專利名稱：平面顯示器的掃描檢測裝置與方法
技術領域：
本發(fā)明涉及一種掃描檢測裝置與方法，且特別涉及一種平面顯示器的掃描檢測裝置與方法，用于檢測移位寄存器。
背景技術：
早期的顯示器以陰極射線映像管(Cathode Ray Tube，簡稱為CRT)為主。近年來，平面顯示器(Flat Panel Display)的發(fā)展已被視為技術發(fā)展中極為重要的一環(huán)，而最近的新科技產品-液晶平面顯示器(Liquid CrystalDisplay，簡稱為LCD)是利用液態(tài)晶體的原理和現象所做成的平面顯示器，一般液態(tài)晶體雖能如液體般自由流動，但其分子排列仍維持一定規(guī)則，此外，其光學特性不穩(wěn)定很容易受外力(如電場、溫度、壓力)的影響，產生明顯的光電效應。在應用方面，平面顯示器應用廣泛，從最小的電子計算器、手表、游戲機及一般電氣用品的儀表，甚至于中型可攜式電子字典、文字處理機及筆記型計算機，或則是大型工作站及高畫質壁掛式電視。
在平面顯示器制造生產的成品率提升以及產品出貨量的高效率化，檢查以及檢驗裝置設備的功能高效率化是不可或缺的。通常解決此問題的方法須先確定哪一列或是哪一行的顯示面板出現問題，可測量平面顯示器中移位寄存器的輸出是否正常工作，進而確認問題發(fā)生是哪一部份。
圖1A為現有的平面顯示器的驅動電路的一部份，而圖1B為平面顯示器的驅動電路的時序圖。請參考圖1A，此平面顯示器的驅動電路包括多個移位寄存器(100-110)、多個傳輸門(120-150)以及多個與門(160-170)。
請對照圖1A及圖1B，在圖1B中的L1、L2為圖1中對應的移位寄存器的輸出信號，而G1及G2為對應圖1A中柵極線G1及G2的信號。其中，在移位寄存器100輸出數據時，輸出信號L1為邏輯高的狀態(tài)，在輸出完成時輸出信號L1為邏輯低的狀態(tài)，且移位寄存器100輸出邏輯高后不久，移位寄存器110則輸出信號L2為邏輯高，此時移位寄存器100繼續(xù)傳輸數據維持邏輯高一段時間后，移位寄存器100輸出信號L1為邏輯低，之后移位寄存器110輸出信號L2為邏輯低。因為每個移位寄存器與下個移位寄存器在導通時會有交集，且每個交集導通時間都不重復，因此只要利用與門160、170等即可分時輸出邏輯0的信號。
上述圖1A的電路設計的缺點是，當顯示異常時，由于這些移位寄存器的輸出信號不是那么容易測量得知，所以無法容易得知是哪一級的移位寄存器出現異常。若要追蹤確認問題點，還須拆解平面顯示面板，此種作法不但相當耗費時間及人工，而且在拆解平面顯示面板的過程中極易發(fā)生電路刮傷的問題。一但電路被刮傷，很可能會導致整個電路運作失效，通常只能換新，因此若非必要則不建議此種作法。

發(fā)明內容
本發(fā)明的目的就是提供一種平面顯示器的掃描檢測裝置，在檢測顯示面板的過程中，無須拆解液晶顯示面板，即可由測試線中的檢測信號得知發(fā)生異常的移位寄存器大約在哪一級，可節(jié)省分析時間。
本發(fā)明的再一目的是提供一種平面顯示器的掃描檢測方法，其無須拆解液晶顯示面板，只要在外部利用測試線就可以測量到哪一級的移位寄存器出現異常，增加分析成功機率，且增加顯示面板的靜電防護功能。
本發(fā)明的另一目的在提供一種電子裝置及/或平面顯示器，此等電子裝置與平面顯示器利用前述的掃描檢測裝置以減少分析時間與檢測時所可能產生的傷害。
本發(fā)明提出一種平面顯示器的掃描檢測裝置，適用于檢測圍繞顯示面板外圍的多個移位寄存器。此掃描檢測裝置包括多個晶體管開關以及一條測試線。其中多個晶體管開關具有第一端、第二端以及控制端，且每一個晶體管開關的控制端1對1耦接至每一個移位寄存器的輸出端，每一個晶體管開關的第一端耦接至一電位。而測試線耦接至晶體管開關的第二端。
依照本發(fā)明的較佳實施例所述的平面顯示器的掃描檢測裝置，其中，測試線沿著顯示面板的移位寄存器繞成一個短路環(huán)。
依照本發(fā)明的較佳實施例所述的平面顯示器的掃描檢測裝置，其中，測試線更繞成包括內環(huán)與外環(huán)的雙短路環(huán)，內環(huán)放置在顯示面板以及移位寄存器之間，外環(huán)放置在移位寄存器之外。
依照本發(fā)明的較佳實施例所述的平面顯示器的掃描檢測裝置，其中，測試線更包括放電保護裝置。
本發(fā)明提出一種平面顯示器的掃描檢測方法，適用于檢測圍繞顯示面板外圍的多個移位寄存器，其中有多個晶體管開關的控制端1對1耦接至每一個移位寄存器的輸出端，且多個晶體管開關的一端耦接一電位，另一端則耦接一測試線。此平面顯示器的掃描檢測方法為首先由測試在線取第一斷點以及第二斷點，之后切斷第一斷點以及第二斷點，再測量被切斷的測試線，并從中取出相應的一波形，最后依據此波形判斷多個移位寄存器的工作狀態(tài)。
依照本發(fā)明的較佳實施例所述的平面顯示器的掃描檢測方法，其中，電位為邏輯高電位。而工作狀態(tài)包括正常工作狀態(tài)以及不正常工作狀態(tài)。其中，正常工作狀態(tài)為邏輯高，不正常工作狀態(tài)為邏輯低。
依照本發(fā)明的較佳實施例所述的平面顯示器的掃描檢測方法，其中，測試線沿著顯示面板的移位寄存器繞成一個短路環(huán)，且在測試線中更包括放電保護裝置。
本發(fā)明提出一種平面顯示器，包括多個移位寄存器，多個晶體管開關以及一條測試線。移位寄存器分別用以傳遞信號。每一個晶體管開關具有第一端、第二端以及控制端，這些控制端1對1耦接至每一移位寄存器的輸出端，且每一晶體管開關的第一端耦接至某一預定電位，而測試線則耦接至這些晶體管開關的第二端。
本發(fā)明提出一種電子裝置，其包括顯示數據產生器以及一個平面顯示器，而平面顯示器中則包括多個移位寄存器，多個晶體管開關以及一條測試線。其中，顯示數據產生器產生一個顯示數據并傳遞至平面顯示器，平面顯示器則接收此顯示數據并將其顯示出來。移位寄存器分別用以傳遞根據顯示數據所得的信號。每一個晶體管開關具有第一端、第二端以及控制端，這些控制端1對1耦接至每一移位寄存器的輸出端，且每一晶體管開關的第一端耦接至某一預定電位，而測試線則耦接至這些晶體管開關的第二端。
本發(fā)明因采用平面顯示器的掃描檢測裝置及方法，因此，在檢測顯示面板的過程中，無須拆解液晶顯示面板，即可由測試線中的檢測信號得知發(fā)生異常的移位寄存器大約在哪一級，可節(jié)省分析時間，并增加分析成功的機率。另外加入此測試線可增加的顯示面板的靜電防護功能，且不會降低產品制造過程的成品率。
為讓本發(fā)明的上述和其它目的、特征和優(yōu)點能更明顯易懂，下文特舉較佳實施例，并配合附圖，作詳細說明如下。


圖1A為現有的平面顯示器的驅動電路的一部份。
圖1B為平面顯示器的驅動電路的時序圖。
圖2為液晶平面顯示器的驅動電路的一部份并加入本發(fā)明較佳實施例的掃描檢測裝置。
圖3為本發(fā)明較佳實施例的測試線的時序圖。
圖4為本發(fā)明較佳實施例的移位寄存器與測試線分布示意圖。
圖5A為本發(fā)明較佳實施例的雙短路環(huán)加上放電保護裝置的掃描檢測裝置。
圖5B為本發(fā)明較佳實施例的掃描檢測裝置。其中，(a)為兩個二極管所組成的電路，而(b)為尖端放電結構的設計。
圖6為本發(fā)明較佳實施例的掃描檢測方法流程圖。
圖7為根據本發(fā)明一實施例的電子裝置的電路方塊圖。
附圖符號說明A、B輸入信號點L1、L2輸出信號G1、G2柵極線CS信號線CS反信號線100、110、230、240、440、752～758移位寄存器120、150傳輸門160、170與門180邏輯低200、210、762～768晶體管開關220、770測試線300、310、320波形410粗體實線420～425斷點430～435異常短路點
450、540垂直測試點510外環(huán)520放電保護裝置530水平測試點S610～S640本發(fā)明一實施例的施行步驟70電子裝置75平面顯示器700掃描信號產生器具體實施方式
在此舉一個液晶平面顯示器作為本實施例所用的平面顯示器，請參考圖2，圖2為液晶平面顯示器的驅動電路的一部份并加入本發(fā)明較佳實施例的掃描檢測裝置。其中，虛線部分為本發(fā)明的掃描檢測裝置，包括多個晶體管開關以及一條測試線。首先晶體管開關200及晶體管開關210的一端耦接一電位VDD(為邏輯高電位)，此電位VDD可以由顯示電路上的固定電位提供之(凡熟知此技藝者應可輕易得知如何提供)，再來晶體管開關200及晶體管開關210的另一端耦接至測試線220，而晶體管開關200的控制端及晶體管開關210的控制端分別耦接至移位寄存器230及移位寄存器240的輸出。且其中本實施例所用的晶體管開關為N型晶體管開關。
在此液晶平面顯示器的驅動電路中，多個移位寄存器會依其排列順序輸出邏輯高電位并依此順序開啟相對應的晶體管開關(如晶體管開關200及晶體管開關210)。圖3為本發(fā)明較佳實施例的測試線的時序圖。請參考圖3，假設有10級移位寄存器，則會開啟10級相對應的晶體管開關而使測試線220上輸出一電位VDD，產生的波形如300所示。如果第7級的移位寄存器出現問題，則之后8、9、10級的移位寄存器就無法正常工作，亦即無法開啟相應的晶體管開關，使之呈現的波形如310所示，會在波形的后段產生電壓持續(xù)異常(在此為低壓)的狀況。
若第3級的移位寄存器發(fā)生問題，則與之后的4-10級的移位寄存器皆無法正常工作，無法開啟3-10級相對應的晶體管開關，而呈現的波形如320所示，會在波形的后段產生電壓持續(xù)異常(在此為低壓)的狀況。這樣只要依波形中導通與不導通的比例關系即可對應出大約是哪一級的移位寄存器出現了問題。
請參考圖4，圖4為本發(fā)明較佳實施例的移位寄存器與測試線分布示意圖。其中粗體實線410內的部分為顯示面板，用來顯示畫面。圖中只畫出移位寄存器、測試線與顯示面板之間的相對關系，垂直部分的移位寄存器是屬于柵極驅動電路的部分，而水平部分的移位寄存器是屬于源極驅動電路的部分，將圖上移位寄存器的輸出透過晶體管開關連接至測試線，而測試線則繞著顯示面板形成一條短路環(huán)，接至液晶平面顯示器外部的測試點以利后續(xù)的測試操作。
此測試線可于任何地方切斷以形成斷點，這些斷點并非必須存在于測試在線，但為了某些特定的狀況，有時候必須使測試線被截斷。接下來說明一些可能出現的斷點的功能。假設位于異常短路點430及435上的晶體管開關，因制作不良而造成異常短路(即柵極與源極短路)，則可以使用激光切斷的方式分別在斷點423及424與斷點420及421處切斷測試線來使電路工作正常，且此動作并不會降低液晶平面顯示器的生產成品率。
再者，在測試時一般會將測試線切成水平及垂直兩段。其操作方式為用激光切斷測試線而造成斷點422及425，如此即可在垂直測試點450上測量到垂直部分的波形，依其波形判斷垂直部分的移位寄存器大約是哪個發(fā)生問題。同理，在水平測試點452可測量到水平部分的波形，也可依此判斷問題點發(fā)生在何處。
而圖4中測試線繞著顯示面板形成一條短路環(huán)，還有另外一個好處，就是可以防止外來靜電或電荷的干擾。利用此概念可以設計雙短路環(huán)的形式，請參考圖5A，圖5A為本發(fā)明較佳實施例的雙短路環(huán)加上放電保護裝置的掃描檢測裝置。增加了一個外環(huán)510于液晶平面顯示器的最外側，用于保護源極驅動電路與門極驅動電路不受靜電的干擾(而移位寄存器包含在兩個驅動電路之中)。
圖5A測試在線的放電保護裝置520用于防止多余靜電對電路的傷害，其形式可為圖5B所示，但不限于此。圖5B為本發(fā)明較佳實施例的放電保護裝置，其中(a)為兩顆二極管所組成的電路，兩側接VDD及VSS，中間接測試線?；蚴侨?b)所示采用尖端放電結構的設計，凡熟知此技藝者應可輕易設計此放電保護裝置。而圖5A中的水平測試點530及垂直測試點540可設計在液晶平面顯示器的四周邊框或邊材上，以利將來維修或測試。
請參考圖6，圖6為本發(fā)明較佳實施例的掃描檢測方法流程圖，首先由測試在線取第一斷點及第二斷點(步驟S610)，如斷點422及斷點425(見圖4)，此步驟可依實際的狀況判定異常的點應在哪一部分，再進行選擇。
之后切斷第一斷點以及第二斷點(步驟S620)，此步驟可用激光切斷先前所選擇的兩個斷點。
再來測量被切斷的測試線，并從中取出相應的一波形(步驟S630)。舉例來說，如用激光切斷兩個斷點(422及425)即會切成水平部分及垂直部分兩段，若需得知問題發(fā)生在何處，即可水平部分測量一次，垂直部分測量一次，并取出各自的波形。
最后依據此波形判斷移位寄存器的工作狀態(tài)(步驟S640)，當正常工作狀態(tài)在測試在線量得的信號為邏輯高的時候，一旦出現不正常工作狀態(tài)，則可以在測試在線量得異常的邏輯低的信號。依此波形上邏輯高以及邏輯低的導通情形可判斷水平部分或垂直部分大約是哪一級的移位寄存器出現問題。
請參考圖7，其為根據本發(fā)明一實施例的電子裝置的電路方塊圖。在電子裝置70上包括了一個掃描信號產生器700以及一個平面顯示器75。平面顯示器75中包括了多個移位寄存器752～754、晶體管開關762～768以及測試線770。顯示數據被提供至平面顯示器75，并以移位寄存器752～754配合掃描信號產生器700所產生的水平掃描信號來傳遞相應的顯示數據，此外，并由移位寄存器756～758來傳遞自掃描信號產生器700所產生的垂直掃描信號，以求能正確顯示前述的顯示數據。在此，平面顯示器75中的移位寄存器752～758、晶體管開關762～768與測試線770之間的耦接方式與前述幾個實施例相同，在此不再重述。
在前述的各實施例中，掃描檢測裝置(包含晶體管開關與測試線)是用于檢測移位寄存器的輸出，但基于相同的原理，此掃描檢測裝置也可用于檢測現有電路中其它部分(如圖1中的與門160、與門170)的輸出。再者，由于此掃描檢測裝置是利用開關是否能因移位寄存器的輸出而導通預設電位為其工作原理，故其也可以應用于除了圖2所示的驅動電路以外的其它類型的平面顯示器驅動電路上。
綜上所述，本發(fā)明的平面顯示器的掃描檢測裝置，在檢測顯示面板的過程中，無須拆解液晶顯示面板，即可由測試線中的檢測信號得知發(fā)生異常的移位寄存器大約在哪一級，可節(jié)省分析時間。在外部利用測試線就可以測量到哪一級的移位寄存器出現異常，增加分析成功機率，并且測試線的圍繞方式增加了顯示面板的靜電防護功能。將此裝置安放在制作面板的工藝中，并不會降低產品制造過程的成品率，且對于產品的開發(fā)的測試過程有很大的幫助。
雖然本發(fā)明已以較佳實施例揭露如上，然其并非用以限定本發(fā)明，任何熟習此技藝者，在不脫離本發(fā)明的精神和范圍內，當可作些許的更動與潤飾，因此本發(fā)明的保護范圍當視后附的申請專利范圍所界定者為準。
權利要求
1.一種平面顯示器的掃描檢測裝置，適用于檢測圍繞顯示面板外圍的多個移位寄存器，該平面顯示器的掃描檢測裝置包括多個晶體管開關，每一所述晶體管開關具有第一端、第二端以及控制端，每一所述晶體管開關的控制端1對1耦接至每一所述移位寄存器的輸出端，每一所述晶體管開關的第一端耦接至一電位；以及一測試線，耦接至所述晶體管開關的第二端。
2.如權利要求1所述的平面顯示器的掃描檢測裝置，其中，該電位為邏輯高電位。
3.如權利要求1所述的平面顯示器的掃描檢測裝置，其中，所述晶體管開關為N型晶體管開關。
4.如權利要求1所述的平面顯示器的掃描檢測裝置，其中，該測試線沿著顯示面板的移位寄存器繞成一個短路環(huán)。
5.如權利要求4所述的平面顯示器的掃描檢測裝置，其中，該測試線繞成一雙短路環(huán)，該雙短路環(huán)包括一內環(huán)與一外環(huán)，該內環(huán)位于顯示面板以及所述移位寄存器之間，該外環(huán)位于所述移位寄存器之外。
6.如權利要求1所述的平面顯示器的掃描檢測裝置，該測試線更包括一放電保護裝置。
7.一種平面顯示器的掃描檢測方法，適用于檢測圍繞顯示面板外圍的多個移位寄存器，多個晶體管開關的控制端1對1耦接至每一所述移位寄存器的輸出端，且每一所述晶體管開關一端耦接一電位，另一端則耦接一測試線，該平面顯示器的掃描檢測方法包括由該測試在線取第一斷點以及第二斷點；切斷該第一斷點以及該第二斷點；測量被切斷的該測試線，并從中取出相應的一波形；以及依據該波形判斷所述移位寄存器的一工作狀態(tài)。
8.如權利要求7所述的平面顯示器的掃描檢測方法，其中，該電位為邏輯高電位。
9.如權利要求8所述的平面顯示器的掃描檢測方法，其中，該工作狀態(tài)包括一正常工作狀態(tài)以及一不正常工作狀態(tài)，且該正常工作狀態(tài)為邏輯高而該不正常工作狀態(tài)為邏輯低。
10.如權利要求7所述的平面顯示器的掃描檢測方法，其中，該測試線沿著顯示面板的移位寄存器繞成一個短路環(huán)。
11.如權利要求7所述的平面顯示器的掃描檢測方法，該測試線更包括一放電保護裝置。
12.一種平面顯示器，包括多個移位寄存器，分別用以傳遞一信號；多個晶體管開關，每一所述晶體管開關具有第一端、第二端以及控制端，每一所述晶體管開關的控制端1對1耦接至每一所述移位寄存器的輸出端，每一所述晶體管開關的第一端耦接至一電位；以及一測試線，耦接至所述晶體管開關的第二端。
13.如權利要求12所述的平面顯示器，其中，該測試線沿著顯示面板的移位寄存器繞成一個短路環(huán)。
14.如權利要求13所述的平面顯示器，其中，該測試線繞成一雙短路環(huán)，該雙短路環(huán)包括一內環(huán)與一外環(huán)，該內環(huán)位于顯示面板以及所述移位寄存器之間，該外環(huán)位于所述移位寄存器之外。
15.如權利要求12所述的平面顯示器，該測試線更包括一放電保護裝置。
16.一種電子裝置，適用于顯示一顯示數據，包括一掃描信號產生器，產生一水平掃描信號與一垂直掃描信號；以及一平面顯示器，接收并顯示該顯示數據，包括多個第一移位寄存器，根據該水平掃描信號以傳遞該顯示數據；多個第二移位寄存器，傳遞該垂直掃描信號；多個晶體管開關，每一所述晶體管開關具有第一端、第二端以及控制端，每一所述晶體管開關的控制端1對1耦接至每一所述第一或第二移位寄存器的輸出端，每一所述晶體管開關的第一端耦接至一電位；以及一測試線，耦接至所述晶體管開關的第二端。
17.如權利要求16所述的電子裝置，其中，該測試線沿著顯示面板的所述第一或第二移位寄存器繞成一個短路環(huán)。
18.如權利要求17所述的電子裝置，其中，該測試線繞成一雙短路環(huán)，該雙短路環(huán)包括一內環(huán)與一外環(huán)，該內環(huán)位于顯示面板以及所述第一或第二移位寄存器之間，該外環(huán)位于所述第一或第二移位寄存器之外。
19.如權利要求16所述的電子裝置，該測試線更包括一放電保護裝置。
全文摘要
一種平面顯示器的掃描檢測裝置與方法，此裝置包括一條測試線以及多個晶體管開關，適用于檢測圍繞顯示面板的多個移位寄存器。在檢測顯示面板的過程中，無須拆解顯示面板，即可由測試線中的檢測信號得知發(fā)生異常的移位寄存器，可節(jié)省分析時間以及增加分析成功的機率，同時可進行ESD的防護。
文檔編號G01R31/28GK101038315SQ20061006579
公開日2007年9月19日 申請日期2006年3月16日 優(yōu)先權日2006年3月16日
發(fā)明者羅平 申請人:統寶光電股份有限公司