專利名稱:儲(chǔ)存及設(shè)定微電子電路電路狀態(tài)的方法及裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域:
本發(fā)明是關(guān)于一種用以儲(chǔ)存與設(shè)定一微電子電路的方法及其適當(dāng)之裝置,其中該微電子電路包含至少一用于測(cè)試該電路之掃描鏈(scanchain)。
背景技術(shù):
在CMOS技術(shù)之電路的例子中,一般會(huì)在不需要某些電路部分時(shí),將至少一部份電路中斷連接,此做法可有效避免晶體管的漏電流(leakage currents),藉以減少該電路之功率消耗。中斷連接所產(chǎn)生的一項(xiàng)問題在于電路操作狀態(tài)會(huì)被重新儲(chǔ)存或設(shè)定;除了重新供給該電路供應(yīng)電壓之外,在切換經(jīng)中斷連接之電路為開啟的期間中,亦必須將該經(jīng)中斷連接之電路的儲(chǔ)存組件(寄存器)加以初始化;然由于需要將電路中斷連接之前所儲(chǔ)存的值寫入該等寄存器,因此在許多連接情形中,將所有的寄存器以零(zero)值加以初始化并不適當(dāng)。
圖1說明了根據(jù)習(xí)知技藝之微電子系統(tǒng)中部分的電路方塊圖;其中系欲將電路區(qū)段2加以中斷連接。在中斷連接之前,為重新儲(chǔ)存該電路區(qū)段2之操作狀態(tài)所需要之該電路區(qū)段2的寄存器R1、R2與R3之內(nèi)容系經(jīng)由一總線6而正常傳輸至一寄存器堆7。在圖1所示的例子中,該等寄存器R1與R3的內(nèi)容系儲(chǔ)存于該寄存器堆7的寄存器R4與R5中;而根據(jù)該習(xí)知技藝之方法因下列原因而仍存在部分問題就一方面而言,其需要特別的配線來將該電路區(qū)段2中之該等寄存器R1至R3的內(nèi)容置放于該總線6;而在另一方面,在儲(chǔ)存該寄存器的內(nèi)容之過程中,該總線6之狀態(tài)則為“忙碌”而無法供其它操作之用。
圖2則詳細(xì)說明了該電路區(qū)段2,在其連接中,圖1之寄存器R1或R2或R3系分別被表示為8個(gè)1-位寄存器A1-A8或B1-B8或C1-C8。基于測(cè)試能力的原因,所有的寄存器A1-8、B1-8、C1-8均根據(jù)習(xí)知技藝而正常配置于所謂之掃描鏈中,藉由一或多個(gè)掃描鏈之輔助,所有的寄存器均被結(jié)合以形成一或多個(gè)位移寄存器;因此,所有的寄存器均能夠?yàn)榱藴y(cè)試目的而對(duì)其加以寫入或讀取。這樣的方式可將測(cè)試連續(xù)電路之問題轉(zhuǎn)化為基本上較為簡(jiǎn)單的測(cè)試結(jié)合電路之問題。在圖2所示的例子中,所有的寄存器皆藉由一掃描鏈14而結(jié)合,該掃描鏈14則藉由一測(cè)試控制系統(tǒng)4而于上述情形中加以激活。
在圖2所示的例子中,該等1-位寄存器A1-C8系無規(guī)分布于該電路區(qū)段2中,特別是,通常該電路區(qū)段2為半訂制與有限狀態(tài)的計(jì)算器?;跍y(cè)試考量,所有寄存器A1-C8皆為一掃描鏈14之組件,其中該掃描鏈14之輸入與該電路區(qū)段2之一輸入終端12連接,而其輸出則與該電路區(qū)段之一輸出終端13連接,該掃描鏈則藉以連接至一測(cè)試控制系統(tǒng)4。在圖2中,該電路區(qū)段2的實(shí)際輸入/輸出系以io1-8表示;在此類型之電路中,需要一適當(dāng)?shù)呐渚€復(fù)雜度以直接經(jīng)由一并行總線6而存取所有的1-位寄存器A1-C8,其目的正如習(xí)知技藝中者,是在于為了儲(chǔ)存與設(shè)定操作狀態(tài)。
根據(jù)習(xí)知技藝,另一個(gè)無須儲(chǔ)存中斷連接前的操作狀態(tài)以及在重新切換開啟時(shí)再次設(shè)定該操作狀態(tài)之中斷連接該電流區(qū)段2中至少一區(qū)段的可能性包含了在該區(qū)段電路2中分配一額外供應(yīng)電壓,并將所有的寄存器A1-C8連接于此;這樣的例子的缺點(diǎn)在于,就一方面而言,無法中斷連接整體之電路區(qū)段2,而另一方面,需要額外之供應(yīng)電壓仍需要一附加的配線。
因此本發(fā)明的目的在于提供一方法與一相關(guān)的裝置以儲(chǔ)存或設(shè)定一微電子電路的操作狀態(tài),其可避免習(xí)知技藝者之上述缺點(diǎn)。
根據(jù)本發(fā)明,此一目的系藉由一如權(quán)利要求1之電路狀態(tài)儲(chǔ)存方法、一如權(quán)利要求5之電路狀態(tài)設(shè)定方法與一如權(quán)利要求9之電路狀態(tài)儲(chǔ)存與重新儲(chǔ)存方法所達(dá)成,并藉由一如權(quán)利要求10之電路狀態(tài)儲(chǔ)存裝置、一如權(quán)利要求18之電路狀態(tài)設(shè)定裝置與一根據(jù)權(quán)利要求26之電路狀態(tài)儲(chǔ)存與重新儲(chǔ)存裝置而達(dá)成。權(quán)利要求之依附項(xiàng)則定義了本發(fā)明之較佳實(shí)施例。
發(fā)明內(nèi)容
在本發(fā)明之范疇中,提供了一種用于儲(chǔ)存一微電子電路之一電路狀態(tài)的方法,該微電子電路包含了至少一掃描鏈以測(cè)試該電路;在此連接中,該方法系使用了該至少一掃描鏈以儲(chǔ)存該電路狀態(tài),而該至少一掃描鏈之內(nèi)容則轉(zhuǎn)移至至少一存儲(chǔ)器。
根據(jù)習(xí)知技藝,該掃描鏈系同樣僅供測(cè)試該電路之用,而且該掃描鏈在習(xí)知的該電路之一非測(cè)試相中是多余且麻煩的,然在需要如習(xí)知者儲(chǔ)存該電路狀態(tài)時(shí),藉由使用一掃描鏈以儲(chǔ)存該電路狀態(tài),便能夠無須擴(kuò)充該電路即可儲(chǔ)存該電路之電路狀態(tài)。
在本方法之連接中,一旦偵測(cè)到一控制信號(hào)具有一預(yù)定值時(shí),便將該至少一掃描鏈之內(nèi)容轉(zhuǎn)移至該至少一存儲(chǔ)器;此外,一旦開始將該至少一掃描鏈之內(nèi)容轉(zhuǎn)移至該至少一存儲(chǔ)器時(shí),即設(shè)定一確認(rèn)信號(hào)至一預(yù)定值。
用于儲(chǔ)存該電路狀態(tài)之方法系藉由該控制信號(hào)之輔助而開始,該確認(rèn)信號(hào)則指示了目前該電路狀態(tài)正在被儲(chǔ)存。
此外,在一較佳實(shí)施例中,系將一時(shí)鐘信號(hào)饋送至該至少一存儲(chǔ)器與該至少一掃描鏈,直到該至少一掃描鏈之內(nèi)容已經(jīng)被轉(zhuǎn)移至該至少一存儲(chǔ)器。在此連接中,該電路最好是額外藉由一測(cè)試初始信號(hào)的輔助,而處于一而處于一狀態(tài),其中,可藉由該掃描鏈之一轉(zhuǎn)移操作而轉(zhuǎn)移出該至少一掃描鏈之內(nèi)容。
本方法藉此而執(zhí)行了所有需要的步驟,以將儲(chǔ)存于一或多個(gè)掃描鏈中的一電路狀態(tài)自所述之一或多個(gè)掃描鏈轉(zhuǎn)移至一或多個(gè)存儲(chǔ)器。
本發(fā)明一提供了一種設(shè)定一微電子電路之一電路狀態(tài)的方法,該微電子電路包含了至少一掃描鏈以測(cè)試該電路;在此連接中,該方法系使用了該至少一掃描鏈以設(shè)定該電路狀態(tài),而該至少一存儲(chǔ)器之內(nèi)容則轉(zhuǎn)移至該至少一掃描鏈。
在該電路中,掃描鏈已是該電路之一組件,由于使用了一或多個(gè)掃描鏈來設(shè)定該電路狀態(tài),但卻根據(jù)習(xí)知技藝而用以專門測(cè)試該電路,因此,根據(jù)本發(fā)明,無須擴(kuò)充該電路以設(shè)定該電路狀態(tài),而這在習(xí)知技藝中卻是需要的。
根據(jù)本發(fā)明,一旦偵測(cè)到一控制信號(hào)具有一預(yù)定值時(shí),便將該至少一存儲(chǔ)器之內(nèi)容轉(zhuǎn)移至該至少一掃描鏈;此外,一旦該至少一存儲(chǔ)器之內(nèi)容已經(jīng)轉(zhuǎn)移至該至少一掃描鏈時(shí),即設(shè)定一確認(rèn)信號(hào)至一預(yù)定值。
因此,本發(fā)明之設(shè)定電路狀態(tài)方法系藉由該控制信號(hào)的輔助而開始,而該確認(rèn)信號(hào)則指示了該電路狀態(tài)正在被設(shè)定。
較佳為,藉由饋送一時(shí)鐘信號(hào)至該至少一存儲(chǔ)器與該至少一掃描鏈,直到該至少一存儲(chǔ)器之內(nèi)容已經(jīng)轉(zhuǎn)移至該至少一掃描鏈,便可將該至少一存儲(chǔ)器之內(nèi)容轉(zhuǎn)移至該至少一掃描鏈。在所述之轉(zhuǎn)移操作期間,該電路最好是藉由一測(cè)試信號(hào)的輔助而處于一可藉由該掃描鏈之一轉(zhuǎn)移操作而轉(zhuǎn)移入該至少一掃描鏈之內(nèi)容的狀態(tài)。
因此本方法藉由該至少一掃描鏈的輔助而控制了用于設(shè)定任何所欲之電路狀態(tài)的所有必須步驟,而該電路狀態(tài)則已寫入該至少一存儲(chǔ)器中。
而舉例而言,本發(fā)明之設(shè)定電路狀態(tài)方法系可用以重新配置或改變其配置。
在本發(fā)明之范疇中,亦提供了一種用于儲(chǔ)存與重新儲(chǔ)存一微電子電路之一電路狀態(tài)的方法,該微電子電路包含了至少一掃描鏈以測(cè)試該電路;在此連接中,所述方法系以前述揭露之儲(chǔ)存電路狀態(tài)方法與設(shè)定電路狀態(tài)方法為基礎(chǔ)。
為儲(chǔ)存與重新儲(chǔ)存該電路之電路狀態(tài),所述之方法使用了如習(xí)知者之一或多個(gè)掃描鏈,以專門用于測(cè)試該電路;因此,根據(jù)本發(fā)明,該方法端口需要對(duì)該電路進(jìn)行擴(kuò)充(例如額外之配線或附加的組件)。藉由該方法之輔助,可儲(chǔ)存欲中斷之電路或電路區(qū)段的電路狀態(tài),以儲(chǔ)存在中斷連接該電路前之能量,并在該電路之供應(yīng)電壓再次切換為開啟后,重新設(shè)定所儲(chǔ)存之電路狀態(tài);因此,在已將該供應(yīng)電壓切換為開啟之后,該電路能夠毫無問題地繼續(xù)它在中斷連接之前所已經(jīng)開始的操作。
本發(fā)明同樣提供一種用以儲(chǔ)存一微電子電路之電路狀態(tài)的裝置,其包含至少一掃描鏈以測(cè)試該電路;在此連接中,該裝置系設(shè)計(jì)以激活該至少一掃描鏈與至少一存儲(chǔ)器,以儲(chǔ)存該電路狀態(tài),而將該至少一掃描鏈之內(nèi)容轉(zhuǎn)移至該至少一存儲(chǔ)器。
該裝置系設(shè)計(jì)以于該電路一旦藉由該至少一掃描鏈與該至少一存儲(chǔ)器而將該至少一掃描鏈之內(nèi)容轉(zhuǎn)移至該至少一存儲(chǔ)器時(shí),即中斷連接該電路之一供應(yīng)電壓。
由于該裝置在該電路已儲(chǔ)存了該電路之電路狀態(tài)后,其本身將中斷連接該電路之供應(yīng)電壓,因而其優(yōu)勢(shì)在欲中斷連接該電路之一主控制裝置只需要激活該裝置;此外,由于該電路之供應(yīng)電壓只有在該電路之電路狀態(tài)以轉(zhuǎn)移至該至少一存儲(chǔ)器后才中斷連接,因此其優(yōu)勢(shì)在于該裝置系自得之該電路之電路狀態(tài)已完全轉(zhuǎn)移至該至少一存儲(chǔ)器時(shí),即中斷連接該供應(yīng)電壓。
根據(jù)本發(fā)明,該至少一存儲(chǔ)器系為至少一位移寄存器。
由于該至少一掃描鏈系為一或多個(gè)位移寄存器,因此其優(yōu)勢(shì)在于,基于同步化的原因,當(dāng)該至少一或多個(gè)掃描鏈之內(nèi)容轉(zhuǎn)移至該至少一存儲(chǔ)器時(shí),該至少一存儲(chǔ)器亦為一或多個(gè)位移寄存器。
根據(jù)本發(fā)明,該裝置連同該電路系屬于一主微電子電路,其中,該電路系屬于該主電子電路之可中斷連接該供應(yīng)電壓之一區(qū)域中;而在一較佳實(shí)施例中,該裝置系屬于至少在該電路之供應(yīng)電壓中斷連接期間,在該主微電子電路中所無法中斷連接供應(yīng)電壓的一區(qū)域中。此外,該裝置系包含至少一存儲(chǔ)器。
由于該裝置連同該至少一存儲(chǔ)器系為同樣含有可中斷連接電路之該主微電子電路中的一項(xiàng)組件,因而該電路能夠在該主微電子電路內(nèi)中斷連接,而不會(huì)遺失該電路之電路狀態(tài);這是因?yàn)楦鶕?jù)本發(fā)明之裝置,該主微電子電路能夠獨(dú)立儲(chǔ)存該電路之電路狀態(tài)于屬于該裝置與該主微電子電路之該至少一存儲(chǔ)器中。
此外,本發(fā)明包含了一種用于設(shè)定一微電子電路之電路狀態(tài)的裝置,其包含了至少一掃描鏈以測(cè)試該電路;在此連接中,該裝置系設(shè)計(jì)以激活該至少一掃描鏈與至少一存儲(chǔ)器,以設(shè)定該電路狀態(tài),而將該至少一存儲(chǔ)器之內(nèi)容轉(zhuǎn)移至該至少一掃描鏈。
根據(jù)本發(fā)明,該裝置系設(shè)計(jì)以于該電路一旦藉由該至少一掃描鏈與該至少一存儲(chǔ)器而轉(zhuǎn)移該至少一掃描鏈之內(nèi)容前,即將該電路之一供應(yīng)電壓切換為開啟。
由于該裝置本身在其設(shè)定該電路之電路狀態(tài)前,便將該電路之供應(yīng)電壓切換開啟,因而其優(yōu)勢(shì)在于讓所中斷連接之電路再次操作之一主控制裝置僅需要激活該裝置。此外,由于所儲(chǔ)存之內(nèi)容僅于該電路中到處供應(yīng)該供應(yīng)電壓時(shí),開始轉(zhuǎn)移至該至少一掃描鏈,其優(yōu)勢(shì)在于該裝置本身即可將該電路之供應(yīng)電壓切換開啟,這是因?yàn)樵谠摴?yīng)電壓被供至該電路中之所有組件時(shí),該裝置藉此而能夠?qū)ζ溆行гu(píng)估。
較佳為,該裝置連同該電路系屬于一主微電子電路,其中,該電路系屬于該主電子電路之可中斷連接該供應(yīng)電壓之一區(qū)域中;而在另一方面,該裝置系屬于至少在該電路之供應(yīng)電壓中斷連接期間,在該主微電子電路中所無法中斷連接供應(yīng)電壓的一區(qū)域中。此外,該裝置系包含至少一存儲(chǔ)器。
這確認(rèn)了該主微電子電路能夠藉由該裝置而獨(dú)立將該電路之供應(yīng)電壓切換開啟,并能夠接著再次藉由該裝置而使該電路處于一電路狀態(tài),其中該電路狀態(tài)系藉由加載同樣為該裝置與該微電子電路之一組件的該至少一存儲(chǔ)器而預(yù)先決定。
此外,本發(fā)明提供了一種用以儲(chǔ)存與重新儲(chǔ)存一微電子電路之電路狀態(tài)的裝置,其包含了至少一掃描鏈以測(cè)試該電路;在此連接中,該裝置系設(shè)計(jì)為能夠如前述之裝置而儲(chǔ)存一電路狀態(tài),亦能夠如前述之裝置而設(shè)定一電路狀態(tài)。
在此連接中,該裝置連同該電路系屬于一主微電子電路,其中,該電路系屬于該主電子電路之可中斷連接該供應(yīng)電壓之一區(qū)域中;而在另一方面,該裝置系屬于至少在該電路之供應(yīng)電壓中斷連接期間,在該主微電子電路中所無法中斷連接供應(yīng)電壓的一區(qū)域中。
這樣的微電子電路能夠藉由根據(jù)本發(fā)明之裝置而幾乎在任何所需要的時(shí)刻獨(dú)立拯救該電路之電路狀態(tài),并接著藉由該裝置而將該電路之供應(yīng)電壓切換關(guān)閉,藉此而節(jié)省能源。一旦該主微電子電路偵測(cè)到該電路之操作需繼續(xù)執(zhí)行,該電路之供應(yīng)電壓便可藉由該裝置之輔助而再次被切換開啟,而之前所拯救之電路狀態(tài)便可藉由該裝置之輔助而被再次設(shè)定。
然而,該裝置系可用于重新配置該電路或是改變?cè)撾娐分渲茫又訙摴?yīng)電壓之切換開啟與中斷連接。在重新配置的例子中所設(shè)定的電路狀態(tài)系為一已藉由該裝置而預(yù)先拯救之電路狀態(tài);然而,其亦可一在其它地方產(chǎn)生(例如藉由電路設(shè)計(jì)工具的輔助)而從未在該電路中設(shè)定之電路狀態(tài)。
較佳為,本發(fā)明適于用以暫時(shí)中斷連接某一電路區(qū)段之CMOS電路以節(jié)省能源,并于稍后再次需要時(shí)將其切換開啟。當(dāng)然,本發(fā)明并不限于CMOS技術(shù),而是能夠使用于任何技術(shù)之電路中,其中該電路中所有需要用來設(shè)定該電路之一電路狀態(tài)的寄存器系與一或多個(gè)掃描鏈合并使用。
以下將伴隨下列圖式并配合較佳實(shí)施例之說明,以進(jìn)一步詳細(xì)解釋本發(fā)明;其中圖1系根據(jù)習(xí)知技藝,用以說明一微電子系統(tǒng)中電路區(qū)段之方塊電路圖,其中一電路區(qū)段系被反復(fù)中斷連接;圖2系為圖1所示之電路區(qū)段的詳細(xì)圖式;圖3系根據(jù)本發(fā)明裝置之一較佳實(shí)施例連同含有與一連接鏈接合之寄存器之電路的簡(jiǎn)化圖式;圖4系根據(jù)本發(fā)明裝置之另一較佳實(shí)施例連同含有如圖3所示之與連接鏈接合的寄存器之電路的簡(jiǎn)化圖式,其含有三條掃描鏈;圖5系為一根據(jù)本發(fā)明之裝置、一存儲(chǔ)器、一電路與一狀態(tài)寄存器之方塊電路圖;以及圖6系為儲(chǔ)存與重新儲(chǔ)存一電路狀態(tài)之時(shí)序圖。
具體實(shí)施例方式
圖3圖標(biāo)說明了一裝置1,其包含有一位移寄存器3與連同之一電路2,該裝置1與該電路2系屬于一主微電子電路;在此連接中,該電路2中所有的寄存器A1-C8系結(jié)合于一掃描鏈14中。此外,該電路2具有能夠經(jīng)由一總線6而加以設(shè)定或讀出之輸入/輸出io1-8。當(dāng)該電路2屬于該主微電子電路中能夠中斷連接供應(yīng)電壓之區(qū)域時(shí),該裝置1系屬于該主微電子電路中,總是能夠施以供應(yīng)電壓之區(qū)域。
現(xiàn)在將說明在中斷連接該電路2之供應(yīng)電壓之前所需要的步驟。首先,該裝置1將該電路2之一測(cè)試初始信號(hào)11設(shè)定至一預(yù)定值,該電路2系因此而處于一狀態(tài),使得該掃描鏈14能夠如一位移寄存器般執(zhí)行操作。此外,該裝置1確認(rèn)了該電路2之一時(shí)鐘信號(hào)(圖中未示)仍保持有效(儲(chǔ)存所需之時(shí)序周期數(shù)=該掃描鏈14中之寄存器A1-C8數(shù)=24),直到所有與該掃描鏈14結(jié)合之寄存器A1-C8已藉由該電路2之一掃描鏈輸出終端13而將其值轉(zhuǎn)移至該位移寄存器3,其中該電路2之一中斷系連接至該位移寄存器3之一輸入;該時(shí)鐘信號(hào)接著便釋放(deactivate)該裝置1,重置該測(cè)試初始信號(hào)11并中斷連接該電路2之供應(yīng)電壓。
需要注意的是該裝置1僅能夠在所指定之該位移寄存器3包含了至少與結(jié)合置該掃描鏈14之該等寄存器A1-C8為數(shù)相同之1-位存儲(chǔ)器位置時(shí)操作。
現(xiàn)在將說明將該電路2之供應(yīng)電壓再次切換開啟,以及設(shè)定先前所儲(chǔ)存之電路狀態(tài)或是由該位移寄存器3所定義之另一電路狀態(tài)所需要的步驟。首先該裝置1將該電路2之供應(yīng)電壓切換開啟;正如儲(chǔ)存電路狀態(tài)的例子中,該裝置1接著便藉由該測(cè)試初始信號(hào)11而使得該電路2處于一能夠使得該掃描鏈14如一位移寄存器般執(zhí)行操作之狀態(tài)。此外,該裝置1確認(rèn)了該電路2之時(shí)鐘信號(hào)系被激活,以使與該掃描鏈14結(jié)合之所有24個(gè)寄存器A1-C8都能夠經(jīng)由該電路2之一掃描鏈輸入終端13并根據(jù)該寄存器3之24個(gè)1-位寄存器單元s1-s24之內(nèi)容而加以設(shè)定,其中該電路2之該掃描鏈輸入終端13系連接至該位移寄存器3之一輸出。在24個(gè)時(shí)序周期之后,該裝置1重置了該測(cè)試初始信號(hào)11,因此該電路2便能夠重新正常操作。
圖4同樣說明了用于儲(chǔ)存與設(shè)定一電路狀態(tài)之裝置1及其電路2;與圖3所示之電路2比較,該電路2之該等寄存器A1-C8系與三條掃描鏈14a-c結(jié)合,其中寄存器A1-8屬于掃描鏈14a、寄存器B1-8屬于掃描鏈14b而寄存器C1-8則屬于掃描鏈14c。因此,該裝置1亦包含了三條8-位-頻級(jí)之位移寄存器3a-c,而非一24-位-頻級(jí)之位移寄存器3;該第一位移寄存器3a之一輸入系連接至該第一掃描鏈14a之一輸出,而該第一位移器3a之一輸出則連接至該第一掃描鏈14a之一輸入;同樣的,該第二位移寄存器3b或該第三位移寄存器3c之一輸入系分別連接至該第二掃描鏈14b或該第三掃描鏈14c之一輸出,而該第二寄存器3b或該第三寄存器3c之一輸出則分別連接至該第二掃描鏈14b或該第三掃描鏈14c之一輸入。在此連接中,該第一位移寄存器3a系包含了八個(gè)1-位寄存器單元s1a-s8a,該第二位移寄存器3b系包含了八個(gè)1-位寄存器單元s1b-s8b,而該第三位移寄存器3c則包含了八個(gè)1-位寄存器單元s1c-s8c。
在儲(chǔ)存或設(shè)定該裝置1之一電路狀態(tài)期間的操作模式在本質(zhì)上系對(duì)應(yīng)至如圖3所示之該裝置1的操作模式;其個(gè)別差異再于圖4所示之該裝置1僅需要八個(gè)時(shí)序周期以儲(chǔ)存或設(shè)定配置于該三條掃描鏈14a-14c之該等寄存器A8-C8。
圖4所示之電路實(shí)例說明了其優(yōu)勢(shì)在于指定至該裝置1中具有與該電路2所擁有的掃描鏈14a-c等數(shù)之1-位-頻寬位移寄存器3a-c之該存儲(chǔ)器;此外,各位移寄存器應(yīng)具有至少與所指定之掃描鏈含有之寄存器一樣多的存儲(chǔ)器單元。然而,舉例而言,僅具有一包含了24存儲(chǔ)器單元的1-位-頻寬位移寄存器之存儲(chǔ)器亦可用于如圖4所示之該裝置1;然而在該例中,該裝置1需要藉由輔助以于一方面連載從該等掃描鏈14a-c同時(shí)抵達(dá)之位,另一方面則可對(duì)來自該位移寄存器之連續(xù)位加以平行化以供該等掃描鏈14a-c之用。
圖5說明了一電路方塊圖,其中包含了一裝置1、一存儲(chǔ)器3、一電路2與一狀態(tài)寄存器31。在此連接中,假設(shè)該電路2對(duì)應(yīng)至圖4所示之電路2,而包含了三個(gè)位移寄存器3a-c之該存儲(chǔ)器3系如圖4所建構(gòu)者。當(dāng)對(duì)應(yīng)至一控制信號(hào)21之位在該狀態(tài)寄存器31中被設(shè)定為“0”時(shí),該裝置1便藉由確認(rèn)信號(hào)22而于該狀態(tài)寄存器31中將一鏈接至該確認(rèn)信號(hào)22之位設(shè)定為“0”;此外,該裝置1系藉由該等位移寄存器3a-3c的輔助而開始儲(chǔ)存該電路2之電路狀態(tài),并接著中斷連接該電路2之供應(yīng)電壓;其細(xì)節(jié)將藉由圖6之輔助而加以詳細(xì)說明。當(dāng)對(duì)應(yīng)至該控制信號(hào)21之該位被重新設(shè)定為“1”時(shí),該裝置1則重新將該電路2之供應(yīng)電壓切換開啟,并開始重新設(shè)定先前所儲(chǔ)存之該電路2的電路狀態(tài);最后該狀態(tài)寄存器31中的對(duì)應(yīng)位將藉由該確認(rèn)信號(hào)22而被設(shè)定為值“1”,而該信號(hào)系為該電路2所預(yù)備執(zhí)行操作者。
圖6表示儲(chǔ)存與重新儲(chǔ)存一電路狀態(tài)之時(shí)序圖;在此圖中,A表示開始儲(chǔ)存該電路狀態(tài)、B表示開始中斷連接該電路2之供應(yīng)電壓、C表示開始重新將該電路2之供應(yīng)電壓切換開啟、D表示開始設(shè)定該電路狀態(tài),而E表示該電路2開始正常操作。在此連接中,圖6之時(shí)序圖代表了最重要信號(hào)的時(shí)序變化,信號(hào)X的時(shí)序變化系由代表符號(hào)X’表示,舉例而言,該控制信號(hào)21的時(shí)序變化便表示為21’。
當(dāng)在該狀態(tài)寄存器31中對(duì)應(yīng)至該控制信號(hào)21之位被設(shè)定為“0”時(shí),該裝置1一方面會(huì)將該確認(rèn)信號(hào)22設(shè)定為值“0”,而另一方面會(huì)將測(cè)試初始信號(hào)設(shè)定為“1”,其將使該電路2處于一狀態(tài)而使該電路2之該等掃描鏈14a-c能夠以位移寄存器方式操作。此外,該裝置1系藉由一時(shí)鐘信號(hào)17而將經(jīng)由一時(shí)鐘信號(hào)16所設(shè)定之一時(shí)序傳送至該存儲(chǔ)器3,其中止了此一傳送,而同樣的,在經(jīng)過足夠?qū)⒃撾娐?之該等寄存器A1-C8之內(nèi)容經(jīng)由掃描鏈14a-c轉(zhuǎn)移至等位移寄存器3a-c之?dāng)?shù)個(gè)時(shí)序周期之后,經(jīng)由一時(shí)鐘信號(hào)15至該電路2之傳送系被中斷。該裝置1接著便中斷連接該電路2之供應(yīng)電壓,而中斷連接之時(shí)序變化則如代表符號(hào)18’所示;所述之中斷連接可藉由例如一大型場(chǎng)效晶體管(FET)而中止(圖中未示)。
為了重新開始該電路2之操作,在該狀態(tài)寄存器31中對(duì)應(yīng)至該控制信號(hào)21之位系被設(shè)定為“1”,該裝置1便接著將該電路2之供應(yīng)電壓重新切換為開啟;在經(jīng)過足夠讓該電路2中所有組件準(zhǔn)備好重新操作之一段時(shí)間間隔之后,該裝置1便藉由時(shí)鐘信號(hào)15而將經(jīng)由該時(shí)鐘信號(hào)16所饋送之時(shí)序傳送至該電路2,并藉由該時(shí)鐘信號(hào)17而傳送至該等位移寄存器3a-c。由于該測(cè)試初始信號(hào)11仍維持于值“1”,該電路可繼續(xù)處于一該等掃描鏈14a-c以位移寄存器方式而作用之狀態(tài);因此,該等位移寄存器3a-c之內(nèi)容系藉由將時(shí)序傳送至該等位移寄存器3a-c與該電路2之方式,而轉(zhuǎn)移至該等掃描鏈14a-c,其中該電路2便重新切換開啟了之前所儲(chǔ)存的電路狀態(tài)。在經(jīng)過了該電路2中最長(zhǎng)的掃描鏈(即掃描鏈中的寄存器數(shù))所對(duì)應(yīng)之時(shí)序周期數(shù)后,該裝置1便藉由該時(shí)鐘信號(hào)17而中止時(shí)序傳送至該位移寄存器3;同時(shí),該裝置1將重至該測(cè)試初始信號(hào)至值“0”,其使得該電路2處于一正常操作的狀態(tài),而該等掃描鏈亦無需再作為位移寄存器操作之用;此外,該狀態(tài)寄存器31之對(duì)應(yīng)位亦可同時(shí)藉由該確認(rèn)信號(hào)22而設(shè)定為值“1”,這就表示該電路2正在重新正常操作。
組件代表符號(hào)1 裝置 2電路區(qū)段3 寄存器 4測(cè)試控制系統(tǒng)6 總線 7寄存器堆11 測(cè)試初始信號(hào) 12 輸入終端13 輸出終端 14 掃描鏈A1-A8 1-位寄存器 B1-B81-位寄存器C1-C8 1-位寄存器 io1-io8 輸入/輸出R1-R3 寄存器 S1-S24 寄存器單元15-17 時(shí)鐘信號(hào) 21 控制信號(hào)22 確認(rèn)信號(hào) 31 狀態(tài)寄存器
權(quán)利要求
1.一種用以儲(chǔ)存一微電子電路的一電路狀態(tài)的方法,其中該電路(2)包含至少一掃描鏈(14;14a-c)以測(cè)試該電路(2),其特征在于該至少一掃描鏈(14;14a-c)為儲(chǔ)存該電路狀態(tài)而使得該至少一掃描鏈(14;14a-c)的內(nèi)容轉(zhuǎn)移至至少一存儲(chǔ)器(3;3a-c)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1之方法,其特征在于為了將該至少一掃描鏈(14;14a-c)的內(nèi)容轉(zhuǎn)移至該至少一存儲(chǔ)器(3;3a-c)而饋送一時(shí)鐘信號(hào)(16)至該至少一存儲(chǔ)器(3;3a-c)與該至少一掃描鏈(14;14a-c),直到該至少一掃描鏈(14;14a-c)的內(nèi)容已轉(zhuǎn)移至該至少一存儲(chǔ)器(3;3a-c)。
3.如權(quán)利要求1之方法,其特征在于該電路(2)乃藉由將一測(cè)試初始信號(hào)設(shè)定為一特定值而處于一狀態(tài),其中,當(dāng)該至少一掃描鏈(14;14a-c)之內(nèi)容轉(zhuǎn)移至該至少一存儲(chǔ)器(3;3a-c)時(shí),則可藉由該掃描鏈(14;14a-c)的一轉(zhuǎn)移操作而把該至少一掃描鏈(14;14a-c)的內(nèi)容轉(zhuǎn)出。
4.如權(quán)利要求1之方法,其特征在于只要該至少一掃描鏈(14;14a-c)的內(nèi)容已轉(zhuǎn)移至該至少一存儲(chǔ)器(3;3a-c),即中斷該電路(2)的一供應(yīng)電壓。
5.一種用以設(shè)定一微電子電路的一電路狀態(tài)的方法,其中該電路(2)包含至少一掃描鏈(14;14a-c)以測(cè)試該電路(2),其特征在于該至少一掃描鏈(14;14a-c)乃用以設(shè)定該電路狀態(tài)而使得該至少一掃描鏈(14;14a-c)的內(nèi)容轉(zhuǎn)移至至少一存儲(chǔ)器(3;3a-c)。
6.根據(jù)權(quán)利要求5之方法,其特征在于為了將該至少一存儲(chǔ)器(3;3a-c)的內(nèi)容轉(zhuǎn)移至該至少一掃描鏈(14;14a-c),乃饋送一時(shí)鐘信號(hào)(16)至該至少一存儲(chǔ)器(3;3a-c)與該至少一掃描鏈(14;14a-c),直到該至少一存儲(chǔ)器(3;3a-c)的內(nèi)容已轉(zhuǎn)移至該至少一掃描鏈(14;14a-c)。
7.如權(quán)利要求5之方法,其特征在于該電路(2)乃藉由將一測(cè)試初始信號(hào)設(shè)定為一特定值而處于一狀態(tài),其中,當(dāng)該至少一存儲(chǔ)器(3;3a-c)的內(nèi)容轉(zhuǎn)移至該至少一掃描鏈(14;14a-c)時(shí),乃藉由該掃描鏈(14;14a-c)的一轉(zhuǎn)移操作而把該至少一掃描鏈(14;14a-c)的內(nèi)容轉(zhuǎn)入。
8.如權(quán)利要求5之方法,其特征在于在該至少一存儲(chǔ)器(3;3a-c)的內(nèi)容轉(zhuǎn)移至該至少一掃描鏈(14;14a-c)前,即開啟該電路(2)的一供應(yīng)電壓。
9.一種用于儲(chǔ)存與重新儲(chǔ)存一微電子電路的一電路狀態(tài)的方法,其中該電路(2)包含至少一掃描鏈(14;14a-c)以測(cè)試該電路(2),其特征在于用于儲(chǔ)存該電路狀態(tài)的該方法包含了一如權(quán)利要求1至4中任一的方法,而用于重新儲(chǔ)存所儲(chǔ)存的電路狀態(tài)的方法包含了一如權(quán)利要求5至8中任一的方法。
10.一種用于儲(chǔ)存一微電子電路的一電路狀態(tài)的裝置,其中該電路(2)包含至少一掃描鏈(14;14a-c)以測(cè)試該電路(2),其特征在于該裝置(1)乃設(shè)計(jì)為能夠激活該至少一掃描鏈(14;14a-c)與至少一存儲(chǔ)器(3;3a-c)以便儲(chǔ)存該電路狀態(tài),而該至少一掃描鏈(14;14a-c)的內(nèi)容乃因而得以轉(zhuǎn)移至該至少一存儲(chǔ)器(3;3a-c)。
11.如權(quán)利要求10之裝置,其特征在于一時(shí)鐘信號(hào)(16)能被饋送至該裝置(1),且該裝置(1)乃被設(shè)計(jì)以將該至少一掃描鏈(14;14a-c)的內(nèi)容轉(zhuǎn)移至該至少一存儲(chǔ)器(3;3a-c),其將該時(shí)鐘信號(hào)(16)供至該至少一掃描鏈(14;14a-c)與該至少一存儲(chǔ)器(3;3a-c),直到該至少一掃描鏈(14;14a-c)的內(nèi)容已轉(zhuǎn)移至該至少一存儲(chǔ)器(3;3a-c)。
12.如權(quán)利要求10之裝置,其特征在于該裝置(1)乃被設(shè)計(jì)用以將該至少一掃描鏈(14;14a-c)的內(nèi)容轉(zhuǎn)移至該至少一存儲(chǔ)器(3;3a-c),其把該電路(2)的一測(cè)試初始信號(hào)(11)設(shè)定至一預(yù)定值,其中若該測(cè)試初始信號(hào)處于該預(yù)定值,則該電路(2)即處于一可藉由該掃描鏈(14;14a-c)的一轉(zhuǎn)移操作而轉(zhuǎn)移出該至少一掃描鏈(14;14a-c)的內(nèi)容的狀態(tài)。
13.如權(quán)利要求10之裝置,其特征在于該裝置(1)乃被設(shè)計(jì)為只要該至少一掃描鏈(14;14a-c)的內(nèi)容藉由該至少一掃描鏈(14;14a-c)與藉由該至少一存儲(chǔ)器(3;3a-c)而轉(zhuǎn)移至該至少一存儲(chǔ)器(3;3a-c)時(shí),即中斷連接該電路(2)的一供應(yīng)電壓。
14.如權(quán)利要求10之裝置,其特征在于該至少一存儲(chǔ)器(3;3a-c)系為至少一位移寄存器(3;3a-c)。
15.如權(quán)利要求10之裝置,其特征在于該裝置(1)包含該至少一存儲(chǔ)器(3;3a-c)。
16.如權(quán)利要求10之裝置,其特征在于該裝置(1)連同該電路(2)乃屬于一主微電子電路,其中該電路(2)屬于該主電子電路的可中斷連接該供應(yīng)電壓的一區(qū)域中,而該裝置(1)乃屬于該主微電子電路中無法中斷連接一供應(yīng)電壓的一區(qū)域中。
17.如權(quán)利要求10之裝置,其特征在于該裝置(1)乃設(shè)計(jì)用來執(zhí)行如權(quán)利要求1至4的方法。
18.一種用于設(shè)定一微電子電路的一電路狀態(tài)的裝置,其中該電路(2)包含至少一掃描鏈(14;14a-c)以測(cè)試該電路(2),其特征在于該裝置(1)乃設(shè)計(jì)為能夠激活該至少一掃描鏈(14;14a-c)與至少一存儲(chǔ)器(3;3a-c)以便設(shè)定該電路狀態(tài),而該至少一存儲(chǔ)器(3;3a-c)的內(nèi)容乃因而轉(zhuǎn)移至該至少一掃描鏈(14;14a-c)。
19.如權(quán)利要求18之裝置,其特征在于一時(shí)鐘信號(hào)(16)能夠被饋送至該裝置(1),且該裝置(1)乃被設(shè)計(jì)以便將該至少一存儲(chǔ)器(3;3a-c)的內(nèi)容轉(zhuǎn)移至該至少一掃描鏈(14;14a-c),其饋送該時(shí)鐘信號(hào)(16)至該至少一掃描鏈(14;14a-c)與該至少一存儲(chǔ)器(3;3a-c),直到該至少一存儲(chǔ)器(3;3a-c)的內(nèi)容已轉(zhuǎn)移至該至少一掃描鏈(14;14a-c)。
20.如權(quán)利要求18之裝置,其特征在于該裝置(1)乃設(shè)計(jì)為將該至少一存儲(chǔ)器(3;3a-c)的內(nèi)容轉(zhuǎn)移至該至少一掃描鏈(14;14a-c),其將該電路(2)的一測(cè)試初始信號(hào)(11)設(shè)定至一預(yù)定值,其中,若該測(cè)試初始信號(hào)處于該預(yù)定值,則該電路(2)即處于一可藉由該掃描鏈(14;14a-c)的一轉(zhuǎn)移操作而轉(zhuǎn)移入該至少一掃描鏈(14;14a-c)的內(nèi)容的狀態(tài)。
21.如權(quán)利要求18之裝置,其特征在于該裝置(1)乃設(shè)計(jì)為在其藉由該至少一掃描鏈(14;14a-c)與該至少一存儲(chǔ)器(3;3a-c)而將該至少一存儲(chǔ)器(3;3a-c)的內(nèi)容轉(zhuǎn)移至該至少一掃描鏈(14;14a-c)之前,即開啟該電路(2)的一供應(yīng)電壓。
22.如權(quán)利要求18之裝置,其特征在于該至少一存儲(chǔ)器(3;3a-c)為至少一位移寄存器(3;3a-c)。
23.如權(quán)利要求18之裝置,其特征在于該裝置(1)包含該至少一存儲(chǔ)器(3;3a-c)。
24.如權(quán)利要求18之裝置,其特征在于該裝置(1)連同該電路(2)乃屬于一主微電子電路,其中該電路(2)乃屬于該主電子電路中可中斷供應(yīng)電壓的一區(qū)域中,而該裝置(1)乃屬于該主微電子電路中無法中斷供應(yīng)電壓的一區(qū)域中。
25.如權(quán)利要求18之裝置,其特征在于該裝置(1)乃設(shè)計(jì)用以執(zhí)行如權(quán)利要求5至8的方法。
26.一種用于儲(chǔ)存與重新儲(chǔ)存一微電子電路的一電路狀態(tài)的裝置,其中該電路包含至少一掃描鏈以測(cè)試該電路,其特征在于該裝置乃根據(jù)如權(quán)利要求10至16之裝置與如權(quán)利要求18至24之裝置而設(shè)計(jì)。
27.如權(quán)利要求26之裝置,其特征在于該裝置(1)乃連同該電路(2)而屬于一主微電子電路,其中該電路(2)乃屬于該主電子電路的可中斷供應(yīng)電壓的一區(qū)域中,而該裝置(1)乃屬于該主微電子電路中無法中斷供應(yīng)電壓的一區(qū)域中。
全文摘要
本發(fā)明揭露了一種用于儲(chǔ)存及/或設(shè)定微電子電路電路狀態(tài)的方法及裝置(1),其中該裝置乃包含了至少一掃描鏈(14;14a-c)以測(cè)試該電路(2)。在此連接態(tài)中,該至少一掃描鏈(14;14a-c)乃用以儲(chǔ)存及/或設(shè)定該電路狀態(tài),因而不需要擴(kuò)充電路(2)。
文檔編號(hào)G01R31/317GK1655352SQ200510006168
公開日2005年8月17日 申請(qǐng)日期2005年1月31日 優(yōu)先權(quán)日2004年1月30日
發(fā)明者J·伯托爾德 申請(qǐng)人:因芬尼昂技術(shù)股份公司