專利名稱：探針檢查裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明為關(guān)于一種探針檢查裝置，特別是關(guān)于一種檢查至少一探針設(shè)置于一探針承座裝設(shè)情形的探針檢查裝置。
背景技術(shù)：
隨著電子科技的進步，一般人對電子用品在品質(zhì)及價格上的要求也越來越高。為了制作出品質(zhì)優(yōu)良且在價格上具有競爭力的電子產(chǎn)品，電子產(chǎn)品廠商除了不斷的研發(fā)高性能產(chǎn)品，并于產(chǎn)品出廠前做精密完整的測試。以電路板為例，于一電路板制作完成后，必須對電路板進行測試，以檢測電路板是否有缺陷。一般的檢測器具包含一探針承座，且有至少一探針設(shè)置于探針承座，并利用壓合的原理使電路板表面與探針的尖端觸碰導(dǎo)電，做各種電測功能。如果有少部份探針的高度高出一共平面時，于壓合動作的過程中容易刺穿電路板的表面，造成電路板的損毀。
如上所述，為避免電路板損毀的情況，必須于進行壓合動作前先檢查探針的高度及平整性。傳統(tǒng)上的檢查方式約有三種，第一種是以手觸碰探針以感覺探針有無凸出，第二種是以人工目測的方式來尋找有無凸出的探針，第三種則是利用光標(biāo)卡尺來量測探針承座上探針凸出的高度。
然而，以人工目視來尋找有無凸出的探針的誤差范圍大，若是以手觸碰探針以感覺探針有無凸出的方法會因不同的檢測人員的感覺不同而結(jié)果也不同。而以光標(biāo)卡尺來量測探針承座上探針凸出的高度雖然有固定的高度數(shù)值可做為依據(jù)，但是由于此種方式必須重復(fù)測量探針承座上每一根探針，相當(dāng)耗費時間，且當(dāng)探針位置密集時，于測量上會有困難，再加上探針具有彈性，亦不易于量測。
如上所述，如何提供一種能迅速且準(zhǔn)確地檢查探針承座上探針裝設(shè)情形的探針檢查裝置實乃當(dāng)前重要課題之一。

發(fā)明內(nèi)容
有鑒于上述課題，本發(fā)明的目的是提供一種探針檢查裝置，其可迅速且準(zhǔn)確地檢查探針承座上探針裝設(shè)的情形。
為達上述目的，本發(fā)明提供一種探針檢查裝置，其用于檢查至少一探針設(shè)置于一探針承座的裝設(shè)情形，且探針的至少一部分凸出探針承座，探針檢查裝置包含一第一高度擋塊、一第二高度擋塊以及一高度基準(zhǔn)元件。
一第一高度擋塊設(shè)置于探針承座，第二高度擋塊設(shè)置于探針承座。高度基準(zhǔn)元件連結(jié)第一高度擋塊及第二高度擋塊，且高度基準(zhǔn)元件具有一高度基準(zhǔn)面，當(dāng)推動高度基準(zhǔn)元件時，高度超過高度基準(zhǔn)面的探針會阻止高度基準(zhǔn)元件的移動。
承上所述，由于在本發(fā)明的探針檢查裝置中包含一第一高度擋塊、一第二高度擋塊以及一高度基準(zhǔn)元件，因而能夠迅速且準(zhǔn)確地檢查探針承座上探針裝設(shè)的情形。


圖1為依本發(fā)明實施例的探針檢查裝置的示意圖。
圖2為依本發(fā)明實施例的探針檢查裝置放置于探針承座的示意圖。
圖3為依本發(fā)明實施例的探針承座設(shè)置于測試機臺的示意圖。
圖4為依本發(fā)明實施例的探針檢查裝置的另一示意圖。
圖5為依本發(fā)明另一實施例的探針檢查裝置的示意圖。
圖中符號說明1 探針檢查裝置11 第一高度擋塊12 第二高度擋塊13 高度基準(zhǔn)元件131高度基準(zhǔn)面14 第一滾輪15 第二滾輪2 探針3 探針承座31 承座基準(zhǔn)面32 第一滑軌33 第二滑軌4 探針檢查裝置41 第一高度擋塊42 第二高度擋塊43 高度基準(zhǔn)元件431高度基準(zhǔn)面44 第一滾輪5 探針承座51 承座基準(zhǔn)面52 第一滑軌6 探針7 測試機臺具體實施方式
以下參照相關(guān)

依本發(fā)明較佳實施例的探針檢查裝置，其中相同的元件將以相同的參照符號加以說明。
請參照圖1及圖2所示，依據(jù)本發(fā)明實施例的探針檢查裝置1用于檢查至少一探針2設(shè)置于一探針承座3的裝設(shè)情形，且探針2的至少一部分凸出于探針承座3。探針檢查裝置1包含一第一高度擋塊11、一第二高度擋塊12以及一高度基準(zhǔn)元件13。第一高度擋塊11放置于探針承座3；第二高度擋塊12放置于探針承座3。高度基準(zhǔn)元件13連結(jié)第一高度擋塊11以及第二高度擋塊12，且高度基準(zhǔn)元件13具有一高度基準(zhǔn)面131。
第一高度擋塊11與高度基準(zhǔn)元件13相互垂直，第二高度擋塊12與高度基準(zhǔn)元件13亦相互垂直。第一高度擋塊11的高度等于第二高度擋塊12的高度。
探針承座3包括一承座基準(zhǔn)面31，探針2凸出于承座基準(zhǔn)面31。高度基準(zhǔn)面131為高度基準(zhǔn)元件13的一底部，且承座基準(zhǔn)面31與高度基準(zhǔn)面131為平行。高度基準(zhǔn)面131至承座基準(zhǔn)面31的垂直距離等于探針2預(yù)設(shè)的凸出高度。
請參照圖2及圖3所示，當(dāng)要測試電路板的前，必須先檢查探針承座3上探針2的高度及平整性，確認(rèn)無誤后再將探針承座3設(shè)置于測試機臺7。檢查人員將探針檢查裝置1放置于已設(shè)有探針2的探針承座3上，然后推動探針檢查裝置1。由于高度基準(zhǔn)面131至承座基準(zhǔn)面31的垂直距離等于探針2預(yù)設(shè)的凸出高度，因而當(dāng)檢查人員在推動高度基準(zhǔn)元件13時，高度超過高度基準(zhǔn)面131的探針2會阻止高度基準(zhǔn)元件13的移動，此時檢查人員能夠?qū)崟r調(diào)整過高的探針2，以避免后續(xù)步驟受到影響。
請參照圖4所示，探針檢查裝置1可更包括一第一滾輪14以及一第二滾輪15。第一滾輪14設(shè)置于第一高度擋塊11的一端，且與探針承座3相接觸；第二滾輸15設(shè)置于第二高度擋塊12的一端，且與探針承座3相接觸。探針承座3可更包含一第一滑軌32以及一第二滑軌33，第一滑軌32與第一滾輪14相接觸，第二滑軌33與第二滾輪15相接觸，使探針檢查裝置1在探針承座3上容易滑動。
高度基準(zhǔn)元件13的材質(zhì)可為金屬或是玻璃纖維。另外，高度基準(zhǔn)元件13的材質(zhì)亦可為一直線的線材，且線材水平連結(jié)第一高度擋塊11與第二高度擋塊12。
如上所述，由于高度基準(zhǔn)面131至承座基準(zhǔn)面31的垂直距離等于探針2預(yù)設(shè)的凸出高度，因而在推動高度基準(zhǔn)元件13時，高度超過高度基準(zhǔn)面131的探針2會阻止高度基準(zhǔn)元件13的移動，故依據(jù)本發(fā)明實施例的探針檢查裝置1能夠迅速且準(zhǔn)確地檢查探針承座3上探針2裝設(shè)的情形。
請參照圖5所示，依據(jù)本發(fā)明另一實施例的探針檢查裝置4包含一第一高度擋塊41、一第二高度擋塊42以及一高度基準(zhǔn)元件43。第一高度擋塊41設(shè)置于探針承座5；第二高度擋塊42設(shè)置于探針承座5。高度基準(zhǔn)元件43連結(jié)第一高度擋塊41以及第二高度擋塊42，且高度基準(zhǔn)元件43具有一高度基準(zhǔn)面431。
第一高度擋塊41與高度基準(zhǔn)元件43相互垂直，第二高度擋塊42與高度基準(zhǔn)元件43亦相互垂直。第一高度擋塊41的高度等于第二高度擋塊42的高度。
探針承座5包括一承座基準(zhǔn)面51，探針6設(shè)置于探針承座5，且凸出于承座基準(zhǔn)面51。高度基準(zhǔn)面431為高度基準(zhǔn)元件43的一底部，且承座基準(zhǔn)面51與高度基準(zhǔn)面431為平行。高度基準(zhǔn)面431至承座基準(zhǔn)面51的垂直距離等于探針6預(yù)設(shè)的凸出高度。
探針檢查裝置4可更包括一第一滾輪44，第一滾輪44設(shè)置于第一高度擋塊41的一端，且與探針承座5相接觸。探針承座5可更包含一第一滑軌52，第一滑軌52與第一滾輪44相接觸，使高度基準(zhǔn)元件43能以第二高度擋塊42為轉(zhuǎn)軸而在探針承座3上移動，檢查高度超過高度基準(zhǔn)面431的探針6。當(dāng)然，第一滾輪44亦可設(shè)置于第二高度擋塊42的一端，而高度基準(zhǔn)元件43以第一高度擋塊41做為轉(zhuǎn)軸在探針承座5上移動，檢查高度超過高度基準(zhǔn)面431的探針6。
高度基準(zhǔn)元件43的材質(zhì)可為金屬或是玻璃纖維。另外，高度基準(zhǔn)元件43的材質(zhì)亦可為一直線的線材，且線材水平連結(jié)第一高度擋塊41與第二高度擋塊42。
如上所述，由于高度基準(zhǔn)面431至承座基準(zhǔn)面51的垂直距離等于探針6預(yù)設(shè)的凸出高度，因而在旋轉(zhuǎn)高度基準(zhǔn)元件43時，高度超過高度基準(zhǔn)面431的探針6會阻止高度基準(zhǔn)元件43的轉(zhuǎn)動，故依據(jù)本發(fā)明實施例的探針檢查裝置4能夠迅速且準(zhǔn)確地檢查探針承座5上探針6裝設(shè)的情形。
以上所述僅為舉例性，而非為限制性者。任何未脫離本發(fā)明的精神與范疇，而對其進行的等效修改或變更，均應(yīng)包含于所述的申請專利范圍中。
權(quán)利要求
1.一種探針檢查裝置，用于檢查至少一探針設(shè)置于一探針承座的裝設(shè)情形，該探針的至少一部分凸出該探針承座，該探針檢查裝置包含一第一高度擋塊，其設(shè)置于該探針承座；一第二高度擋塊，其設(shè)置于該探針承座；以及一高度基準(zhǔn)元件，連結(jié)該第一高度擋塊及該第二高度擋塊，且該高度基準(zhǔn)元件具有一高度基準(zhǔn)面，推動該高度基準(zhǔn)元件時，高度超過該高度基準(zhǔn)面的該探針會阻止該高度基準(zhǔn)元件的移動。
2.如權(quán)利要求1所述的探針檢查裝置，其中該探針承座包括一承座基準(zhǔn)面，該探針凸出該承座基準(zhǔn)面，該高度基準(zhǔn)面至該承座基準(zhǔn)面的垂直距離等于一該探針預(yù)設(shè)的凸出高度。
3.如權(quán)利要求2所述的探針檢查裝置，其中該高度基準(zhǔn)面為該高度基準(zhǔn)元件的一底部，且該承座基準(zhǔn)面與該高度基準(zhǔn)面平行。
4.如權(quán)利要求1所述的探針檢查裝置，更包括一第一滾輪，該第一滾輪設(shè)置于該第一高度擋、或該第二高度擋塊的一端，且與該探針承座相接觸。
5.如權(quán)利要求4所述的探針檢查裝置，其中該探針承座包含一第一滑軌，該第一滑軌與該第一滾輪相接觸，俾使該探針檢查裝置在該探針承座上滑動。
6.如權(quán)利要求1所述的探針檢查裝置，其中該高度基準(zhǔn)元件材質(zhì)為金屬、或玻璃纖維。
7.如權(quán)利要求1所述的探針檢查裝置，其中該高度基準(zhǔn)元件的材質(zhì)為一線材，且該線材為一直線，該線材水平連結(jié)該第一高度擋塊與該第二高度擋塊。
8.如權(quán)利要求1所述的探針檢查裝置，其中該第一高度擋塊的高度等于該第二高度擋塊的高度。
9.如權(quán)利要求1所述的探針檢查裝置，其中該第一高度擋塊、或及該第二高度擋塊與該高度基準(zhǔn)元件相互垂直。
10.如權(quán)利要求1所述的探針檢查裝置，其中以該第一高度擋塊、或該第二高度擋塊為轉(zhuǎn)軸，旋轉(zhuǎn)該高度基準(zhǔn)元件，以檢查高度超過該高度基準(zhǔn)面的該探針。
全文摘要
一種用于檢查至少一探針設(shè)置于一探針承座的裝設(shè)情形的探針檢查裝置，探針的至少一部分凸出于探針承座。探針檢查裝置包含一第一高度擋塊、一第二高度擋塊以及一高度基準(zhǔn)元件。第一高度擋塊設(shè)置于探針承座；第二高度擋塊設(shè)置于探針承座。高度基準(zhǔn)元件連結(jié)第一高度擋塊及第二高度擋塊，且高度基準(zhǔn)元件具有一高度基準(zhǔn)面，推動高度基準(zhǔn)元件時，高度超過高度基準(zhǔn)面的探針將阻止高度基準(zhǔn)元件的移動。
文檔編號G01R31/01GK1677116SQ20041003217
公開日2005年10月5日 申請日期2004年4月1日 優(yōu)先權(quán)日2004年4月1日
發(fā)明者鄭長科, 鄭君風(fēng), 王志鴻, 李祥銘 申請人:華碩電腦股份有限公司