專利名稱：取向分析儀的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及利用光學(xué)的非接觸方式測(cè)量薄膜或紙類的纖維取向的取向分析儀，并涉及一種能達(dá)到高速、高精度化、小型化、低成本的取向分析儀。
背景技術(shù)：
取向分析儀是一測(cè)量紙類的纖維取向、以塑料薄膜為代表的分子取向、包含摻和于強(qiáng)化塑料內(nèi)的纖維狀填充物或其它填充物的不同摻合程度的取向性、液晶薄膜制程中的摩擦處理所產(chǎn)生的取向特性等的儀器。測(cè)量取向的方式有超聲波、微波、透射光、反射光、顯微鏡等。
與針對(duì)紙類的纖維取向以光學(xué)方式進(jìn)行非接觸測(cè)量的纖維取向分析儀有關(guān)的先前技術(shù)中有如下的內(nèi)容。
(專利文獻(xiàn)1)日本特開平11-269790號(hào)公報(bào)圖1(a)和圖1(b)分別是顯示上述專利文獻(xiàn)1所記載的纖維取向分析儀的剖面圖和俯視圖。圖1(a)中，光源10為與被測(cè)量對(duì)象的紙張成約略垂直的LED或激光等，利用集光透鏡14將光源10發(fā)出的光集中至紙張30。
受光組件20利用以光源10為中心所設(shè)置的例如8～12個(gè)受光二極管接收紙張的反射光，將其轉(zhuǎn)換為電氣信號(hào)，之后將與光軸間的反射角度θ設(shè)定為55度等，并測(cè)量取向方向。
受光組件固定部50具有環(huán)形的凸邊部52、設(shè)置于各個(gè)受光組件20的受光組件安裝孔54、固定集光透鏡14的透鏡安裝孔56。光源固定部60以與透鏡安裝孔56呈同心圓的型態(tài)被固定于受光組件固定部50，光源10以特定的型態(tài)被固定。
圖1(b)是受光組件固定部50的俯視圖；圖中將凸邊部52的一部分切除、形成定位部51，決定受光組件固定部50與外框(圖示未顯示)間的安裝角度。受光組件安裝孔54設(shè)置有12處，并與受光組件固定孔55呈一對(duì)一的方式配置。上方外圍部57是與透鏡安裝孔56呈同心圓狀的圓筒部，光源固定部60被固定于該處。
上述構(gòu)成中，光由光源10照射至紙張面30，利用相對(duì)于由光源10發(fā)出的照射光軸沿面配置的受光組件，測(cè)量紙張面的反射光的分布。
圖2顯示信號(hào)的流程，利用受光組件20轉(zhuǎn)換成電氣信號(hào)的信號(hào)被當(dāng)做組件信號(hào)21輸入至A/D轉(zhuǎn)換器22，利用分布測(cè)量機(jī)構(gòu)23測(cè)出光的分布后，再通過取向運(yùn)算機(jī)構(gòu)24運(yùn)算取向方向，最后輸出測(cè)量值25。
但上述構(gòu)成的取向分析儀中，為確保測(cè)量精度，需有多個(gè)受光組件20，根據(jù)需要與受光組件相同數(shù)量的A/D轉(zhuǎn)換器。
由于A/D轉(zhuǎn)換器的成本高，且零件體積龐大，有無法小型化的難題。
另外，也有利用誘電率或超音波的傳播速度或微波等調(diào)查取向的方式，但仍有不適用于聯(lián)機(jī)(Online)的高速測(cè)量，且不易確保精度等問題。
因此本發(fā)明所要解決的課題為實(shí)現(xiàn)一可以達(dá)到下列目的的取向分析儀(1)迅速測(cè)量以紙類的纖維取向、薄膜的分子取向或塑料類中填充物的取向、摩擦處理的取向等為代表的平面樣品的取向特性；(2)降低包括A/D轉(zhuǎn)換器在內(nèi)的零件成本；(3)削減零件體積以達(dá)到小型化。

發(fā)明內(nèi)容
為達(dá)到上述目的，本發(fā)明提供一取向分析儀，和一根據(jù)將光線照射至被測(cè)量對(duì)象的發(fā)光組件、接受照射至該被測(cè)量對(duì)象物上的反射光的受光組件以及來自受光組件的信號(hào)等測(cè)量被測(cè)量對(duì)象物的取向的取向分析儀，其中該受光組件周邊配置有多個(gè)發(fā)光組件。
本發(fā)明的取向分析儀，優(yōu)選的是具備以下組件針對(duì)被測(cè)量對(duì)象的平面樣品以既定的照射角度配置于圓周上的多個(gè)發(fā)光組件；接受由該發(fā)光組件以既定的時(shí)序、依次照射至該平面樣品而反射的光的受光組件；依據(jù)來自該受光組件的信號(hào)以運(yùn)算該平面樣品的取向方向的運(yùn)算機(jī)構(gòu)。
在本發(fā)明的取向分析儀中，優(yōu)選的是，該發(fā)光組件等間隔地配置于圓周上，而該受光組件則配置于該發(fā)光組件的中心的附近。
在本發(fā)明的取向分析儀中，優(yōu)選的是，，具有記錄各發(fā)光組件的個(gè)體差別的記錄機(jī)構(gòu)，在運(yùn)算平面樣品的取向方向時(shí)，根據(jù)被記錄在該記錄機(jī)構(gòu)中的個(gè)體差別進(jìn)行校正。
在本發(fā)明的取向分析儀中，優(yōu)選的是，利用使該多個(gè)發(fā)光組件依序發(fā)光的時(shí)序(Timing)信號(hào)、捕捉將依序發(fā)光的光當(dāng)做時(shí)序信號(hào)的電路所發(fā)出的信號(hào)與基準(zhǔn)位置信號(hào)等，以獲取該受光組件發(fā)出的信號(hào)。
在本發(fā)明的取向分析儀中，優(yōu)選的是，發(fā)光組件的發(fā)光順序的原則為使其于沿面約略為均等分布地發(fā)光。
在本發(fā)明的取向分析儀中，優(yōu)選的是，照射平面樣品的發(fā)光組件發(fā)出的光為P偏振光或S偏振光。
在本發(fā)明的取向分析儀中，優(yōu)選的是，該受光組件為半導(dǎo)體檢測(cè)器，發(fā)光組件為LED或激光二極管。
在本發(fā)明的取向分析儀中，優(yōu)選的是，使多個(gè)發(fā)光組件依序發(fā)光的時(shí)序信號(hào)或?qū)⒁佬虬l(fā)光的光當(dāng)做時(shí)序信號(hào)進(jìn)行捕捉的電路所發(fā)出的信號(hào)中，使其中的1信號(hào)或多個(gè)信號(hào)的工作循環(huán)(Duty)與其它信號(hào)進(jìn)行變化、作為基準(zhǔn)位置信號(hào)，獲取來自該受光組件的信號(hào)。
在本發(fā)明的取向分析儀中，優(yōu)選的是，該發(fā)光組件發(fā)出的光的頻率隨著該被測(cè)量對(duì)象物的特性而改變。
通過本發(fā)明可達(dá)到以下效果。本發(fā)明的取向分析儀，由于其具備針對(duì)被測(cè)量對(duì)象物的平面樣品以既定的角度、等間隔配置于圓周上的多個(gè)發(fā)光組件；配置于該等發(fā)光組件中心的附近，接收該發(fā)光組件以既定的時(shí)序所依序發(fā)出、并于該平面樣品反射的光的受光組件；依據(jù)來自該受光組件的信號(hào)以運(yùn)算該平面樣品的取向方向的運(yùn)算機(jī)構(gòu)。因此可迅速測(cè)量紙類的纖維取向、薄膜的分子取向或塑料類中填充物的取向，且僅需要1個(gè)A/D轉(zhuǎn)換器，可降低零件成本、達(dá)到小型化。
本發(fā)明的取向分析儀，在運(yùn)算平面樣品的取向方向時(shí)，依據(jù)發(fā)光組件的個(gè)體差別進(jìn)行校正，因此可進(jìn)行正確的取向測(cè)量。
本發(fā)明的取向分析儀，由于其利用使該多個(gè)發(fā)光組件依序發(fā)光的時(shí)序信號(hào)、捕捉將依序發(fā)光的光當(dāng)做時(shí)序信號(hào)的電路所發(fā)出的信號(hào)與基準(zhǔn)位置信號(hào)等以獲取該受光組件發(fā)出的信號(hào)，因此可確保測(cè)量位置的正確性。
本發(fā)明的取向分析儀，由于其發(fā)光組件的發(fā)光順序?yàn)槭贡砻婕s略呈均等分布為原則進(jìn)行發(fā)光，因此可利用測(cè)量面隨時(shí)間變化的聯(lián)機(jī)方式進(jìn)行正確測(cè)量。
本發(fā)明的取向分析儀，由于其照射平面樣品的發(fā)光組件發(fā)出的光為P偏振光或S偏振光，因此可提高S/N。
本發(fā)明的取向分析儀，由于其該受光組件為半導(dǎo)體檢測(cè)器，發(fā)光組件為LED或激光二極管，因此可達(dá)到小型化。
本發(fā)明的取向分析儀，由于其使多個(gè)發(fā)光組件依序發(fā)光的時(shí)序信號(hào)或?qū)⒁佬虬l(fā)光的光當(dāng)做時(shí)序信號(hào)進(jìn)行捕捉的電路所發(fā)出的信號(hào)中，將其中的1信號(hào)或多個(gè)信號(hào)的工作循環(huán)與其它信號(hào)進(jìn)行變化、作為基準(zhǔn)位置信號(hào)，因此可將發(fā)光時(shí)序與基準(zhǔn)位置號(hào)整合為一，達(dá)到成本降低及小型化。
本發(fā)明的取向分析儀，由于該發(fā)光組件發(fā)出的光的頻率隨著該被測(cè)量對(duì)象物的特性而改變，因此可因應(yīng)被測(cè)量對(duì)象物的特性進(jìn)行高精度的測(cè)量。


圖1(a)和圖1(b)分別是以往的纖維取向分析儀的剖面圖及俯視圖。
圖2是顯示以往的纖維取向分析儀的信號(hào)的流程的說明圖。
圖3是顯示本發(fā)明的取向分析儀的實(shí)施例的重要部分構(gòu)成圖。
圖4是顯示基準(zhǔn)位置信號(hào)、發(fā)光信號(hào)及A/D轉(zhuǎn)換器的獲取時(shí)序的說明圖。
圖5是以本發(fā)明進(jìn)行取向分析儀的測(cè)量的流程的說明圖。
圖6是顯示分子取向或填充物的反射光的概念的圖。
圖7是纖維取向的反射光的概念的圖。
圖8是顯示本發(fā)明的取向方向測(cè)量系統(tǒng)的構(gòu)成的說明圖。
附圖符號(hào)說明1-1～1-8 發(fā)光組件2 受光組件3 發(fā)光電路4 受光電路5 數(shù)字輸入6 A/D轉(zhuǎn)換器7 CPU10 光源14 集光透鏡20 受光組件21 組件信號(hào)
22 A/D轉(zhuǎn)換23 分布測(cè)量機(jī)構(gòu)24 取向運(yùn)算機(jī)構(gòu)25 測(cè)量值輸出30 紙張面30a 平面樣品50 受光組件固定部50a 發(fā)光組件固定板51 定位部52 凸邊53 固定孔54 受光組件安裝孔55 受光組件固定孔56 透鏡安裝孔57 上方外圍部60 光源固定部具體實(shí)施方式
以下以結(jié)合附圖詳細(xì)說明本發(fā)明。圖3是與本發(fā)明有關(guān)的取向分析儀的重要部分的構(gòu)成圖。
圖3中，1-1～1-8是LED或激光等的發(fā)光組件、50a是圓板狀的發(fā)光組件固定板。2是受光二極管等所構(gòu)成的受光組件，發(fā)光組件1-1～1-8等間隔地配置于圓板狀發(fā)光組件固定板50a的周圍附近。為使該些發(fā)光組件所射出的光能大致照射在平面樣品30a的相同處，而將發(fā)光組件以其與平面樣品間呈既定的角度配置，平面樣品30a所反射的散亂光的一部分會(huì)由配置于發(fā)光組件固定板50a的中央附近的受光組件2所接收。
發(fā)光組件1-1～1-8是以例如圖4所示的時(shí)序發(fā)光、照射平面樣品30a，受光組件2配合各個(gè)發(fā)光組件的發(fā)光時(shí)序以測(cè)量、記錄平面樣品30a的反射光。圖4中，基準(zhǔn)位置信號(hào)與發(fā)光組件1-1一起產(chǎn)生，發(fā)光組件1-2～1-8依照既定的時(shí)序發(fā)光，這些發(fā)光信號(hào)由A/D轉(zhuǎn)換器獲取。
以下針對(duì)本發(fā)明的「發(fā)光順序以沿面呈約略均等分布為原則進(jìn)行發(fā)光」的部分進(jìn)行說明。
被均等地配置于圓周上的發(fā)光組件的發(fā)光順序可以是順時(shí)針或逆時(shí)針方向，但以能均等分布為原則決定發(fā)光順序時(shí)，在聯(lián)機(jī)測(cè)量時(shí)測(cè)量面會(huì)隨時(shí)間變化，效果能顯現(xiàn)。
也即如圖3所示，配置于1-1的發(fā)光組件發(fā)光的后，其次由相對(duì)位置的1-5的上方看時(shí)呈逆時(shí)針、偏移45度的1-2發(fā)光。
其次，由與1-2的發(fā)光組件為相對(duì)位置的1-6上方看時(shí)，呈逆時(shí)針、偏移45度的1-3的位置的發(fā)光組件會(huì)發(fā)光。同樣地，由與1-3的發(fā)光組件為相對(duì)位置的1-7上方看時(shí)，呈逆時(shí)針、偏移45度的1-4的位置的發(fā)光組件會(huì)發(fā)光。以上動(dòng)作持續(xù)至1-8后，會(huì)回至最初的位置。
其次，實(shí)施例中說明的是由上方看時(shí)，成逆時(shí)針、偏移45度處的組件會(huì)發(fā)光，但使由上方看時(shí)呈順時(shí)針方向偏離處的組件發(fā)光也有相同效果。另外，發(fā)光組件數(shù)量增加時(shí)，配置于元周上的發(fā)光組件最好盡量由離的較遠(yuǎn)的位置的組件依序發(fā)光。
另外，配合樣品平面的吸光程度的特性，發(fā)光組件發(fā)出的照射光可使用P偏振光或S偏振光。例如S偏振光于反射面的吸光度大，對(duì)提高S/N有幫助；P偏振光或S偏振光的制作方法可以是在發(fā)光組件上附加偏向板，也可利用激光等相干光源。
圖5是利用本發(fā)明進(jìn)行取向分析儀測(cè)量的流程。此時(shí)預(yù)先測(cè)量各個(gè)受光組件的個(gè)體差別、記錄至記錄機(jī)構(gòu)；至于以消除個(gè)體差別為目的的測(cè)量則準(zhǔn)備無取向的基準(zhǔn)面為反射面。
圖5中，校正時(shí)(1)依序使各發(fā)光組件進(jìn)行發(fā)光、(2)測(cè)量各組件的反射光、(3)記錄各組件的個(gè)體差別。
測(cè)量時(shí)，(4)依序使各發(fā)光組件進(jìn)行發(fā)光、(5)測(cè)量各組件的反射光、(6)利用將測(cè)量值收納至記錄機(jī)構(gòu)的校正值進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)化。
其次，(7)計(jì)算反射的分布、(8)由反射光的強(qiáng)度分布計(jì)算強(qiáng)度較強(qiáng)的方向以及縱橫(Aspect)比。
以標(biāo)準(zhǔn)化的測(cè)量值為基準(zhǔn)，進(jìn)行如以下公式所示的近似橢圓的運(yùn)算，求出反射光的強(qiáng)度分布的方向以及縱橫比。
--取向角
T=ab]]>--取向指數(shù)(a長俓、b短俓)X=1γn2cos2dn]]>Y=Σ1γn2sin2dn]]>m＝0或±1(|θ|＜45°時(shí)，m＝0)dn發(fā)光組件的配置角度γn對(duì)應(yīng)各發(fā)光組件的反射光的標(biāo)準(zhǔn)化后的信號(hào)輸出n對(duì)應(yīng)發(fā)光組件的各配置處的號(hào)碼另外，取向強(qiáng)度及角度的計(jì)算是由反射光的強(qiáng)度分布所獲得，但方法除了上述的近似橢圓的外，近似三角函數(shù)或其它方法也可。
當(dāng)為薄膜的分子取向或塑料中的填充物的情形時(shí)，反射光強(qiáng)度較強(qiáng)方向?yàn)楸磺蟪龅娜∠蚍较?，紙類的纖維取向則是以反射光強(qiáng)度較弱的方向作為被求出的纖維取向方向。
前項(xiàng)現(xiàn)象的原因?yàn)?，?dāng)為分子取向或高分子性填充物的情形時(shí)，因?yàn)楣獠▽?dǎo)效果，光波會(huì)被導(dǎo)引至分子的取向方向、反射光會(huì)變強(qiáng)；當(dāng)為纖維時(shí)，反射光容易被分散至纖維的橫斷面方向，反射強(qiáng)度會(huì)增加，縱方向則容易產(chǎn)生全反射，反射強(qiáng)度會(huì)變小。
圖6是分子取向或高分子性填充物的反射光的概念，圖7是纖維取向的反射光的概念。
圖8是本發(fā)明的取向分析儀測(cè)量系統(tǒng)的構(gòu)成例。透過發(fā)光電路3，發(fā)光組件1會(huì)以250ns進(jìn)行發(fā)光，每個(gè)組件依續(xù)發(fā)光。此時(shí)透過受光組件2，利用受光電路4捕捉反射光，并將的當(dāng)做模擬信號(hào)傳送至A/D轉(zhuǎn)換器6。
例如，將每500ns/一點(diǎn)的發(fā)光利用A/D轉(zhuǎn)換器將6進(jìn)行A/D轉(zhuǎn)換時(shí)，當(dāng)組件數(shù)為8點(diǎn)時(shí)，可以4ms的時(shí)間取得進(jìn)行取向運(yùn)算時(shí)所需的各組件的信號(hào)。A/D轉(zhuǎn)換后的數(shù)值以發(fā)光電路3的時(shí)序信號(hào)為基準(zhǔn)，將的當(dāng)做各組件的位置數(shù)據(jù)進(jìn)行記錄。
發(fā)光組件的輸出控制可以利用具備發(fā)光電路的基板進(jìn)行，也可利用CPU控制。發(fā)光組件的輸出時(shí)序沒有必要限定為2點(diǎn)的I/O，將1點(diǎn)序列地輸出至I/O，或個(gè)別地輸入至分配各組件的多個(gè)I/O頻道也可。因此，圖8所示的數(shù)字輸入5是將CPU當(dāng)做數(shù)字輸出，再將時(shí)序信號(hào)送至發(fā)光電路側(cè)。
另外，發(fā)光時(shí)序的信號(hào)與基準(zhǔn)位置信號(hào)的2點(diǎn)數(shù)字信號(hào)的信號(hào)工作循環(huán)(ON/OFF的時(shí)間比率)改變、整合為1個(gè)數(shù)字信號(hào)時(shí)，可將數(shù)字信號(hào)線由2條減為1條。
另外，將受光組件2發(fā)出的模擬信號(hào)與基準(zhǔn)位置信號(hào)并用時(shí)，即使重復(fù)測(cè)量，也可固定正確的位置對(duì)應(yīng)。
一連串的各組件信號(hào)均有了后，以CPU 7運(yùn)算反射光的分布，以數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)或模擬數(shù)據(jù)或畫面輸出等方法將將取向角/取向指數(shù)等輸出至需要的機(jī)器。
CPU將各組件的A/D轉(zhuǎn)換數(shù)據(jù)的記錄進(jìn)行分配，并利用優(yōu)先度高的常駐程序(TASK)等進(jìn)行200ns左右的高速處理，以主程序(main routin)進(jìn)行2-4ms的取向運(yùn)算時(shí)，可進(jìn)行高速的測(cè)量，檢測(cè)頭(sensor head)的掃描或平面樣品30a的流程對(duì)位置變化的影響很小，因此實(shí)現(xiàn)高精度的測(cè)量。
以往的薄膜取向是以離線(off line)方式測(cè)量較多，使用本發(fā)明取向分析儀時(shí)，也可進(jìn)行聯(lián)機(jī)的測(cè)量。藉此，平面樣品制作所需的工時(shí)或良率可獲得可善。
A/D轉(zhuǎn)換電路整合為一，抑制I/O點(diǎn)數(shù)時(shí)，可制造成本低廉的產(chǎn)品。此方式對(duì)平面樣品的薄膜、紙類或取向膜板等均有效果。另外，當(dāng)平面樣品的測(cè)量對(duì)象物為略平面，即使最終型態(tài)或途中過程為球面或波狀面或其它特性的面時(shí)，也可進(jìn)行測(cè)量，可同樣達(dá)到前述的效果。
液晶薄膜的情況，分子取向直接左右其特性，雖然必須進(jìn)行取向測(cè)量，但本發(fā)明也可運(yùn)用于此類取向測(cè)量。
另外，于近年常用于電池電極素材的炭素負(fù)極中插入鋰產(chǎn)生的反應(yīng)等，解釋了不活性皮膜或高取向性熱分解石墨等取向特性，被認(rèn)為對(duì)負(fù)極的改善有效。本發(fā)明也可以運(yùn)用在此類取向特性的測(cè)量。
另外，利用分子束制作多層膜等，調(diào)查基板面發(fā)生的分子的取向的特性與薄膜的特性調(diào)查有相通的處，本發(fā)明也可使用于此類取向特性的測(cè)量。
再者，為提高塑料的強(qiáng)度，有在塑料中混入纖維質(zhì)等各種填充物的方法，此時(shí)纖維質(zhì)的填充物的接合程度或方向以及混合程度對(duì)強(qiáng)度特性有很大影響。接合程度或方向以及混合程度可當(dāng)做取向進(jìn)行測(cè)量，本發(fā)明也可運(yùn)用于該類的特性值的測(cè)量。
另外，配合測(cè)量對(duì)象物體的特性，變化發(fā)光組件發(fā)出的光的頻率時(shí)，可達(dá)到配合被測(cè)量對(duì)象物的特性的高精度的測(cè)量。
再者，配置于發(fā)光組件的略為中心的受光組件不限1個(gè)，也可設(shè)置2個(gè)以上，增加接收信號(hào)，因應(yīng)發(fā)信頻率或受光面的特性，選擇受光組件。
另外，以上內(nèi)容僅為以本發(fā)明的說明或舉例為目的的特定的實(shí)施例，例如發(fā)光組件的數(shù)量等即可不限定實(shí)施例的數(shù)量而進(jìn)行適當(dāng)?shù)淖兏?br> 例如，圖4所示的發(fā)光信號(hào)的工作循環(huán)并不一定是50％，可適當(dāng)?shù)貙⒉话l(fā)光時(shí)間減短。
發(fā)光組件與受光組件所面對(duì)的方向不一定要很嚴(yán)密地一致，因應(yīng)樣品的光波導(dǎo)特性，需要增加波導(dǎo)路徑時(shí)，可于被照射的光的中心距離與受光組件朝向的中心位置間取一光波會(huì)被導(dǎo)引的距離也可。因此，本發(fā)明并不限定于以上實(shí)施例，只要是不脫離其本質(zhì)的范圍內(nèi)，更多變更、變形的部分也包含在內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種取向分析儀，根據(jù)將光線照射至被測(cè)量對(duì)象的發(fā)光組件、接受由該被測(cè)量對(duì)象物所反射的反射光的受光組件、以及來自該受光組件的信號(hào)等，而測(cè)量被測(cè)量對(duì)象物的取向，其中在該受光組件周邊配置有多個(gè)發(fā)光組件。
2.如權(quán)利要求1的取向分析儀，其特征在于，還具備多個(gè)發(fā)光組件，該發(fā)光組件相對(duì)于被測(cè)量對(duì)象的平面樣品成既定的照射角度配置于圓周上；受光組件，該受光組件接受由該發(fā)光組件以既定的時(shí)序依次照射至該平面樣品而反射的光；及運(yùn)算機(jī)構(gòu)，該運(yùn)算機(jī)構(gòu)依據(jù)來自該受光組件的信號(hào)以運(yùn)算該平面樣品的取向方向。
3.如權(quán)利要求1或2的取向分析儀，其特征在于該發(fā)光組件以等間隔配置于圓周上，而該受光組件配置于該發(fā)光組件的中心的附近。
4.如權(quán)利要求3的取向分析儀，其特征在于具有用以記錄各發(fā)光組件的個(gè)體差別的記錄機(jī)構(gòu)，在運(yùn)算平面樣品的取向方向時(shí)，根據(jù)被記錄在該記錄機(jī)構(gòu)中的個(gè)體差別進(jìn)行校正。
5.如權(quán)利要求3的取向分析儀，其特征在于是利用使該多個(gè)發(fā)光組件依序發(fā)光的時(shí)序信號(hào)、或自捕捉依序發(fā)光的光以作為時(shí)序信號(hào)的電路所發(fā)出的信號(hào)與基準(zhǔn)位置信號(hào)，以獲取自該受光組件發(fā)出的信號(hào)。
6.如權(quán)利要求3的取向分析儀，其特征在于該發(fā)光組件的發(fā)光順序是使沿面的發(fā)光約略成均等分布。
7.如權(quán)利要求6的取向分析儀，其特征在于由照射平面樣品的發(fā)光組件所發(fā)出的光為P偏振光或S偏振光的光。
8.如權(quán)利要求3的取向分析儀，其特征在于該受光組件為半導(dǎo)體檢測(cè)器，發(fā)光組件為LED或激光二極管。
9.如權(quán)利要求5的取向分析儀，其特征在于在使所述多個(gè)發(fā)光組件依序發(fā)光的時(shí)序信號(hào)、或自捕捉依序發(fā)光的光以作為時(shí)序信號(hào)的電路所發(fā)出的信號(hào)中，使其中一個(gè)信號(hào)或多個(gè)信號(hào)的工作循環(huán)與其它信號(hào)進(jìn)行變化，作為基準(zhǔn)位置信號(hào)，以獲取來自該受光組件的信號(hào)。
10.如權(quán)利要求3的取向分析儀，其特征在于該發(fā)光組件發(fā)出的光的頻率隨著該被測(cè)量對(duì)象物的特性而改變。
全文摘要
一種取向分析儀，其可實(shí)現(xiàn)迅速測(cè)量紙類的纖維取向、薄膜的分子取向或塑料類中填充物取向，降低零件成本、削減零件體積。本發(fā)明的取向分析儀，是根據(jù)將光線照射至被測(cè)量對(duì)象的發(fā)光組件、接受由該被測(cè)量對(duì)象物所反射的反射光的受光組件、以及來自該受光組件的信號(hào)等，而測(cè)量被測(cè)量對(duì)象物的取向，其中在該受光組件周邊配置有多個(gè)發(fā)光組件。
文檔編號(hào)G01N21/47GK1673671SQ20051000813
公開日2005年9月28日 申請(qǐng)日期2005年2月5日 優(yōu)先權(quán)日2004年3月22日
發(fā)明者仁神鐵人, 土屋彰彥, 大日方佑彥 申請(qǐng)人:橫河電機(jī)株式會(huì)社