專利名稱：發(fā)光二極管測試機臺的自動化裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種發(fā)光二極管測試儀器，具體地說涉及一種發(fā)光二極管測試機臺的自動化裝置。
背景技術(shù)：
發(fā)光二極管經(jīng)封裝完成后，須經(jīng)測試其光亮度及光波長以確保其良率或其可適用性，而其測試的方法則須利用專用的發(fā)光二極管測試儀器以進行檢測。近幾年已經(jīng)出現(xiàn)了自動化程度較高且測試精度較為可靠的發(fā)光二極管檢測儀器。
專利號為01274956.7、授權(quán)公告號為CN 2519906Y、名稱為“發(fā)光二極管測試機臺的自動化裝置”的專利就公布了一種這樣的測試儀器。請參見圖1，該專利是這樣實現(xiàn)的主要由一組進料結(jié)構(gòu)、一定位測試結(jié)構(gòu)及一組出料結(jié)構(gòu)所組成，該進料結(jié)構(gòu)由下列各構(gòu)件所組成其進料端為一圓形振動盤11，并有一平形振動盤12，如軌道般與其相連接，且該平形振動盤12延伸至測試段前端，并恰可與測試段前端相連接；該平形振動盤12向前延伸至測試段前方的適當(dāng)處時，上方設(shè)置有一擋爪21，該擋爪21為一由彈簧聯(lián)動可供開合并具擋置發(fā)光二極管的作用；擋爪21上方適當(dāng)處設(shè)置有一輔助進料送風(fēng)口22，其與空氣輸送管連接，并有持續(xù)送風(fēng)且可將發(fā)光二極管向前吹置的作用；平形振動盤12下方與擋爪21相對位置的前端適當(dāng)處，設(shè)置有一進料夾爪組23，其由凸輪配合橫向傳動輪及縱向傳動輪產(chǎn)生聯(lián)動，藉以控制進料夾爪組23的閉合及其前后往復(fù)運動；擋爪21末端適當(dāng)處設(shè)置有一導(dǎo)正爪24，該導(dǎo)正爪24側(cè)面與平形振動盤12的軌道相對位置有∏字型缺口，其前端面亦有一相同大小的∏字型缺口；導(dǎo)正爪24后端設(shè)置有一帶料爪組26，其呈一Γ型，前端立面處設(shè)置有四個等距缺口。定位測試結(jié)構(gòu)由下列各構(gòu)件所組成一定位爪組25，設(shè)置于帶料爪組26對面的相對位置，其呈一E字型，凸出的三爪的前端分別設(shè)有一內(nèi)凹的定位口，并與各測試站相對應(yīng)；定位爪組25的正下方為一測試段P，其前端恰可與平形振動盤12的末端相連接，該測試組上方呈三個測試站，第一測試站為極性測試，下接一極性探針座，可測試發(fā)光二極管的極性是否符合測試的極性方向，第二測試站下為一旋轉(zhuǎn)座，該旋轉(zhuǎn)座下接一由空氣致動的汽缸，其旋轉(zhuǎn)與否乃取決于第一測試站下方的極性探針座檢測的結(jié)果，若不符合測試的極性方向，則由空氣致動汽缸，并使其產(chǎn)生180度的旋轉(zhuǎn)，使欲受測的發(fā)光二極管的受測極性向符合受測要求，第三測試站下方為一框腳探針座，其主要由該框腳探針座與發(fā)光二極管的針腳產(chǎn)生極性接觸，并配合上方的亮度波長檢測頭27，以檢測該受測發(fā)光二極管的亮度及光波長；再者，第三測試站的一端并設(shè)置有一凸起的定位柱，其目的在使發(fā)光二極管受定位爪組的第三定位口卡持時，除第三定位口兩邊能夾持外，并與該定位柱能產(chǎn)生三點定位，使發(fā)光二極管不會有傾斜受測的情況。出料結(jié)構(gòu)接設(shè)于測試區(qū)的末端，其由下列各構(gòu)件所組成一膠質(zhì)履帶32，其內(nèi)側(cè)有等寬的凹槽，可供與傳動齒輪33相嚙合，并有數(shù)個接料爪31等距卡持于履帶上；接料爪為一倒L型的承接座，上方有一寬度及深度適中的溝槽，該溝槽可承接受測完畢的料件。該技術(shù)方案實現(xiàn)了發(fā)光二極管的測試自動化，并且測試結(jié)果能夠達到較高的精度。
但是，上述方案中仍然存在以下缺點由于發(fā)光二極管尺寸有差異，當(dāng)其在第三測試站檢測其波長及亮度時，若發(fā)光二極管的尺寸較小，則無法與第三定位口兩邊及定位柱接觸，從而無法達到準確定位的目的，依然會存在斜傾受測的情況；若發(fā)光二極管的尺寸較大時，則定位口兩邊及定位柱擠壓二極管膠體，將對其膠體產(chǎn)生損壞。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于克服現(xiàn)有技術(shù)的不足，提供一種在檢測發(fā)光二極管亮度及光波長時能夠?qū)ζ渚_定位，避免傾斜受測，且不會損壞其膠體的發(fā)光二極管測試機臺的自動化裝置。
本發(fā)明是通過以下技術(shù)方案實現(xiàn)的一種發(fā)光二極管測試機臺的自動化裝置，包括一組進料結(jié)構(gòu)、一定位測試結(jié)構(gòu)及一組出料結(jié)構(gòu)，進料結(jié)構(gòu)包括圓形振動盤及與其相連的平形振動盤、擋爪、進料爪組及帶料爪組，帶料爪組下方為絕緣墊座，定位測試結(jié)構(gòu)包括置于帶料爪組對面的定位爪組，所述定位爪組包括數(shù)個定位口，一測試組置于定位爪組正下方，包括測試發(fā)光二極管極性的極性探針座、旋轉(zhuǎn)座及測試發(fā)光二極管亮度及光波長的框腳探針座，定位爪組上與框腳探針座相對應(yīng)的測試定位口一端設(shè)置有定位柱，出料結(jié)構(gòu)包括傳動齒輪及與其相配合的履帶，數(shù)個出料座卡持于履帶上，且在各出料座后方均設(shè)置有氣動推桿，所述測試定位口處設(shè)置有彈性組件。
所述彈性組件的彈性元件可以為彈簧，也可以是其它的彈性物質(zhì)，比如塑膠等等。
所述彈性組件還包括一個定位件，所述定位件置于測試定位口中，該定位件可以在測試定位口中前后移動，一個帶有螺紋孔的連接件位于定位件之上且與定位件固定連接，另有一固定件固定于定位爪組之上，且與測試定位口相對，所述固定件上有一圓孔，一螺釘穿過該圓孔且與固定件活動連接，螺釘桿上套有彈簧，其螺釘桿的端部與連接件通過螺紋相連接，所述套在螺釘桿上的彈簧分別與連接件和固定件相接觸，且處于自由伸縮狀態(tài)。
所述定位件可以為一個V形小零件，可以為一個U形小零件，同時所述定位件也可以是其他形狀。
從上面的描述可以看出，本發(fā)明的優(yōu)點是當(dāng)發(fā)光二極管被帶料爪組帶到框腳探針座處檢測其亮度與光波長時，與該框腳探針座相對應(yīng)的定位口采用了比如帶有彈簧的彈性組件，彈性組件中定位件兩邊與定位柱對發(fā)光二極管形成三點定位，使發(fā)光二極管不會傾斜受測，而且發(fā)光二極管大小不一，當(dāng)其尺寸偏大時，發(fā)光二極管膠體會擠壓定位件，則彈性組件中的彈簧被壓縮，彈簧會隨著發(fā)光二極管的大小不一而處于不同的壓縮狀態(tài)，從而避免損壞發(fā)光二極管的膠體。


圖1是本發(fā)明背景技術(shù)的立體外觀圖；圖2是本發(fā)明的立體外觀圖；圖3是本發(fā)明中間測試部分及其板下面凸輪等部分的立體放大圖；圖4是本發(fā)明進料夾爪組的分解圖；圖5是本發(fā)明帶料爪的立體圖；圖6是定位爪及其上彈性裝置的立體圖；圖7是是本發(fā)明旋轉(zhuǎn)座及其上測試組的立體外觀圖；圖8是本發(fā)明中間測試部分的俯視圖；圖9是本發(fā)明接料爪及其下面小軸承和吹氣板上吹氣孔的結(jié)構(gòu)示意圖；圖10是本發(fā)明圖9的側(cè)視圖；
圖11是本發(fā)明出料結(jié)構(gòu)立體外觀圖；圖12是本發(fā)明小滑板上推條的螺釘對進料夾爪組的動作示意圖；圖13～圖20是本發(fā)明進料測試流程圖。
具體實施例方式
下面結(jié)合附圖和具體實施方式
對本發(fā)明作進一步詳細的描述。
實施例一種發(fā)光二極管測試機臺的自動化裝置，包括一組進料結(jié)構(gòu)、一定位測試結(jié)構(gòu)及一組出料結(jié)構(gòu)。
進料結(jié)構(gòu)由下列各構(gòu)件所組成請參見圖2、圖3，其進料端為一圓形振動盤13，并有一平形振動盤14與其相連，且該平形振動盤14延伸至測試段前端，并剛好與測試段前端相連接；該平形振動盤14向前延伸至測試段前方的適當(dāng)處時，上方設(shè)置有一擋爪15；在平形振動盤14末端一側(cè)的大滑板上設(shè)置有進料夾爪組4，在小滑板上靠近進料夾爪組4一側(cè)的擋條(圖未示)上設(shè)有推動螺釘，請參見圖4、圖5，所述進料夾爪組包括夾料爪41、設(shè)有夾爪槽的夾爪座42、擋板43及擺動裝置44、壓條45，所述夾料爪包括上夾爪411和下夾爪412，所述下夾爪412置于夾爪座42最底部，上夾爪411置于夾爪座42中部，壓條45設(shè)置在最上面，該壓條45通過螺栓與夾爪座42固定。兩夾爪的夾料部分從夾爪槽的一端伸出，且該夾料部分剛好位于發(fā)光二極管移動軌道的正下方，擋板43緊靠夾爪座42另一端，上夾爪411尾端與擋板43之間設(shè)置有彈簧46，且上夾爪411上靠近擋條一側(cè)設(shè)置有推塊47，該推塊47從夾爪座42的開口中伸出，所述擺動裝置44與夾爪座42為活動銷連接，擺動裝置44的兩個銷441、442分別穿過夾爪座42上的長形銷孔且分別與上夾爪411與下夾爪412固定連接。擺動裝置44還包括一個在其中間設(shè)置有凸軸的轉(zhuǎn)軸443，該轉(zhuǎn)軸443通過其凸軸穿過一擺桿444中間的圓孔，與擺桿固定連接，且擺桿444圓孔兩邊設(shè)置有銷孔，所述兩個銷441、442分別固定于兩銷孔內(nèi)；所述進料夾爪組4一側(cè)的小滑板上設(shè)置有帶料爪組5及擋條(圖未示)，請參見圖12擋條上設(shè)置有螺釘9，當(dāng)小滑板縱向后移時，將推動進料夾爪組4上的推塊47，因此小滑板的縱向前移或縱向后移將控制夾料爪41的開合；請參見圖5，所述帶料爪組5呈一Γ形，前端立面處設(shè)置有四個等距缺口。
定位測試結(jié)構(gòu)包括置于帶料爪組對面的定位爪組6，該定位爪組6設(shè)置有四個定位口，一測試組P置于定位爪組6正下方，請參見圖7，第一定位口61與測試組上的調(diào)位點P0對應(yīng)，用于將進料夾爪組4送來的發(fā)光二極管進行調(diào)整定位，其第二、三、四定位口62、63、64分別與各測試站相對應(yīng)，該測試組上方呈三個測試站，第一測試站P1測試發(fā)光二極管的極性，下接一極性探針座，第二測試站P2為一旋轉(zhuǎn)座，該旋轉(zhuǎn)座下接一由空氣致動的汽缸，其旋轉(zhuǎn)與否取決于第一測試站P1下方的極性探針座檢測的結(jié)果，如果不符合測試的極性方向，則由空氣致動汽缸，并使其產(chǎn)生180度旋轉(zhuǎn)，使欲受測的發(fā)光二極管的受測極性向符合受測要求；第三測試站P3下方為一框腳探針座，其主要由該框腳探針座與發(fā)光二極管的針腳產(chǎn)生極性接觸，并配合上方的亮度波長檢測頭，以檢測該受測發(fā)光二極管的亮度及光波長；第三測試站P3一端設(shè)置有一凸起的定位柱P31。
請參見圖6和圖8，所述定位爪組的第四定位口64處設(shè)置有一彈性組件7，該彈性組件包括彈簧71、定位件72，所述定位件72為V形小零件，且置于第四定位口64中，一連接件73位于定位件72之上且與定位件72固定連接，另有一固定件74固定于定位爪組6之上，且與第四定位口64相正對，所述固定件74上設(shè)有一光滑圓孔，一螺釘75穿過該圓孔與固定件74活動連接，彈簧71套在螺釘桿上，其螺釘桿的端部與連接件73通過螺紋相連接，所述彈簧71置于連接件73與固定件74之間。所述螺釘75與固定件74為活動連接，當(dāng)發(fā)光二極管通過定位件72擠壓彈性組件7時，螺釘頭的一端可在固定件74的圓孔中自由進出，則彈簧在連接件73與固定件74之間被壓縮。
請參見圖9、圖10及圖11，出料結(jié)構(gòu)接設(shè)于測試區(qū)的末端，其由下列各構(gòu)件所組成一膠質(zhì)履帶81，其內(nèi)側(cè)有等寬的凹槽，可供與傳動齒輪83相嚙合，并有數(shù)個接料爪82等距卡持于履帶上；接料爪82為一倒L型的承接座，上方有一寬度及深度適中的溝槽88，該溝槽88可承接受測完畢的料件，吹氣板86上的氣孔87與溝槽88相對應(yīng)；接料爪82底部設(shè)置有小軸承84，所述小軸承84從軸承槽85內(nèi)通過。
由上述的進料結(jié)構(gòu)、定位測試結(jié)構(gòu)及出料結(jié)構(gòu)所組成的發(fā)光二極管測試機臺的自動化裝置，即為本發(fā)明。
本發(fā)明發(fā)光二極管測試機臺的自動化結(jié)構(gòu)所提供的測試進程如下進行測試前，將已完成封裝的發(fā)光二極管集中于圓形振動盤13中，因振動發(fā)光二極管會一顆顆不分方向整列送至平形振動盤14的入口端，平形振動盤14逐漸將發(fā)光二極管往前移動至擋爪15，檢測程序開始時，請參見圖12、圖13，小滑板縱向后移，定位爪組同時縱向前移，夾料爪張開；請參見圖14，大滑板16接著橫向后移，進料夾爪組4隨之移至擋爪15前的發(fā)光二極管處，此時帶料爪組5的四個缺口與定位爪組6的四個定位口依次相正對；請參見圖15，小滑板繼而縱向前移，定位爪組也隨之縱向后退，夾料爪41隨之閉合夾住發(fā)光二極管的管腳；請參見圖16，然后大滑板16橫向前移復(fù)位，進料夾爪組4將發(fā)光二極管帶至調(diào)位點P0處，第一進程結(jié)束；請參見圖17，當(dāng)小滑板再次縱向后移時，即開始第二進程，夾料爪張開，與此同時，定位爪組6縱向前移，以第一定位口61套住發(fā)光二極管調(diào)整其位置；請參見圖18，大滑板16接著橫向后移，進料夾爪組4移至擋爪前；請參見圖19，然后小滑板縱向前移，夾料爪41隨之閉合夾住發(fā)光二極管的管腳，與此同時，定位爪組6縱向后移，小滑板上的帶料爪組5隨著小滑板縱向前移，帶料爪組5第一缺口套住第一進程的發(fā)光二極管；請參見圖20，然后大滑板16橫向復(fù)位，帶料爪組5第一缺口將調(diào)位點P0處第一進程的發(fā)光二極管帶至第一測試站P1，進料夾爪組4將發(fā)光二極管帶至調(diào)位點P0處，第二進程結(jié)束；同樣，當(dāng)小滑板繼續(xù)縱向后移時，第三進程開始，夾料爪41張開，同時，定位爪組6縱向前移，以第一定位口61套住調(diào)位點P0處的發(fā)光二極管，調(diào)整其位置，以第二定位口62套住第一測試站P1處的發(fā)光二極管，并對其進行極性檢測，然后大滑板16橫向后移，進料夾爪組4移至擋爪15前，然后小滑板縱向前移，夾料爪41隨之閉合并夾住發(fā)光二極管的管腳，與此同時，定位爪組6縱向后移，帶料爪組5以第一缺口套住調(diào)位點P0處的發(fā)光二極管，以第二缺口套住第一測試站處P1的發(fā)光二極管，然后大滑板橫向復(fù)位，帶料爪組5第一缺口將發(fā)光二極管帶至第一測試站P1，第二缺口將發(fā)光二極管帶至第二測試站P2，進料夾爪組4將所夾發(fā)光二極管帶至調(diào)位點P0處，第三進程結(jié)束；當(dāng)小滑板接著縱向后移時，第四進程開始，夾料爪41張開，同時，定位爪組6縱向前移，以第一定位口套住調(diào)位點P0處的發(fā)光二極管，調(diào)整其位置，以第二定位口套住第一測試站P1處的發(fā)光二極管，對其進行極性檢測，以第三定位口套住第二測試站P2處的發(fā)光二極管，依據(jù)第三進程的檢測結(jié)果對其進行旋轉(zhuǎn)或等待，然后大滑板16橫向后移，進料夾爪組4移至擋爪前，然后小滑板縱向前移，夾料爪41隨之閉合并夾住發(fā)光二極管的管腳，與此同時，定位爪組6縱向后移，帶料爪組5以第一缺口套住調(diào)位點P0處的發(fā)光二極管，以第二缺口套住第一測試站處P1的發(fā)光二極管，以第三缺口套住第二測試站P2處的發(fā)光二極管，然后大滑板16橫向復(fù)位，帶料爪組5第一缺口將發(fā)光二極管帶至第一測試站P1，第二缺口將發(fā)光二極管帶至第二測試站P2，第三缺口將發(fā)光二極管帶至第三測試站P3，進料夾爪組將所夾發(fā)光二極管帶至調(diào)位點P0處，第四進程結(jié)束；依此類推，當(dāng)?shù)谖暹M程的發(fā)光二極管被進料夾爪組4帶至調(diào)位點P0處時，帶料爪組5第四缺口已將第三測試站P3處檢測完的發(fā)光二極管帶至接料爪82上，如此不斷周而復(fù)始的藉由帶料爪組5及進料夾爪組4的循環(huán)動作，可對發(fā)光二極管進行自動化測試，且結(jié)構(gòu)簡單。
盡管本發(fā)明已作了詳細的說明并引證了一些具體實例，但對于本領(lǐng)域技術(shù)熟練人員來說，只要不離開本發(fā)明的精神和范圍可作各種變化或修正是顯然的，都應(yīng)包括在本發(fā)明權(quán)利要求的保護范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種發(fā)光二極管測試機臺的自動化裝置，包括一組進料結(jié)構(gòu)、一定位測試結(jié)構(gòu)及一組出料結(jié)構(gòu)所組成，進料結(jié)構(gòu)包括圓形振動盤及與其相連的平形振動盤、進料爪組及帶料爪組，帶料爪組下方為絕緣墊座，定位測試結(jié)構(gòu)包括置于帶料爪組對面的定位爪組，所述定位爪組包括數(shù)個定位口，一測試組置于定位爪組正下方，包括測試發(fā)光二極管極性的極性探針座、旋轉(zhuǎn)座及測試發(fā)光二極管亮度及光波長的框腳探針座，定位爪組上與框腳探針座相對應(yīng)的測試定位口一端設(shè)置有定位柱，出料結(jié)構(gòu)包括傳動齒輪及與其相配合的履帶，數(shù)個出料座卡持于履帶上，且在各出料座后方均設(shè)置有氣動推桿，其特征在于所述測試定位口處設(shè)置有彈性組件。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的發(fā)光二極管測試機臺的自動化裝置，其特征在于所述彈性組件的彈性元件為彈簧。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的發(fā)光二極管測試機臺的自動化裝置，其特征在于所述彈性組件還包括一個定位件。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的發(fā)光二極管測試機臺的自動化裝置，其特征在于所述定位件置于測試定位口中，一連接件位于定位件之上且與定位件固定連接，另有一固定件固定于定位爪組之上，且與測試定位口相對，所述固定件上有一圓孔，一螺釘穿過該圓孔與固定件活動連接，螺釘桿上套有彈簧，其螺釘桿的端部與連接件通過螺紋相連接，所述彈簧置于連接件與固定件之間。
5.根據(jù)權(quán)利要求3、4所述的發(fā)光二極管測試機臺的自動化裝置，其特征在于所述定位件為一個V形小零件。
6.根據(jù)權(quán)利要求3、4所述的發(fā)光二極管測試機臺的自動化裝置，其特征在于所述定位件為一個U形小零件。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的發(fā)光二極管測試機臺的自動化裝置，其特征在于所述彈性組件的彈性部分為塑膠。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種發(fā)光二極管測試機臺的自動化裝置，包括一組進料結(jié)構(gòu)、一定位測試結(jié)構(gòu)及一組出料結(jié)構(gòu)所組成，進料結(jié)構(gòu)包括圓形振動盤及與其相連的平形振動盤、進料爪組及帶料爪組，定位測試結(jié)構(gòu)包括置于帶料爪組對面的定位爪組，所述定位爪組包括數(shù)個定位口，一測試組置于定位爪組正下方，包括測試發(fā)光二極管極性的極性探針座、旋轉(zhuǎn)座及測試發(fā)光二極管亮度及光波長的框腳探針座，定位爪組上與框腳探針座相對應(yīng)的測試定位口一端設(shè)置有定位柱，出料結(jié)構(gòu)包括傳動齒輪及與其相配合的履帶，數(shù)個出料座卡持于履帶上，且在各出料座后方均設(shè)置有氣動推桿，所述測試定位口處設(shè)置有彈性組件。該發(fā)明的自動化裝置避免了在測試時損壞發(fā)光二極管的膠體。
文檔編號G01R31/26GK1831497SQ200510033529
公開日2006年9月13日 申請日期2005年3月7日 優(yōu)先權(quán)日2005年3月7日
發(fā)明者韓金龍, 羅會才, 楊少辰 申請人:韓金龍, 羅會才, 楊少辰