專利名稱：Lcos驅(qū)動芯片測試裝置及其測試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種測試LCOS的裝置及其測試方法，尤其涉及一種測試LCOS驅(qū)動芯片的裝置及其測試方法。
背景技術(shù)：
新一代高清晰度LCOS微平板顯示技術(shù)是目前國際上最新的大屏幕高清晰度數(shù)字顯示技術(shù)——LCOS(Lipuid Crystal On Silicon即基于大規(guī)模集成電路上的反射液晶投影技術(shù))。
LCOS是將封裝好的液晶盒與集成電路芯片做在一起。由于采用硅技術(shù)，與其它產(chǎn)品相比其成本可以很低。而且，LCOS具有分辨率高、光孔徑大、像素尺寸小、對比度高、色彩鮮艷、耗電省、無污染、重量輕、制造成本低及兼容性好等突出優(yōu)勢，將是未來世界顯示技術(shù)生重要發(fā)展方向之一。
LCOS是國際上一致看好的，最有可能以其高質(zhì)量的技術(shù)指標(biāo)和低價(jià)位的制造成本能進(jìn)入普通百姓家庭的HDTV的產(chǎn)品技術(shù)，具有十分廣闊的市場前景。
LCOS圖象顯示模塊是一個(gè)高性能，低價(jià)位的芯片組，芯片組用于三色光學(xué)驅(qū)動引擎，要產(chǎn)生SXGA/HDTV解像度的高對比，高亮度，24位彩色影像。
LCOS驅(qū)動芯片是由CMOS工藝制造的大規(guī)模集成電路芯片用于將經(jīng)過數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換的DVI三色數(shù)字視頻差分信號產(chǎn)生的紅、綠、蘭三色數(shù)據(jù)信號，時(shí)鐘和行列信號轉(zhuǎn)換成LCOS圖象顯示芯片模塊所需要的圖象數(shù)據(jù)信號，并產(chǎn)生LCOS圖象顯示模塊所需要的時(shí)鐘信號，復(fù)位信號及控制命令。
LCOS驅(qū)動芯片是采用國際先進(jìn)0.18um CMOS工藝制造的大規(guī)模集成電路芯片，由大量的存儲器，邏輯電路，模擬電路組成的復(fù)雜系統(tǒng)。
為了保證產(chǎn)品的質(zhì)量，LCOS驅(qū)動芯片生產(chǎn)后必須在晶園階段及封裝后進(jìn)行測試，對芯片各部分電路的功能及性能、存儲器性能都進(jìn)行全面測試。
常規(guī)的測試方法是采用通用的集成電路測試儀器進(jìn)行，但測試設(shè)備價(jià)格昂貴，且測試時(shí)間長，測試成本高。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明需要解決的技術(shù)問題是提供了一種LCOS驅(qū)動芯片測試裝置及其測試方法，旨在解決上述缺陷。
為了解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明是通過以下技術(shù)方案實(shí)現(xiàn)的本發(fā)明的測試裝置包括被測LCOS驅(qū)動芯片；還包括微控制器，個(gè)人計(jì)算機(jī)；所述的被測LCOS驅(qū)動芯片包括圖象及系統(tǒng)信號輸入電路，圖象數(shù)據(jù)存儲電路，圖象數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換電路，圖象及系統(tǒng)信號輸出電路，控制電路，系統(tǒng)信號產(chǎn)生電路，命令字存儲器，I2C串行總線接口；所述的微控制器包括微處理器，I2C串行總線接口，EEPROM程序存儲器，EEPROM數(shù)據(jù)存儲器，RAM隨機(jī)存儲器，顯示及輸出電路，并行接口，串行接口RS232；所述的個(gè)人計(jì)算機(jī)包括串行接口RS232；所述的計(jì)算機(jī)中的串行接口RS232與微控制器的串行接口RS232相連；所述的微控制器的I2C串行總線接口與被測LCOS驅(qū)動芯片的I2C串行總線接口相連，并將測試命令通過命令字存儲器傳輸?shù)娇刂齐娐?，控制電路對測試命令進(jìn)行分析并對測試命令進(jìn)行操作，通過圖象及系統(tǒng)信號輸出電路輸回到被測LCOS驅(qū)動芯片的I2C串行總線接口；所述的微控制器的并行接口與被測LCOS驅(qū)動芯片的圖象及系統(tǒng)信號輸入電路相連；本發(fā)明的測試方法是通過以下步驟實(shí)現(xiàn)的接收個(gè)人計(jì)算機(jī)來的測試命令編號；
如果命令編號是圖象數(shù)據(jù)存儲器及命令字存儲器讀、寫命令、全擦、全寫命令；或者是控制電路測試命令，系統(tǒng)信號通道測試命令；根據(jù)編號調(diào)用微控制器的EEPROM數(shù)據(jù)存儲器相應(yīng)的測試命令；通過微控制器的I2C串行總線接口與被測LCOS驅(qū)動芯片的I2C串行總線接口，并將測試命令通過命令字存儲器傳輸?shù)娇刂齐娐?，控制電路對測試命令進(jìn)行分析并對測試命令進(jìn)行操作，通過圖象及系統(tǒng)信號輸出電路輸回到被測LCOS驅(qū)動芯片的I2C串行總線接口；通過微控制器的I2C串行總線接口，與微控制器的EEPROM數(shù)據(jù)存儲器的預(yù)計(jì)測試結(jié)果進(jìn)行比較；通過微控制器的串行接口RS232在個(gè)人計(jì)算機(jī)顯示；如果命令編號是圖象數(shù)據(jù)通道測試命令；微控制器在發(fā)送測試命令的同時(shí)從微控制器的EEPROM數(shù)據(jù)存儲器中將相應(yīng)的模擬圖象數(shù)據(jù)及系統(tǒng)信號取出并通過微控制器的并行接口將該信號傳送到LCOS驅(qū)動芯片的圖象及系統(tǒng)信號輸入電路，控制電路對測試命令進(jìn)行分析并對測試命令進(jìn)行操作，通過圖象及系統(tǒng)信號輸出電路輸回到被測LCOS驅(qū)動芯片的I2C串行總線接口；通過微控制器的I2C串行總線接口，與微控制器的EEPROM數(shù)據(jù)存儲器的預(yù)計(jì)測試結(jié)果進(jìn)行比較；通過微控制器的串行接口RS232在個(gè)人計(jì)算機(jī)顯示；與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明的有益效果是測試設(shè)備價(jià)格低，測試速度快，降低了測試成本。


圖1是本發(fā)明的模塊圖；圖2是本發(fā)明中微控制器的流程圖；圖3是本發(fā)明中個(gè)人計(jì)算機(jī)的流程圖；
具體實(shí)施例方式
下面結(jié)合附圖與具體實(shí)施方式
對本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)描述由圖1可見本發(fā)明的測試裝置包括被測LCOS驅(qū)動芯片1；還包括微控制器2，個(gè)人計(jì)算機(jī)3；所述的被測LCOS驅(qū)動芯片1包括圖象及系統(tǒng)信號輸入電路11，圖象數(shù)據(jù)存儲電路12，圖象數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換電路13，圖象及系統(tǒng)信號輸出電路14，控制電路15，系統(tǒng)信號產(chǎn)生電路16，命令字存儲器17，I2C串行總線接口18；所述的微控制器2包括微處理器21，I2C串行總線接口22，EEPROM程序存儲器23，EEPROM數(shù)據(jù)存儲器24，RAM隨機(jī)存儲器25，顯示及輸出電路26，并行接口27，串行接口RS23228；所述的個(gè)人計(jì)算機(jī)3包括串行接口RS23231；所述的計(jì)算機(jī)3中的串行接口RS23231與微控制器2的串行接口RS23228相連；所述的微控制器2的I2C串行總線接口22與被測LCOS驅(qū)動芯片1的I2C串行總線接口18相連，并將測試命令通過命令字存儲器17傳輸?shù)娇刂齐娐?5，控制電路15對測試命令進(jìn)行分析并對測試命令進(jìn)行操作，通過圖象及系統(tǒng)信號輸出電路14輸回到被測LCOS驅(qū)動芯片1的I2C串行總線接口18；所述的微控制器2的并行接口27與被測LCOS驅(qū)動芯片1的圖象及系統(tǒng)信號輸入電路11相連；所述的微控制器2是8051型微控制器；所述的微控制器2中的EEPROM數(shù)據(jù)存儲器24存儲測試命令和所要對比的測試結(jié)果；由圖2、圖3可見本發(fā)明的測試方法是通過以下步驟實(shí)現(xiàn)的接收個(gè)人計(jì)算機(jī)來的測試命令編號；如果命令編號是圖象數(shù)據(jù)存儲器及命令字存儲器讀、寫命令、全擦、全寫命令；或者是控制電路測試命令，系統(tǒng)信號通道測試命令；根據(jù)編號調(diào)用微控制器的EEPROM數(shù)據(jù)存儲器相應(yīng)的測試命令；通過微控制器的I2C串行總線接口與被測LCOS驅(qū)動芯片的I2C串行總線接口，并將測試命令通過命令字存儲器傳輸?shù)娇刂齐娐?，控制電路對測試命令進(jìn)行分析并對測試命令進(jìn)行操作，通過圖象及系統(tǒng)信號輸出電路輸回到被測LCOS驅(qū)動芯片的I2C串行總線接口；通過微控制器的I2C串行總線接口，與微控制器的EEPROM數(shù)據(jù)存儲器的預(yù)計(jì)測試結(jié)果進(jìn)行比較；通過微控制器的串行接口RS232在個(gè)人計(jì)算機(jī)顯示；如果命令編號是圖象數(shù)據(jù)通道測試命令；微控制器在發(fā)送測試命令的同時(shí)從微控制器的EEPROM數(shù)據(jù)存儲器中將相應(yīng)的模擬圖象數(shù)據(jù)及系統(tǒng)信號取出并通過微控制器的并行接口將該信號傳送到LCOS驅(qū)動芯片的圖象及系統(tǒng)信號輸入電路，控制電路對測試命令進(jìn)行分析并對測試命令進(jìn)行操作，通過圖象及系統(tǒng)信號輸出電路輸回到被測LCOS驅(qū)動芯片的I2C串行總線接口；通過微控制器的I2C串行總線接口，與微控制器的EEPROM數(shù)據(jù)存儲器的預(yù)計(jì)測試結(jié)果進(jìn)行比較；通過微控制器的串行接口RS232在個(gè)人計(jì)算機(jī)顯示；被測LCOS驅(qū)動芯片包含圖象及系統(tǒng)信號輸入電路，圖象數(shù)據(jù)存儲電路，圖象數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換電路，圖象及系統(tǒng)信號輸出電路，控制電路，系統(tǒng)信號產(chǎn)生電路，命令字存儲器，I2C串行總線接口。其中命令字存儲器接收I2C串行總線接口來的命令，并送到控制電路執(zhí)行。命令字存儲器除能接收芯片正常運(yùn)行的命令外還能接收芯片測試命令?？刂齐娐烦軋?zhí)行正常運(yùn)行時(shí)的命令外還能執(zhí)行芯片測試命令。
8051微控制器采用8051系列單片微處理器，并包括I2C串行總線接口，EEPROM程序存儲器，EEPROM數(shù)據(jù)存儲器，RAM隨機(jī)存儲器，顯示及輸出電路。8051微控制器的I2C串行總線接口和被測LCOS驅(qū)動芯片I2C串行總線連接，8051微控制器并行口和被測LCOS驅(qū)動芯片圖象及系統(tǒng)信號輸入口相連接。個(gè)人計(jì)算機(jī)通過RS232串行口和8051微控制器相連接。
8051微控制器中的EERPOM數(shù)據(jù)存儲器存儲測試命令和所要對比的測試結(jié)果。這樣可以減少個(gè)人計(jì)算機(jī)和微處理器之間數(shù)據(jù)傳輸所需要的時(shí)間。
測試命令包括圖象數(shù)據(jù)存儲器及命令字存儲器讀、寫命令，全擦、全寫命令。圖象數(shù)據(jù)通道測試命令，控制電路測試命令，系統(tǒng)信號通道測試命令。
測試時(shí)由個(gè)人計(jì)算機(jī)通過串行口對8051微控制器發(fā)送控制命令，8051微控制器接到命令后從EEPROM數(shù)據(jù)存儲器讀取測試命令并通過I2C串行總線接口發(fā)送到被測LCOS驅(qū)動芯片。通過LCOS驅(qū)動芯片的I2C串行總線接口存入命令字存儲器并傳送到控制電路，控制電路對測試命令進(jìn)行分析并對命令進(jìn)行操作。對于圖象數(shù)據(jù)存儲器及命令字存儲器讀寫命令，全擦、全寫命令，控制電路測試命令，系統(tǒng)信號通道測試命令由控制器對相應(yīng)電路進(jìn)行操作。測試結(jié)果經(jīng)圖象及系統(tǒng)信號輸出電路送回I2C串行總線接口，返回到8051微控制器。并和8051微控制器中EEPROM數(shù)據(jù)存儲器中存儲的該測試命令的預(yù)計(jì)測試結(jié)果相比較得到芯片經(jīng)該測試命令測試后是否合格的結(jié)果，并返回到個(gè)人計(jì)算機(jī)進(jìn)行顯示。
對于圖象數(shù)據(jù)通道測試命令，8051微控制器還需要在發(fā)送測試命令的同時(shí)從EEPROM數(shù)據(jù)存儲器將相應(yīng)的模擬圖象數(shù)據(jù)及系統(tǒng)信號取出并通過并行接口將模擬的圖象數(shù)據(jù)及系統(tǒng)信號傳送到LCOS驅(qū)動芯片，在測試命令控制下通過圖象數(shù)據(jù)通道，在圖象及系統(tǒng)信號輸出電路得到相應(yīng)的數(shù)據(jù)結(jié)果，通過I2C串行總線接口返回8051微控制器并和8051微控制器中EERPOM數(shù)據(jù)存儲器中預(yù)計(jì)測試結(jié)果相比較得到芯片經(jīng)該測試命令后是否合格的結(jié)果，并返回到個(gè)人計(jì)算機(jī)進(jìn)行顯示。
8051微控制器也可以脫離個(gè)人計(jì)算機(jī)控制。先把測試程序在仿真器上調(diào)試通過后，把測試程序編譯成二進(jìn)制程序并把它燒錄到8051微控制器的EEPROM程序存儲器中，這樣測試程序固化到微處理器后，只要對8051微控制器上電復(fù)位，就可以自動進(jìn)行測試操作。
權(quán)利要求
1.一種LCOS動芯片測試裝置，包括被測LCOS驅(qū)動芯片(1)；其特征在于還包括微控制器(2)，個(gè)人計(jì)算機(jī)(3)；所述的被測LCOS驅(qū)動芯片(1)包括圖象及系統(tǒng)信號輸入電路(11)，圖象數(shù)據(jù)存儲電路(12)，圖象數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換電路(13)，圖象及系統(tǒng)信號輸出電路(14)，控制電路(15)，系統(tǒng)信號產(chǎn)生電路(16)，命令字存儲器(17)，I2C串行總線接口(18)；所述的微控制器(2)包括微處理器(21)，I2C串行總線接口(22)，EEPROM程序存儲器(23)，EEPROM數(shù)據(jù)存儲器(24)，RAM隨機(jī)存儲器(25)，顯示及輸出電路(26)，并行接口(27)，串行接口RS232(28)；所述的個(gè)人計(jì)算機(jī)(3)包括串行接口RS232(31)；所述的計(jì)算機(jī)(3)中的串行接口RS232(31)與微控制器(2)的串行接口RS232(28)相連；所述的微控制器(2)的I2C串行總線接口(22)與被測LCOS驅(qū)動芯片(1)的I2C串行總線接口(18)相連，并將測試命令通過命令字存儲器(17)傳輸?shù)娇刂齐娐?15)，控制電路(15)對測試命令進(jìn)行分析并對測試命令進(jìn)行操作，通過圖象及系統(tǒng)信號輸出電路(14)輸回到被測LCOS驅(qū)動芯片(1)的I2C串行總線接口(18)；所述的微控制器(2)的并行接口(27)與被測LCOS驅(qū)動芯片(1)的圖象及系統(tǒng)信號輸入電路(11)相連。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的LCOS驅(qū)動芯片測試裝置，其特征在于所述的微控制器(2)是8051型微控制器。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的LCOS驅(qū)動芯片測試裝置，其特征在于所述的微控制器(2)中的EEPROM數(shù)據(jù)存儲器(24)存儲測試命令和所要對比的測試結(jié)果。
4.一種LCOS驅(qū)動芯片測試裝置，包括被測LCOS驅(qū)動芯片(1)；其特征在于還包括微控制器(2)；所述的被測LCOS驅(qū)動芯片(1)包括圖象及系統(tǒng)信號輸入電路(11)，圖象數(shù)據(jù)存儲電路(12)，圖象數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換電路(13)，圖象及系統(tǒng)信號輸出電路(14)，控制電路(15)，系統(tǒng)信號產(chǎn)生電路(16)，命令字存儲器(17)，I2C串行總線接口(18)；所述的微控制器(2)包括微處理器(21)，I2C串行總線接口(22)，EEPROM程序存儲器(23)，EEPROM數(shù)據(jù)存儲器(24)，RAM隨機(jī)存儲器(25)，顯示及輸出電路(26)，并行接口(27)，串行接口RS232(28)；所述的EEPROM程序存儲器(23)包括測試程序；所述的微控制器(2)的I2C串行總線接口(22)與被測LCOS驅(qū)動芯片(1)的I2C串行總線接口(18)相連，并將測試命令通過命令字存儲器(17)傳輸?shù)娇刂齐娐?15)，控制電路(15)對測試命令進(jìn)行分析并對測試命令進(jìn)行操作，通過圖象及系統(tǒng)信號輸出電路(14)輸回到被測LCOS驅(qū)動芯片(1)的I2C串行總線接口(18)；所述的微控制器(2)的并行接口(27)與被測LCOS驅(qū)動芯片(1)的圖象及系統(tǒng)信號輸入電路(11)相連。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的LCOS驅(qū)動芯片測試裝置，其特征在于所述的微控制器(2)是8051型微控制器。
6.根據(jù)權(quán)利要求4或5所述的LCOS驅(qū)動芯片測試裝置，其特征在于所述的微控制器(2)中的EEPROM數(shù)據(jù)存儲器(24)存儲測試命令和所要對比的測試結(jié)果。
7.一種如權(quán)利要求1的測試方法，是通過以下步驟實(shí)現(xiàn)的接收個(gè)人計(jì)算機(jī)來的測試命令編號；如果命令編號是圖象數(shù)據(jù)存儲器及命令字存儲器讀、寫命令、全擦、全寫命令；或者是控制電路測試命令，系統(tǒng)信號通道測試命令；根據(jù)編號調(diào)用微控制器的EEPROM數(shù)據(jù)存儲器相應(yīng)的測試命令；通過微控制器的I2C串行總線接口與被測LCOS驅(qū)動芯片的I2C串行總線接口，并將測試命令通過命令字存儲器傳輸?shù)娇刂齐娐罚刂齐娐穼y試命令進(jìn)行分析并對測試命令進(jìn)行操作，通過圖象及系統(tǒng)信號輸出電路輸回到被測LCOS驅(qū)動芯片的I2C串行總線接口；通過微控制器的I2C串行總線接口，與微控制器的EEPROM數(shù)據(jù)存儲器的預(yù)計(jì)測試結(jié)果進(jìn)行比較；通過微控制器的串行接口RS232在個(gè)人計(jì)算機(jī)顯示；如果命令編號是圖象數(shù)據(jù)通道測試命令；微控制器在發(fā)送測試命令的同時(shí)從微控制器的EEPROM數(shù)據(jù)存儲器中將相應(yīng)的模擬圖象數(shù)據(jù)及系統(tǒng)信號取出并通過微控制器的并行接口將該信號傳送到LCOS驅(qū)動芯片的圖象及系統(tǒng)信號輸入電路，控制電路對測試命令進(jìn)行分析并對測試命令進(jìn)行操作，通過圖象及系統(tǒng)信號輸出電路輸回到被測LCOS驅(qū)動芯片的I2C串行總線接口；通過微控制器的I2C串行總線接口，與微控制器的EEPROM數(shù)據(jù)存儲器的預(yù)計(jì)測試結(jié)果進(jìn)行比較；通過微控制器的串行接口RS232在個(gè)人計(jì)算機(jī)顯示。
8.一種如權(quán)利要求4的測試方法，是通過以下步驟實(shí)現(xiàn)的通過微控制器的上電復(fù)位，以調(diào)用測試程序中的命令編號；如果命令編號是圖象數(shù)據(jù)存儲器及命令字存儲器讀、寫命令、全擦、全寫命令；或者是控制電路測試命令，系統(tǒng)信號通道測試命令；根據(jù)編號調(diào)用微控制器的EEPROM數(shù)據(jù)存儲器相應(yīng)的測試命令；通過微控制器的I2C串行總線接口與被測LCOS驅(qū)動芯片的I2C串行總線接口，并將測試命令通過命令字存儲器傳輸?shù)娇刂齐娐?，控制電路對測試命令進(jìn)行分析并對測試命令進(jìn)行操作，通過圖象及系統(tǒng)信號輸出電路輸回到被測LCOS驅(qū)動芯片的I2C串行總線接口；通過微控制器的I2C串行總線接口，與微控制器的EEPROM數(shù)據(jù)存儲器的預(yù)計(jì)測試結(jié)果進(jìn)行比較；如果命令編號是圖象數(shù)據(jù)通道測試命令；微控制器在發(fā)送測試命令的同時(shí)從微控制器的EEPROM數(shù)據(jù)存儲器中將相應(yīng)的模擬圖象數(shù)據(jù)及系統(tǒng)信號取出并通過微控制器的并行接口將該信號傳送到LCOS驅(qū)動芯片的圖象及系統(tǒng)信號輸入電路，控制電路對測試命令進(jìn)行分析并對測試命令進(jìn)行操作，通過圖象及系統(tǒng)信號輸出電路輸回到被測LCOS驅(qū)動芯片的I2C串行總線接口；通過微控制器的I2C串行總線接口，與微控制器的EEPROM數(shù)據(jù)存儲器的預(yù)計(jì)測試結(jié)果進(jìn)行比較。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種LCOS驅(qū)動芯片測試裝置，包括被測LCOS驅(qū)動芯片(1)，微控制器(2)，個(gè)人計(jì)算機(jī)(3)；計(jì)算機(jī)(3)中的串行接口RS232(31)與微控制器(2)的串行接口RS232(28)相連；微控制器(2)的I
文檔編號G01R31/28GK1779478SQ200410084488
公開日2006年5月31日 申請日期2004年11月24日 優(yōu)先權(quán)日2004年11月24日
發(fā)明者印義言, 張敏, 王立輝, 印義中 申請人:上海華園微電子技術(shù)有限公司