專利名稱：硬盤磁頭定位的測(cè)試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種定位的測(cè)試方法，特別是一種硬盤磁頭定位的測(cè)試方法。
背景技術(shù)：
隨機(jī)尋道/讀取(seek/read)測(cè)試，為測(cè)試硬盤性能的項(xiàng)目之一，采用隨機(jī)的方式對(duì)硬盤進(jìn)行尋道以及讀取測(cè)試。現(xiàn)有的技術(shù)為利用偽隨機(jī)算法在硬盤的大小范圍內(nèi)，隨機(jī)計(jì)算出一個(gè)測(cè)試位置，然后將磁頭移動(dòng)至該測(cè)試位置，進(jìn)行讀取操作，最后判斷讀取動(dòng)作是否成功。
這種測(cè)試方法重點(diǎn)在于測(cè)試硬盤的讀取功能，因?yàn)榇蓬^移動(dòng)到測(cè)試位置后，只是在該點(diǎn)做了讀取操作，是否能夠準(zhǔn)確地到達(dá)某個(gè)位置，尚缺乏一個(gè)驗(yàn)證的機(jī)制。
此外，由于測(cè)試的算法為偽隨機(jī)算法，每次測(cè)試的位置都是隨機(jī)設(shè)定，因此當(dāng)測(cè)試的次數(shù)比較少時(shí)，可能會(huì)有重復(fù)測(cè)試同一個(gè)位置的情況發(fā)生，不停地停留在同一點(diǎn)便失去了測(cè)試的意義，因此，如何能提供一種可實(shí)時(shí)地測(cè)試出磁頭尋道功能是否出現(xiàn)偏差的方法，成為研究人員待解決的問(wèn)題之一。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所要解決地技術(shù)問(wèn)題在于提供一種硬盤磁頭定位的測(cè)試方法，當(dāng)硬盤磁頭性能存在問(wèn)題時(shí)，進(jìn)行若干次定位或是經(jīng)過(guò)遠(yuǎn)距離尋道后，磁頭會(huì)出現(xiàn)偏差，此方法便是要及早測(cè)試出這些問(wèn)題，通過(guò)偽隨機(jī)算法，實(shí)時(shí)地測(cè)試出磁頭定位出現(xiàn)的偏差，以及避免隨機(jī)測(cè)試的位置集中在某個(gè)區(qū)域，以解決現(xiàn)有技術(shù)所存在的問(wèn)題。
因此，為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明所公開(kāi)的一種硬盤磁頭定位的測(cè)試方法，利用一磁頭對(duì)硬盤進(jìn)行定位以及讀取測(cè)試，此硬盤劃分有多個(gè)磁扇(Sector)，各個(gè)磁扇具有一磁扇地址，此方法包含下列步驟(a)將多個(gè)磁扇依等間隔依序選擇一磁扇的磁扇地址，以作為參照磁扇地址；(b)隨機(jī)產(chǎn)生一測(cè)試磁扇地址；(c)將磁頭移動(dòng)至測(cè)試磁扇地址，讀取測(cè)試磁扇地址對(duì)應(yīng)的磁扇所儲(chǔ)存的數(shù)據(jù)，并記錄為第一讀取數(shù)據(jù)；(d)將磁頭自測(cè)試磁扇地址移動(dòng)至各個(gè)參照磁扇地址，再返回測(cè)試磁扇地址，且再次讀取測(cè)試磁扇地址對(duì)應(yīng)的磁扇所儲(chǔ)存的數(shù)據(jù)，并記錄為第二讀取數(shù)據(jù)；以及(e)對(duì)比第一讀取數(shù)據(jù)和第二讀取數(shù)據(jù)。
采用本發(fā)明所要提供地硬盤磁頭定位的測(cè)試方法，當(dāng)硬盤磁頭性能存在問(wèn)題時(shí)，進(jìn)行若干次定位或是經(jīng)過(guò)遠(yuǎn)距離尋道后，磁頭會(huì)出現(xiàn)偏差，此方法能及早測(cè)試出這些問(wèn)題，通過(guò)偽隨機(jī)算法，實(shí)時(shí)地測(cè)試出磁頭定位出現(xiàn)的偏差，而且，避免隨機(jī)測(cè)試的位置集中在某個(gè)區(qū)域的問(wèn)題。


圖1A至圖1C為本發(fā)明的硬盤磁頭定位的測(cè)試方法流程圖；以及圖2為本發(fā)明的一較佳實(shí)施例示意圖。
具體實(shí)施例方式
為使對(duì)本發(fā)明的目的、構(gòu)造、特征、及其功能有進(jìn)一步的了解，茲配合實(shí)施例詳細(xì)說(shuō)明如下。以上的關(guān)于本發(fā)明內(nèi)容的說(shuō)明及以下的實(shí)施方式的說(shuō)明用以示范與解釋本發(fā)明的原理，并且提供本發(fā)明的權(quán)利要求更進(jìn)一步的解釋。
如圖1A至圖1C所示，為本發(fā)明的硬盤磁頭定位的測(cè)試方法流程圖，利用一磁頭對(duì)一硬盤進(jìn)行定位以及讀取測(cè)試，此硬盤劃分為多個(gè)磁扇(Sector)，各個(gè)磁扇的容量為512字節(jié)(byte)，每一磁扇具有一對(duì)應(yīng)的磁扇地址。
首先，將多個(gè)磁扇依照等間隔依序選擇一磁扇對(duì)應(yīng)的磁扇地址，以作為參照磁扇地址(步驟110)，此步驟選擇至少一起始磁扇地址以及一終點(diǎn)磁扇地址作為參照磁扇地址。
接著，隨機(jī)產(chǎn)生一測(cè)試磁扇地址(步驟120)，此測(cè)試磁扇地址利用一偽隨機(jī)算法獲得，之后，將磁頭移動(dòng)至測(cè)試磁扇地址，讀取測(cè)試磁扇地址對(duì)應(yīng)的磁扇所儲(chǔ)存的數(shù)據(jù)，并記錄為第一讀取數(shù)據(jù)(步驟130)，可將此第一讀取數(shù)據(jù)儲(chǔ)存于第一硬盤緩沖區(qū)(步驟132)。
然后，將磁頭自測(cè)試磁扇地址移動(dòng)至各個(gè)參照磁扇地址，依照每一參照磁扇地址的大小，由小至大依序移動(dòng)至每一參照磁扇地址，之后再返回測(cè)試磁扇地址，且再次讀取測(cè)試磁扇地址對(duì)應(yīng)的測(cè)試磁扇所儲(chǔ)存的數(shù)據(jù)，并記錄為第二讀取數(shù)據(jù)(步驟140)，可將第二讀取數(shù)據(jù)儲(chǔ)存于第二硬盤緩沖區(qū)(步驟142)。
最后，對(duì)比第一讀取數(shù)據(jù)和第二讀取數(shù)據(jù)是否相同(步驟150)，當(dāng)兩者數(shù)據(jù)相同時(shí)，判斷磁頭隨機(jī)尋道功能無(wú)誤(步驟160)，而當(dāng)兩者數(shù)據(jù)不相同時(shí)，判斷磁頭隨機(jī)尋道功能有誤(步驟170)。
如圖2所示，為本發(fā)明的一較佳實(shí)施例示意圖，此實(shí)施例為利用磁頭對(duì)一塊容量為80GB的硬盤進(jìn)行定位以及讀取測(cè)試。
由于每個(gè)磁扇(sector)的數(shù)據(jù)量為512byte，故一塊80GB的硬盤可分為167772160個(gè)磁扇，在此以40GB做為固定間隔，每隔40GB即設(shè)定1參照點(diǎn)，如此可設(shè)定3個(gè)參照點(diǎn)，分別為起點(diǎn)、中間點(diǎn)、以及終點(diǎn)；3個(gè)參照點(diǎn)的磁扇地址分別為A＝0、B＝83886080，以及C＝167772160。
利用偽隨機(jī)算法以得到一個(gè)測(cè)試磁扇地址為D＝10000，磁頭尋道至磁扇D，并讀取磁扇D的數(shù)據(jù)，且存放至第一硬盤緩沖區(qū)中。
接著，磁頭從D地址依序?qū)さ乐罙、B、C位置，最后再?gòu)腃回到D位置，并再次讀取磁扇D的數(shù)據(jù)，將數(shù)據(jù)存放至第二硬盤緩沖區(qū)中。
最后對(duì)比第一硬盤緩沖區(qū)以及第二硬盤緩沖區(qū)中的數(shù)據(jù)是否一致，若一致則判斷磁頭尋道測(cè)試成功，倘若不相同，則判斷磁頭隨機(jī)尋道功能有誤。
上述操作利用3個(gè)參照點(diǎn)A、B、C，作了離D點(diǎn)距離最遠(yuǎn)和相對(duì)較近的尋道操作，以測(cè)試在極限情況下磁頭是否能夠準(zhǔn)確回到原本的位置，判斷是否準(zhǔn)確回到原本的位置是根據(jù)第一硬盤緩沖區(qū)以及第二硬盤緩沖區(qū)中的數(shù)據(jù)是否一致來(lái)決定。
采用本發(fā)明所要提供地硬盤磁頭定位的測(cè)試方法，當(dāng)硬盤磁頭性能存在問(wèn)題時(shí)，進(jìn)行若干次定位或是經(jīng)過(guò)遠(yuǎn)距離尋道后，磁頭會(huì)出現(xiàn)偏差，此方法能及早測(cè)試出這些問(wèn)題，通過(guò)偽隨機(jī)算法，實(shí)時(shí)地測(cè)試出磁頭定位出現(xiàn)的偏差，而且，避免隨機(jī)測(cè)試的位置集中在某個(gè)區(qū)域的問(wèn)題。
當(dāng)然，本發(fā)明還可有其它多種實(shí)施例，在不背離本發(fā)明精神及其實(shí)質(zhì)的情況下，熟悉本領(lǐng)域的技術(shù)人員當(dāng)可根據(jù)本發(fā)明作出各種相應(yīng)的改變和變形，但這些相應(yīng)的改變和變形都應(yīng)屬于本發(fā)明所附的權(quán)利要求的保護(hù)范圍。
權(quán)利要求
1.一種硬盤磁頭定位的測(cè)試方法，利用一磁頭對(duì)一硬盤進(jìn)行定位以及讀取測(cè)試，該硬盤具有多個(gè)磁扇，各該磁扇具有一磁扇地址，其特征在于，該方法包含下列步驟將該多個(gè)磁扇依等間隔依序選擇一磁扇的該磁扇地址，以作為一參照磁扇地址；隨機(jī)產(chǎn)生一測(cè)試磁扇地址；將該磁頭移動(dòng)至該測(cè)試磁扇地址，讀取該測(cè)試磁扇地址對(duì)應(yīng)的該測(cè)試磁扇所儲(chǔ)存的數(shù)據(jù)，并記錄為一第一讀取數(shù)據(jù)；將該磁頭自該測(cè)試磁扇地址移動(dòng)至各該參照磁扇地址，再返回該測(cè)試磁扇地址，且再次讀取該測(cè)試磁扇地址對(duì)應(yīng)的該測(cè)試磁扇所儲(chǔ)存的數(shù)據(jù)，并記錄為一第二讀取數(shù)據(jù)；以及對(duì)比該第一讀取數(shù)據(jù)和該第二讀取數(shù)據(jù)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的硬盤磁頭定位的測(cè)試方法，其特征在于，各該磁扇的容量為512字節(jié)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的硬盤磁頭定位的測(cè)試方法，其特征在于，該將該多個(gè)磁扇依等間隔依序選擇一磁扇的該磁扇地址，以作為一參照磁扇地址的步驟，是選擇至少一起始磁扇地址以及一終點(diǎn)磁扇地址作為參照磁扇地址。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的硬盤磁頭定位的測(cè)試方法，其特征在于，該測(cè)試磁扇地址利用一偽隨機(jī)算法獲得。
5.根據(jù)權(quán)利要求1項(xiàng)所述的硬盤磁頭定位的測(cè)試方法，其特征在于，該讀取該測(cè)試磁扇地址對(duì)應(yīng)的該測(cè)試磁扇所儲(chǔ)存的數(shù)據(jù)，并記錄為一第一讀取數(shù)據(jù)的步驟之后，還包含有一將該第一讀取數(shù)據(jù)儲(chǔ)存于一第一硬盤緩沖區(qū)的步驟。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的硬盤磁頭定位的測(cè)試方法，其特征在于，該將該磁頭自該測(cè)試磁扇地址移動(dòng)至各該參照磁扇地址的步驟，依照各該參照磁扇地址的大小，由小至大依序移動(dòng)至各該參照磁扇地址。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的硬盤磁頭定位的測(cè)試方法，其特征在于，該再次讀取該測(cè)試磁扇地址對(duì)應(yīng)的該測(cè)試磁扇所儲(chǔ)存的數(shù)據(jù)，并記錄為一第二讀取數(shù)據(jù)的步驟之后，還包含有一將該第二讀取數(shù)據(jù)儲(chǔ)存于一第二硬盤緩沖區(qū)的步驟。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的硬盤磁頭定位的測(cè)試方法，其特征在于，該對(duì)比該第一讀取數(shù)據(jù)和該第二讀取數(shù)據(jù)的步驟，是當(dāng)兩者數(shù)據(jù)相同時(shí)，判斷該磁頭隨機(jī)尋道功能無(wú)誤，當(dāng)兩者數(shù)據(jù)不相同時(shí)，判斷該磁頭隨機(jī)尋道功能有誤。
全文摘要
本發(fā)明公開(kāi)一種硬盤磁頭定位的測(cè)試方法，通過(guò)磁頭對(duì)硬盤進(jìn)行定位以及讀取測(cè)試，此硬盤具有多個(gè)磁扇，各個(gè)磁扇具有一磁扇地址，首先將各個(gè)磁扇依等間隔依序選擇一參照磁扇地址，接著隨機(jī)產(chǎn)生一測(cè)試磁扇地址，將磁頭移動(dòng)至測(cè)試磁扇地址，讀取其對(duì)應(yīng)的磁扇所儲(chǔ)存的數(shù)據(jù)，并記錄為第一讀取數(shù)據(jù)，之后將磁頭自測(cè)試磁扇地址移動(dòng)至各個(gè)參照磁扇地址，再返回測(cè)試磁扇地址，且再次讀取測(cè)試磁扇地址對(duì)應(yīng)的磁扇所儲(chǔ)存的數(shù)據(jù)，并記錄為第二讀取數(shù)據(jù)，最后比對(duì)第一讀取數(shù)據(jù)和第二讀取數(shù)據(jù)，以判斷磁頭尋道功能是否出現(xiàn)偏差。因此，當(dāng)硬盤磁頭性能存在問(wèn)題時(shí)，進(jìn)行若干次定位或是經(jīng)過(guò)遠(yuǎn)距離尋道后，磁頭會(huì)出現(xiàn)偏差，能避免隨機(jī)測(cè)試的位置集中在某個(gè)區(qū)域的問(wèn)題。
文檔編號(hào)G01R33/00GK1917042SQ20051009077
公開(kāi)日2007年2月21日 申請(qǐng)日期2005年8月16日 優(yōu)先權(quán)日2005年8月16日
發(fā)明者焦學(xué)蓮, 陳玄同, 劉文涵 申請(qǐng)人:英業(yè)達(dá)股份有限公司