專利名稱：輝光放電光譜儀專用分析夾具的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種輝光放電光譜儀專用分析夾具。
背景技術(shù)：
輝光放電光譜儀是一種用于分析金屬材料化學(xué)成分、金屬表面鍍層厚度和鍍層化學(xué)成分的先進(jìn)儀器，該儀器的特點(diǎn)是對(duì)固體塊狀樣品直接進(jìn)行分析，無(wú)需化學(xué)溶樣處理，但它對(duì)樣品的尺寸和形狀有一定的要求，即樣品必須有一個(gè)直徑大于14mm的平面區(qū)域，便于樣品能完全覆蓋住輝光放電燈的密封圈。但在實(shí)際使用中，許多樣品都不能滿足條件，因而也就限制了輝光放電光譜儀的適用范圍。

發(fā)明內(nèi)容
為了克服現(xiàn)有技術(shù)中普通輝光放電光譜儀對(duì)樣品的尺寸規(guī)格要求高、適用范圍較小的問題，本實(shí)用新型提供一種輝光放電光譜儀專用分析夾具，該輝光放電光譜儀專用分析夾具的結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、可降低輝光放電光譜儀對(duì)樣品的規(guī)格要求、擴(kuò)大輝光放電光譜儀的適用范圍。
本實(shí)用新型解決其技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是包括基座、頂塊、彈簧和密封圈，基座中設(shè)置盲孔，彈簧及與彈簧相連的頂塊裝設(shè)在基座的盲孔中，盲孔開口端的基座端面上設(shè)置密封圈。
彈簧的一端固定在盲孔底部。
本實(shí)用新型通過上述具體設(shè)計(jì)，可將輝光放電光譜儀可分析的樣品尺寸規(guī)格減小到7mm左右，因此大大擴(kuò)展了輝光放電光譜儀的適用范圍，具有結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、使用方便可靠的優(yōu)點(diǎn)。
以下結(jié)合附圖
和實(shí)施例說明本實(shí)用新型的詳細(xì)內(nèi)容。
附圖是本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式
如圖所示，本實(shí)用新型包括基座1、頂塊2、彈簧3和密封圈4，基座1中設(shè)置盲孔5，彈簧3及與彈簧3相連的頂塊2裝設(shè)在基座1的盲孔5中，彈簧3的一端固定在盲孔5底部，盲孔5開口端的基座1端面上設(shè)置密封圈4。在使用狀態(tài)下，只需將直徑小于14mm的小樣品由頂塊2頂壓在輝光放電燈的陽(yáng)級(jí)端口，基座1端面上的密封圈4與工作端面保持密封，即可進(jìn)行分析測(cè)試操作。
權(quán)利要求1.一種輝光放電光譜儀專用分析夾具，其特征是包括基座(1)、頂塊(2)、彈簧(3)和密封圈(4)，基座(1)中設(shè)置盲孔(5)，彈簧(3)及與彈簧(3)相連的頂塊(2)裝設(shè)在基座(1)的盲孔(5)中，盲孔(5)開口端的基座(1)端面上設(shè)置密封圈(4)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的輝光放電光譜儀專用分析夾具，其特征是彈簧(3)的一端固定在盲孔(5)底部。
專利摘要本實(shí)用新型涉及一種輝光放電光譜儀專用分析夾具，包括基座、頂塊、彈簧和密封圈，基座中設(shè)置盲孔，彈簧及與彈簧相連的頂塊裝設(shè)在基座的盲孔中，彈簧的一端固定在盲孔底部，盲孔開口端的基座端面上設(shè)置密封圈。本實(shí)用新型克服了現(xiàn)有技術(shù)中普通輝光放電光譜儀對(duì)樣品尺寸規(guī)格的要求高、適用范圍較小的缺陷，通過上述設(shè)計(jì)，可將輝光放電光譜儀可分析的樣品尺寸規(guī)格減小到7mm左右，因此大大擴(kuò)展了輝光放電光譜儀的適用范圍，具有結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、使用方便可靠的優(yōu)點(diǎn)。
文檔編號(hào)G01N21/17GK2750318SQ20042010924
公開日2006年1月4日 申請(qǐng)日期2004年11月26日 優(yōu)先權(quán)日2004年11月26日
發(fā)明者張加民 申請(qǐng)人:溫州市工業(yè)科學(xué)研究院