專利名稱：光測量儀器防串光裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及一種光測量儀器上使用的防止相鄰孔發(fā)光干擾的防串光裝置。在光測量儀器的多孔樣品盤須單孔測量時，本裝置可以實現(xiàn)在測量某一孔時，消除其它孔通過漫反射傳過來的光，使儀器的測量準確性得以保證。
技術(shù)背景目前，公知的光測量儀器使用X，Y兩個方向的傳動來實現(xiàn)多孔測量。為了實現(xiàn)屏蔽樣品盤非測量孔所發(fā)出光干擾測量孔的測量，有的是靠樣品盤與測量孔之間的摩擦來使間隙最小，從而減弱其它孔光的漫反射干擾，但弊端是容易使雜質(zhì)混入待測樣品影響準確性，另外儀器由于功率大噪音也大；還有的沒有摩擦但間隙大，這就導致當相鄰孔發(fā)光比較強時，測量孔接收的的干擾光和信號光相比，到了不能忽略的程度，光測量值就失真了。
實用新型內(nèi)容為了克服現(xiàn)有的光測量儀器的不足，本實用新型提供一種體積小，效率高的傳動裝置，它能消除孔間干擾，噪音小，便于系統(tǒng)控制。
本實用新型采用的技術(shù)方案是在X，Y平臺的基礎(chǔ)上，加一個Z向的升降運動，這個Z向運動由減速電機帶動凸輪旋轉(zhuǎn)，凸輪推動一個框架做水平往復運動，這個框架上開有斜槽，樣品托盤的四個支腿就裝在斜槽內(nèi)，通過這個斜面機構(gòu)把水平往復運動變成垂直往復運動，從而實現(xiàn)了托盤的升降。在控制時，用一個行程開關(guān)作為下降到最低點的限位開關(guān)，也是系統(tǒng)復位時的復位開關(guān)，復位時，電機轉(zhuǎn)動，下降到最低點時，框架接觸到行程開關(guān)給單片機一個信號，減速電機停止轉(zhuǎn)動，當開始測量時，單片機發(fā)控制信號給減速電機，使其反向轉(zhuǎn)動，帶動托盤上升，經(jīng)過一段時間，單片機發(fā)出停止信號，電機停轉(zhuǎn)，托盤到達頂點，開始測量。托盤到達頂點時，暗室上板安裝了一個凸起的測量管，這個小管伸到樣品孔平面以下，這樣別的孔發(fā)出的光就無法進入小管，從而達到避光的目的，消除了孔間干擾。
本實用新型的有益效果是，在對光測量儀器體積增加不多的情況下，徹底消除了孔間發(fā)光干擾，使光測量儀器測量的數(shù)據(jù)準確可靠。


圖1是本實用新型的主視圖圖2是本實用新型的俯視圖圖3是A-A剖視圖圖中1.探頭 2.測量孔 3.凸輪 4.XY平臺 5.減速電機 6.框架 7.樣品托盤 8.樣品96孔板 9.導向桿 10.彈簧 11.支架 12.暗室 13.托盤銷 14.行程開關(guān)15.導向桿具體實施方式
在主視圖中，凸輪(3)由減速電機(5)帶動旋轉(zhuǎn)，凸輪(3)推動框架(6)在水平面作往復運動初始位置由行程開關(guān)(14)來判斷，框架(6)把水平的往復運動通過45度斜槽和托盤銷(13)轉(zhuǎn)換成樣品托盤(7)的垂直升降運動，放在托盤內(nèi)的96微孔樣品板(8)就隨之做升降運動。測量時，96孔樣品板升起，測量孔(2)的凸緣伸進樣品孔，這樣其它孔的光就被擋住了，而無法通過漫反射干擾信號孔的光從而實現(xiàn)了避光，圖中導向桿(9)，(15)是框架(6)運動時的導向，彈簧(10)是使框架(6)回復運動用的。XY平臺(4)是運動裝置的安裝底盤，暗室(12)是整個系統(tǒng)避光用的，探頭是傳感器，支架(4)安裝導向桿(9)。
權(quán)利要求1.一種光測量儀器防串光裝置，其特征是在X，Y平臺的基礎(chǔ)上，加一個Z向的升降運動，這個Z向運動由減速電機帶動凸輪旋轉(zhuǎn)，凸輪推動一個框架做水平往復運動，樣品托盤的四個托盤銷就裝在斜槽內(nèi)，通過這個斜面機構(gòu)把水平往復運動變成了托盤的升降，托盤到達頂點時，暗室上板上的測量孔的凸緣伸到樣品孔平面以下，以實現(xiàn)屏蔽其他孔所發(fā)出光對測量孔的干擾。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光測量儀器防串光裝置，其特征是框架在水平往復運動時由導向桿導向。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光測量儀器防串光裝置，其特征是框架的斜槽是45度。
專利摘要本實用新型是光測量儀器防串光裝置。涉及在光測量儀器上使用的防止相鄰孔發(fā)光干擾的防串光裝置。它是在X，Y平臺的基礎(chǔ)上，加一個Z向的升降運動，這個Z向運動由減速電機帶動凸輪旋轉(zhuǎn)，凸輪推動一個框架做水平往復運動，樣品托盤的四個支腿就裝在斜槽內(nèi)，通過這個斜面機構(gòu)把水平往復運動變成了托盤的升降。托盤到達頂點時，暗室上板上的測量孔的凸緣伸到樣品孔平面以下，這樣其他孔發(fā)出的光就無法進入小管，從而達到避光的目的，消除了孔間干擾。
文檔編號G01N21/13GK2777534SQ20052000506
公開日2006年5月3日 申請日期2005年3月2日 優(yōu)先權(quán)日2005年3月2日
發(fā)明者王子文 申請人:北京濱松光子技術(shù)股份有限公司