專利名稱：電子組件自動(dòng)化測(cè)試裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種電子組件自動(dòng)化測(cè)試裝置，具體的說(shuō)是一種可自動(dòng)進(jìn)行和監(jiān)視電子組件測(cè)試作業(yè)的電子組件自動(dòng)化測(cè)試裝置。
背景技術(shù)：
一般的電子組件，例如封裝完成的芯片，在制造過(guò)程中以及出廠前，均會(huì)進(jìn)行一系列的檢驗(yàn)及測(cè)試等品管動(dòng)作，除了確保其產(chǎn)品品質(zhì)之外，還會(huì)由檢測(cè)動(dòng)作發(fā)現(xiàn)制造過(guò)程中的瑕疵，以進(jìn)行修正、改進(jìn)或更換，使提升其產(chǎn)品的良品率。
現(xiàn)有的芯片制造者，通常提供給消費(fèi)者長(zhǎng)期的保固期間，甚或終身保固，因此特別需在產(chǎn)品制造過(guò)程中及出廠前經(jīng)過(guò)嚴(yán)密的品質(zhì)控管，尤其在出廠前常會(huì)進(jìn)行全面的測(cè)試工作，以確保市面上每一顆芯片具有良好的品質(zhì)及功能效果，以此降低其后續(xù)的成本。
通常的芯片實(shí)際測(cè)試方法，需要使用多數(shù)人力分別看守?cái)?shù)個(gè)測(cè)試用主機(jī)板置柜，該置柜內(nèi)部安裝有復(fù)數(shù)測(cè)試用主機(jī)板，以供晶體管植裝測(cè)試，因此單獨(dú)一人僅能看守若干主機(jī)板置柜，造成人力成本的增加；其次，通常的測(cè)試作業(yè)是以人力將芯片植裝于試用主機(jī)板，經(jīng)過(guò)測(cè)試動(dòng)作后，再以人力取下晶體管，因此浪費(fèi)許多時(shí)間在前置作業(yè)及后續(xù)作業(yè)過(guò)程中，影響品管速率，不利于大量生產(chǎn)，如此雖能降低以后保固期間回廠維修的成本，卻增加了產(chǎn)品的制造及品管成本。
實(shí)用新型內(nèi)容本實(shí)用新型目的在于提供一種電子組件自動(dòng)化測(cè)試裝置。
為實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型采用技術(shù)方案的基本構(gòu)思是一種電子組件自動(dòng)化測(cè)試裝置，其特征在于，所述的電子組件自動(dòng)化測(cè)試裝置包括一測(cè)試主機(jī)，其內(nèi)設(shè)有一待測(cè)區(qū)，以供置放待測(cè)的電子組件，該待測(cè)區(qū)一側(cè)設(shè)有一測(cè)試區(qū)，該測(cè)試區(qū)內(nèi)設(shè)有復(fù)數(shù)容置格，供置放復(fù)數(shù)測(cè)試用機(jī)板，該測(cè)試區(qū)另一側(cè)并設(shè)有一完成測(cè)試區(qū)；復(fù)數(shù)測(cè)試用機(jī)板，分別置放于測(cè)試主機(jī)的容置格；復(fù)數(shù)擷取裝置，是進(jìn)行電子組件擷取、置放、插植及拔取動(dòng)作的自動(dòng)化機(jī)械裝置，分別設(shè)置于測(cè)試主機(jī)上方，該擷取裝置中并設(shè)有至少一電子組件的擷取頭；一輸送裝置，設(shè)于該測(cè)試主機(jī)外部一側(cè)邊，以供輸送該等擷取裝置所擷取的電子組件；一控管主機(jī)；由此透過(guò)訊號(hào)聯(lián)機(jī)使該測(cè)試主機(jī)的測(cè)試用機(jī)板與控管主機(jī)構(gòu)成訊號(hào)聯(lián)機(jī)，并令該擷取裝置、輸送裝置與控管主機(jī)構(gòu)成訊號(hào)聯(lián)機(jī)，以組成控管主機(jī)可監(jiān)測(cè)并控制擷取裝置、輸送裝置產(chǎn)生動(dòng)作的電子組件自動(dòng)化測(cè)試裝置。
所述的擷取裝置包括為一種軌道式機(jī)械臂或肘式機(jī)械手臂或其它可用自動(dòng)化指令控制的機(jī)械裝置。
所述的控管主機(jī)包括具有接收電子組件測(cè)試品質(zhì)，進(jìn)行電子組件品質(zhì)的比對(duì)與區(qū)別，可以顯示及儲(chǔ)存比對(duì)與區(qū)別資料，并可命令擷取裝置、輸送裝置產(chǎn)生特定動(dòng)作的軟件及硬件設(shè)備。
所述的訊號(hào)聯(lián)機(jī)包括有線及無(wú)線訊號(hào)聯(lián)機(jī)。
本實(shí)用新型的主要目的是提供一種電子組件自動(dòng)化測(cè)試裝置，憑借自動(dòng)化測(cè)試裝置結(jié)構(gòu)及其架構(gòu)設(shè)計(jì)，使其達(dá)成電子組件測(cè)試速率提升、降低品管成本、適于大量測(cè)試品管工作等效果。


圖1為本實(shí)用新型自動(dòng)化測(cè)試裝置立體示意圖。
圖2為本實(shí)用新型自動(dòng)化測(cè)試裝置正面示意圖。
圖3為本實(shí)用新型應(yīng)用實(shí)施動(dòng)作示意圖。
圖4為本實(shí)用新型應(yīng)用實(shí)施動(dòng)作示意圖。
1、測(cè)試主機(jī)2、擷取裝置3、輸送裝置 4、控管主機(jī)5、訊號(hào)聯(lián)機(jī)6、電子組件11、測(cè)試用機(jī)板12、待測(cè)區(qū)13、測(cè)試區(qū) 14、容置格 15、完成測(cè)試區(qū)21、擷取頭具體實(shí)施方式
本實(shí)施例電子組件自動(dòng)化測(cè)試裝置，參考附圖所示，該裝置由一測(cè)試主機(jī)1、復(fù)數(shù)個(gè)擷取裝置2、一輸送裝置3及一控管主機(jī)4所組成，其中測(cè)試主機(jī)1，如圖1及圖2所示，其為供復(fù)數(shù)測(cè)試用機(jī)板11設(shè)置的結(jié)構(gòu)體，該測(cè)試主機(jī)1內(nèi)設(shè)有一待測(cè)區(qū)12，以供置放待測(cè)電子組件6—芯片，該待測(cè)區(qū)12一側(cè)設(shè)有一測(cè)試區(qū)13，該測(cè)試區(qū)13內(nèi)設(shè)有復(fù)數(shù)容置格14，可供置放復(fù)數(shù)測(cè)試用機(jī)板11，該測(cè)試區(qū)13另一側(cè)則設(shè)有一完成測(cè)試區(qū)15；復(fù)數(shù)測(cè)試用機(jī)板11，可以是一般桌上型計(jì)算機(jī)、筆記型計(jì)算機(jī)、個(gè)人行動(dòng)秘書(PDA)、其它微型計(jì)算機(jī)主機(jī)、大型計(jì)算機(jī)主機(jī)或電器、電機(jī)、機(jī)械等設(shè)備主機(jī)板或其周邊電路板(卡)，并分別置放于測(cè)試主機(jī)1的容置格14中；復(fù)數(shù)個(gè)擷取裝置2，如圖1及圖2所示，是可自動(dòng)進(jìn)行電子組件6擷取、置放、插植及拔取等動(dòng)作的自動(dòng)化機(jī)械裝置，為一種軌道式機(jī)械臂或肘式機(jī)械手臂或其它可用自動(dòng)化指令控制的機(jī)械裝置，該等擷取裝置2分別設(shè)于該測(cè)試主機(jī)1上方的待測(cè)區(qū)12、測(cè)試區(qū)13之間及測(cè)試區(qū)13、完成測(cè)試區(qū)15與輸送裝置之間，并設(shè)有至少一電子組件的擷取頭21，以此令擷取裝置2進(jìn)行電子組件6裝入/取出測(cè)試用機(jī)板11等動(dòng)作；輸送裝置3，設(shè)于該測(cè)試主機(jī)1外部一側(cè)邊上，以供輸送該等擷取裝置2所擷取的電子組件6；控管主機(jī)4，為統(tǒng)一監(jiān)測(cè)電子組件6測(cè)試品質(zhì)效果，進(jìn)行電子組件6品質(zhì)的比對(duì)與區(qū)別，可以儲(chǔ)存測(cè)試、比對(duì)等資料，并可命令擷取裝置2、輸送裝置3產(chǎn)生特定動(dòng)作的后端計(jì)算機(jī)主機(jī)，其包含有比對(duì)、區(qū)分、儲(chǔ)存測(cè)試資料及產(chǎn)生特定指令所需的軟件及硬設(shè)備；見(jiàn)圖1、圖2，透過(guò)有線或無(wú)線訊號(hào)聯(lián)機(jī)5，使該測(cè)試主機(jī)1的各個(gè)測(cè)試用機(jī)板11分別或統(tǒng)一與控管主機(jī)4構(gòu)成訊號(hào)聯(lián)機(jī)，并令該擷取裝置2、輸送裝置3與控管主機(jī)4構(gòu)成訊號(hào)聯(lián)機(jī)，即組成本實(shí)施例電子組件自動(dòng)化測(cè)試裝置，可應(yīng)用于芯片等電子組件6的實(shí)際測(cè)試作業(yè)。
本實(shí)施例電子組件自動(dòng)化測(cè)試裝置設(shè)計(jì)是可以作為各種電子組件等產(chǎn)品出廠前的測(cè)試設(shè)備，亦可裝設(shè)于特定生產(chǎn)線中，以隨機(jī)或全面的取擷制造過(guò)程中的電子組件(例如封裝過(guò)程中的芯片等)，并進(jìn)行測(cè)試、監(jiān)控作業(yè)，俾隨時(shí)監(jiān)控電子組件品質(zhì)。
本實(shí)施例應(yīng)用方式見(jiàn)圖2至圖4，可由作業(yè)人員或其它硬設(shè)備將電子組件6(如芯片等)排置于測(cè)試主機(jī)1的待測(cè)區(qū)12中，即可由控管主機(jī)4命令該擷取裝置2的擷取頭21取出電子組件6，每次取8個(gè)，并移送于輸送裝置3上，由控管主機(jī)4命令該輸送裝置3將該等電子組件6輸送至另一擷取裝置2，再由控管主機(jī)4命令該另一擷取裝置2的擷取頭21將該等電子組件6移送至測(cè)試用機(jī)板11處，執(zhí)行電子組件6植裝于測(cè)試用機(jī)板11的動(dòng)作，見(jiàn)圖4。
在電子組件6測(cè)試過(guò)程中，該測(cè)試用機(jī)板11所實(shí)際運(yùn)作的數(shù)據(jù)等資料將透過(guò)有線或無(wú)線訊號(hào)聯(lián)機(jī)5傳遞于控管主機(jī)4，由該控管主機(jī)4內(nèi)設(shè)的軟、硬件進(jìn)行比對(duì)、區(qū)分各電子組件6的品質(zhì)、使用速率及效果，可以立即以顯示器顯現(xiàn)測(cè)試結(jié)果，并可將比對(duì)及區(qū)分資料等儲(chǔ)存于磁盤驅(qū)動(dòng)器、磁帶機(jī)或其它可記錄的硬設(shè)備中。
測(cè)試完成的電子組件6，即由控管主機(jī)4命令該另一擷取裝置2的擷取頭21從測(cè)試用機(jī)板11輸送裝置3取出電子組件6，并移送至測(cè)試主機(jī)1的完成測(cè)試區(qū)15分級(jí)置放，并可排列區(qū)分出瑕疵品及良品、高品質(zhì)及低品質(zhì)等，以此完成電子組件6的實(shí)測(cè)作業(yè)。
本實(shí)施例電子組件自動(dòng)化測(cè)試裝置設(shè)計(jì)，改善現(xiàn)有人力作業(yè)的缺點(diǎn)，可以完全由控管主機(jī)4進(jìn)行電子組件6測(cè)試工作，僅需一人監(jiān)視該控管主機(jī)4，因此可大幅的降低品管的人力成本；其次，該控管主機(jī)4可控制擷取裝置2、輸送裝置3進(jìn)行電子組件6測(cè)試前、后的各種準(zhǔn)備動(dòng)作，包括擷取、移動(dòng)、植裝、拔取及回送等等，因此可經(jīng)由控管主機(jī)4將擷取裝置2、輸送裝置3作適當(dāng)?shù)膭?dòng)作行程規(guī)劃，縮短測(cè)試工作前的前置作業(yè)及后續(xù)分級(jí)置放作業(yè)時(shí)間，使測(cè)試結(jié)果及產(chǎn)量明確化，并提升其整體測(cè)試作業(yè)速率，故可以此降低電子組件等產(chǎn)品的品管成本。
權(quán)利要求1.一種電子組件自動(dòng)化測(cè)試裝置，其特征在于，所述的電子組件自動(dòng)化測(cè)試裝置包括一測(cè)試主機(jī)，其內(nèi)設(shè)有一待測(cè)區(qū)，以供置放待測(cè)的電子組件，該待測(cè)區(qū)一側(cè)設(shè)有一測(cè)試區(qū)，該測(cè)試區(qū)內(nèi)設(shè)有復(fù)數(shù)容置格，供置放復(fù)數(shù)測(cè)試用機(jī)板，該測(cè)試區(qū)另一側(cè)并設(shè)有一完成測(cè)試區(qū)；復(fù)數(shù)測(cè)試用機(jī)板，分別置放于測(cè)試主機(jī)的容置格；復(fù)數(shù)擷取裝置，是進(jìn)行電子組件擷取、置放、插植及拔取動(dòng)作的自動(dòng)化機(jī)械裝置，分別設(shè)置于測(cè)試主機(jī)上方，該擷取裝置中并設(shè)有至少一電子組件的擷取頭；一輸送裝置，設(shè)于該測(cè)試主機(jī)外部一側(cè)邊，以供輸送該等擷取裝置所擷取的電子組件；一控管主機(jī)； 由此透過(guò)訊號(hào)聯(lián)機(jī)使該測(cè)試主機(jī)的測(cè)試用機(jī)板與控管主機(jī)構(gòu)成訊號(hào)聯(lián)機(jī)，并令該擷取裝置、輸送裝置與控管主機(jī)構(gòu)成訊號(hào)聯(lián)機(jī)，以組成控管主機(jī)可監(jiān)測(cè)并控制擷取裝置、輸送裝置產(chǎn)生動(dòng)作的電子組件自動(dòng)化測(cè)試裝置。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子組件自動(dòng)化測(cè)試裝置，其特征在于，所述的擷取裝置包括為一種軌道式機(jī)械臂或肘式機(jī)械手臂或其它可用自動(dòng)化指令控制的機(jī)械裝置。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子組件自動(dòng)化測(cè)試裝置，其特征在于，所述的控管主機(jī)包括具有接收電子組件測(cè)試品質(zhì)，進(jìn)行電子組件品質(zhì)的比對(duì)與區(qū)別，可以顯示及儲(chǔ)存比對(duì)與區(qū)別資料，并可命令擷取裝置、輸送裝置產(chǎn)生特定動(dòng)作的軟件及硬件設(shè)備。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電子組件自動(dòng)化測(cè)試裝置，其特征在于，所述的訊號(hào)聯(lián)機(jī)包括有線及無(wú)線訊號(hào)聯(lián)機(jī)。
專利摘要本實(shí)用新型提供了一種電子組件自動(dòng)化測(cè)試裝置，所述裝置是由一測(cè)試主機(jī)、復(fù)數(shù)個(gè)擷取裝置、一輸送裝置及一控管主機(jī)所組成，其中，該測(cè)試主機(jī)內(nèi)設(shè)有一待測(cè)區(qū)，以供置放待測(cè)電子組件，該待測(cè)區(qū)一側(cè)設(shè)有一測(cè)試區(qū)，該測(cè)試區(qū)內(nèi)設(shè)有復(fù)數(shù)容置格，可供置放復(fù)數(shù)測(cè)試用機(jī)板，該測(cè)試區(qū)另一側(cè)則設(shè)有一完成測(cè)試區(qū)，該測(cè)試主機(jī)上方于待測(cè)區(qū)、測(cè)試區(qū)之間、完成測(cè)試區(qū)與輸送裝置之間分別設(shè)有一自動(dòng)化控制的擷取裝置，該輸送裝置并設(shè)于該測(cè)試主機(jī)外部，以供輸送該擷取裝置所擷取的電子組件；該電子組件自動(dòng)化測(cè)試裝置的應(yīng)用使電子組件測(cè)試速率提升、品管成本降低、適于大量測(cè)試品管工作。
文檔編號(hào)G01R31/00GK2826444SQ20052000046
公開日2006年10月11日 申請(qǐng)日期2005年2月6日 優(yōu)先權(quán)日2005年2月6日
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