這類氣體絕緣設(shè)備的優(yōu)點(diǎn)是它的緊湊性和它取消了接地箱體外露的充電單元，但是，它的缺點(diǎn)是由于高性能造成維護(hù)性診斷的困難，增加了維護(hù)和修理工作的時(shí)間周期，以及內(nèi)部不正常時(shí)絕緣可靠性明顯下降。采用油絕緣的變壓器或者采用固體絕緣的電纜由于設(shè)備尺寸加大，或者輸電距離加大，也會(huì)造成類似的問題。
為了改進(jìn)絕緣設(shè)備整體上的絕緣可靠性，在設(shè)備的合理設(shè)計(jì)和制造方面，已經(jīng)作了常規(guī)上的各種努力。作為對(duì)供電能力的一種改進(jìn)，需要確認(rèn)和監(jiān)視整個(gè)設(shè)備的可靠性，并且已經(jīng)進(jìn)行了各種研究和調(diào)查。
絕緣可靠性下降的一個(gè)原因是不均勻電場。特別是用在氣體絕緣設(shè)備中的SF6氣體在均勻電場中顯示出特別優(yōu)良的絕緣特性，但是在不均勻電場下絕緣特性極度下降。干擾氣體絕緣設(shè)備中電場分布的因素可以是例如高壓導(dǎo)體表面的裂縫，或者是在裝配或運(yùn)輸過程中金屬雜質(zhì)已經(jīng)進(jìn)入內(nèi)部等缺陷。其它可能的因素是由于裝配錯(cuò)誤使高壓導(dǎo)體不完善接觸，或者是例如絕緣墊片中有空隙等缺陷。如果由于這些缺陷，在氣體絕緣設(shè)備中建立了一個(gè)不均勻電場，運(yùn)行中就可能造成局部放電，導(dǎo)致諸如整個(gè)電路破壞的嚴(yán)重情況。有必要在整個(gè)電路破壞以前可靠地探測局部放電，以便事先防止此類破壞。從這一背景出發(fā)，已經(jīng)檢查了一些用來探測出現(xiàn)在氣體絕緣設(shè)備和任意絕緣設(shè)備中局部放電的萬法。
在這些方法中，有一種方法是探測由于局部放電所產(chǎn)生的電磁波，它是在日本專利Laid-Open 107174/1989號(hào)中所公開的。依據(jù)這一方法，提供一種診斷系統(tǒng)，包括許多元線電頻率段分量的輸入信號(hào)由裝在絕緣設(shè)備上的天線接收，頻譜分析儀在強(qiáng)度上對(duì)每一個(gè)頻率擴(kuò)展。所以，在分布圖形和大小的基礎(chǔ)上只探測局部放電存在/不存在。另一種診斷系統(tǒng)是在日本專利Laid-Open 260868/1995號(hào)中公開的。在這種系統(tǒng)中，從頻譜的分布和強(qiáng)度中判斷局部放電存在/不存在，以及缺陷的類型，因此，在用頻譜分析儀擴(kuò)展的強(qiáng)度頻譜中，給予諸如電壓相位角等周期性參數(shù)一個(gè)固定頻率的強(qiáng)度。
本發(fā)明的目的是提供一種絕緣設(shè)備診斷系統(tǒng)和局部放電探測方法，它能夠在設(shè)備不同結(jié)構(gòu)和電路，以及局部放電出現(xiàn)在不同位置情況下精確地探測局部放電。
為了達(dá)到上述目的，根據(jù)本發(fā)明提供的絕緣設(shè)備診斷系統(tǒng)包括裝在絕緣設(shè)備上的一個(gè)天線；一個(gè)圖形發(fā)生器用于接收來自天線的局部放電信號(hào)并且產(chǎn)生圖形，該圖形通過同步元素在多個(gè)分析頻率下與時(shí)間同步；神經(jīng)計(jì)算機(jī)或指紋印記方法操作單元用于操作由圖形發(fā)生器產(chǎn)生的圖形；和一個(gè)判斷單元用于從操作單元的操作結(jié)果，診斷出設(shè)備的不正常程度，老化或者壽命。此外，為了規(guī)定被探測的特定頻率，也測量探測信號(hào)的頻率分量的分布。此外，如果絕緣設(shè)備是氣體絕緣斷路器，從裝在氣體絕緣斷路器不同位置上的多個(gè)天線來的局部放電信號(hào)同步地單獨(dú)測量，從相同頻率之間圖形的頻譜圖形或從強(qiáng)度比率便可以確定局部放電的位置。
此外，根據(jù)本發(fā)明提供的局部放電探測方法包括的步驟有從輸入端輸入局部放電信號(hào)；產(chǎn)生圖形，該圖形通過同步元素在多個(gè)分析頻率下與時(shí)間同步；以及從所產(chǎn)生的圖形和強(qiáng)度來診斷設(shè)備的不正常程度，老化或壽命。
進(jìn)一步提供的局部放電探測方法包括的步驟有從輸入端輸入局部放電信號(hào)；確定強(qiáng)度，其中，用FFT或者頻譜分析儀將局部放電信號(hào)中每一個(gè)頻率擴(kuò)展，選擇出具有高強(qiáng)度的多個(gè)特定頻率，探測局部放電信號(hào)中每一頻率的強(qiáng)度，選擇出強(qiáng)度超過預(yù)先規(guī)定值的多個(gè)特定頻率，或者從多個(gè)特定頻率中選出具有最高強(qiáng)度的頻率；產(chǎn)生圖形，該圖形通過同步元素在多個(gè)分析頻率下與時(shí)間同步；和處理至少一個(gè)圖形，或者將該圖形顯示在屏幕上，來探測局部放電。
進(jìn)一步提供的局部放電探測方法包括的步驟有從輸入端輸入局部放電信號(hào)；產(chǎn)生圖形，該圖形通過同步元素在多個(gè)分析頻率下與時(shí)間同步；準(zhǔn)備采樣數(shù)據(jù)，通過將不同頻率的圖形平均得到的平均數(shù)據(jù)或已知數(shù)據(jù)與各圖形差分，或者通過差分由裝在不同地點(diǎn)的天線所探測到的圖形在相同頻率之間的強(qiáng)度來進(jìn)行；和從所準(zhǔn)備的采樣數(shù)據(jù)的強(qiáng)度或圖形來診斷設(shè)備的不正常程度，老化或壽命。
此外，通過神經(jīng)或指紋印記方法處理圖形，可以診斷設(shè)備的不正常程度或類型，老化或壽命。


圖1為示出本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例的絕緣設(shè)備診斷系統(tǒng)結(jié)構(gòu)的圖；圖2為示出圖1所示絕緣設(shè)備診斷系統(tǒng)的一種修正結(jié)構(gòu)的圖；圖3為示出圖1所示絕緣設(shè)備診斷系統(tǒng)一種修正結(jié)構(gòu)的圖；圖4為示出圖1所示絕緣設(shè)備診斷系統(tǒng)一種修正結(jié)構(gòu)的圖；圖5為示出本發(fā)明的另一個(gè)實(shí)施例的絕緣設(shè)備診斷系統(tǒng)結(jié)構(gòu)的圖；圖6為示出圖5所示絕緣設(shè)備診斷系統(tǒng)一種修正結(jié)構(gòu)的圖；圖7為示出本發(fā)明的另一個(gè)實(shí)施例的絕緣設(shè)備診斷系統(tǒng)結(jié)構(gòu)的圖；圖8為示出圖7所示絕緣設(shè)備診斷系統(tǒng)一種修正結(jié)構(gòu)的圖；圖9為示出本發(fā)明的另一個(gè)實(shí)施例的絕緣設(shè)備診斷系統(tǒng)結(jié)構(gòu)的圖；圖10為示出本發(fā)明的另一個(gè)實(shí)施例的絕緣設(shè)備診斷系統(tǒng)結(jié)構(gòu)的圖；圖11為說明測量原理的圖；圖12為示出圖10所示絕緣設(shè)備診斷系統(tǒng)一種修正結(jié)構(gòu)的圖13為示出本發(fā)明的另一個(gè)實(shí)施例的絕緣設(shè)備診斷系統(tǒng)結(jié)構(gòu)的圖；圖14為示出本發(fā)明的另一個(gè)實(shí)施例的絕緣設(shè)備診斷系統(tǒng)結(jié)構(gòu)的圖；圖15為示出圖14所示絕緣設(shè)備診斷系統(tǒng)一種修正結(jié)構(gòu)的圖；圖16為示出由于導(dǎo)電雜質(zhì)引起局部放電實(shí)例的圖；圖17為示出當(dāng)墊片斷裂和分離時(shí)局部放電頻譜實(shí)例的圖；圖18為測量設(shè)備中電磁波時(shí)噪音電平圖；圖19為相對(duì)于電壓相角和缺陷類型的分布強(qiáng)度圖。
如圖1所示，本實(shí)施例的絕緣設(shè)備診斷系統(tǒng)結(jié)構(gòu)包括一個(gè)天線1，用于接收局部放電所產(chǎn)生的電磁波，它安裝在諸如氣體絕緣設(shè)備，變壓器或電纜等絕緣設(shè)備中；一個(gè)放大器2，用于接收和放大來自天線1的信號(hào)；周期性元素信號(hào)發(fā)生器4，用于產(chǎn)生同步元素信號(hào)；多個(gè)頻譜分析儀3，用于接收周期性元素信號(hào)發(fā)生器4的信號(hào)和由放大器2放大的信號(hào)，進(jìn)行特殊頻率的頻率分析；圖形發(fā)生器5，通過多個(gè)分析頻率的同步元素信號(hào)產(chǎn)生與時(shí)間同步的圖形，也就是說，產(chǎn)生的圖形具有相對(duì)于電壓相位角的特殊頻率的強(qiáng)度分布；圖形比較器6用于比較由圖形發(fā)生器5所生成的圖形；和判斷單元7用于在圖形比較器6結(jié)果的基礎(chǔ)上進(jìn)行判斷。這里，頻率是固定的不同頻率，它們是通過輸入諸如到達(dá)設(shè)備之前的偽脈沖之類信號(hào)，和通過對(duì)它們的測量而確定的。圖形發(fā)生器5產(chǎn)生圖形，該圖形通過同步元素在多個(gè)分析頻率下與時(shí)間同步。
利用這一結(jié)構(gòu)，在操作過程中可以同步地準(zhǔn)備具有時(shí)間元素的探測數(shù)據(jù)，通過在每一頻率下探測數(shù)據(jù)的圖形與基本數(shù)據(jù)比較，就可以將局部放電信號(hào)從噪聲中識(shí)別出來。特別是由局部放電所產(chǎn)生的電磁波的頻率分布和幅值隨電力設(shè)備的電路或者局部放電位置而改變。由于電磁波在特殊頻率上被比較，噪聲和局部放電信號(hào)可以被區(qū)別開來，因?yàn)閺膱D形上可以作實(shí)現(xiàn)相關(guān)。此外，從所獲得的探測數(shù)據(jù)的強(qiáng)度上可以估計(jì)出達(dá)到介電擊穿的壽命。
圖2所示為圖1所示實(shí)施例的絕緣設(shè)備診斷系統(tǒng)的修正結(jié)構(gòu)。所作的修正是由神經(jīng)計(jì)算機(jī)8來處理圖形比較部分。這一神經(jīng)計(jì)算機(jī)可以通過事先給予其教師數(shù)據(jù)來高精度地進(jìn)行對(duì)甚至未知圖形的判斷，并且適于所述診斷。
圖3所示為圖1所示實(shí)施例的絕緣設(shè)備診斷系統(tǒng)的一種修正結(jié)構(gòu)。圖3所作的修正是用指紋印記方法(以下也稱為FP方法)來完成圖形比較。如圖3所示，該絕緣設(shè)備診斷系統(tǒng)裝有用于貯存數(shù)據(jù)庫的存儲(chǔ)單元10和FP方法操作單元9與存儲(chǔ)單元10相聯(lián)接。在該實(shí)例中，另外還在一個(gè)天線1上用一個(gè)頻譜分析儀，如圖4所示。按照這一方法，由同步元素信號(hào)發(fā)生器4的信號(hào)和由控制單元11預(yù)先設(shè)定的時(shí)間間隔，通過變化頻譜分析儀的固定頻率，在多個(gè)特殊頻率上進(jìn)行頻率分析。用這種方法不能在測量固定頻率f1的時(shí)間進(jìn)行頻率f2的測量，使得隨時(shí)間而變化的局部放電中存在有不確定元素。然而，這一方法的優(yōu)點(diǎn)在于可以減少頻譜分析儀的數(shù)量，從而提供了經(jīng)濟(jì)方面的優(yōu)越性，并且使測量系統(tǒng)緊湊。
在此例中，F(xiàn)P方法免去了神經(jīng)計(jì)算機(jī)所必需的學(xué)習(xí)，這樣便可以使軟件易于編制。另外一方面，在判斷未知圖形的精度方面，F(xiàn)P方法比神經(jīng)計(jì)算機(jī)差。
對(duì)于如此構(gòu)造的本發(fā)明實(shí)施例的絕緣設(shè)備診斷系統(tǒng)來說，不僅可以高靈敏地探測設(shè)備中缺陷的種類，還可以高精度地掌握局部放電的狀況，從而可以高靈敏和高精度地診斷設(shè)備的老化程度或種類，以及壽命或不正常。
參考圖5和圖6將敘述本發(fā)明的另一個(gè)實(shí)施例。圖5所示為實(shí)施例絕緣設(shè)備診斷系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)，圖6所示為絕緣設(shè)備診斷系統(tǒng)的修正結(jié)構(gòu)。
在本實(shí)施例中，如圖5所示，相對(duì)于電壓相位角的多個(gè)預(yù)先確定頻率的強(qiáng)度分布和頻率分布的頻譜分布結(jié)合起來探測局部放電。具體地說，周期性元素信號(hào)發(fā)生器4的信號(hào)不僅加到圖1所示的頻譜分析儀3上，而且也加到頻譜分析儀3d上，這樣一來，用頻譜分析儀3d可以同步地測量頻譜分布。利用這種結(jié)構(gòu)，不僅是相對(duì)于電壓相位角的特殊頻率上的強(qiáng)度分布，而且是頻譜分布可以同時(shí)測量，使該測量方法具有優(yōu)越性。
圖6所示為圖5的修正，其中，在每一個(gè)天線1上用了一個(gè)頻譜分析儀3，如同參考圖4的敘述，這樣一來，由周期性元素信號(hào)發(fā)生器4的信號(hào)和由控制單元11預(yù)先設(shè)定的時(shí)間間隔上，通過變化頻譜分析儀3的固定頻率和頻譜分布來進(jìn)行頻率分析。這一修正也具有類似于圖4敘述的那些作用。
參考圖7和圖8來敘述本發(fā)明的另一個(gè)實(shí)施例。圖7說明了數(shù)據(jù)準(zhǔn)備方法，圖8所示為本實(shí)施例絕緣設(shè)備診斷系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)。
在本實(shí)施例中，如圖7所示，在不同的規(guī)定頻率下從探測的數(shù)據(jù)準(zhǔn)備平均數(shù)據(jù)和采樣數(shù)據(jù)。正如圖7左側(cè)所描述的，更具體說，例如通過頻率f1，f2和f3的數(shù)據(jù)相加和平均來準(zhǔn)備平均數(shù)據(jù)，從頻率f2的數(shù)據(jù)差分平均數(shù)據(jù)來準(zhǔn)備采樣數(shù)據(jù)。
平均數(shù)據(jù)是相對(duì)于不同的規(guī)定頻率的探測數(shù)據(jù)的平均強(qiáng)度分布。當(dāng)噪聲只出現(xiàn)在例如頻率f3上，有可能使所準(zhǔn)備的數(shù)據(jù)中噪音明顯地減少。此外，信號(hào)的強(qiáng)度分布也可以被平均，這樣一來，便很容易與局部放電的基本數(shù)據(jù)對(duì)照。如果與基本數(shù)據(jù)圖形的對(duì)照很困難，可以參考采樣數(shù)據(jù)根據(jù)頻率來改進(jìn)，從而改進(jìn)局部放電診斷精度。
圖8中給出一個(gè)結(jié)構(gòu)的特定例子，其中，來自天線1的信號(hào)輸入到放大器2，并經(jīng)它放大以后送入頻譜分析儀3中。同步元素信號(hào)發(fā)生器4和控制單元11連接到這一頻譜分析儀3上。頻譜分析儀3的輸出連接到平均數(shù)據(jù)發(fā)生器12和差分器14上，它們又與存儲(chǔ)單元13相連接。差分器14連接到諸如神經(jīng)計(jì)算機(jī)的圖形識(shí)別單元15上，而圖形識(shí)別單元15又進(jìn)而與判斷單元7相連接。
在如此構(gòu)造的絕緣設(shè)備診斷系統(tǒng)中，在由控制單元11預(yù)先設(shè)定的時(shí)間間隔上改變頻譜分析儀3的設(shè)定值，然后將被測信號(hào)送入平均數(shù)據(jù)發(fā)生器12中去準(zhǔn)備平均數(shù)據(jù)，使得結(jié)果貯存在存儲(chǔ)單元13中。接下來，從頻譜分析儀3所得到的探測數(shù)據(jù)中差分平均數(shù)據(jù)，以準(zhǔn)備采樣數(shù)據(jù)。通過將平均數(shù)據(jù)和采樣數(shù)據(jù)輸入到圖形識(shí)別單元15中，并對(duì)它們作處理，來測量局部放電。
參考圖9來敘述本發(fā)明的另一個(gè)實(shí)施例。圖9所示為本實(shí)施例的絕緣設(shè)備診斷系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)。
本實(shí)施例的絕緣設(shè)備診斷系統(tǒng)包括連接到天線1上的放大器2；與放大器2連接的FFT16；連接到FFT16上，并且通過控制單元11連接到頻譜分析儀3上的差分器14；連接到頻譜分析儀3上的神經(jīng)計(jì)算機(jī)的圖形識(shí)別單元15；和連接到圖形識(shí)別單元15上的判斷單元7。代替神經(jīng)計(jì)算機(jī)也可以在圖形識(shí)別單元15中采用FP方法。在本實(shí)施例中，頻譜分析儀3和FFT16均被采用，由操作單元選擇具有高頻譜強(qiáng)度的多個(gè)頻率，在預(yù)先設(shè)定的時(shí)間間隔上改變頻譜分析儀3的設(shè)定值來準(zhǔn)備探測數(shù)據(jù)。因此，可以加寬被選頻率的范圍，在局部放電狀況下可以優(yōu)化被設(shè)定的頻率，從而可以高靈敏度和高精度探測局部放電。
參考圖10到圖12敘述本發(fā)明的另一個(gè)實(shí)施例。圖10所示為本實(shí)施例絕緣設(shè)備診斷系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)；圖11所示為測量原理；圖12所示為圖10的修正絕緣設(shè)備診斷系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)。
在本實(shí)施例的絕緣設(shè)備診斷系統(tǒng)中，如圖10所示，提供有多個(gè)天線1，多個(gè)頻譜分析儀3分別地通過多個(gè)放大器2與其連接。每一個(gè)頻譜分析儀3連接到一個(gè)周期性元素信號(hào)發(fā)生器4上，還連接到圖形發(fā)生器5上，用于準(zhǔn)備相應(yīng)于電壓相位角的特定頻率的同步強(qiáng)度分布圖形。另外，一個(gè)操作單元9連接到該圖形發(fā)生器5上，它又依次連接到判斷單元上。
在本實(shí)施例中，采用天線1在各個(gè)天線1處同步測量，這樣一來，不僅作絕緣診斷的部件，而且放電部件均可以定位，以下參考圖11敘述。例如，在SF6氣體中傳播的電磁波根據(jù)頻率不同衰減是不一樣的，如圖11所示，通過確定從天線上收集到的同樣頻率探測數(shù)據(jù)的比率，便能使局部放電定位。通過采用各頻率的探測數(shù)據(jù)，可以進(jìn)一步以更高精度使局部放電定位。
圖12所示的一個(gè)診斷系統(tǒng)中，采用FP方法，但是不對(duì)局部放電定位，與圖10所示的實(shí)施例不同。因此，可以簡化系統(tǒng)以抑制系統(tǒng)的成本。
參考圖13敘述本發(fā)明的另一個(gè)實(shí)施例。圖13為示出本實(shí)施例絕緣設(shè)備診斷系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)的圖，所示為應(yīng)用于氣體絕緣斷路器的絕緣設(shè)備診斷系統(tǒng)。
在本實(shí)施例的絕緣設(shè)備診斷系統(tǒng)中，如圖13所示，安裝在氣體絕緣斷路器上的天線1通過放大器2連接到頻譜分析儀3上，在由連接到頻譜分析儀3上的控制單元11預(yù)先設(shè)定的時(shí)間間隔止，通過改變頻譜分析儀3的固定頻率和頻譜分布來進(jìn)行頻率分析。由圖形發(fā)生器5準(zhǔn)備相應(yīng)于電壓相位角的特定頻率下強(qiáng)度分布圖形，并由處理系統(tǒng)16進(jìn)行處理。此后，處理過的圖形輸入到分別與貯存數(shù)據(jù)庫的存儲(chǔ)單元10a和10b相連接的神經(jīng)計(jì)算機(jī)9a和FP方法操作單元9b。由頻譜分布發(fā)生器5b所作的頻譜分布輸入到判斷單元7a。神經(jīng)計(jì)算機(jī)9a，F(xiàn)P方法操作單元9b和判斷單元7a的全部輸出輸入到判斷單元7b。
因此，本實(shí)施例把由神經(jīng)計(jì)算機(jī)9a和FP方法操作單元9b所操作的相應(yīng)于電壓相位角特定頻率強(qiáng)度分布圖形的結(jié)果與由頻率譜分布判斷的結(jié)果結(jié)合起來作判斷，便可以更高精度進(jìn)行絕緣診斷。結(jié)果使本實(shí)施例在特別要求可靠性的主要變電站有效。
參考圖14和圖15敘述本發(fā)明的另一個(gè)實(shí)施例。圖14是示出本實(shí)施例絕緣設(shè)備診斷系統(tǒng)結(jié)構(gòu)的圖，圖15所示為絕緣設(shè)備診斷系統(tǒng)的修正。
本實(shí)施例的絕緣設(shè)備診斷系統(tǒng)使特定頻率為可變的，雖然它的結(jié)構(gòu)如同圖14中所示的實(shí)施例。結(jié)果，本實(shí)施例的優(yōu)點(diǎn)在于對(duì)于各種局部放電可以選擇多個(gè)更合適的特定頻率。在圖16的例子中，將周期性元素給到所選擇的頻率中的一個(gè)，在所檢測的強(qiáng)度和噪聲之間差別最大的頻率來準(zhǔn)備探測數(shù)據(jù)，將探測數(shù)據(jù)顯示在屏幕上或者通過處理該檢測數(shù)據(jù)來探測局部放電。利用這種方法，在長時(shí)間自動(dòng)監(jiān)測局部放電的狀態(tài)下，能夠減少探測數(shù)據(jù)的數(shù)目。其結(jié)果是可以減小存儲(chǔ)單元的容量，延長維修間隔，并且降低成本。
根據(jù)本發(fā)明，通過選擇多個(gè)特定頻率來準(zhǔn)備探測數(shù)據(jù)，便有可能以高精度探測由局部放電所產(chǎn)生的電磁波，電磁波隨著局部放電種類和位置而有所不同，也可以從各個(gè)頻率之間頻譜圖形和強(qiáng)度以高精度判斷局部放電的狀態(tài)。
權(quán)利要求
1.一種局部放電探測方法，包括的步驟有從輸入端輸入局部放電信號(hào)；產(chǎn)生圖形，該圖形通過同步元素在多個(gè)分析頻率下與時(shí)間同步；以及從所產(chǎn)生的圖形或強(qiáng)度來診斷設(shè)備的不正常程度，老化或壽命。
2.一種局部放電探測方法，包括的步驟有從輸入端輸入局部放電信號(hào)，確定強(qiáng)度，其中，用FFT或者頻譜分析儀將局部放電信號(hào)中每一個(gè)頻率擴(kuò)展，選擇出具有高強(qiáng)度的多個(gè)特定頻率，探測所述局部放電信號(hào)中每一頻率的強(qiáng)度，選擇出強(qiáng)度超過預(yù)先規(guī)定值的多個(gè)特定頻率，或者從多個(gè)特定頻率中選出具有最高強(qiáng)度的頻率；產(chǎn)生圖形，該圖形通過同步元素在多個(gè)分析頻率下與時(shí)間同步；和處理至少一個(gè)所述圖形，或者將該圖形顯示在屏幕上，來探測局部放電。
3.一種局部放電探測方法，包括的步驟有從輸入端輸入局部放電信號(hào)；產(chǎn)生圖形，該圖形通過同步元素在多個(gè)分析頻率下與時(shí)間同步；準(zhǔn)備采樣數(shù)據(jù)，通過將不同頻率的圖形平均得到的平均數(shù)據(jù)或已知數(shù)據(jù)與各圖形進(jìn)行差分，或者通過差分由裝在不同位置的天線所探測到的圖形在相同頻率之間的強(qiáng)度來進(jìn)行；和從所準(zhǔn)備的采樣數(shù)據(jù)的強(qiáng)度或圖形來診斷設(shè)備的不正常程度、老化或壽命。
4.根據(jù)權(quán)利要求1或2的一局部放電探測方法，其特征在于通過用神經(jīng)或指紋印記方法處理所述圖形來診斷設(shè)備的不正常程度或種類、老化或壽命。
5.一種局部放電探測方法，包括的步驟有準(zhǔn)備探測數(shù)據(jù)，對(duì)于多個(gè)特定頻率之一，探測數(shù)據(jù)被給予周期性元素；和處理所述探測數(shù)據(jù)或者在屏幕上顯示該數(shù)據(jù)來探測局部放電。
全文摘要
一種絕緣設(shè)備診斷系統(tǒng)能夠以高靈敏度和高精度來判斷設(shè)備的老化，壽命，缺陷等。在多個(gè)特定頻率上測量每一個(gè)電壓相位角的強(qiáng)度，取高電壓相位角作為橫坐標(biāo)。從某一時(shí)間段中保持所測強(qiáng)度峰值所得到的頻譜分布的圖形和強(qiáng)度來判斷設(shè)備的老化，壽命和不正常的種類及程度。根據(jù)本發(fā)明，可以高靈敏度和高精度地測量局部放電，從而診斷設(shè)備的老化、壽命和缺陷程度。
文檔編號(hào)G01R31/12GK1510429SQ20041000389
公開日2004年7月7日 申請日期1997年12月8日 優(yōu)先權(quán)日1996年12月9日
發(fā)明者六戶敏昭, 遠(yuǎn)藤奎將, 山極時(shí)生, 篠原亮一, 一, 將, 生 申請人:株式會(huì)社日立制作所