專利名稱：分析裝置及其中使用的分析用盤的制作方法
技術(shù)領域：
本發(fā)明涉及使血液或尿等的檢驗試樣置于分析用的光盤中、跟蹤該檢驗試樣并分析檢驗試樣中的成分的分析裝置及該分析裝置中使用的分析用盤。
背景技術(shù)：
已有一種裝置，是使用記錄了音頻或視頻信息的小型盤與再生該盤的光盤驅(qū)動器的再生功能，跟蹤配置了檢驗試樣的分析用盤的軌道，對分析對象進行分析(例如參照JP10-504397A)。
首先，用圖6說明應用光盤并能采取檢驗試樣地構(gòu)成的分析用盤。
圖6中，分析用盤100是一種沿用記錄了音頻或視頻信息那樣的以往的光盤標準形成的光盤，包括具有以往的光盤的用坑點、溝槽等形成的地址信息的軌道區(qū)101。另外，分析用盤100具有分析血液或尿等的檢驗試樣的分析區(qū)102a，將檢驗試樣從注入口105a注入并集中在分析用盤內(nèi)部形成的流通路徑104。也可在流通路徑104中配置與檢驗試樣起反應的試劑。分析是在圖示的流通路徑104中陰影線示出的區(qū)域A中進行的。
另外，進行分析的測定時刻是根據(jù)檢測出記號103a后的經(jīng)過時間，這樣來確定區(qū)域A的位置(例如參照JP2003-270128B的記號說明部分)。
用圖3、圖6說明使用上述這般構(gòu)成的分析用盤的分析裝置。圖3中，分析裝置具有以往的光盤裝置的構(gòu)成即光頭20、使光頭移動的橫向電動機21、使盤旋轉(zhuǎn)的主軸電動機22、控制這些部件用的CPU23、伺服控制電路24、以及將來自光頭20的信號變換成數(shù)據(jù)的信號處理電路25。進一步由檢測從光頭20照射的激光的透射光的光檢測器11、改變光檢測器11的信號電平的調(diào)整電路12、對檢測出的信號作A/D變換的A/D變換器13、處理A/D變換后的數(shù)據(jù)的信號處理電路14、保持該數(shù)據(jù)的RAM16、控制這些電路的CPU15、以及檢測分析用盤100上設置的記號103a的光電傳感器17所構(gòu)成。
其次說明使用分析用盤與分析裝置的分析方法。首先，從分析用盤100的注入口105a注入要分析的檢驗試樣。將該分析用盤100置入分析裝置中，進行用以往的光盤裝置實施的盤判別、聚焦、跟蹤等的旋轉(zhuǎn)起動(spin up)處理，處于可跟蹤分析用盤100所設置的軌道的狀態(tài)。
當開始檢驗試料的分析時，根據(jù)光頭20的當前位置與分析區(qū)102a存在的位置，算出移動軌道條數(shù)，以算出的移動軌道條數(shù)為基礎，在分析區(qū)102a進行光頭20的移動，從移動后的部位開始跟蹤軌道。接著，用光電傳感器17檢測分析用盤100上設置的記號103a。在從光電傳感器17檢測出的信號起規(guī)定的時間后的特定位置，用光檢測器11檢測來自光頭的透射光，由A/D變換器13進行A/D變換，使該數(shù)據(jù)保存于RAM16中。以該獲得的數(shù)據(jù)為基礎，可得到要分析的檢驗試樣的分析結(jié)果。
這里由于對每種要分析的檢驗試樣檢測出信號電平不同，或由于每個分析用盤的偏心、偏重心成分不同，而從光檢測器11檢測的信號發(fā)生偏差。因此，必須對由A/D變換器13取得檢測的信號作為數(shù)據(jù)的信號電平進行調(diào)整的偏置、增益調(diào)整。關(guān)于偏置調(diào)整，是確定規(guī)定的基準值，一面監(jiān)視從光檢測器11取得的數(shù)據(jù)，一面改變調(diào)整信號電平的調(diào)整電路12的參數(shù)，使得接近該基準值。同樣，關(guān)于增益調(diào)整，也是確定規(guī)定的基準范圍，改變調(diào)整電路12的參數(shù)，使得接近該基準范圍。
為了構(gòu)成分析用盤，以適應各種分析目的和檢測試樣，必須改變收集檢驗試樣的分析區(qū)的試劑配置和流通路徑形狀等。如試劑配置、流通路徑形狀不同，則上述的光檢測器的偏置、增益調(diào)整由于在檢驗試樣存在的位置及盤所決定的調(diào)整區(qū)等進行，因此必須對每一種分析用盤，在不同的位置進行調(diào)整處理。
但是，上述以往的分析裝置是針對試劑的配置、流通路徑形狀相同的分析用盤來設計，只能總是在相同位置進行偏置、增益調(diào)整。也就是說，由于不是針對各種分析用盤進行偏置、增益調(diào)整等的調(diào)整處理而構(gòu)成的，故在想要做成流通路徑形狀不同的分析用盤時，因受到要進行偏置增益調(diào)整的流通路徑位置的限制，而不具設計的自由度。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明是在檢測分析對象用的光檢測器的調(diào)整中解決上述以往的問題，其目的在于針對各種分析用盤以一個分析裝置實現(xiàn)光檢測器的調(diào)整。
為解決上述以往的問題，本發(fā)明的分析裝置安裝分析用盤，該分析用盤具備可收集要分析的檢驗試樣的分析區(qū)及與所述分析區(qū)相對應的記號，
一邊使所述裝上的分析用盤旋轉(zhuǎn)驅(qū)動，一邊將對所述分析用盤照射光束的光學單元相對于所述分析用盤的徑向進行位置控制，同時在所述徑向位置被控的狀態(tài)下，在檢測出所述記號后的規(guī)定時刻，檢測來自所述分析區(qū)的反射光或透射光，通過這樣分析所述檢驗試樣，在這樣的分析裝置中，其特征在于，在所述分析之前，預先取得表示分析用盤具有的特定位置的位置信息，根據(jù)取得的所述位置信息，進行所述光頭的徑向位置控制，接著在檢測出所述記號后的規(guī)定時刻后的所述特定位置，調(diào)整光檢測器的偏置或增益。
另外，本發(fā)明的分析用盤，具備可收集要分析的檢驗試樣的分析區(qū)及與所述分析區(qū)相對應的記號，其特征在于，具備表示所述分析用盤的徑向位置及由從所述記號之后的時刻所確定的進行偏置或增益調(diào)整的特定位置的位置信息。
根據(jù)本發(fā)明，通過在與分析對象相對應的分析用盤的規(guī)定區(qū)進行檢測分析對象用的光檢測器的調(diào)整，從而能提供不是如以往那樣適應于一個分析用盤的分析裝置，而是對各種分析用盤能自動進行偏置、增益調(diào)整的分析裝置與分析用盤。


圖1為本發(fā)明實施形態(tài)1的分析用盤的平面圖。
圖2為本發(fā)明實施形態(tài)2的分析用盤的平面圖。
圖3示出本發(fā)明實施形態(tài)1、2的分析裝置的構(gòu)成圖。
圖4為本發(fā)明實施形態(tài)3的分析用盤的平面圖。
圖5示出本發(fā)明實施形態(tài)3的分析裝置的構(gòu)成圖。
圖6示出以往的分析用盤的平面圖。
具體實施例方式
以下與附圖一起詳細說明本發(fā)明的實施形態(tài)。
實施形態(tài)1圖1為本實施形態(tài)1的分析用盤的平面圖，圖3示出本發(fā)明實施形態(tài)1的分析裝置的構(gòu)成圖。
首先，說明偏置和增益調(diào)整的大概流程。對分析用盤100的四個分析區(qū)102a、102b、102c、102d，從注入口105a、105b、105c、105d注入要分析的檢驗試樣，將該分析用盤100裝到分析裝置上。分析裝置取得所裝的分析用盤100的軌道區(qū)101中記錄的分析用盤100有關(guān)的信息。
該取得的信息中包含實行光檢測器11的偏置、增益調(diào)整的位置信息(調(diào)整區(qū)的信息)。位置信息主要是使光頭20向分析用盤100的徑向移動的移動量和表示分析區(qū)的開始位置的記號103a、103b、103c、103d檢測出之后直至分析區(qū)域A、B、C、C存在的規(guī)定的時間等。以該位置信息為基礎，在分析用盤的特定位置進行偏置、增益調(diào)整。
另外，在分析用盤100上所記錄的信息中，除位置信息外，還包含進行增益調(diào)整的規(guī)定的基準值和規(guī)定的基準范圍等的調(diào)整信息，分析裝置通過取得這些信息，以該信息為基礎進行光檢測器11的調(diào)整，可實現(xiàn)與各自的分析用盤相應的偏置、增益調(diào)整。
這里的偏置、增益調(diào)整是在檢驗試樣加入分析用盤100中的狀態(tài)下進行，這是由于因為在檢驗試樣加入盤中的狀態(tài)下實施檢驗試樣的分析，因此必須在該狀態(tài)下進行偏置、增益調(diào)整。
這里作為具體例子，舉出以只進行偏置調(diào)整的分析用盤的情況加以詳細說明。
在分析用盤100的4個分析區(qū)102a、102b、102c、102d中，設進行各自分析的區(qū)域即A、B、C、D中的A、B、C配置與檢驗試樣起反應的試劑，只是D不配置試劑。區(qū)域D作為進行該分析用盤100的偏置調(diào)整的位置，將信息被記錄到分析用盤100的軌道區(qū)101中。
這里，之所以在進行偏置調(diào)整的位置即區(qū)域D不配置試劑，是因為在分析檢驗試驗與試劑的反應、例如以色素的變化進行分析時，必須僅以檢驗試樣作為基準，在該基準的場所進行偏置調(diào)整。
分析裝置在該區(qū)域D中，改變調(diào)整電路12的偏置調(diào)整用參數(shù)，進行處理，使光檢測器11的信號電平與規(guī)定的基準一致。另外，關(guān)于增益調(diào)整，在分析對象是色素變化時，由于在分析區(qū)A、B、C的各區(qū)域中產(chǎn)生的反應在各自的整個區(qū)域內(nèi)均勻變化，因此不特別需要。所以，就這樣結(jié)束調(diào)整處理，開始分析。
分析方法如下，它是在存在與試劑起反應的檢驗試樣的A、B、C區(qū)域中，對光檢測器11的信號電平進行A/D變換，取得數(shù)據(jù)。根據(jù)取得的數(shù)據(jù)可分析想要分析的檢驗試樣與試劑的反應。
實施形態(tài)2圖2示出實施形態(tài)2的分析用盤的平面圖。對于與實施形態(tài)1所示的分析用盤實質(zhì)上相同的構(gòu)成，標注相同的標號并省略說明。與實施形態(tài)1說明的分析用盤的不同之點在于，各分析區(qū)中可進行多個不同的分析、以及各分析區(qū)中除表示分析區(qū)的開始位置的記號之外還形成觸發(fā)標記。此外，分析裝置與實施形態(tài)1相同，可使用圖3所示的裝置。
圖2中，分析用盤200的各個觸發(fā)標記106被配置于與分析區(qū)102a中存在的檢驗試樣起反應的各種試劑對應的位置上，根據(jù)該觸發(fā)標記106，可確定試劑存在的位置。
分析用盤200中所記錄的信息與實施形態(tài)1中說明過的大致相同，是調(diào)整區(qū)的位置信息和偏置、增益調(diào)整的規(guī)定基準值和規(guī)定基準范圍。但是不同之處是有關(guān)調(diào)整區(qū)的位置信息，圖2的分析用盤如上所述，由于是設置與試劑對應的觸發(fā)標記106的盤，因此，不需要如圖1的分析用盤那樣從檢測出表示分析區(qū)域開始位置的記號103a直至分析區(qū)域存在的規(guī)定時間有關(guān)的位置信息，而是記錄了確定觸發(fā)標記106的位置用的信息。以該分析用盤200所記錄的偏置、增益調(diào)整有關(guān)的信息為基礎，可與實施形態(tài)1同樣地實現(xiàn)光檢測器11的偏置、增益調(diào)整。
下面說明圖2的分析用盤200的偏置、增益的調(diào)整方法。該分析用盤200使試劑與檢驗試樣中的細胞起反應，使目的細胞吸附于任意的部位(即各試劑的位置)，通過計數(shù)目的細胞數(shù)來進行分析。
當從注入口105a注入血液試樣并使盤旋轉(zhuǎn)時，試樣就沿流通路徑104依次轉(zhuǎn)送到Aa、Ab、Ac，然后展開至其末端。因在進行分析的區(qū)域中，Aa形成不與目的細胞起反應的試劑，Ab形成必定與目的細胞起反應的試劑，Ac形成分析目的細胞的反應用的試劑，因此能分析細胞與試劑的各種反應。
這里假設不與目的細胞起反應的試劑存在的區(qū)域Aa為偏置調(diào)整區(qū)，之所以將區(qū)域Aa設為偏置調(diào)整區(qū)，是因為將該部分作為分析檢驗試樣與試劑的反應用的基準。在該位置上改變調(diào)整電路12的參數(shù)，使光檢測器11的信號電平與規(guī)定的基準值相一致。
其次關(guān)于增益調(diào)整，假設與目的細胞必定起反應的試劑存在的區(qū)域Ab為增益調(diào)整區(qū)。這里之所以假設區(qū)域Ab為增益調(diào)整區(qū)，是因為若在進行增益調(diào)整的位置不一定存在目的細胞，則不能進行正常的增益調(diào)整。當用光檢測器11檢測該區(qū)域Ab時，就在目的細胞存在的部位檢測出跟用偏置調(diào)整后的基準值有較大變化的信號電平。為使該變化量進入規(guī)定的基準范圍，改變調(diào)整電路12的參數(shù)，進行增益調(diào)整。這樣一來，偏置、增益調(diào)整結(jié)束，通過用光檢測器11檢測最后的區(qū)域Ac，可分析細胞與試劑的反應。
另外，該分析用盤200可在分析區(qū)102b、102c、102d進行與上述相同的分析，用一張分析用盤作可作4次分析。
實施形態(tài)3圖4示出實施形態(tài)3的分析用盤的平面圖。對于與實施形態(tài)2所示的分析用盤實質(zhì)上相同的構(gòu)成，標注相同的標號并省略說明。與實施形態(tài)2說明過的分析用盤的不同之處在于，沒有實施形態(tài)2中說明過的軌道區(qū)101，將有關(guān)分析用盤的信息即位置信息、調(diào)整信息、識別分析用盤類別的識別信息設置為分析用盤上具備的條形碼107，并將分析用盤內(nèi)的一部分上所設的凹部作為分析區(qū)對應的記號，另外將觸發(fā)標記配置于分析區(qū)中。
圖5為實施形態(tài)3的分析裝置的構(gòu)成圖。對于與實施形態(tài)1所示的分析裝置實質(zhì)上相同的構(gòu)成，標注相同的標號并省略說明。與實施形態(tài)1說明過的分析裝置的不同之處在于，設置表示光頭基準位置的位置檢測用開關(guān)30，設置用來從條形碼取得信息的條形碼譯碼器電路31，設置能夠在分析裝置與主計算機32之間收發(fā)信號的接口33，另外作為分析裝置內(nèi)的存儲區(qū)而設置ROM34。
分析用盤300規(guī)定位置上配置的條形碼107，通過位置控制使光頭20位于條形碼107存在的位置上，由條形碼譯碼器電路31將光檢測器11檢測的透射光信號變換為數(shù)據(jù)，在CPU15中變換為分析用盤有關(guān)的信息。
這里，關(guān)于光頭20的位置控制，是先將表示光頭20的基準位置的位置檢測用開關(guān)30移動，直至CPU23檢測到為止，并使其從該基準位置只移動規(guī)定的移動量，這樣來實現(xiàn)位置控制。特別如果橫向電動機21是適合于目的位置的移動的電動機即步進電動機，則可實現(xiàn)更高精度的位置控制。
從條形碼107取得的有關(guān)分析用盤300的信息，大致與實施形態(tài)2中說明過的相同，是調(diào)整區(qū)的位置信息、表示偏置和增益調(diào)整的規(guī)定基準值和規(guī)定基準范圍的調(diào)整信息。但不同的是有關(guān)調(diào)整區(qū)的徑向的位置信息為離開所述的光頭20的基準位置的移動量。根據(jù)該分析用盤300所具備的條形碼信息，可與實施形態(tài)2同樣實現(xiàn)光檢測器11的偏置、增益調(diào)整。
圖4所示的分析用盤300中，分析用盤102a對應的記號103a與觸發(fā)標記106的檢測與實施形態(tài)1或?qū)嵤┬螒B(tài)2不同，用光頭20和光檢測器11檢測。
具體地說，分析區(qū)102a對應的記號103a是凹部。激光從光頭20照射到設于分析用盤300內(nèi)的一部分上的凹部，由光檢測器11取得其透射光作為信號時，由于凹部的影響，光的折射和反射條件變化，光檢測器11檢測出的該透射光的信號發(fā)生變化，因此檢測該信號作為記號信號。
另外，觸發(fā)標記106雖然其配置部位和形狀與實施形態(tài)2的觸發(fā)標記106不同，但印刷到分析用盤300表面上這一點是相同的，由于印刷部分遮斷了透射光，故檢測透射光的光檢測器11的信號發(fā)生變化，被檢測出作為觸發(fā)標記信號。
以取自分析用盤300的位置信息、調(diào)整信息為基礎，通過距離光頭20的基準位置的位置控制和檢測記號、觸發(fā)標記，就可能實現(xiàn)在分析用盤300的特定位置對光檢測器11進行偏置、增益調(diào)整。
關(guān)于分析用盤300的偏置、增益的調(diào)整方法的說明，由于與實施形態(tài)2相同而從略。
作為從分析用盤300取得的信息，通過設置識別分析用盤300的類別的識別信息，能使有關(guān)調(diào)整區(qū)的位置信息和調(diào)整信息存儲到分析裝置或與分析裝置連接的外部裝置，用識別信息取得與分析用盤相對應的調(diào)整區(qū)有關(guān)的位置信息和調(diào)整信息。
具體說，分析裝置將從條形碼107取得的識別分析用盤類別的識別信息，通過接口33發(fā)送到主計算機32，根據(jù)識別信息從主計算機32接收有關(guān)調(diào)整區(qū)的位置信息和調(diào)整信息。根據(jù)該信息，能實現(xiàn)在分析用盤的特定位置對光檢測器11進行偏置、增益調(diào)整。
另外，在分析裝置的ROM34中事先記錄了每個分析用盤的調(diào)整區(qū)有關(guān)的位置信息和調(diào)整信息，根據(jù)取自條形碼107的識別分析用盤類別的識別信息，選擇有關(guān)調(diào)整區(qū)的位置信息和調(diào)整信息，通過這樣也能夠?qū)崿F(xiàn)在分析用盤的特定位置對光檢測器11進行偏置、增益調(diào)整。
上述的與分析用盤相對應的調(diào)整區(qū)有關(guān)的位置信息和調(diào)整信息的取得方法，也可以事先將識別分析用盤類別的識別信息記錄到實施形態(tài)1和實施形態(tài)2中說明過的軌道區(qū)中，這樣也可與實施形態(tài)1和實施形態(tài)2實現(xiàn)同樣的取得方法。
本發(fā)明有關(guān)的分析裝置，通過在與分析對象相對應的分析用盤的規(guī)定的區(qū)進行檢測分析對象用的光檢測器的調(diào)整，能提供適應于各種分析用盤的調(diào)整的分析裝置與分析用盤。
權(quán)利要求
1.一種分析裝置，所述分析裝置裝上具備可收集要分析的檢驗試樣的分析區(qū)及與所述分析區(qū)相對應的記號的分析用盤，一邊使所述裝上的分析用盤旋轉(zhuǎn)驅(qū)動，一邊將對所述分析用盤照射光束的光學單元相對于所述分析用盤的徑向進行位置控制，同時在所述徑向位置被控的狀態(tài)下，在檢測出所述記號后的規(guī)定時刻，檢測來自所述分析區(qū)的反射光或透射光，通過這樣分析所述檢驗試樣，在這樣的分析裝置中，其特征在于，在所述分析之前，預先取得表示分析用盤具有的特定位置的位置信息，根據(jù)取得的所述位置信息，進行所述光頭的徑向位置控制，接著在檢測出所述記號后的規(guī)定時刻后的所述特定位置，調(diào)整光檢測器的偏置或增益。
2.如權(quán)利要求1所述的分析裝置，其特征在于，在所述分析用盤上除所述記號之外，在所述分析區(qū)形成多個觸發(fā)標記，在所述分析之前，預先取得表示分析用盤具有的特定位置的位置信息，根據(jù)取得的所述位置信息，進行所述光頭的徑向位置控制，接著在檢測出所述記號后的檢測出規(guī)定的觸發(fā)標記后的所述特定位置，調(diào)整所述光檢測器的偏置或增益。
3.如權(quán)項要求1或2所述的分析裝置，其特征在于，由所述光頭檢測所述記號或觸發(fā)標記。
4，.如權(quán)項要求1或2所述的分析裝置，其特征在于，與所述光頭分開，另外設置檢測所述記號或觸發(fā)標記用的光檢測手段。
5.一種分析用盤，具備可收集要分析的檢驗試樣的分析區(qū)及與所述分析區(qū)相對應的記號，其特征在于，具備表示所述分析用盤的徑向位置及由從所述記號之后的時刻所確定的進行偏置或增益調(diào)整的特定位置的位置信息。
6.如權(quán)利要求5所述的分析用盤，其特征在于，除所述記號外，與分析區(qū)相對應形成多個觸發(fā)標記，具備表示根據(jù)徑向位置及由所述記號和觸發(fā)標記的數(shù)確定的特定位置的位置信息。
7，.如權(quán)利要求5所述的分析用盤，其特征在于，所述分析用盤進一步具備表示偏置或增益調(diào)整的基準值和基準范圍的調(diào)整信息。
8，.如權(quán)利要求5至7中任一項所述的分析用盤，其特征在于，作為條形碼具備表示所述特定位置的位置信息和表示偏置或增益的基準值和基準范圍的調(diào)整信息。
9.如權(quán)利要求1或2所述的分析裝置，是裝上權(quán)利要求5至7中任一項所述的分析用盤的分析裝置，其特征在于，以所述位置信息或所述調(diào)整信息為基礎，進行偏置或增益調(diào)整。
10.如權(quán)利要求8所述的分析用盤，其特征在于，進一步具備識別所述分析用盤類別的識別信息。
11.一種分析裝置，是裝上權(quán)利要求10所述的分析用盤的分析裝置，其特征在于，以所述識別信息為基礎，選擇表示與所述分析用盤相對應的所述特定位置的位置信息或所述調(diào)整信息，進行所述光檢測器的偏置或增益調(diào)整。
12.如權(quán)利要求9所述的分析裝置，其特征在于，所述表示特定位置的位置信息或所述調(diào)整信息是由與該分析裝置連接的外部裝置所提供，根據(jù)該提供的所述位置信息或所述調(diào)整信息，進行所述光檢測器的偏置或增益調(diào)整。
13.如權(quán)利要求9所述的分析裝置，其特征在于，表示所述特定位置的位置信息或所述調(diào)整信息，存儲于所述分析裝置內(nèi)設的存儲手段中，根據(jù)該存儲的表示所述特定位置的位置信息或所述調(diào)整信息，進行所述光檢測器的偏置或增益調(diào)整。
14.一種分析裝置，所述分析裝置裝上具備可收集要分析的檢驗試樣的分析區(qū)、具有記錄了地址信息的軌道的軌道區(qū)以及與所述分析區(qū)相對應的記號的分析用盤，一邊使所述裝上的分析用盤旋轉(zhuǎn)驅(qū)動，一邊將光束照射所述分析用盤，并用光頭檢測來自所述分析用盤的反射光，從而取得所述軌道區(qū)的地址信息，根據(jù)所述取得的地址信息，進行所述光頭對所述分析用盤的徑向位置控制，同時在所述徑向位置被控的狀態(tài)下，在檢測出所述記號后的規(guī)定時刻，檢測來自所述分析區(qū)的反射光或透射光，通過這樣分析所述檢驗試樣，在這樣的分析裝置中，其特征在于，在所述分析之前，預先取得表示分析用盤中所記錄的特定位置的位置信息，根據(jù)取得的所述位置信息，進行所述光頭的徑向位置控制，接著在檢測出所述記號后的規(guī)定時刻后的所述特定位置，調(diào)整光檢測器的偏置或增益。
15.如權(quán)利要求14所述的分析裝置，其特征在于，在所述分析用盤上除所述記號之外，在所述分析區(qū)形成多個觸發(fā)標記，在所述分析之前，預先取得表示分析用盤中所記錄的特定位置的位置信息，根據(jù)取得的位置信息進行所述光頭的徑向位置控制，接著在檢測出所述記號后檢測出規(guī)定的觸發(fā)標記后的所述規(guī)定位置，調(diào)整所述光檢測器的偏置或增益。
16.如權(quán)利要求14或15所述的分析裝置，其特征在于，由所述光頭檢測所述記號或觸發(fā)標記。
17.如權(quán)利要求14或15所述的分析裝置，其特征在于，與所述光頭分開，另外設置檢測所述記號或觸發(fā)標記用的光檢測手段。
18.一種分析用盤，具備可收集要分析的檢驗試樣的分析區(qū)、具有記錄了地址信息的軌道的軌道區(qū)以及按照與所述分析區(qū)相對應的位置關(guān)系形成的記號，其特征在于，所述軌道區(qū)中具備表示由地址信息確定的徑向位置及表示由從記號之后的時刻所確定的進行偏置或增益調(diào)整的位置的分析區(qū)中的特定位置的位置信息。
19.如權(quán)利要求18所述的分析用盤，其特征在于，除所述記號外，分析區(qū)中形成多個觸發(fā)標記，在所述軌道區(qū)中具備表示由地址信息確定的徑向位置、與根據(jù)所述記號后的觸發(fā)標記數(shù)確定的特定位置的位置信息。
20.如權(quán)利要求18所述的分析用盤，其特征在于，所述軌道區(qū)中也進一步包含表示偏置或增益調(diào)整的基準值和基準范圍的調(diào)整信息。
21.如權(quán)利要求18至20中任一項所述的分析用盤，其特征在于，表示所述特定位置的位置信息和表示偏置或增益調(diào)整的基準值和基準范圍的調(diào)整信息，記錄于所述分析用盤中。
22.如權(quán)利要求14或15所述的分析裝置，是裝上權(quán)利要求18至20中任一項的分析用盤的分析裝置，其特征在于，以所述位置信息或所述調(diào)整信息為基礎，進行偏置或增益調(diào)整。
23.如權(quán)利要求21所述的分析用盤，其特征在于，進一步具備識別所述分析用盤類別的識別信息。
24.一種分析裝置，是裝上權(quán)利要求23所述的分析用盤的分析裝置，其特征在于，以所述識別信息為基礎，選擇表示與所述分析用盤相對應的所述特定位置的位置信息和所述調(diào)整信息，進行所述光檢測器的偏置或增益調(diào)整。
25.如權(quán)利要求22所述的分析裝置，其特征在于，所述表示特定位置的位置信息或調(diào)整信息是由與該分析裝置連接的外部裝置所提供，根據(jù)該提供的所述位置信息或所述調(diào)整信息進行所述光檢測器的偏置或增益調(diào)整。
26.如權(quán)利要求22所述的分析裝置，其特征在于，表示所述特定位置的位置信息或所述調(diào)整信息，存儲于所述分析裝置內(nèi)設的存儲手段中，根據(jù)該存儲的表示所述特定位置的位置信息或所述調(diào)整信息，進行所述光檢測器的偏置或增益調(diào)整。
全文摘要
本發(fā)明提供的分析裝置，使采取檢驗試樣的分析用盤旋轉(zhuǎn)，對與設置于流通路徑中的試劑的反應進行光學的分析，即使是做成各種各樣流通路徑形狀的種類各異的分析用盤，也能自動進行分析裝置的檢測器的偏置調(diào)整和增益調(diào)整。本發(fā)明在分析用盤100的軌道區(qū)101中預先記錄有關(guān)調(diào)整的位置信息、調(diào)整電平的基準值等。以該信息為基礎，分析裝置在分析用盤100的規(guī)定區(qū)102d進行光檢測器的偏置、增益的調(diào)整。這樣，即使將各種流通路徑形狀的分析用盤裝到分析裝置上，也能自動地進行調(diào)整。
文檔編號G01N33/48GK1680801SQ20051006507
公開日2005年10月12日 申請日期2005年4月8日 優(yōu)先權(quán)日2004年4月8日
發(fā)明者智賀崇 申請人:松下電器產(chǎn)業(yè)株式會社