專利名稱：一種β射線吸收法粉塵濃度測量儀用濾膜夾的制作方法
技術領域：
本實用新型涉及一種β射線吸收法粉塵濃度測量儀用濾膜夾。
背景技術：
現有的小型濾膜夾，包括前后兩夾片，兩夾片通過定位銷疊放再一起，在兩夾片上各設有一個采樣測量孔，兩采樣測量孔正對設置，在兩采樣測量孔處的兩夾片之間夾放有濾膜。利用低能β射線吸收法直接監(jiān)測作業(yè)場所粉塵濃度時，利用現有的小型(小口徑采樣測量孔)濾膜夾，先將夾放有空白濾膜的濾膜夾放入儀器進行測量，測得空白濾膜的質量后，將濾膜夾取出，放在濾膜的進氣口處通過負壓抽氣的方式抽取現場氣體，使粉塵附著在濾膜上完成采樣，再將帶塵的濾膜夾取出，放置在測量處，通過現有的射線源和小口徑探測器測出單位空氣中粉塵含量。此種結構雖然可以有效地對粉塵的濃度進行采樣、測量，但在使用時，由于小口徑探測器的探測量程小和探測精度低使得測量結果不夠理想。在換用大口徑探測器進行工作時，需配套使用具有對應的大口徑(大口徑采樣測量孔)的濾膜夾，但由于采樣是在負壓環(huán)境下進行，大口徑采樣測量孔使得濾膜的懸空面積過大，致使濾膜變形過大甚至被吸脫出采樣測量孔，影響到探測精度甚至正常的使用。
實用新型內容本實用新型的目的在于提供一種β射線吸收法粉塵濃度測量儀用濾膜夾，以能夠配合大口徑探測器進行正常的探測工作。
為了達到上述目的，本實用新型的技術方案在于采用了一種β射線吸收法粉塵濃度測量儀用濾膜夾，包括前后兩夾片，兩夾片通過定位銷定位疊放在一起，在兩夾片上各設有一個采樣測量孔，兩采樣測量孔正對設置，在兩夾片之間的兩采樣測量孔孔口周圍設置有用于固定濾膜的相互對應的結構。
所述的相互對應的結構由一個夾片的采樣測量孔周圍均勻布置的立釘和另一個夾片的采樣測量孔周圍對應均勻布置的用于各立釘插入的釘孔構成。
所述的相互對應的結構由一個夾片的采樣測量孔周圍設置的環(huán)形凸臺和另一個夾片的采樣測量孔周圍對應設置的用于和環(huán)形凸臺插套配合的環(huán)形止口構成。
所述的相互對應的結構由一個夾片的采樣測量孔周圍設置的環(huán)形防滑紋和另一個夾片的采樣測量孔周圍對應設置的環(huán)形防滑紋構成。
在兩夾片之間的兩采樣測量孔孔口周圍設置有用于固定濾膜的相互對應的結構，即濾膜穿過夾片的采樣測量孔周圍均勻布置的立釘后，不會被吸脫出采樣測量孔；或者濾膜被夾在由一個夾片的采樣測量孔周圍設置的環(huán)形凸臺和另一個夾片的采樣測量孔周圍對應設置的用于和環(huán)形凸臺插套配合的環(huán)形止口結構所形成的相互對應的結構之間，這樣可以保證濾膜不會被吸脫出采樣測量孔；另外，采樣測量孔周圍設置的環(huán)防滑紋可以防止濾膜不會被吸脫出采樣測量孔。本實用新型在配合大口徑探測器進行探測工作時，濾膜被固定，這樣就不會被吸脫出采樣測量孔，同時保證濾膜變形在一定范圍內，有助于保障探測精度和裝置的正常使用。


圖1為本實用新型的一種典型實施方式的一個夾片的結構示意圖；圖2為圖1的右視圖；圖3為與圖1對應的另一夾片的結構示意圖；圖4為圖3的右視圖；圖5為本實用新型實施例1濾膜夾的剖視圖；圖6為本實用新型的另一種典型實施方式的結構示意圖；圖7為圖6的A-A剖視圖；圖8為本實用新型的第三種典型實施方式的結構示意圖；圖9為圖8中一個夾片的結構示意圖；圖10為圖8中另一夾片的結構示意圖；圖11為圖8的B-B剖視圖。
具體實施方式
實施例1
如圖1-圖5所示，本實施例的β射線吸收法粉塵濃度測量儀用濾膜夾，包括前后兩夾片1、2，兩夾片通過定位銷3定位疊放在一起，在兩夾片上各設有一個采樣測量孔4，兩采樣測量孔正對設置，在夾片1的采樣測量孔4周圍均勻布置有立釘5，在另一個夾片2的采樣測量孔4周圍對應均勻布置的用于各立釘5插入的釘孔6。
實施例2如圖6、圖7所示，本實施例的β射線吸收法粉塵濃度測量儀用濾膜夾，包括前后兩夾片1、2，兩夾片通過定位銷3定位疊放在一起，在兩夾片上各設有一個采樣測量孔4，兩采樣測量孔正對設置，在夾片1的采樣測量孔4周圍設置有環(huán)形凸臺7，在夾片2的采樣測量孔4周圍對應設置的用于和環(huán)形凸臺7插套配合的環(huán)形止口8。
實施例3如圖8-圖11所示，本實施例的β射線吸收法粉塵濃度測量儀用濾膜夾，包括前后兩夾片1、2，兩夾片通過定位銷3定位疊放在一起，在兩夾片上各設有一個采樣測量孔4，兩采樣測量孔正對設置，在夾片1的采樣測量孔周圍設置的環(huán)形防滑紋9，在另一個夾片2的采樣測量孔4周圍對應設置的環(huán)形防滑紋10。
最后所應說明的是以上實施例僅用以說明而非限制本實用新型的技術方案，盡管參照上述實施例對本實用新型進行了詳細說明，本領域的普通技術人員應當理解依然可以對本實用新型進行修改或者等同替換，而不脫離本實用新型的精神和范圍的任何修改或局部替換，如對用于固定濾膜的相互對應的結構的變換，其均應涵蓋在本實用新型的權利要求范圍當中。
權利要求1.一種β射線吸收法粉塵濃度測量儀用濾膜夾，包括前后兩夾片，兩夾片通過定位銷定位疊放在一起，在兩夾片上各設有一個采樣測量孔，兩采樣測量孔正對設置，其特征在于在兩夾片之間的兩采樣測量孔孔口周圍設置有用于固定濾膜的相互對應的結構。
2.根據權利要求1所述的β射線吸收法粉塵濃度測量儀用濾膜夾，其特征在于所述的相互對應的結構由一個夾片的采樣測量孔周圍均勻布置的立釘和另一個夾片的采樣測量孔周圍對應均勻布置的用于各立釘插入的釘孔構成。
3.根據權利要求1所述的β射線吸收法粉塵濃度測量儀用濾膜夾，其特征在于所述的相互對應的結構由一個夾片的采樣測量孔周圍設置的環(huán)形凸臺和另一個夾片的采樣測量孔周圍對應設置的用于和環(huán)形凸臺插套配合的環(huán)形止口構成。
4.根據權利要求1所述的β射線吸收法粉塵濃度測量儀用濾膜夾，其特征在于所述的相互對應的結構由一個夾片的采樣測量孔周圍設置的環(huán)形防滑紋和另一個夾片的采樣測量孔周圍對應設置的環(huán)形防滑紋構成。
專利摘要本實用新型涉及一種β射線吸收法粉塵濃度測量儀用濾膜夾，包括前后兩夾片，兩夾片通過定位銷定位疊放在一起，在兩夾片上各設有一個采樣測量孔，兩采樣測量孔正對設置，在兩夾片之間的兩采樣測量孔孔口周圍設置有用于固定濾膜的相互對應的結構。在兩夾片之間的兩采樣測量孔孔口周圍設置有用于固定濾膜的相互對應的結構，在配合大口徑探測器進行探測工作時，濾膜被固定，這樣就不會被吸脫出采樣測量孔，同時保證濾膜變形在一定范圍內，有助于保障探測精度和裝置的正常使用。
文檔編號G01N23/02GK2800274SQ200520030948
公開日2006年7月26日 申請日期2005年6月10日 優(yōu)先權日2005年6月10日
發(fā)明者趙彤宇, 趙彤凱 申請人:鄭州市光力科技發(fā)展有限公司