專利名稱:焊縫聚焦探頭的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域:
本實(shí)用新型涉及一種超聲波探傷儀探頭,特別涉及一種焊縫聚焦探頭。
背景技術(shù):
目前國內(nèi)外焊縫超聲波檢驗(yàn),普遍使用的斜探頭是平板晶片與斜楔直接粘貼在一起。超聲波探傷儀發(fā)出的高頻電脈沖信號(hào),由晶片轉(zhuǎn)化為超聲波,聲波以發(fā)散形式通過斜楔與工件,前后聲波到工件表面時(shí)間不等,后方聲波用時(shí)短,在工件表面提前反射,與前方聲波發(fā)生干涉;焊縫余高反射波進(jìn)入缺陷評定區(qū)。
這樣的斜探頭檢驗(yàn)焊縫的缺點(diǎn)(1)聲波發(fā)散,聲波行程遠(yuǎn)的焊縫表面、近表面、熱影響區(qū)的裂紋及微小缺陷較難發(fā)現(xiàn)。
(2)缺陷定位不準(zhǔn)。非聚焦斜探頭前沿距離大,K值小,薄工件焊縫,聲波行程較短,需要多次反射波檢驗(yàn)焊縫,多次接觸工件表面,造成定位不準(zhǔn)。一次余高反射波方向不定,它發(fā)現(xiàn)缺陷,定位不準(zhǔn)確。
(3)由于前后聲波到工件表面時(shí)間不等,造成在缺陷評定區(qū)內(nèi),有一次波、二次波、相干波、焊縫余高反射波、缺陷波等多波混雜,所以,有反射波不一定是缺陷波。真假難分,缺陷評定不準(zhǔn),容易漏檢和誤判。
(4)檢驗(yàn)薄工件焊縫能力弱。我國標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,焊縫超聲波檢驗(yàn)的鋼材工件厚度為大于等于8毫米,小于8毫米焊縫,檢驗(yàn)質(zhì)量不能保證。
這些問題,直接影響了焊縫超聲波檢驗(yàn)質(zhì)量。
發(fā)明內(nèi)容
解決的技術(shù)問題焊縫表面、近表面、熱影響區(qū)的裂紋及微小缺陷較難發(fā)現(xiàn);缺陷定位不準(zhǔn),容易漏檢和誤判;檢驗(yàn)薄工件焊縫能力弱。
本實(shí)用新型目的是提供一種焊縫聚焦探頭,利用凹面聚焦聲透鏡變發(fā)散聲波為聚焦聲波提高焊縫的檢驗(yàn)?zāi)芰蜏?zhǔn)確率。
技術(shù)方案焊縫聚焦探頭,在晶片與斜楔之間增裝凹面聚焦聲透鏡?;窘Y(jié)構(gòu)見圖1,外殼6內(nèi),晶片1與插座5用電線4連接,晶片1、凹面聚焦聲透鏡2、凸面斜楔3用膠依次粘貼在一起,周圍用吸聲材料7填充。晶片1、凹面聚焦聲透鏡2、凸面斜楔3的選材、各部位尺寸、凹面聚焦聲透鏡2、凸面斜楔3的前半徑r1,后半徑r2、K值,都是根據(jù)工件材料、厚度、焊縫結(jié)構(gòu)形式的計(jì)算數(shù)據(jù)確定。聲波聚焦方式聲波前后方向聚焦,左右方向不聚焦,聲波聚焦成一條線段,稱為焦線,所有聲波到焦線的時(shí)間是相等的。
焊縫聚焦探頭的工作原理見圖1,超聲波探傷儀發(fā)出的高頻電脈沖信號(hào),通過高頻電纜進(jìn)入焊縫聚焦探頭的插座5、電線4,再由晶片1轉(zhuǎn)化為超聲波,由凹面聚焦聲透鏡2與凸面斜楔3的r1r2弧面變?yōu)榫劢钩暡?,通過凸面斜楔3與耦合劑,再傾斜穿過焊縫9,最后,所有超聲波聚焦到工件8的表面,并使,焦線到焊縫邊緣距離d符合雙面雙側(cè)檢驗(yàn)的一次波焊縫聚焦探頭,d>L1;單面雙側(cè)檢驗(yàn)的一、二次波焊縫聚焦探頭,d>AA1/2。
d焦邊距,指一次波探頭在工件8上表面,前端與焊縫邊緣靠緊,一次波傾斜穿過焊縫,聚焦在工件下表面,焦線到焊縫邊緣之間的距離。
L1一次波焊縫聚焦探頭前沿距離。
AA1二次波焊縫聚焦探頭中心波入射點(diǎn)到前端聲波入射點(diǎn)之間的距離。
凹面聚焦聲透鏡、凸面斜楔的前半徑r1,后半徑r2的數(shù)值相等,取值準(zhǔn)確,否則,會(huì)造成前后聲波不聚焦;或聲波不能聚焦在工件表面;或超出d值規(guī)定范圍。這幾條,均不符合焊縫聚焦探頭的要求。
焊縫聚焦探頭檢驗(yàn)焊縫的有益效果(1)聲波聚焦,隨著聲波行程值的增加,聲波變窄,指向集中,聲波聚焦在工件表面,提高焊縫表面、近表面、熱影響區(qū)裂紋及微小缺陷的發(fā)現(xiàn)率;(2)所有聲波聚焦到工件表面,即所有聲波到工件表面時(shí)間相等,在缺陷評定區(qū)內(nèi),無多次反射波,無相干波、無焊縫余高反射波,有反射波就是缺陷波,缺陷評定直觀,定位準(zhǔn)確。
(3)一次波探頭前沿距離小,K值大,采用單一的一次波、二次波檢驗(yàn),提高薄工件焊縫檢驗(yàn)?zāi)芰?,可檢3~7毫米的鋼、鋁、鎳、鈦及其合金等的薄工件焊縫。
圖1是本實(shí)用新型剖面結(jié)構(gòu)示意圖,也是說明書摘要附圖。1、晶片2、凹面聚焦聲透鏡3、凸面斜楔4、電線5、插座6、外殼7、吸聲材料。
圖2是一只焊縫聚焦探頭雙面雙側(cè)檢驗(yàn),探頭起始位置圖8、工件9、焊縫10、位一探頭11、位二探頭T、工件厚度d、焦邊距L1、探頭前沿距離。
圖3是兩只焊縫聚焦探頭單面雙側(cè)檢驗(yàn),探頭起始位置圖8、工件9、焊縫12、一次波探頭13、二次波探頭T、工件厚度A、中心波入射點(diǎn)A1、前端聲波入射點(diǎn)d、焦邊距。
具體實(shí)施方式
1、一只焊縫聚焦探頭雙面雙側(cè)檢驗(yàn)見圖2,先用,位一探頭10檢驗(yàn),位一探頭10開始位置,在工件8上焊縫9的一側(cè),前端與焊縫9的邊緣靠緊。位一探頭10向后移動(dòng),檢驗(yàn)中心波以下焊縫區(qū)域。后用,位二探頭11檢驗(yàn),位二探頭11開始位置,在工件8下表面焊縫9另一側(cè),中心波與位一探頭10中心波重合,位二探頭11向后移動(dòng),檢驗(yàn)中心波以上焊縫區(qū)域,無漏檢區(qū)。由于d>L1,位二探頭11還可以向前移動(dòng)到焊縫9邊緣,這時(shí),它的中心波在位一探頭10中心波以下,位二探頭11向后移動(dòng),兩中心波之間是重復(fù)檢驗(yàn)區(qū),無漏檢區(qū)。
位一探頭10,聲波聚焦在工件下表面,位二探頭11,聲波聚焦在工件上表面,易于發(fā)現(xiàn)焊縫上下表面、近表面、熱影響區(qū)裂紋及微小缺陷。
1∶1深度定位調(diào)節(jié)儀器,一次波缺陷評定區(qū)是深度值小于T的區(qū)域,所有一次波傾斜穿過焊縫,聚焦在工件上下表面,即所有一次波到工件上下表面的時(shí)間相等,在深度值小于T的焊縫內(nèi),工件上下表面無提前反射波,無二次波,無相干波,無一次焊縫余高反射波,有反射波無疑是缺陷波。缺陷波都是一次波發(fā)現(xiàn),定位準(zhǔn)確。
2、只能單面檢驗(yàn)的焊縫,用兩只焊縫聚焦探頭單面雙側(cè)檢驗(yàn)見圖3,先用,一次波探頭12檢驗(yàn)。一次波探頭12起始位置是,在工件8上焊縫9的一側(cè),前端與焊縫9邊緣靠緊。一次波探頭12向后移動(dòng),檢驗(yàn)中心波以下焊縫區(qū)域。后用,二次波探頭13檢驗(yàn)。二次波探頭13起始位置是,二次波探頭13在工件8上焊縫9的另一側(cè),它的二次中心波與一次波探頭12中心波重合,二次波探頭13向后移動(dòng),檢驗(yàn)中心波以上焊縫區(qū)域,無漏檢區(qū)。
一次波探頭12,聲波聚焦在工件8下表面;二次波探頭13,聲波聚焦在工件8上表面,易于發(fā)現(xiàn)焊縫上下表面、近表面、熱影響區(qū)的裂紋及微小缺陷。
一次波探頭12的檢驗(yàn),1∶1深度定位調(diào)節(jié)儀器,一次波缺陷評定區(qū)是深度值小于T的區(qū)域,所有一次波傾斜穿過焊縫,聚焦在工件下表面,即所有一次波到工件下表面的時(shí)間相等,在深度值小于T的焊縫內(nèi),工件下表面無提前反射波,無二次波,無相干波,無一次焊縫余高反射波,有反射波無疑是缺陷波。缺陷波都是一次波發(fā)現(xiàn),定位準(zhǔn)確。
二次波探頭13的檢驗(yàn),1∶1深度定位調(diào)節(jié)儀器,二次波缺陷評定區(qū)是深度大于T,小于2T的區(qū)域。在一次波探頭12與二次波探頭13的中心波重合時(shí),由于d>AA1/2,AA1/2=BB1,d>BB1,(BB1是中心波與工件下表面交點(diǎn)B到前端聲波與工件下表面交點(diǎn)B1之間的距離)二次波探頭13的所有一次波不進(jìn)入焊縫,在深度值大于T的焊縫內(nèi),無一次波,無相干波,無下焊縫余高反射波,只有二次波。二次波探頭13的所有二次波傾斜穿過焊縫,聚焦在工件上表面,即所有聲波到工件上表面的時(shí)間相等,在深度小于2T的焊縫內(nèi),工件上表面無提前反射波,無三次波,無相干波,無上焊縫余高反射波,也只有二次波,即在二次波評定區(qū),深度值大于T小于2T內(nèi),有反射波無疑是缺陷波。因只有二次波發(fā)現(xiàn)缺陷,故定位準(zhǔn)確。
權(quán)利要求1.一種焊縫聚焦探頭,包括晶片、凸面斜楔、電線、插座、外殼、吸聲材料,其特征是還有凹面聚焦聲透鏡(2);晶片(1)、凹面聚焦聲透鏡(2)、凸面斜楔(3)用膠依次粘貼在一起。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的焊縫聚焦探頭,其特征是凹面聚焦聲透鏡(2)、凸面斜楔(3)的前半徑r1,后半徑r2的數(shù)值相等。
專利摘要一種屬于超聲波探傷儀探頭技術(shù)領(lǐng)域的焊縫聚焦探頭,采用的技術(shù)方案為在晶片與斜楔之間增裝凹面聚焦聲透鏡,晶片、凹面聚焦聲透鏡、凸面斜楔用膠依次粘貼在一起。超聲波探傷儀的高頻電脈沖信號(hào)由晶片轉(zhuǎn)化為超聲波,由凹面聚焦聲透鏡與凸面斜楔的r
文檔編號(hào)G01N29/04GK2844915SQ20052002945
公開日2006年12月6日 申請日期2005年11月21日 優(yōu)先權(quán)日2005年11月21日
發(fā)明者林樹森 申請人:林樹森