專利名稱:用于樣品的平面測量的測量頭的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域:
本發(fā)明一般涉及測量頭,更具體說,是涉及設(shè)有光波導(dǎo)的測量頭,用于樣品的平面測量。
背景技術(shù):
常規(guī)的測量頭,通常包括照射測量表面的光學(xué)投射裝置,和用于測量光反射的光學(xué)裝置。這種測量頭的一個(gè)例子,在美國專利U.S.Pat.No.4,078,858中說明,該測量頭包括白熾燈,為了產(chǎn)生測量光斑,該白熾燈與準(zhǔn)直器透鏡和偏折反射鏡,還與收集透鏡結(jié)合在一起。以45度角反射的測量光斑的光,到達(dá)光學(xué)測量裝置內(nèi),該測量裝置包括球形環(huán)狀反射鏡及平的球形反射鏡。
這種常規(guī)測量頭的一種應(yīng)用,在美國專利U.S.Pat.No.3,244,062說明的設(shè)備中描述,該設(shè)備用于確定照片的光密度,它包括測量頭和光學(xué)測量裝置,該測量頭有光學(xué)投射裝置,用于把白熾燈的光成像在照相材料上,該光學(xué)測量裝置借助橫過光學(xué)投射裝置光軸的偏折反射鏡,截獲基本上垂直地從照片表面再散射的光,并露出有透鏡輔助的光電倍增管入口孔徑。光學(xué)投射裝置能在所有各側(cè)面上,使測量光斑以基本上45度入射角暴露在測量頭的白熾光中發(fā)出的光下。與白熾燈相關(guān)的光學(xué)投射裝置,包括環(huán)繞白熾燈的球形環(huán)狀反射鏡,以所述燈的燈絲循著該球形環(huán)狀反射鏡的光軸伸延。由球形環(huán)狀反射鏡平行于光學(xué)投射裝置光軸傳遞的燈光,借助簡單的環(huán)狀反射鏡聚焦在測量表面上。熟知設(shè)備的光學(xué)投射裝置和光學(xué)測量裝置的質(zhì)量,在光反射性質(zhì)的確定中,適合簡單的密度測量,但不適合反射光的精細(xì)光譜分析。這種常規(guī)的測量頭,在反射信號(hào)中傳送大量雜散光和串?dāng)_,且因?yàn)楣庥捎谏⑸涠诠馇恢袚p耗,通常要求高功率的光源。
此外,常規(guī)的測量頭在它們的外殼內(nèi)不包含光源,所以要求相對(duì)外部光源的非常獨(dú)特的對(duì)準(zhǔn),以便從光源收集光,最后用于照射樣品。這種獨(dú)特的對(duì)準(zhǔn)程序已經(jīng)證明是非常困難和費(fèi)時(shí)的。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明通過提供一種改進(jìn)的測量頭,用于照射測量表面,并以合適的精度及強(qiáng)度,傳遞從測量光斑反射的測量光,以便例如對(duì)被反射的光進(jìn)行光譜分析。本發(fā)明的測量頭,在測量頭相對(duì)于光源的定位中,提供靈活性,使測量頭的位置可以循著測量表面變化,而不降低照射測量表面的強(qiáng)度。
在本發(fā)明的一個(gè)實(shí)施例中,測量頭包括至少一個(gè)輸入光波導(dǎo),用于把來自外部光源的光傳送到測量頭,供樣品的照射;至少一個(gè)準(zhǔn)直光學(xué)裝置,用于使來自外部光源的被傳送的光準(zhǔn)直;至少一個(gè)平面反射鏡,用于反射來自所述外部光源的被傳送的光,使被傳送的光的光路,在測量頭內(nèi)至少折疊一次;至少一個(gè)聚焦光學(xué)裝置,用于使來自被照射樣品的漫射光聚焦;和至少一個(gè)輸出光波導(dǎo),用于收集被聚焦的光,并把收集的光傳送到測量頭之外。
測量頭的折疊光路,能在本發(fā)明的測量頭100的大小方面,比當(dāng)前可用的常規(guī)測量頭有大的縮減。就是說,折疊光路能有充足的實(shí)際空間來使光改變方向,不必使光纖在相對(duì)小尺寸的測量頭內(nèi)過度彎曲。再有,本發(fā)明的輸入和輸出光纖,降低在按照本發(fā)明的測量頭外殼內(nèi)雜散(被改變方向的)光的量。雜散光的這種降低,能實(shí)現(xiàn)被收集的光更精確的測量和分析,該收集的光被至少一根輸出光纖傳輸?shù)綔y量頭之外。該輸入光纖,還在測量頭相對(duì)于照射樣品使用的光源的定位中,提供靈活性。
為了能夠詳細(xì)地理解以上敘述的本發(fā)明特性的方式,通過參照各實(shí)施例,可以獲得上面簡要地概括的本發(fā)明更具體的說明,其中的一些實(shí)施例在附圖中出示。但是,應(yīng)當(dāng)指出,附圖只表明本發(fā)明的典型實(shí)施例,從而不應(yīng)認(rèn)為是對(duì)本發(fā)明范圍的限制,因?yàn)楸景l(fā)明可以有其他等效的實(shí)施例。
圖1畫出按照本發(fā)明測量頭的一個(gè)實(shí)施例的高級(jí)方框解; 圖2畫出按照本發(fā)明測量頭的另一個(gè)實(shí)施例的高級(jí)方框解; 圖3畫出一個(gè)實(shí)施例的高級(jí)方框解,該實(shí)施例表明適合使用按照本發(fā)明的測量頭的光纖束;和 圖4畫出按照本發(fā)明測量頭的另一個(gè)實(shí)施例的高級(jí)方框解。
為便于了解,已經(jīng)在可能的地方使用標(biāo)識(shí)的參考數(shù)字,指明各圖共有的標(biāo)識(shí)的單元。
具體實(shí)施例方式本發(fā)明有益地提供一種測量頭,用于從某個(gè)源,通過至少一個(gè)光波導(dǎo)(如光纖),把光傳送到測量頭中的平面反射鏡,在那里,被反射的光通過至少一個(gè)準(zhǔn)直透鏡,入射到樣品上,在一個(gè)實(shí)施例中,是以基本上45度角入射。從樣品漫射的光,垂直地被另一個(gè)透鏡收集,聚焦在另一個(gè)光波導(dǎo)(如光纖)的端部,并被引導(dǎo)到測量頭之外。雖然這里說明的關(guān)于測量頭的本發(fā)明各個(gè)實(shí)施例,包括具體數(shù)目的相應(yīng)的收集光纖、平的反射鏡、和準(zhǔn)直透鏡,但不應(yīng)當(dāng)把本發(fā)明具體實(shí)施例視作對(duì)本發(fā)明范圍的限制。本領(lǐng)域熟練人員顯然知道,本發(fā)明教導(dǎo)傳達(dá)的是,可以有益地應(yīng)用本發(fā)明的概念,提供基本上有任何數(shù)量的收集光纖、平的反射鏡、和準(zhǔn)直透鏡或它們的組合。
圖1畫出按照本發(fā)明測量頭的一個(gè)實(shí)施例的高級(jí)方框解。圖1的測量頭100,圖上畫出包括前表面上有抽樣孔徑104的外殼102。測量頭100還包括兩個(gè)平的反射鏡1101-1102,圖上畫出以180度分開,置于相對(duì)的側(cè)壁上;兩個(gè)準(zhǔn)直光學(xué)裝置1201-1202(圖上畫出每一平的反射鏡各有一個(gè)準(zhǔn)直透鏡);一個(gè)聚焦光學(xué)裝置130(圖上畫出一個(gè)聚焦透鏡);和三個(gè)光波導(dǎo)(圖上畫出三根光纖)1401-1403。圖1還畫出白熾光源(圖上畫出一個(gè)氙閃光燈)150。光源150,可以作為與測量頭100一起使用的部件包括在內(nèi),也可以由用戶提供。
在圖1的測量頭100中,來自氙燈150的光,被兩根光纖(輸入光纖)收集,圖上畫出光纖1401和1402。每一輸入光纖1401、1402從氙燈150收集的光,被引導(dǎo)到測量頭100相應(yīng)的平的反射鏡1101、1102。來自相應(yīng)輸入光纖1401、1402的光,從相應(yīng)的平的反射鏡1101、1102反射到相應(yīng)的準(zhǔn)直透鏡1201、1202。經(jīng)相應(yīng)準(zhǔn)直透鏡1201、1202準(zhǔn)直的光,通過測量頭100外殼102的抽樣孔徑104,照射樣品。由樣品的照射產(chǎn)生的漫射光,經(jīng)過孔徑140,被聚焦透鏡130垂直地收集并聚焦。已聚焦的漫射光被第三光纖1403(輸出光纖)收集,該第三光纖1403把收集的光傳輸?shù)綔y量頭之外。輸出光纖1403中的光,例如被要對(duì)收集的光進(jìn)行光譜分析的測量儀器使用的光纖,傳輸?shù)綔y量頭之外。雖然在圖1的測量頭100中,輸出光纖1403被畫成至少部分位于測量頭100內(nèi),從而作為測量頭的部件被包括在內(nèi),但在本發(fā)明另外的實(shí)施例中,可以選擇用于收集和聚焦來自被照射樣品的漫射光的聚焦透鏡,使被收集的漫射光聚焦在正好在測量頭外面的位置上,這樣可以被測量頭外面位置上的收集裝置,如光波導(dǎo)收集。因此,輸出光波導(dǎo)不一定位于測量頭內(nèi),也不要求它是本發(fā)明測量頭本身的部件,而可以由用戶提供。
在圖1的測量頭100中,輸入光纖1401和1402、平的反射鏡1101和1102、和準(zhǔn)直透鏡1201和1202的定位和放置,要使樣品被來自氙燈150的準(zhǔn)直光束以基本上45°+/-2°的角度照射。此外,聚焦透鏡的定位和放置,要使來自被照射樣品的漫射光被聚焦透鏡聚焦,并使輸出光纖1403以基本上0°+/-0.5°的角度被收集。
更具體地說,輸入光纖1401和1402定位在測量頭100的外殼102中,使輸入光纖1401、1402傳輸?shù)膩碜噪療?50的光,被相應(yīng)的平的反射鏡1101、1102以基本上45°+/-2°的角度反射。準(zhǔn)直透鏡1201、1202分別位于測量頭100的外殼102中,使從相應(yīng)的平的反射鏡1101、1102反射的氙光被準(zhǔn)直,并經(jīng)過測量頭100外殼102的抽樣孔徑104,以基本上45°+/-2°的角度照射樣品。聚焦透鏡130定位在測量頭100的外殼102中,使來自被照射樣品的漫射光以基本上0°+/-0.5°的角度被收集。其次,輸出光纖1403定位在聚焦透鏡130的焦點(diǎn)上,以垂直地收集來自被照射樣品的聚焦的漫射光。
如在圖1測量頭100中畫出的,得到的光路被折疊一次(即,光以基本上45°的角度入射平的反射鏡,又以基本上45°的角度從平的反射鏡反射)。這樣的配置,能在本發(fā)明的測量頭100的大小方面,比當(dāng)前可用的常規(guī)測量頭有大的縮減。就是說,折疊光路能有充足的實(shí)際空間來使光改變方向,不必使光纖在相對(duì)小尺寸的測量頭內(nèi)過度彎曲。
測量頭100各種部件的物理和光學(xué)性質(zhì),至少由測量頭100的尺寸和測量頭100外殼102內(nèi)的部件位置規(guī)定。例如,在圖1的測量頭100中,測量頭外殼102的長度和寬度,圖上畫出兩者的大小為六十(60)毫米。此外,圖1測量頭100外殼102的抽樣孔徑104,圖上畫出的寬度大小為十六(16)毫米。這樣,在圖1中,選擇輸入光纖1401、1402的數(shù)值孔徑及位置,和準(zhǔn)直透鏡1201、1202的尺寸、位置、及曲率,使來自光纖1401、1402的被平的反射鏡1101、1102反射,又被準(zhǔn)直透鏡1201、1202準(zhǔn)直的氙光,照射整個(gè)抽樣孔徑104,從而照射圖1測量頭100外殼102的抽樣孔徑內(nèi)的樣品部分。例如,在圖1的測量頭100中,第一和第二輸入光纖1401、1402,各在圖上畫出包括單根四百(400)微米的有0.39數(shù)值孔徑(即,出射半角的正弦)的光纖。第一和第二準(zhǔn)直透鏡,各有焦距25mm及直徑15mm。測量頭100的孔徑104,由外殼102中的16mm開孔構(gòu)成,這樣,從被照射樣品垂直地漫射的光,也由寬度大小基本上為11mm的準(zhǔn)直光束構(gòu)成。在圖1的測量頭100中,基本上與測量頭100準(zhǔn)直透鏡1201、1202使用的透鏡相似的透鏡,被用作聚焦透鏡130。更具體地說,聚焦透鏡130有焦距25mm及直徑15mm。輸出光纖1403是單根四百(400)微米的有0.39數(shù)值孔徑的光纖,并在測量頭100的外殼102內(nèi)置于聚焦透鏡130的焦點(diǎn)位置上。
如上所述,在按照本發(fā)明一個(gè)實(shí)施例的測量頭中,至少一根輸入光纖把來自光源的光,經(jīng)過至少一個(gè)平的反射鏡及至少一個(gè)準(zhǔn)直透鏡,向樣品引導(dǎo)。至少一根輸出光纖收集從樣品聚焦的漫射光,并把光引導(dǎo)到測量頭之外。用光纖來引導(dǎo)光進(jìn)入和離開測量頭,降低了測量頭外殼內(nèi)的雜散(被改變方向的)光的量。這種雜散光的降低,能使被至少一根輸出光纖傳輸?shù)綔y量頭之外的收集的光,實(shí)現(xiàn)更精確的測量和分析。
現(xiàn)在回頭參考圖1,為進(jìn)一步降低雜散光在光路中的影響,測量頭100可選擇地再包括多塊光隔板。例如,如在圖1中所示,光隔板1601-1604可以位于每一準(zhǔn)直透鏡1201、1202和聚焦透鏡130的邊緣,以降低測量頭中被改變方向的光的量,并降低透鏡邊緣出現(xiàn)的光學(xué)像差的負(fù)面作用。為進(jìn)一步降低雜散光,測量頭100的外殼內(nèi)部,可以涂敷黑的無光澤材料。
雖然圖1的測量頭100畫成包括兩個(gè)平的反射鏡1101和1102、兩個(gè)準(zhǔn)直透鏡1201和1202、和兩根用于引導(dǎo)來自氙燈150的光照射樣品的光纖1401和1402,但在本發(fā)明另外的實(shí)施例中,本發(fā)明的測量頭可以包括基本上任何數(shù)量的平的反射鏡、準(zhǔn)直透鏡、和用于從光源收集光的光纖或它們的組合。另外,本發(fā)明的測量頭可以包括基本上任何數(shù)量的輸出光纖,用于把從被照射樣品垂直地收集的光,傳送到測量頭之外。例如,圖2畫出按照本發(fā)明測量頭的另一個(gè)實(shí)施例的高級(jí)方框解。圖2中的測量頭200,圖上畫出包括前表面有抽樣孔徑204的六角形外殼202。圖2的測量頭200,圖上畫出包括六個(gè)平的反射鏡2101-2106,圖上畫出按基本上圓形圖形以60度分開放置;六個(gè)準(zhǔn)直光學(xué)裝置2201-2206(圖上畫出每一平的反射鏡各有一個(gè)準(zhǔn)直透鏡);一個(gè)聚焦光學(xué)裝置230(圖上畫出一個(gè)聚焦透鏡);和七根光纖2401-2407。圖2還畫出白熾光源(圖上畫出一個(gè)氙閃光燈)250。光源250,可以作為與測量頭200一起使用的部件包括在內(nèi),也可以由用戶提供。
在圖2的測量頭200中,如在圖1的測量頭100一樣,來自氙燈250的光,被輸入光纖收集,圖上畫出光纖2401-2406。每一輸入光纖2401-2406從氙燈250收集的光,被引導(dǎo)到測量頭200相應(yīng)的平的反射鏡2101-2106。來自相應(yīng)輸入光纖2401-2406的光,從相應(yīng)的平的反射鏡2101-2106反射到相應(yīng)的準(zhǔn)直透鏡2201-2206。在一個(gè)實(shí)施例中,經(jīng)相應(yīng)準(zhǔn)直透鏡2201-2206準(zhǔn)直的來自各輸入光纖2401-2406的光,通過測量頭200圓柱形外殼202的抽樣孔徑204,以基本上45度的角度,照射樣品。由樣品的照射產(chǎn)生的漫射光,經(jīng)過抽樣孔徑204,被聚焦透鏡230垂直地收集并聚焦,然后被第七根光纖2407(輸出光纖)收集,該第七光纖2407把收集的光傳輸?shù)綔y量頭之外。輸出光纖2407中的光,例如被對(duì)收集的光進(jìn)行光譜分析的測量儀器使用的第七根光纖2407,傳輸?shù)綔y量頭之外。發(fā)明人確定,通過設(shè)置多個(gè)光波導(dǎo)與平的反射鏡的組合,用于照射樣品,那么,樣品可以被更強(qiáng)的光強(qiáng)照射,導(dǎo)致例如對(duì)收集的光進(jìn)行光譜分析的測量儀器更高的精度。
為縮減本發(fā)明測量頭所要求的形狀因子,輸入和輸出光纖可以包括光纖束。例如,圖3畫出一個(gè)實(shí)施例的高級(jí)方框解,表明適合與例如圖2的測量頭200一起使用的光纖束300的實(shí)施例。圖3的光纖束300,包括核心光收集器350和從核心光收集器350分出的七個(gè)光波導(dǎo)(圖上畫出七根光纖)3401-3407。圖3為說明的目的,還畫出氙光閃光燈350。如在圖3中所示,光收集器350置于氙燈350之前,以收集來自氙燈350最大量的光。六根輸入光纖,圖上畫出光纖3401-3406,把來自氙燈350的光傳輸?shù)饺缤瑘D2的測量頭200的測量頭,如上所述地照射樣品。設(shè)置光纖束300的第七根光纖3407,用于收集從樣品漫射的光,并把收集的光傳輸?shù)綔y量頭之外,例如供對(duì)收集的光進(jìn)行光譜分析的測量儀器使用。
按照本發(fā)明,測量頭中光波導(dǎo)(光纖和/或光纖束)的設(shè)置,提供許多優(yōu)于常規(guī)測量頭的優(yōu)點(diǎn)。例如,本發(fā)明的光波導(dǎo),在光源相對(duì)于本發(fā)明測量頭的定位方面,提供靈活性。更具體地說,本發(fā)明測量頭相對(duì)光源的位置,由于設(shè)置的光波導(dǎo)把光從光源傳輸?shù)綔y量頭中提供的靈活性,所以不象常規(guī)測量頭那樣關(guān)鍵。此外,設(shè)置光波導(dǎo)來收集從樣品漫射的光,并把收集的光傳輸?shù)綔y量頭之外,也使本發(fā)明的測量頭,在相對(duì)于例如用于對(duì)收集的光進(jìn)行光譜分析的測量儀器的定位方面,有更多的靈活性。這樣,測量頭在照射樣品時(shí)的位置,可以改變,而不是如常規(guī)測量頭那樣,停留在相對(duì)于光源固定的位置,其后是測量儀器。要能在常規(guī)的測量頭中實(shí)現(xiàn)任何靈活性,光源常常包括在常規(guī)測量頭的外殼中,與本發(fā)明測量頭的形狀因子比較,該光源極大地增大常規(guī)測量頭的形狀因子。另外,光纖或光纖束的設(shè)置,能使來自外部光源的光,基本上平行于測量頭的軸,進(jìn)入測量頭,并如圖1中所示,例如再向外彎折45度角,沒有附加的光散射或其他損耗。常規(guī)的測量頭,為實(shí)施這種配置,至少要求一個(gè)附加的反射表面,該反射表面能招致額外的光散射或其他損耗。
圖4畫出按照本發(fā)明測量頭另一個(gè)實(shí)施例的高級(jí)方框解。更具體地說,圖4畫出按照本發(fā)明的0/45度測量頭的實(shí)施例。在圖4的測量頭400中,樣品基本上以零度被照射,而漫射光基本上以45度被聚焦和收集。圖4的測量頭400,圖上畫出包括的部件,與圖1測量頭100基本上相同,但是,在圖4的測量頭400中,輸入光纖現(xiàn)在被用作輸出光纖,而輸出光纖被用作輸入光纖。更具體地說,圖4的測量頭400,圖上畫出包括前表面上有抽樣孔徑404的外殼402。測量頭400還包括兩個(gè)平的反射鏡4101-4102,圖上畫出以180度分開,置于相對(duì)的側(cè)壁上;一個(gè)準(zhǔn)直光學(xué)裝置420(圖上畫出一個(gè)準(zhǔn)直透鏡);兩個(gè)聚焦光學(xué)裝置4301-4302(圖上畫出每一平的反射鏡有一個(gè)聚焦透鏡);和五個(gè)光波導(dǎo)(圖上畫出五根光纖)4401-4405。圖1還畫出白熾光源(圖上畫出一個(gè)氙閃光燈)450。光源450,可以作為與測量頭100一起使用的部件包括在內(nèi),也可以由用戶提供。
在圖4的測量頭400中,來自氙燈450的光,被三根光纖(輸入光纖)收集,圖上畫出光纖4401-4403。輸入光纖4401-4403從氙燈450收集的光,被用于以基本上0°+/-0.5°的角度照射樣品。更具體地說,輸入光纖4401-4403從氙燈450收集的光,被準(zhǔn)直透鏡420收集并準(zhǔn)直。然后,被準(zhǔn)直的光,經(jīng)過測量頭400外殼402的抽樣孔徑404,照射樣品。由樣品的照射產(chǎn)生的漫射光,經(jīng)過孔徑404,入射在每一平的反射鏡4101-4102上并被每一平的反射鏡4101-4102以基本上45°+/-2°的角度反射。更具體地說,被垂直照射的樣品,把光沿各個(gè)方向以基本上45°+/-2°的角度漫射。被漫射的光,以基本上45°+/-2°的角度入射到兩個(gè)平的反射鏡4101-4102的每一個(gè)上,并以基本上45°+/-2°的角度,被兩個(gè)平的反射鏡4101-4102的每一個(gè)反射。兩個(gè)平的反射鏡4101-4102反射的被準(zhǔn)直的光,由相應(yīng)的聚焦透鏡4301-4302收集。聚焦透鏡4301-4302的每一個(gè),把準(zhǔn)直的光束聚焦成光斑。在聚焦透鏡4301-4302的焦點(diǎn)位置上,從聚焦透鏡4301-4302每一個(gè)聚焦的漫射光,被相應(yīng)光纖4404和4405(輸出光纖)收集,該兩光纖把收集的光傳輸?shù)綔y量頭之外。輸出光纖4404-4405中的光,例如被要對(duì)收集的光進(jìn)行光譜分析的測量儀器使用的輸出光纖4404-4405,傳輸?shù)綔y量頭之外。在本發(fā)明的各個(gè)實(shí)施例中,輸出光纖可以取1:N的光纖形式,這里設(shè)置的多根光纖,從被照射樣品收集漫射的聚焦的光,該1:N光纖包括一端有多根光纖而另一端有單根光纖。
雖然上面參照45/0度測量頭和0/45度測量頭說明本發(fā)明的實(shí)施例,但樣品的照射角度和收集從樣品漫射的光的角度,在上面本發(fā)明的實(shí)施例中畫出的,僅是示例性的,不應(yīng)視作對(duì)本發(fā)明范圍的限制。本領(lǐng)域熟練人員顯然知道,本發(fā)明教導(dǎo)傳達(dá)的是,可以有益地應(yīng)用本發(fā)明的概念,提供基本上任何樣品的照射角度和收集從樣品漫射的光的角度。45/0度和0/45度的照射和收集角度,僅僅是本領(lǐng)域的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)踐和遵照美國測試及材料協(xié)會(huì)(American Society for Testingand Materials,ASTM)與國際照明委員會(huì)(International IlluminationCommission,CIE)在例如定義色彩測量中,對(duì)照明和收集的教導(dǎo)。
雖然以上所述針對(duì)的是本發(fā)明的實(shí)施例,但在不偏離本發(fā)明的基本范圍情形下,可以設(shè)計(jì)其他的和更多的實(shí)施例,本發(fā)明的范圍由下面的權(quán)利要求書確定。
權(quán)利要求
1.一種測量頭,包括至少一個(gè)輸入光波導(dǎo),用于把來自外部光源的光傳送到所述測量頭,供樣品的照射;至少一個(gè)準(zhǔn)直光學(xué)裝置,用于使來自所述外部光源的被傳送的光準(zhǔn)直;至少一個(gè)平面反射鏡,用于反射來自所述外部光源的所述被傳送的光,以便所述被傳送的光的光路,在所述測量頭內(nèi)至少折疊一次;和至少一個(gè)聚焦光學(xué)裝置,用于使來自所述被照射樣品的漫射光聚焦。
2.按照權(quán)利要求1的測量頭,還包括至少一個(gè)輸出光波導(dǎo),用于收集被聚焦的光。
3.按照權(quán)利要求2的測量頭,其中所述至少一個(gè)輸入光波導(dǎo),把來自所述外部光源的光,傳送到所述至少一個(gè)準(zhǔn)直光學(xué)裝置,所述至少一個(gè)準(zhǔn)直光學(xué)裝置,使被傳送的光準(zhǔn)直,所述樣品被來自所述準(zhǔn)直光學(xué)裝置的所述準(zhǔn)直光照射,所述聚焦光學(xué)裝置把來自所述被照射樣品的所述漫射光,聚焦成所述測量頭內(nèi)的光斑,且所述至少一個(gè)輸出光波導(dǎo),在所述聚焦光學(xué)裝置的焦點(diǎn)位置,收集所述聚焦的光,并把所述收集的光,傳送到所述測量頭之外。
4.按照權(quán)利要求3的測量頭,其中所述樣品被所述準(zhǔn)直光以基本上45度角照射,而來自所述被照射樣品的漫射光,則以基本上0度角被收集。
5.按照權(quán)利要求3的測量頭,其中所述樣品被所述準(zhǔn)直光以基本上0度角照射,而來自所述被照射樣品的漫射光,則以基本上45度角被收集。
6.按照權(quán)利要求2的測量頭,其中所述至少一個(gè)輸入光波導(dǎo)和所述至少一個(gè)輸出光波導(dǎo),包括光纖。
7.按照權(quán)利要求6的測量頭,其中所述至少一根輸入光纖和所述至少一根輸出光纖,包括光纖束。
8.按照權(quán)利要求1的測量頭,其中所述至少一個(gè)準(zhǔn)直光學(xué)裝置,包括準(zhǔn)直透鏡。
9.按照權(quán)利要求1的測量頭,其中所述至少一個(gè)聚焦光學(xué)裝置,包括聚焦透鏡。
10.按照權(quán)利要求1的測量頭,其中所述外部光源,包括白熾光源。
11.按照權(quán)利要求10的測量頭,其中所述白熾光源,包括氙閃光燈。
12.按照權(quán)利要求2的測量頭,其中所述至少一根輸出光纖,把所述收集的光傳送到光譜儀,以便對(duì)所述收集的光進(jìn)行光譜分析。
13.按照權(quán)利要求1的測量頭,其中所述測量頭,包括6個(gè)輸入光波導(dǎo)和6個(gè)相應(yīng)的平面反射鏡,用于把來自外部光源的光傳送到樣品,供所述樣品的照射。
14.按照權(quán)利要求13的測量頭,其中所述6個(gè)相應(yīng)的平面反射鏡,以60度分開,置于所述測量頭內(nèi)。
15.按照權(quán)利要求13的測量頭,還包括6個(gè)相應(yīng)的準(zhǔn)直光學(xué)裝置,用于使來自每一個(gè)平面反射鏡的反射光準(zhǔn)直。
16.按照權(quán)利要求1的測量頭,還包括光隔板,用于阻擋部分來自所述至少一個(gè)輸入光波導(dǎo)的所述被傳送的光。
17.按照權(quán)利要求16的測量頭,其中所述光隔板,被置于所述至少一個(gè)準(zhǔn)直光學(xué)裝置的邊緣。
18.按照權(quán)利要求16的測量頭,其中所述光隔板,被置于所述至少一個(gè)聚焦光學(xué)裝置的邊緣。
19.按照權(quán)利要求1的測量頭,其中所述測量頭,包括前表面中的孔徑,用于所述樣品的照射。
20.按照權(quán)利要求2的測量頭,其中所述至少一個(gè)輸入光波導(dǎo)和所述至少一個(gè)輸出光波導(dǎo),分別平行于所述測量頭的測量軸,進(jìn)入和離開所述測量頭。
21.一種用于照射樣品的方法,包括提供外部光源;和用所述外部光源,通過測量頭照射所述樣品,所述測量頭包括至少一個(gè)輸入光波導(dǎo),用于把來自所述外部光源的光,傳送進(jìn)所述測量頭;至少一個(gè)準(zhǔn)直光學(xué)裝置,用于使來自所述外部光源的被傳送的光準(zhǔn)直,并以所述準(zhǔn)直光照射所述樣品;至少一個(gè)平面反射鏡,用于反射來自所述外部光源的所述被傳送的光,使所述被傳送的光的光路,在所述測量頭內(nèi)至少折疊一次;和至少一個(gè)聚焦光學(xué)裝置,用于使來自所述被照射樣品的漫射光聚焦。
22.按照權(quán)利要求21的方法,還包括通過至少一個(gè)輸出光波導(dǎo)收集被聚焦的漫射光。
全文摘要
本發(fā)明的測量頭把光從外部的源,通過至少一根光纖,傳送到測量頭中至少一個(gè)相應(yīng)的平面反射鏡,光通過反射鏡被反射并被至少一個(gè)準(zhǔn)直透鏡準(zhǔn)直,入射到樣品上,在一個(gè)實(shí)施例中,是以基本上45度角入射。得到的光路是折疊一次的,從而能有足夠的實(shí)際空間來使光改變方向,不用使光纖過度彎曲。在一個(gè)實(shí)施例中,從樣品漫射的光,垂直地被聚焦透鏡收集,聚焦在另一根光纖的端部,然后被引導(dǎo)到測量頭之外,例如供對(duì)收集的光進(jìn)行光譜分析的測量儀器使用。
文檔編號(hào)G01J3/28GK101031782SQ200580032757
公開日2007年9月5日 申請(qǐng)日期2005年8月11日 優(yōu)先權(quán)日2004年8月12日
發(fā)明者勞倫斯·B·布朗, 阿蘭·英格萊森, 魯?shù)细瘛毂颂貪煽? 約瑟夫·瑞德 申請(qǐng)人:數(shù)據(jù)色彩控股股份公司