專利名稱:測試治具的改良的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域:
本實(shí)用新型涉及一種測試治具的改良,特別是涉及一種設(shè)成極為簡潔,按裝、使用極為簡易、方便,可對(duì)各式電子產(chǎn)品用的電路板的空板或?qū)嵮b板提供更高測試密度及更輕測試壓力以及更穩(wěn)定測試效果,而極符實(shí)際適用性、理想性與進(jìn)步性,且前所未有的測試治具的改良。
背景技術(shù):
按現(xiàn)有習(xí)知對(duì)電子產(chǎn)品用的電路板進(jìn)行測試的方式,大抵有下列數(shù)種請(qǐng)參閱圖1、圖2所示,該主要是在一治具1的基座11設(shè)有針板12、夾板13、頂板14及若干探針2。其中,該針板12預(yù)設(shè)有對(duì)應(yīng)待測物3(如印刷電路板)的待測點(diǎn)31的針孔121;該若干探針2是由探針套筒21、針筒22、彈簧23及針體24組成。
上述,該探針2的探針套筒21是插置在針板12預(yù)置的針孔121內(nèi),其一端設(shè)有導(dǎo)線4用以將訊號(hào)傳輸至測試機(jī)(圖中未示);該彈簧23是容置在針筒22內(nèi),針體24是插置在針筒22內(nèi),藉由彈簧23的伸縮力,使針體24在針筒22內(nèi)具有彈性伸縮的回復(fù)力,而該針筒22是固定于探針套筒21內(nèi),如是,該探針2便可完成定位在針板12上。
上述,該夾板13、頂板14上是分別設(shè)有與針板12的針孔121相對(duì)應(yīng)的穿孔131、141,而針體24是穿過夾板13、頂板14的穿孔131、141,而凸出于頂板14。
如是,將待測物3放置于頂板14上方,藉由測試機(jī)具將待測物3的待測點(diǎn)31與探針2的針體24接觸,則該電訊號(hào)便可依序傳遞至彈簧23、探針套筒21,并由探針套筒21底部連接的導(dǎo)線4傳遞至測試機(jī)完成測試作業(yè)。
如上所述,現(xiàn)有習(xí)知的測試治具具有如下的缺點(diǎn)1、由于探針2與待測物3的待測點(diǎn)31接觸時(shí),必需具有彈性回復(fù)的伸縮力,以防止損壞待測點(diǎn)31的電性,因此,針體24必需設(shè)于具有彈簧23的針筒22內(nèi),使針體24被壓縮后可自動(dòng)彈伸回復(fù),如是的構(gòu)造組成,整個(gè)探針2的體積無法制成相當(dāng)細(xì)小,或?qū)⑵渲瞥上喈?dāng)細(xì)小時(shí),其相對(duì)的成本非常高昂,以致造成測試成本的提高及無法提升測密密度。
2、由于探針套筒21需配合探針2的尺寸設(shè)計(jì),因此其尺寸相對(duì)的受到限制,以致針板12的針孔121的整體密度無法提高,將造成無法測試高密度待測點(diǎn)31的待測物3。
3、由于待測物3的待測點(diǎn)31的電訊號(hào)是藉由針體24、彈性元件23、針筒22、探針套筒21等元件逐一組合及電接觸傳遞,然,在經(jīng)過多道的接觸傳遞后,將造成訊號(hào)傳遞不良及衰減的現(xiàn)象,以致影響測試的品質(zhì),尤其在測試高密度的待測點(diǎn)時(shí),其效果更佳不彰。
4、探針2是垂直式的與待測物3接觸,因此,相鄰探針2的針體24頭端的距離d必然是無法有效縮小的情形下,對(duì)于具微測點(diǎn)(即待測點(diǎn)密度較高)的待測物3的測試作業(yè)將有完全無法實(shí)施之虞。
有鑒于上述,此間乃有業(yè)者提供出如圖3、圖4所示的測試治具,該主要是將治具上設(shè)有針盤5、線盤6、若干線狀探針7及若干彈性元件8等主要元件。其中,該針盤5、線盤6是相互疊置組合,該針盤5是設(shè)有復(fù)數(shù)層導(dǎo)正板51與一頂板52,在頂板52上設(shè)有與待測物3的待測點(diǎn)31相對(duì)應(yīng)的穿孔521,而在導(dǎo)正板51上是以垂直或斜置狀設(shè)有與頂板穿孔521相對(duì)應(yīng)的穿孔511;該線盤6是設(shè)有上、中、下三層夾板61、62、63,并分別在其上鉆設(shè)有對(duì)應(yīng)于針盤5的導(dǎo)正板穿孔511的穿孔611、621、631,其中,該中層夾板62的穿孔621是容置有彈性元件8,該下層夾板63的穿孔631是供連接于測試機(jī)(圖中未示)與彈性元件8底端之間的導(dǎo)線4穿置;該線狀探針7是沿著針盤5的頂板穿孔521、導(dǎo)正板穿孔511及線盤6的上層夾板穿孔611穿置,而將內(nèi)端頂承于彈性元件8及外端是外露于針盤頂板52。
藉此,待測物3設(shè)置在針盤5的頂板52上方,藉由測試機(jī)具將待測物3的待測點(diǎn)31與線狀探針7接觸,則該電訊號(hào)便可依序傳輸至彈性元件8、導(dǎo)線4及測試機(jī)完成測試作業(yè)。
是種測試治具的設(shè)成,雖較前述必需先將探針針體24、彈簧23、針筒22、探針套筒21相互組合方可的現(xiàn)有習(xí)知方式較具實(shí)施簡易性,及該斜放的線狀探針7雖可應(yīng)用于待測點(diǎn)31密度較高的待測物3,而較現(xiàn)有習(xí)知治具具有更大的應(yīng)用范圍。惟,因應(yīng)電子產(chǎn)品的體積愈來愈小,而要求的測試密度需更高、測試壓力需更輕及測試的效果果需更穩(wěn)定的條件下,是種測試治具仍有下述美中不足的缺失產(chǎn)生1、由于諸線狀探針7分別呈垂直與斜置狀穿設(shè)于針盤5并令內(nèi)端頂承于對(duì)應(yīng)的彈性元件8后,它們外端的高度是互不相同(垂直的探針外端較高,斜置的探針外端較低),故當(dāng)待測物3受壓致諸線狀探針7接觸對(duì)應(yīng)待測點(diǎn)的壓力必然是連帶不同的情形下,該待測物便極易因壓力不均而發(fā)生損傷或測試不穩(wěn)定的情況,而此亦是最令業(yè)者詬病之處。
2、由于該每一線狀探針7需配合一彈性元件8,且因應(yīng)線狀探針7是極為細(xì)小,該彈性元件8亦必需相對(duì)的制成較小狀,故該眾多的細(xì)小彈性元件,除了在制作、組裝上是同樣具有極感麻煩、不便與昂貴的情況,就分別施予對(duì)應(yīng)的線狀探針7的彈性力而言,亦會(huì)致使各線狀探針7所得到的彈力呈現(xiàn)不一致,進(jìn)而致待測物各待測點(diǎn)所受到的測試壓力連帶有發(fā)生不均勻、不穩(wěn)定之虞。
3、由于該線狀探針測試到待測物的待測點(diǎn)的訊號(hào),是必需通過彈性元件8為介體方可被導(dǎo)線4傳遞至測試機(jī),故該測試訊號(hào)仍會(huì)因轉(zhuǎn)接點(diǎn)過多而發(fā)生傳輸不良與衰減情事,進(jìn)而依然有影響測試品質(zhì)穩(wěn)定性之虞。
由此可見,上述現(xiàn)有的測試治具在結(jié)構(gòu)與使用上,顯然仍存在有不便與缺陷,而亟待加以進(jìn)一步改進(jìn)。為了解決測試治具存在的問題,相關(guān)廠商莫不費(fèi)盡心思來謀求解決之道,但長久以來一直未見適用的設(shè)計(jì)被發(fā)展完成,而一般產(chǎn)品又沒有適切的結(jié)構(gòu)能夠解決上述問題,此顯然是相關(guān)業(yè)者急欲解決的問題。
有鑒于上述現(xiàn)有的測試治具存在的缺陷,本設(shè)計(jì)人基于從事此類產(chǎn)品設(shè)計(jì)制造多年豐富的實(shí)務(wù)經(jīng)驗(yàn)及專業(yè)知識(shí),并配合學(xué)理的運(yùn)用,積極加以研究創(chuàng)新,以期創(chuàng)設(shè)一種新型結(jié)構(gòu)的測試治具的改良,能夠改進(jìn)一般現(xiàn)有的測試治具,使其更具有實(shí)用性。經(jīng)過不斷的研究、設(shè)計(jì),并經(jīng)反復(fù)試作樣品及改進(jìn)后,終于創(chuàng)設(shè)出確具實(shí)用價(jià)值的本實(shí)用新型。
發(fā)明內(nèi)容
本實(shí)用新型的目的在于,克服現(xiàn)有的測試治具存在的缺陷,而提供一種新型結(jié)構(gòu)的測試治具的改良,所要解決的技術(shù)問題是使其藉該諸線狀探針的內(nèi)端是一同固設(shè)在夾針層,而夾針層又是受第二緩沖元件頂承,則該諸線狀探針將可以相同的彈性作用力實(shí)施測試待測物,以達(dá)到提高測試穩(wěn)定性的效果,同時(shí),該毋需在每一線狀探針內(nèi)端配置一彈性元件的實(shí)施方式,亦可使得測試治具整體及元件的制作、組裝與維修具有更形簡易、方便、快速及經(jīng)濟(jì)的效果,從而更加適于實(shí)用。
本實(shí)用新型的另一目的在于,提供一種測試治具的改良,所要解決的技術(shù)問題是使其藉該諸線狀探針固設(shè)在夾針層后,它們外端的高度乃是依待測物各對(duì)應(yīng)待測點(diǎn)為基準(zhǔn),則實(shí)施測試作業(yè)時(shí),該等線狀探針將可同時(shí)觸及對(duì)應(yīng)的待測點(diǎn)的情形下,自然的,使該每一待測點(diǎn)所受到的測試壓力、接觸阻值是可連帶相同,進(jìn)而,不但可充分提高測試的穩(wěn)定度,同時(shí),亦可有效達(dá)到降低待測物受傷的效果,從而更加適于實(shí)用。
本實(shí)用新型的再一目的在于,提供一種測試治具的改良,所要解決的技術(shù)問題是使其藉該諸線狀探針是可將測得訊號(hào)直接經(jīng)由導(dǎo)線傳輸至測試機(jī),而不需通過其他介體,則該測試的品質(zhì)將可藉以達(dá)到大幅提高的效果,從而更加適于實(shí)用。
本實(shí)用新型的還一目的在于,提供一種測試治具的改良,所要解決的技術(shù)問題是使其提供一種設(shè)成極為簡潔,按裝、使用極為簡易、方便,可對(duì)各式電子產(chǎn)品用的電路板的空板或?qū)嵮b板提供更高測試密度及更輕測試壓力以及更穩(wěn)定測試效果,而極符實(shí)際適用性、理想性與進(jìn)步性,且前所未有的測試治具的改良,從而更加適于實(shí)用,且具有產(chǎn)業(yè)上的利用價(jià)值。
本實(shí)用新型的目的以及解決其技術(shù)問題是采用以下的技術(shù)方案來實(shí)現(xiàn)的。依據(jù)本實(shí)用新型提出的一種測試治具的改良,是由載板、導(dǎo)正層、夾針層、線狀探針、第一緩沖元件、行程調(diào)整柱、第二緩沖元件、導(dǎo)柱、導(dǎo)線及基座主要元件組成;其中,該導(dǎo)柱是按于基座并可供載板、導(dǎo)正層、夾針層做同一軸線的垂直升、降位移;該線狀探針是用以測試待測物用;該導(dǎo)線是用以傳輸測試訊號(hào)于測試機(jī);其中,上述載板是依待測物的待測點(diǎn)預(yù)設(shè)有對(duì)應(yīng)的插孔;該導(dǎo)正層是設(shè)有復(fù)數(shù)塊導(dǎo)正板,相互且是以適當(dāng)高度間隔并與載板固設(shè)為一體,在各導(dǎo)正板上是設(shè)有與載板的插孔呈垂直或斜置對(duì)應(yīng)的導(dǎo)正孔;該夾針層是位于導(dǎo)正層內(nèi)側(cè),在其上是設(shè)有與導(dǎo)正層的導(dǎo)正孔呈垂直或斜置對(duì)應(yīng)的穿孔;該第一緩沖元件是設(shè)有復(fù)數(shù)個(gè)并按設(shè)在導(dǎo)正層與夾針層之間,以提供導(dǎo)正層、載板彈性升、降之作用力;該線狀探針是依待測物的待測點(diǎn)設(shè)有復(fù)數(shù)支,是分別插設(shè)在夾針層的穿孔、導(dǎo)正層的導(dǎo)正孔及載板的插孔位置并將內(nèi)端是固設(shè)在夾針層,而外端在測試待測物時(shí)是可同時(shí)觸及對(duì)應(yīng)的待測點(diǎn);該行程調(diào)整柱是按設(shè)在導(dǎo)正層與夾針層之間并預(yù)留有一設(shè)定的間距,使恰制定線狀探針在待測物、載板及導(dǎo)正層受測試壓力內(nèi)移時(shí)外伸的距離;該第二緩沖元件是按設(shè)在夾針層與基座之間,可直接提供固設(shè)在夾針層上的諸線狀探針具相同的彈性作用力;該導(dǎo)線除一端是連設(shè)于測試機(jī),另端乃是直接按裝固設(shè)在線狀探針內(nèi)端;利用上述,實(shí)施測試作業(yè)而施壓于載板上的待測物時(shí),該載板、導(dǎo)正層將可在彈性內(nèi)移中致諸線狀探針的外端外伸一設(shè)定長度,并以相同的彈壓力同時(shí)觸及對(duì)應(yīng)待測點(diǎn),而測得的訊號(hào)則可由按置在線狀探針內(nèi)端的導(dǎo)線直接傳輸至測試機(jī)。
本實(shí)用新型的目的以及解決其技術(shù)問題還可以采用以下的技術(shù)措施來進(jìn)一步實(shí)現(xiàn)。
前述的測試治具的改良,其中所述的夾針層是設(shè)有一定位框座與復(fù)數(shù)塊夾針板,該定位框座是將中央設(shè)為貫通并于周邊設(shè)有承部,而該復(fù)數(shù)塊夾針板是相互疊置在定位框座承部,并可藉定位螺絲予以固設(shè),及該其中鄰近導(dǎo)正層的最外層夾針板且是固設(shè)在定位框座上,在該各夾針板上并是設(shè)有與導(dǎo)正層的導(dǎo)正孔呈垂直或斜置對(duì)應(yīng)的穿孔。
前述的測試治具的改良,其中所述的線狀探針穿設(shè)于夾針層預(yù)設(shè)的穿孔后,是可在夾針層表面熱覆一層不導(dǎo)電溶液對(duì)其固設(shè)。
前述的測試治具的改良,其中所述的線狀探針穿設(shè)于夾針層預(yù)設(shè)的穿孔后,是可在夾針層表面覆蓋一層粘膠對(duì)其固設(shè)。
前述的測試治具的改良,其中所述的夾針層的諸夾針板是可在預(yù)定位置鉆設(shè)相對(duì)應(yīng)且具孔位差的偏向穿孔,而以輪心定位螺絲對(duì)其等逐一穿設(shè)與配合螺帽鎖設(shè),該位于定位框座上的諸夾針板將呈橫向位移,并令供線狀探針穿設(shè)的諸穿孔可連帶偏向以互咬方式固設(shè)線狀探針。
前述的測試治具的改良,其中所述的諸線狀探針依序由倒置的夾針層穿孔、導(dǎo)正層導(dǎo)正孔穿設(shè)于載板插孔組裝時(shí),在倒置的載板底面是疊置有一待測物模擬塊供線狀探針的外端靠持。
前述的測試治具的改良,其中所述的待測物模擬塊是可設(shè)為一研磨平臺(tái)。
前述的測試治具的改良,其中所述的待測物模擬塊供線狀探針外端靠持的表面,是可依待測物的諸待測點(diǎn)的高度、位置設(shè)為相同狀。
經(jīng)由上述可知,本實(shí)用新型是有關(guān)于一種測試治具的改良,是包括有載板、導(dǎo)正層、夾針層、線狀探針、第一緩沖元件、第二緩沖元件、行程調(diào)整柱、導(dǎo)柱及基座等主要元件。其中,該載板、導(dǎo)正層與夾針層相互是以導(dǎo)柱為基行同一軸線的垂直升、降位移;該線狀探針是穿置在載板、導(dǎo)正層與夾針層,并令內(nèi)端固設(shè)在夾針層而外端位于載板位置;該第一緩沖元件與行程調(diào)整柱是按于導(dǎo)正層與夾針層之間,而該第二緩沖元件是按于基座與夾針層之間,使載板、導(dǎo)正層與夾針層是均具有彈性作用力,及每一線狀探針受到頂承的彈性作用力均為相同;藉此,該諸線狀探針的外端將可以極小的間距相鄰,使因應(yīng)具微測點(diǎn)的待測物,及諸線狀探針是可以相同的壓力同時(shí)測試對(duì)應(yīng)待測點(diǎn),使各待測點(diǎn)所得的接觸阻值均呈相同,進(jìn)而不但達(dá)提高測試穩(wěn)定度的效果,同時(shí),亦可有效改善待測物受損傷的情況。
綜上所述,本實(shí)用新型特殊結(jié)構(gòu)的測試治具的改良,藉該諸線狀探針的內(nèi)端是一同固設(shè)在夾針層,而夾針層又是受第二緩沖元件頂承,則該諸線狀探針將可以相同的彈性作用力實(shí)施測試待測物,以達(dá)到提高測試穩(wěn)定性的效果,同時(shí),該毋需在每一線狀探針內(nèi)端配置一彈性元件的實(shí)施方式,亦可使得測試治具整體及元件的制作、組裝與維修具有更形簡易、方便、快速及經(jīng)濟(jì)的效果。本實(shí)用新型特殊結(jié)構(gòu)的測試治具的改良,藉該諸線狀探針固設(shè)在夾針層后,它們外端的高度乃是依待測物各對(duì)應(yīng)待測點(diǎn)為基準(zhǔn),則實(shí)施測試作業(yè)時(shí),該等線狀探針將可同時(shí)觸及對(duì)應(yīng)的待測點(diǎn)的情形下,自然的,使該每一待測點(diǎn)所受到的測試壓力、接觸阻值是可連帶相同,進(jìn)而,不但可充分提高測試的穩(wěn)定度,同時(shí),亦可有效達(dá)到降低待測物受傷的效果。本實(shí)用新型特殊結(jié)構(gòu)的測試治具的改良,藉該諸線狀探針是可將測得訊號(hào)直接經(jīng)由導(dǎo)線傳輸至測試機(jī),而不需通過其他介體,則該測試的品質(zhì)將可藉以達(dá)到大幅提高的效果。本實(shí)用新型特殊結(jié)構(gòu)的測試治具的改良,提供一種設(shè)成極為簡潔,按裝、使用極為簡易、方便,可對(duì)各式電子產(chǎn)品用的電路板的空板或?qū)嵮b板提供更高測試密度及更輕測試壓力以及更穩(wěn)定測試效果,而極符實(shí)際適用性、理想性與進(jìn)步性,且前所未有的測試治具的改良。其具有上述諸多的優(yōu)點(diǎn)及實(shí)用價(jià)值,并在同類產(chǎn)品中未見有類似的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)公開發(fā)表或使用而確屬創(chuàng)新,其不論在產(chǎn)品結(jié)構(gòu)或功能上皆有較大的改進(jìn),在技術(shù)上有較大的進(jìn)步,并產(chǎn)生了好用及實(shí)用的效果,且較現(xiàn)有的測試治具具有增進(jìn)的多項(xiàng)功效,從而更加適于實(shí)用,而具有產(chǎn)業(yè)的廣泛利用價(jià)值,誠為一新穎、進(jìn)步、實(shí)用的新設(shè)計(jì)。
上述說明僅是本實(shí)用新型技術(shù)方案的概述,為了能夠更清楚了解本實(shí)用新型的技術(shù)手段,而可依照說明書的內(nèi)容予以實(shí)施,并且為了讓本實(shí)用新型的上述和其他目的、特征和優(yōu)點(diǎn)能夠更明顯易懂,以下特舉較佳實(shí)施例,并配合附圖,詳細(xì)說明如下。
圖1是現(xiàn)有習(xí)知的測試治具的一平面示意圖。
圖2是圖1所示探針構(gòu)造的平面示意圖。
圖3是現(xiàn)有習(xí)知的測試治具的另一平面示意圖。
圖4是圖3實(shí)施測試作業(yè)的平面示意圖。
圖5是本實(shí)用新型實(shí)施例的平面示意圖。
圖6是本實(shí)用新型組裝線狀探針實(shí)施例的平面示意圖。
圖7是本實(shí)用新型夾針層組裝線狀探針實(shí)施例的平面示意圖。
圖8是圖7所示固設(shè)線狀探針實(shí)施例的平面示意圖。
圖9是本實(shí)用新型實(shí)施測試作業(yè)實(shí)施例的平面示意圖。
d距離1治具11基座 12針板121針孔 13夾板131、141穿孔 14頂板2探針21套筒22針筒 23彈簧24針體 3待測物31待測點(diǎn) 4導(dǎo)線5針盤51導(dǎo)正板511穿孔 52頂板521穿孔 6線盤61、62、63夾板 611、621、631穿孔7線狀探針8彈性元件
b間距3待測物31待測點(diǎn) 7線狀探針9待測物模擬塊10載板101插孔 11基座20導(dǎo)正層 201導(dǎo)正板2011導(dǎo)正孔 21定位銷30夾針層 301定位框座3011承部 302、302′夾針板3021穿孔 3022a、3022b穿孔32定位螺絲 33螺帽40第一緩沖元件 50行程調(diào)整柱60第二緩沖元件 70導(dǎo)柱具體實(shí)施方式
為更進(jìn)一步闡述本實(shí)用新型為達(dá)成預(yù)定發(fā)明目的所采取的技術(shù)手段及功效,
以下結(jié)合附圖及較佳實(shí)施例,對(duì)依據(jù)本實(shí)用新型提出的測試治具的改良其具體實(shí)施方式
、結(jié)構(gòu)、特征及其功效,詳細(xì)說明如后。
首先,請(qǐng)參閱圖5、圖6所示,清晰顯示,本實(shí)用新型一種測試治具的改良,主要是由載板10、導(dǎo)正層20、夾針層30、線狀探針7、第一緩沖元件40、行程調(diào)整柱50、第二緩沖元件60、導(dǎo)柱70、基座11等主要元件組成。其中,該導(dǎo)柱70是可按于基座11四端角,而該載板10、導(dǎo)正層20、夾針層30是可以導(dǎo)柱70為基做同一軸線的垂直升、降位移。即;該載板10,是用以供待測物3承置定位,其上在待測物3的各待測點(diǎn)31對(duì)應(yīng)處,是分別預(yù)設(shè)有一供線狀探針7穿設(shè)的插孔101;該導(dǎo)正層20,是設(shè)有復(fù)數(shù)塊導(dǎo)正板201,各導(dǎo)正板201相互是以適當(dāng)高度間隔并藉定位銷21與載板10固設(shè)為一體,在各導(dǎo)正板201上是設(shè)有與載板10的插孔101呈垂直或斜置對(duì)應(yīng)的導(dǎo)正孔2011;該夾針層30,是位于導(dǎo)正層20的內(nèi)側(cè),其主要是設(shè)有一定位框座301及復(fù)數(shù)塊夾針板302。其中,該定位框座301是將中央設(shè)為貫通并于周邊設(shè)有一承部3011;該復(fù)數(shù)塊夾針板302是相互疊置在定位框座301的承部3011,并可藉定位螺絲32固設(shè),而其中該鄰近導(dǎo)正層20的最外層夾針板302′且是固設(shè)在定位框座301上,它們之上是設(shè)有與導(dǎo)正層20的導(dǎo)正孔2011呈垂直或斜置對(duì)應(yīng)的穿孔3021;該線狀探針7,是依待測物3的待測點(diǎn)31數(shù)量設(shè)為復(fù)數(shù)支,是分別穿設(shè)在夾針層30的各夾針板302(302′)的各穿孔3021、導(dǎo)正層20的各導(dǎo)正板201的導(dǎo)正孔2011及載板10的插孔101,而令外端恰對(duì)應(yīng)于待測物3的待測點(diǎn)31,它們的內(nèi)端是固設(shè)在夾針層30,及是分別按設(shè)有一連接于測試機(jī)(圖中未示)的導(dǎo)線4;該第一緩沖元件40,是設(shè)有復(fù)數(shù)個(gè)并按設(shè)在導(dǎo)正層20與夾針層30之間,使導(dǎo)正層20與載板10是具有彈性作用力;該行程調(diào)整柱50,是按設(shè)在導(dǎo)正層20與夾針層30之間,是以預(yù)留的設(shè)定間距b制定線狀探針7外端外伸于載板10的長度,進(jìn)而控制線狀探針7施予待測物待測點(diǎn)31的壓力;該第二緩沖元件60,是可設(shè)為較第一緩沖元件40為大,是設(shè)有復(fù)數(shù)個(gè)并按設(shè)在夾針層30與基座11之間,使可直接提供諸線狀探針7相同的彈性作用力;即,利用上述所構(gòu)成的本實(shí)用新型,其中,該諸線狀探針7實(shí)施組裝的方式,請(qǐng)?jiān)倥浜蠀㈤唸D6所示,主要是將已完成組裝的載板10、導(dǎo)正層20、夾針層30及導(dǎo)柱70呈倒置狀預(yù)先置于一待測物模擬塊9上,并將該夾針層30予以下壓使行程調(diào)整柱50完全不具調(diào)整間距b。其中,該待測物模擬塊9是可設(shè)為一研磨平板,使應(yīng)用于待測物3的諸待測點(diǎn)31的高度呈一致狀時(shí);或該待測物模擬塊9的表面是可依據(jù)待測物3的諸待測點(diǎn)31的位置、高度制成。繼之,該等線狀探針7乃是由夾針層30預(yù)設(shè)的各穿孔3021逐一往下穿設(shè),并逐一歷經(jīng)導(dǎo)正層20的諸導(dǎo)正板201預(yù)設(shè)的對(duì)應(yīng)導(dǎo)正孔2011導(dǎo)引,而插設(shè)于載板10的對(duì)應(yīng)插孔101,及恰致外端是頂?shù)酱郎y物模擬塊9的表面,而待諸線狀探針7均插設(shè)定位后,技術(shù)人員乃再將它們的內(nèi)端固設(shè)于夾針層30,則該等線狀探針7便可簡便的完成組裝動(dòng)作。
上述,當(dāng)該諸線狀探針7均完成組裝動(dòng)作后,技術(shù)人員只要再將該完成組裝的載板10、導(dǎo)正層20、夾針層30及導(dǎo)柱70等予以正置,并按裝于基座11預(yù)定位置,則本實(shí)用新型測試治具便可完成整體的組裝作業(yè)。
上述,由于該諸線狀探針7的內(nèi)端插設(shè)于夾針層30的對(duì)應(yīng)穿孔3021后,乃是以固設(shè)狀按置定位而非呈自由位移狀,故它們固設(shè)方式不拘,只要確保無位移現(xiàn)象即可;諸如在夾針層30的夾針板302表面熱覆一層不導(dǎo)電溶液或覆蓋一層粘膠,待該不導(dǎo)電溶液或粘膠凝固后即可牢固的將各線狀探針7予以固設(shè);或如圖7、8所示,是可在夾針層30的各夾針板302的預(yù)定位置鉆設(shè)相對(duì)應(yīng)但具孔位差的偏向穿孔3022a、3022b,而利用輪心定位螺絲32的逐一穿設(shè)與配合螺帽33鎖設(shè),則該疊置在定位框座301的承部3011的諸夾針板302,便可被強(qiáng)迫橫向位移并致各穿孔3022a、3022b呈同一軸線對(duì)應(yīng),進(jìn)而,以該各夾針板302橫向位移時(shí),又恰可致原提供線狀探針7穿設(shè)的諸穿孔3021產(chǎn)生偏向,則該等插設(shè)的諸線狀探針7便可隨著諸穿孔3021的偏向,而被強(qiáng)力的相互咬固達(dá)到牢固定位效果(如圖8所示)。
繼之,請(qǐng)?jiān)倥浜蠀㈤唸D9所示,本實(shí)用新型對(duì)待測物實(shí)施測試作業(yè)時(shí),乃是將待測物3置于載板10的預(yù)定位置,而測試機(jī)具施壓于待測物3時(shí),該載板10及導(dǎo)正層20將可受第一緩沖元件40的彈力作動(dòng)而逐一彈性內(nèi)移,并致固設(shè)在夾針層30的諸線狀探針7外端可同時(shí)逐一外露觸及對(duì)應(yīng)的待測點(diǎn)31,使直接將測試的訊號(hào)經(jīng)由導(dǎo)線4傳輸至測試機(jī)。
繼之,當(dāng)載板10、導(dǎo)正層20受測試壓力繼續(xù)彈性內(nèi)移致行程調(diào)整柱50設(shè)定的間距b消失時(shí),該夾針層30將會(huì)連帶的被內(nèi)壓,而以該夾針層30是受到第二緩沖元件60頂承著,則該受壓的夾針層30又可連同固設(shè)于上的諸線狀探針7一并彈性內(nèi)移,使該夾針層30及外端均頂?shù)酱郎y物3的諸線狀探針7,不但可藉以得到保護(hù)不致發(fā)生被破壞損傷情形,尤其,該諸線狀探針7更可藉以得到相同的彈性作用力。
上述,由于該諸線狀探針7在組裝時(shí),乃是以待測物模擬塊9為它們外端靠持的基礎(chǔ),故該等線狀探針7無論是呈垂直或斜置插設(shè),它們外端分別觸及待測物3的對(duì)應(yīng)待測點(diǎn)31的時(shí)機(jī)將是均呈一致的情形下,自然的,當(dāng)前述實(shí)施測試作業(yè)而施壓于待測物3及載板10、導(dǎo)正層20并使彈性內(nèi)移時(shí),該等逐一外露的線狀探針7自可同時(shí)接觸到對(duì)應(yīng)對(duì)測點(diǎn)31,使每一待測點(diǎn)31所受到的壓力均呈相同,進(jìn)而,以該每一待測點(diǎn)31受到的測試壓力均相同的情形下,則該產(chǎn)生的接觸阻值亦將連帶相等,而可確實(shí)發(fā)揮預(yù)期所需的測試穩(wěn)定度高與待測物受損率低的實(shí)質(zhì)效果。
又,由于導(dǎo)正層20與夾針層30之間乃是按設(shè)有行程調(diào)整柱50,且該行程調(diào)整柱50又是以預(yù)留的設(shè)定間距b做為載板10與導(dǎo)正層20內(nèi)移的距離,則上述該置于載板10上的待測物3受測試壓力而一并內(nèi)移的距離是連帶受到設(shè)定的情形下,自然的,該受測的待測點(diǎn)31除如上述是可得到相同的壓力、接觸阻值,而具測試穩(wěn)定度高與待測物受損率低等效果外,尤其,以該待測物3內(nèi)移距離是被精確設(shè)定,將更可致諸受測點(diǎn)31不會(huì)因內(nèi)移距離太大,而發(fā)生被線狀探針7施予過大壓力接觸的損傷現(xiàn)象,或內(nèi)移距離太小而致線狀探針7發(fā)生接觸、測試不良的情況,進(jìn)而,可更為提高測試的穩(wěn)定性與達(dá)到保護(hù)待測物的效果。換言之,以該行程調(diào)整柱50是可精確的設(shè)定待測物3受測內(nèi)移的距離,則該等線狀探針7外端外伸同時(shí)觸及對(duì)應(yīng)待測點(diǎn)31的距離,將連帶被精確設(shè)定的情形下,自然的,該等待測點(diǎn)31受到的壓力、接觸阻值將不但可完全相同,而具極高的測試穩(wěn)定度,同時(shí),該受到的壓力更可藉以適中,而致待測物可受到更佳的保護(hù)與得到更精確、更確實(shí)的測試效果。
上述,由于該諸線狀探針7是固設(shè)在夾針層30,及該夾針層30又是受第二緩沖元件60直接頂承,故該等線狀探針7除了可以相同的彈力施予待測物3的各待測點(diǎn)31,而致測試的品質(zhì)與效果更形提升外,尤其,該等線狀探針7是不需如現(xiàn)有習(xí)知分別配置一彈性元件頂承的情形下,則它們相互配置的密度將完全不會(huì)如現(xiàn)有習(xí)知受到彈性元件(彈簧)的規(guī)格影響,而可更為密集布列,依此,該具微測點(diǎn)(即,待測點(diǎn)相鄰的間距極小)的各項(xiàng)測試作業(yè)便更可藉以達(dá)到充分且有效運(yùn)用之境。換言之,以該等線狀探針7的布設(shè)是完全不會(huì)如現(xiàn)有習(xí)知受限于頂承的彈性元件規(guī)格,而可以更為密實(shí)狀布列的情形下,則該大至直徑10m/m的大探針到小至直徑0.03m/m的微探針將均可直接運(yùn)用于本實(shí)用新型,而本實(shí)用新型所構(gòu)成的測試治具便可直接運(yùn)用于具微測點(diǎn)的各種測試作業(yè)〔諸如平面型空板測試或?qū)嵮b板測試或高電流測試或微電路測試或四線制測試(絕對(duì)組值測試)等各項(xiàng)測試〕,以確實(shí)達(dá)擴(kuò)大使用范圍的效果。
上述,由于該諸線狀探針7的彈性力是由頂承夾針層30的第二緩沖元件60共同提供,而非如現(xiàn)有習(xí)知是以眾多微小彈簧分別提供給各探針,故該第二緩沖元件60是可設(shè)為較大且數(shù)量較少的情形下,不但制作上是明顯具有較為簡易、方便、經(jīng)濟(jì)與精度易于控制的效果,就組裝與維修而言,該亦是具有更為簡易、方便與快速的效果果。
上述,由于該諸線狀探針7并不需要分別的通過一彈性元件提供彈性力,故其等內(nèi)端自可直接與一連設(shè)于測試機(jī)的導(dǎo)線4連接,而毋需通過其他介體,如此,對(duì)于測試訊號(hào)的傳輸將可改善現(xiàn)有習(xí)知易發(fā)生衰減的不良現(xiàn)象,進(jìn)而可提供出更為精確與確實(shí)的高品質(zhì)效果。
本實(shí)用新型一種測試治具的改良,顯然具有極符目前具微小測點(diǎn)的電路板檢測運(yùn)作實(shí)際需要的解決問題效能提供,其裝置、結(jié)構(gòu)雖不顯得復(fù)雜、繁瑣,然,整體的運(yùn)作設(shè)想?yún)s深富實(shí)施的具體性,且是目前同型產(chǎn)品所未見的運(yùn)用。
以上所述,僅是本實(shí)用新型的較佳實(shí)施例而已,并非對(duì)本實(shí)用新型作任何形式上的限制,雖然本實(shí)用新型已以較佳實(shí)施例揭露如上,然而并非用以限定本實(shí)用新型,任何熟悉本專業(yè)的技術(shù)人員在不脫離本實(shí)用新型技術(shù)方案范圍內(nèi),當(dāng)可利用上述揭示的技術(shù)內(nèi)容作出些許更動(dòng)或修飾為等同變化的等效實(shí)施例,但凡是未脫離本實(shí)用新型技術(shù)方案的內(nèi)容,依據(jù)本實(shí)用新型的技術(shù)實(shí)質(zhì)對(duì)以上實(shí)施例所作的任何簡單修改、等同變化與修飾,均仍屬于本實(shí)用新型技術(shù)方案的范圍內(nèi)。
權(quán)利要求1.一種測試治具的改良,是由載板、導(dǎo)正層、夾針層、線狀探針、第一緩沖元件、行程調(diào)整柱、第二緩沖元件、導(dǎo)柱、導(dǎo)線及基座主要元件組成;其中,該導(dǎo)柱是按于基座并可供載板、導(dǎo)正層、夾針層做同一軸線的垂直升、降位移;該線狀探針是用以測試待測物用;該導(dǎo)線是用以傳輸測試訊號(hào)于測試機(jī);其特征在于上述載板是依待測物的待測點(diǎn)預(yù)設(shè)有對(duì)應(yīng)的插孔;該導(dǎo)正層是設(shè)有復(fù)數(shù)塊導(dǎo)正板,相互且是以適當(dāng)高度間隔并與載板固設(shè)為一體,在各導(dǎo)正板上是設(shè)有與載板的插孔呈垂直或斜置對(duì)應(yīng)的導(dǎo)正孔;該夾針層是位于導(dǎo)正層內(nèi)側(cè),在其上是設(shè)有與導(dǎo)正層的導(dǎo)正孔呈垂直或斜置對(duì)應(yīng)的穿孔;該第一緩沖元件是設(shè)有復(fù)數(shù)個(gè)并按設(shè)在導(dǎo)正層與夾針層之間,以提供導(dǎo)正層、載板彈性升、降之作用力;該線狀探針是依待測物的待測點(diǎn)設(shè)有復(fù)數(shù)支,是分別插設(shè)在夾針層的穿孔、導(dǎo)正層的導(dǎo)正孔及載板的插孔位置并將內(nèi)端是固設(shè)在夾針層,而外端在測試待測物時(shí)是可同時(shí)觸及對(duì)應(yīng)的待測點(diǎn);該行程調(diào)整柱是按設(shè)在導(dǎo)正層與夾針層之間并預(yù)留有一設(shè)定的間距,使恰制定線狀探針在待測物、載板及導(dǎo)正層受測試壓力內(nèi)移時(shí)外伸的距離;該第二緩沖元件是按設(shè)在夾針層與基座之間,可直接提供固設(shè)在夾針層上的諸線狀探針具相同的彈性作用力;該導(dǎo)線除一端是連設(shè)于測試機(jī),另端乃是直接按裝固設(shè)在線狀探針內(nèi)端;利用上述,實(shí)施測試作業(yè)而施壓于載板上的待測物時(shí),該載板、導(dǎo)正層將可在彈性內(nèi)移中致諸線狀探針的外端外伸一設(shè)定長度,并以相同的彈壓力同時(shí)觸及對(duì)應(yīng)待測點(diǎn),而測得的訊號(hào)則可由按置在線狀探針內(nèi)端的導(dǎo)線直接傳輸至測試機(jī)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試治具的改良,其特征在于其中所述的夾針層是設(shè)有一定位框座與復(fù)數(shù)塊夾針板,該定位框座是將中央設(shè)為貫通并于周邊設(shè)有承部,而該復(fù)數(shù)塊夾針板是相互疊置在定位框座承部,并可藉定位螺絲予以固設(shè),及該其中鄰近導(dǎo)正層的最外層夾針板且是固設(shè)在定位框座上,在該各夾針板上并是設(shè)有與導(dǎo)正層的導(dǎo)正孔呈垂直或斜置對(duì)應(yīng)的穿孔。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的測試治具的改良,其特征在于其中所述的線狀探針穿設(shè)于夾針層預(yù)設(shè)的穿孔后,是可在夾針層表面熱覆一層不導(dǎo)電溶液對(duì)其固設(shè)。
4.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的測試治具的改良,其特征在于其中所述的線狀探針穿設(shè)于夾針層預(yù)設(shè)的穿孔后,是可在夾針層表面覆蓋一層粘膠對(duì)其固設(shè)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的測試治具的改良,其特征在于其中所述的夾針層的諸夾針板是可在預(yù)定位置鉆設(shè)相對(duì)應(yīng)且具孔位差的偏向穿孔,而以輪心定位螺絲對(duì)其等逐一穿設(shè)與配合螺帽鎖設(shè),該位于定位框座上的諸夾針板將呈橫向位移,并令供線狀探針穿設(shè)的諸穿孔可連帶偏向以互咬方式固設(shè)線狀探針。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試治具的改良,其特征在于其中所述的諸線狀探針依序由倒置的夾針層穿孔、導(dǎo)正層導(dǎo)正孔穿設(shè)于載板插孔組裝時(shí),在倒置的載板底面是疊置有一待測物模擬塊供線狀探針的外端靠持。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的測試治具的改良,其特征在于其中所述的待測物模擬塊是可設(shè)為一研磨平臺(tái)。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的測試治具的改良,其特征在于其中所述的待測物模擬塊供線狀探針外端靠持的表面,是可依待測物的諸待測點(diǎn)的高度、位置設(shè)為相同狀。
專利摘要一種測試治具的改良,其中,載板、導(dǎo)正層與夾針層相互是以導(dǎo)柱為基行同一軸線的垂直升、降位移;該線狀探針是穿置在載板、導(dǎo)正層與夾針層,并令內(nèi)端固設(shè)在夾針層而外端位于載板位置;該第一緩沖元件與行程調(diào)整柱是按于導(dǎo)正層與夾針層之間,而該第二緩沖元件是按于基座與夾針層之間,使載板、導(dǎo)正層與夾針層是均具有彈性作用力,及每一線狀探針受到頂承的彈性作用力均為相同;藉此,該諸線狀探針的外端將可以極小的間距相鄰,使因應(yīng)具微測點(diǎn)的待測物,及諸線狀探針是可以相同的壓力同時(shí)測試對(duì)應(yīng)待測點(diǎn),使各待測點(diǎn)所得的接觸阻值均呈相同,進(jìn)而不但達(dá)提高測試穩(wěn)定度的效果,同時(shí),亦可有效改善待測物受損傷的情況。
文檔編號(hào)G01R1/067GK2804877SQ200520004938
公開日2006年8月9日 申請(qǐng)日期2005年2月22日 優(yōu)先權(quán)日2005年2月22日
發(fā)明者鄭進(jìn)財(cái) 申請(qǐng)人:鄭進(jìn)財(cái)