專利名稱：β射線吸收法粉塵濃度測量儀配套用濾膜夾的制作方法
技術領域：
本實用新型涉及一種β射線吸收法粉塵濃度測量儀配套用濾膜夾。
背景技術：
現(xiàn)有的小型濾膜夾，包括前后兩夾片，兩夾片通過定位銷疊放再一起，在兩夾片上各設有一個采樣測量孔，兩采樣測量孔正對設置，在兩采樣測量孔處的兩夾片之間夾放有濾膜。利用低能β射線吸收法直接監(jiān)測作業(yè)場所粉塵濃度時，利用現(xiàn)有的小型(小口徑采樣測量孔)濾膜夾，先將夾放有空白濾膜的濾膜夾放入儀器進行測量，測得空白濾膜的質量后，將濾膜夾取出，放在濾膜的進氣口處通過負壓抽氣的方式抽取現(xiàn)場氣體，使粉塵附著在濾膜上完成采樣，再將帶塵的濾膜夾取出，放置在測量處，通過現(xiàn)有的射線源和小口徑探測器測出單位空氣中粉塵含量。此種結構雖然可以有效地對粉塵的濃度進行采樣、測量，但在使用時，由于小口徑探測器的探測量程小和探測精度低使得測量結果不夠理想。在換用大口徑探測器進行工作時，需配套使用具有對應的大口徑(大口徑采樣測量孔)的濾膜夾，但由于采樣是在負壓環(huán)境下進行，大口徑采樣測量孔使得濾膜的懸空面積過大，致使濾膜變形過大甚至被吸脫出采樣測量孔，影響到探測精度甚至正常的使用。
實用新型內容本實用新型的目的在于提供一種β射線吸收法粉塵濃度測量儀配套用濾膜夾，以能夠配合大口徑探測器進行正常的探測工作。
為了達到上述目的，本實用新型的技術方案在于采用了一種β射線吸收法粉塵濃度測量儀配套用濾膜夾，包括前后兩夾片，兩夾片通過定位銷定位疊放在一起，在兩夾片上各設有一個采樣測量孔，兩采樣測量孔正對設置，在至少一個夾片的采樣測量孔上設有用于撐托濾膜的擋撐。
所述的擋撐為蓖型擋撐。
所述的擋撐為網(wǎng)格型擋撐。
在夾片的采樣測量孔上設置用于撐托濾膜的擋撐后，在配合大口徑探測器進行探測工作時，濾膜被托起或夾持固定，濾膜不會被吸脫出采樣測量孔，同時保證濾膜變形在一定范圍內，有助于保障探測精度和裝置的正常使用。


圖1為本實用新型的一種典型實施例的結構示意圖；圖2為圖1的后視圖；圖3為圖1的A-A剖視圖；圖4為本實用新型的另一種典型實施例的結構示意圖；圖5為圖4的后視圖；圖6為圖4的B-B剖視圖；圖7為本實用新型的第三種典型實施例的結構示意圖；圖8為圖7的后視圖；圖9為圖7的C-C剖視圖。
具體實施方式
實施例1如圖1、圖2、圖3所示，該濾膜夾包括前后兩夾片1、2，兩夾片通過定位銷3疊放在一起，在兩夾片上各設有一個采樣測量孔4，兩采樣測量孔正對設置，在夾片1的采樣測量孔上設有用于撐托濾膜的蓖型擋撐5。
實施例2如圖4、圖5、圖6所示，該濾膜夾包括前后兩夾片1、2，兩夾片通過定位銷3疊放在一起，在兩夾片上各設有一個采樣測量孔4，兩采樣測量孔正對設置，在夾片1、2的采樣測量孔上均設有用于撐托和夾持濾膜的十字交叉的蓖型擋撐6。
實施例3如圖7、圖8、圖9所示，該濾膜夾包括前后兩夾片1、2，兩夾片通過定位銷3疊放在一起，在兩夾片上各設有一個采樣測量孔4，兩采樣測量孔正對設置，在夾片1、2的采樣測量孔上均設有用于撐托和夾持濾膜的網(wǎng)格型擋撐7。
權利要求1.一種β射線吸收法粉塵濃度測量儀配套用濾膜夾，包括前后兩夾片，兩夾片通過定位銷定位疊放在一起，在兩夾片上各設有一個采樣測量孔，兩采樣測量孔正對設置，其特征在于在至少一個夾片的采樣測量孔上設有用于撐托濾膜的擋撐。
2.根據(jù)權利要求1所述的濾膜夾，其特征在于所述的擋撐為蓖型擋撐。
3.根據(jù)權利要求1所述的濾膜夾，其特征在于所述的擋撐為網(wǎng)格型擋撐。
專利摘要本實用新型涉及一種β射線吸收法粉塵濃度測量儀配套用濾膜夾，包括前后兩夾片，兩夾片通過定位銷定位疊放在一起，在兩夾片上各設有一個采樣測量孔，兩采樣測量孔正對設置，在至少一個夾片的采樣測量孔上設有用于撐托濾膜的擋撐。在夾片的采樣測量孔上設置用于撐托濾膜的擋撐后，在配合大口徑探測器進行探測工作時，濾膜被托起或夾持固定，濾膜不會被吸脫出采樣測量孔，同時保證濾膜變形在一定范圍內，有助于保障探測精度和裝置的正常使用。
文檔編號G01N23/06GK2802501SQ200520030949
公開日2006年8月2日 申請日期2005年6月10日 優(yōu)先權日2005年6月10日
發(fā)明者趙彤宇, 趙彤凱 申請人:鄭州市光力科技發(fā)展有限公司