專利名稱：透光薄膜瑕疵的檢驗方法
技術領域：
本發(fā)明涉及一種透光薄膜瑕疵的檢驗方法。
背景技術：
經(jīng)過清洗制程后的透光薄膜，其表面仍然可能存在臟物、刮傷或者水紋等瑕疵，需經(jīng)過檢驗才可確定是否合格。
現(xiàn)有技術中透光薄膜瑕疵的檢驗方法，第一種是使用人工的方式，采用強光照射或是借助放大鏡，肉眼觀察并根據(jù)經(jīng)驗加以確定待檢驗透光薄膜是否合格。但是，不同的人員采用該種方法進行檢驗，會產(chǎn)生不同的測量結(jié)果，因而產(chǎn)生的差別較大，不容易制定出合理的檢驗規(guī)范。
第二種方法是利用CCD(Charge Coupled Device，電荷耦合器件)影像傳感器或者CMOS(Complementary Metal-Oxide Semiconductor，互補性金屬氧化物半導體)影像傳感器，搭配放大鏡將透光薄膜進行拍照得到影像后進行觀察，從而可實現(xiàn)自動化。但是，該影像分析程序不易撰寫，且容易發(fā)生誤判。同時，檢驗規(guī)范不容易制定，如臟物顆粒大小、刮傷的尺寸多少以內(nèi)為合格以及水紋何種樣式為合格等。

發(fā)明內(nèi)容有鑒于此，有必要提供一種容易制定檢驗規(guī)范的透光薄膜瑕疵的檢驗方法。
一種透光薄膜瑕疵的檢驗方法，其主要包括下列步驟提供一測試圖樣；利用影像傳感器透過待檢驗透光薄膜拍攝得到該測試圖樣的影像；分析該影像的分辨率；比較該影像的分辨率和透過一標準透光薄膜拍攝得到的該測試圖樣影像的分辨率，若比較結(jié)果在規(guī)定范圍內(nèi)則該待檢驗透光薄膜為合格品，反之為非合格品。
與現(xiàn)有技術相比，所述透光薄膜瑕疵的檢驗方法是用具體數(shù)據(jù)表示影像的分辨率，采用影像傳感器透過待檢測透光薄膜拍攝得到測試圖樣的影像，然后將該影像的分辨率和透過標準透光薄膜拍攝得到的測試圖樣影像的分辨率進行分析、比較，然后根據(jù)比較結(jié)果進行判斷待檢驗透光薄膜是否合格，比較結(jié)果在檢驗規(guī)范內(nèi)則合格，反之則不合格。由于影像的分辨率為一具體數(shù)據(jù)，二者的比較結(jié)果也是一具體數(shù)據(jù)，故容易制定檢驗規(guī)范。

圖1是本發(fā)明實施例透光薄膜瑕疵的檢驗方法的流程圖。
圖2是本發(fā)明實施例透光薄膜瑕疵的檢驗方法得到第一影像的示意圖。
具體實施方式下面將結(jié)合附圖對本發(fā)明作進一步詳細說明。
如圖1所示，其為本發(fā)明實施例的透光薄膜瑕疵的檢驗方法的流程圖，該方法主要包括下列步驟提供一測試圖樣；將標準透光薄膜置于測試圖樣和鏡頭之間，通過影像傳感器拍攝得到該測試圖樣的第一影像；分析該第一影像的分辨率；將待檢驗透光薄膜置于測試圖樣和鏡頭之間，通過影像傳感器拍攝得到該測試圖樣的第二影像；分析該第二影像的分辨率；比較第一影像和第二影像的分辨率，若比較結(jié)果在規(guī)定范圍內(nèi)則該待檢驗透光薄膜為合格品，反之為非合格品。
下面對每一步驟進行詳細說明。
步驟一為提供一測試圖樣。該測試圖樣可以為正弦波圖樣或者方波圖樣。為了便于檢驗，可將該測試圖樣放在工作臺上。
步驟二是將標準透光薄膜置于測試圖樣和鏡頭之間，通過影像傳感器拍攝得到該測試圖樣的第一影像。
該標準透光薄膜無任何瑕疵，其可采用人工方式取得，例如強光照射肉眼觀察、顯微鏡肉眼觀察或者利用CCD或者CMOS影像傳感器再搭配放大鏡將薄膜進行拍照后進行對比分析等方法得到該標準透光薄膜。
具體拍攝過程如圖2所示，將標準透光薄膜2放在測試圖樣1和鏡頭3之間，然后通過影像傳感器4進行拍照，從而得到該測試圖樣1的第一影像。
該影像傳感器4和一分析單元5相連，該第一影像可實時輸入分析單元5中，且該分析單元5可控制影像傳感器4的拍攝。
該分析單元5為一程序可控制的裝置，如計算機、圖像分析儀等。該影像傳感器4為CCD或CMOS影像傳感器，其通過串口、USB(Universal SerialBus，通用串行總線)或者1394等接口和該分析單元5相連。
步驟三為分析該第一影像的分辨率。通過安裝在分析單元5內(nèi)的影像分辨率程序分析該第一影像的分辨率。
根據(jù)分析單元5內(nèi)程序的種類，該第一影像的分辨率可以表示為CTF(Contrast Transfer Function，對比傳遞函數(shù))值或者MTF(ModulationTransfer Function，調(diào)制傳遞函數(shù))，本實施例以MTF值表示第一影像的分辨率，以下都以MTF值進行說明。CTF值的取得過程和MTF值相同。
在分析該第一影像的分辨率MTF1值時，可將該第一影像分為若干小區(qū)域，如2n(n為大于等于1的整數(shù))，先分析每一小區(qū)域的MTFn值，根據(jù)每一小區(qū)域的MTFn值得出第一影像的MTF1值。
步驟四是將待檢驗透光薄膜置于測試圖樣和鏡頭之間，通過影像傳感器拍攝得到該測試圖樣的第二影像。
該步驟的具體操作過程和步驟二的過程相同，將待檢驗透光薄膜取代標準透光薄膜2的位置，然后通過影像傳感器4進行拍照，從而得到該測試圖樣1的第二影像。
步驟五是分析該第二影像的分辨率。將該第二影像分成和第一影像相同數(shù)量的小區(qū)域，計算每一小區(qū)域的MTFn值，然后計算整塊第二影像的MTF2值。
步驟六是將比較第一影像和第二影像的分辨率，若比較結(jié)果在規(guī)定范圍內(nèi)則待檢驗透光薄膜為合格品，反之為非合格品。
將第一影像的MTF1和第二影像的MTF2進行比較，二者的比較結(jié)果(MTF1-MTF2)/MTF1在一定范圍內(nèi)，該檢驗范圍可由分析單元5設定，如0-0.2％之間，則該待檢驗透光薄膜為合格品，反之則為非合格品。
如果待檢驗透光薄膜無任何瑕疵，此時MTF1＝MTF2，二者的比較差值等于零；如果待檢驗透光薄膜具有臟物、刮傷或者水紋等瑕疵，則MTF2＜MTF1，二者的比較差值大于零，瑕疵越少則MTF2越接近MTF1，則比較差值越接近零，瑕疵越多則MTF2和MTF1之間差值越大，二者的比較差值越大。
該透光薄膜瑕疵的檢驗方法通過程序可控的分析單元5計算分析透過待檢驗透光薄膜拍攝得到的第二影像分辨率的CTF或者MTF值、透過標準透光薄膜得到的第一影像分辨率的CTF或者MTF值以及第一影像和第二影像分辨率之間的比較，在整個比較分析過程中不需要肉眼觀察，都由該分析單元5完成，且該CTF或者MTF值都為一具體數(shù)據(jù)，比較結(jié)果因而也為具體數(shù)據(jù)，故，檢驗規(guī)范容易制定。另外，由于檢驗過程中所需要的數(shù)值都由分析單元5完成，不同的人員進行檢驗也不會出現(xiàn)大的差別。
該透光薄膜瑕疵的檢驗方法可用來檢驗紫外線濾光片、紅外截止濾光片(IR-Cut Filter)等可透光的產(chǎn)品。
另外，本領域技術人員還可以在本發(fā)明精神內(nèi)做其它變化，當然，這些依據(jù)本發(fā)明精神所做的變化，都應包含在本發(fā)明所要求保護的范圍內(nèi)。
權利要求
1.一種透光薄膜瑕疵的檢驗方法，包括下列步驟提供一測試圖樣；利用影像傳感器透過待檢驗透光薄膜拍攝得到該測試圖樣的影像；分析該影像的分辨率；比較該影像的分辨率和透過一標準透光薄膜拍攝得到的該測試圖樣影像的分辨率，若比較結(jié)果在規(guī)定范圍內(nèi)則該待檢驗透光薄膜為合格品，反之為非合格品。
2.如權利要求1所述的透光薄膜瑕疵的檢驗方法，其特征在于該分辨率以調(diào)制傳遞函數(shù)表示。
3.如權利要求1所述的透光薄膜瑕疵的檢驗方法，其特征在于該分辨率以對比傳遞函數(shù)表示。
4.如權利要求2或3所述的透光薄膜瑕疵的檢驗方法，其特征在于將拍攝得到的影像分成一定數(shù)量的區(qū)域，計算每個區(qū)域的分辨率，然后得到整個影像的分辨率。
5.如權利要求1所述的透光薄膜瑕疵的檢驗方法，其特征在于該影像傳感器為電荷耦合器件或者互補性金屬氧化物半導體影像傳感器。
6.如權利要求5所述的透光薄膜瑕疵的檢驗方法，其特征在于該影像傳感器和分析單元相連。
7.如權利要求6所述的透光薄膜瑕疵的檢驗方法，其特征在于該拍攝得到的影像實時輸入分析單元，通過分析單元內(nèi)置的程序分析該影像的分辨率。
8.如權利要求6所述的透光薄膜瑕疵的檢驗方法，其特征在于該分析單元為一計算機或者圖像分析儀。
9.如權利要求1所述的透光薄膜瑕疵的檢驗方法，其特征在于進一步包括一設置于待檢驗透光薄膜和影像傳感器之間的鏡頭。
10.如權利要求1所述的透光薄膜瑕疵的檢驗方法，其特征在于該測試圖樣為正弦波或者方波。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種透光薄膜瑕疵的檢驗方法，該方法包括下列步驟提供一測試圖樣；利用影像傳感器透過待檢驗透光薄膜拍攝得到該測試圖樣的影像；分析該影像的分辨率；比較該影像的分辨率和透過標準透光薄膜拍攝得到的該測試圖樣影像的分辨率，若比較結(jié)果在規(guī)定范圍內(nèi)則該待檢驗透光薄膜為合格品，反之為非合格品。
文檔編號G01N21/88GK1971256SQ200510101779
公開日2007年5月30日 申請日期2005年11月25日 優(yōu)先權日2005年11月25日
發(fā)明者張維中 申請人:鴻富錦精密工業(yè)(深圳)有限公司, 鴻海精密工業(yè)股份有限公司