專利名稱：顯示面板的非接觸式檢測(cè)裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明是關(guān)于一種顯示面板的非接觸式檢測(cè)裝置，尤指一種適用于檢測(cè)薄膜晶體管陣列基板的柵極/源極配線的非接觸式檢測(cè)裝置。
背景技術(shù)：
圖1顯示一平面顯示器的面板1的示意圖。在顯示面板1上具有多條水平線110與多條垂直線120，其中水平線110又稱為柵極配線(Gate Lines)，垂直線120又稱為源極配線(Source Lines)。然而，在顯示面板1的制造過程中，顯示面板1上的垂直線110或水平線120有可能會(huì)發(fā)生斷線(Open)或短路(Short)的情形。因此，通常會(huì)對(duì)柵極/源極配線進(jìn)行檢測(cè)。
目前平面顯示器的面板的檢測(cè)方法主要有兩種接觸式檢測(cè)法與非接觸檢測(cè)法。
圖2顯示已知的接觸式檢測(cè)法的示意圖。已知的接觸式檢測(cè)法是利用探針卡21來對(duì)顯示面板22進(jìn)行檢測(cè)，其中探針卡21上具有多個(gè)探針2111，2112，2113，2114，2115，2116，且所述探針的數(shù)量是固定的。當(dāng)顯示面板22的水平線221，222，223進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，探針卡21的探針2111，2112，2113，2114，2115，2116分別對(duì)準(zhǔn)所述水平線221，222，223的兩側(cè)。也即，探針2111，2112對(duì)準(zhǔn)水平線221的兩側(cè)，探針2113，2114對(duì)準(zhǔn)水平線222的兩側(cè)，探針2115，2116對(duì)準(zhǔn)水平線223的兩側(cè)。接著，探針卡21上的探針2111，2112，2113，2114，2115，2116與所述水平線221，222，223接觸，且探針卡21在所述水平線221，222，223的兩側(cè)間分別提供電位差，以供探針卡21能測(cè)量出水平線221，222，223的電阻值。若其中一條水平線222的電阻測(cè)量值超出柵極配線電阻值一設(shè)定范圍時(shí)，則代表該水平線222可能斷線。若其中一條水平線223的電阻值接近為零時(shí)，則代表該水平線223可能短路。
然而，采用探針卡檢測(cè)顯示面板非常耗時(shí)。例如探針卡其中一側(cè)的探針數(shù)為384個(gè)，待檢測(cè)顯示面板的分辨率為768×1024(768條水平線×1024條垂直線)，則探針卡上的探針必須先對(duì)準(zhǔn)顯示面板上的水平線，接著探針卡上的探針與顯示面板上的水平線接觸，并在檢測(cè)完畢后探針卡再離開顯示面板。由于探針卡的探針數(shù)為384個(gè)，是顯示面板水平線(768條)的一半，因此探針卡必須對(duì)顯示面板檢測(cè)兩次才能完成水平線部分的檢測(cè)。所以探針卡必須再重復(fù)上述步驟(對(duì)準(zhǔn)、接觸、檢測(cè)、及離開)才能完成顯示面板的水平線的檢測(cè)，如此將非常耗時(shí)。
此外，探針卡的探針數(shù)是固定的，而顯示面板的分辨率可能會(huì)有許多種，所以需要非常多的探針卡來檢測(cè)不同分辨率的顯示面板，因此會(huì)造成生產(chǎn)成本提高。例如探針卡其中一側(cè)的探針數(shù)為384個(gè)，待檢測(cè)顯示面板的分辨率可能為768×1024(768條水平線×1024條垂直線)、1088×612、或1280×1024等各種不同的分辨率，所以必須準(zhǔn)備多種不同探針數(shù)的探針卡，以檢測(cè)不同分辨率的顯示面板。
圖3a與圖3b顯示已知非接觸式檢測(cè)裝置的示意圖。在圖3a中，是利用輸入傳感器31與接收傳感器32來對(duì)顯示面板的其中一條水平線33進(jìn)行檢測(cè)，上述輸入傳感器31可以提供高電壓，以對(duì)水平線33釋放出電壓，以供水平線33能夠感應(yīng)而產(chǎn)生電荷，使得接收傳感器32能接收水平線33所產(chǎn)生的感應(yīng)電荷。因此，接收傳感器32可通過接收感應(yīng)電荷來判斷被檢測(cè)的水平線33是否有缺陷。
圖3b顯示已知非接觸式檢測(cè)裝置30檢測(cè)顯示面板3的示意圖，非接觸式檢測(cè)裝置30的兩側(cè)分別組設(shè)有輸入傳感器31與接收傳感器32。由于非接觸檢測(cè)裝置30采用感應(yīng)電荷方式來檢測(cè)顯示面板3，所以非接觸式檢測(cè)裝置30的探針與顯示面板3的距離(Gap)必須非常小，例如100微米(mm)。此外，非接觸式檢測(cè)裝置30每次檢測(cè)時(shí)只能檢測(cè)一條水平線(或垂直線)，所以非接觸式檢測(cè)裝置30必須采用掃描方式，例如由上往下，對(duì)顯示面板3進(jìn)行檢測(cè)。因?yàn)榉墙佑|式檢測(cè)裝置30與顯示面板3的間距非常小，當(dāng)顯示面板3上存有微粒子(Particle)的情形時(shí)，非接觸式檢測(cè)裝置30在顯示面板3上移動(dòng)時(shí)容易括傷顯示面板3。
因此，如何提供一種顯示面板的檢測(cè)裝置已成為一亟需解決的課題。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的主要目的在于提供一種顯示面板的非接觸式檢測(cè)裝置，以便能降低檢測(cè)時(shí)間(Tact-Time)，并有效地增加顯示面板產(chǎn)能。
本發(fā)明的另一目的在于提供一種顯示面板的非接觸式檢測(cè)裝置，以便能大幅降低檢測(cè)設(shè)備成本。
本發(fā)明的再一目的在于提供一種顯示面板的非接觸式檢測(cè)裝置，以便能在檢測(cè)面板時(shí)降低括傷顯示面板的幾率。
依據(jù)本發(fā)明的一特色，是提出一種顯示面板的非接觸式檢測(cè)裝置，用以對(duì)一包括有多條金屬線的顯示面板進(jìn)行檢測(cè)，顯示面板的非接觸式檢測(cè)裝置包括第一檢測(cè)長(zhǎng)條、第二檢測(cè)長(zhǎng)條以及控制電路。上述第一檢測(cè)長(zhǎng)條組設(shè)有多個(gè)信號(hào)輸入傳感器。上述第二檢測(cè)長(zhǎng)條組設(shè)有多個(gè)信號(hào)偵測(cè)傳感器，且所述信號(hào)輸入傳感器與所述信號(hào)偵測(cè)傳感器可以組成多組檢測(cè)單元。上述控制電路分別與所述信號(hào)輸入傳感器及所述信號(hào)偵測(cè)傳感器電性連接。當(dāng)非接觸式檢測(cè)裝置對(duì)顯示面板檢測(cè)時(shí)，每一組檢測(cè)單元能對(duì)應(yīng)一條金屬線，以供控制電路控制至少一組檢測(cè)單元對(duì)至少一條金屬線進(jìn)行檢測(cè)。
依據(jù)本發(fā)明的另一特色，是提出一種顯示面板的非接觸式檢測(cè)裝置，用以對(duì)一包括有多條金屬線的顯示面板進(jìn)行檢測(cè)，該非接觸式檢測(cè)裝置包括第一檢測(cè)長(zhǎng)條、信號(hào)偵測(cè)傳感器以及控制電路。上述第一檢測(cè)長(zhǎng)條組設(shè)有多個(gè)信號(hào)輸入傳感器。上述信號(hào)偵測(cè)傳感器可以與信號(hào)輸入傳感器組成一檢測(cè)單元。上述控制電路分別與所述信號(hào)輸入傳感器及信號(hào)偵測(cè)傳感器電性連接。當(dāng)非接觸式檢測(cè)裝置對(duì)顯示面板檢測(cè)時(shí)，檢測(cè)單元能對(duì)應(yīng)一金屬線，以供控制電路可以控制檢測(cè)單元對(duì)金屬線進(jìn)行檢測(cè)，欲使檢測(cè)單元檢測(cè)下一條金屬線時(shí)，信號(hào)偵測(cè)傳感器可以機(jī)械式位移，以使得其與另一信號(hào)輸入傳感器能對(duì)應(yīng)及檢測(cè)下一條金屬線。
依據(jù)本發(fā)明的又一特色，是提出一種顯示面板的非接觸式檢測(cè)裝置，用以對(duì)一包括有多條金屬線的顯示面板進(jìn)行檢測(cè)，該非接觸式檢測(cè)裝置包括信號(hào)輸入傳感器、第二檢測(cè)長(zhǎng)條以及控制電路。上述第二檢測(cè)長(zhǎng)條組設(shè)有多個(gè)信號(hào)偵測(cè)傳感器，且信號(hào)輸入傳感器能與至少一信號(hào)偵測(cè)傳感器組成一檢測(cè)單元。上述控制電路分別與信號(hào)輸入傳感器及所述信號(hào)偵測(cè)傳感器電性連接。當(dāng)非接觸式檢測(cè)裝置對(duì)顯示面板檢測(cè)時(shí)，檢測(cè)單元能對(duì)應(yīng)一金屬線，以供控制電路控制檢測(cè)單元對(duì)金屬線進(jìn)行檢測(cè)，且檢測(cè)單元檢測(cè)下一條金屬線時(shí)，信號(hào)輸入傳感器可以機(jī)械式位移，以使得其與至少一信號(hào)偵測(cè)傳感器能對(duì)應(yīng)及檢測(cè)下一條金屬線。
上述控制電路在控制檢測(cè)單元對(duì)金屬線進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，控制電路控制檢測(cè)單元的信號(hào)輸入傳感器提供偵測(cè)信號(hào)，且控制電路控制檢測(cè)單元的信號(hào)偵測(cè)傳感器同步偵測(cè)信號(hào)。在另一實(shí)施中，控制電路可以控制多組檢測(cè)單元來對(duì)金屬線進(jìn)行檢測(cè)。
此外，控制電路控制檢測(cè)單元的信號(hào)輸入傳感器提供電壓，以使得金屬線能夠產(chǎn)生感應(yīng)電荷，且控制電路控制檢測(cè)單元的信號(hào)偵測(cè)傳感器通過接收感應(yīng)電荷來檢測(cè)金屬線。
上述控制電路是依序地控制檢測(cè)單元對(duì)金屬線進(jìn)行檢測(cè)，以達(dá)成電子掃描方式對(duì)金屬線進(jìn)行檢測(cè)，以能加速檢測(cè)時(shí)間與避免刮傷顯示面板。
上述檢測(cè)單元可以包括一信號(hào)輸入傳感器與一信號(hào)偵測(cè)傳感器，也可以包括一信號(hào)輸入傳感器與多個(gè)信號(hào)偵測(cè)傳感器。
上述待檢測(cè)的顯示面板可以為一還未切割的薄膜晶體管陣列基板，或者為一經(jīng)過切割的薄膜晶體管陣列基板。


圖1是一平面顯示器的面板的示意圖。
圖2是已知接觸式檢測(cè)法的示意圖。
圖3a是已知非接觸檢測(cè)的示意圖。
圖3b是已知非接觸檢測(cè)裝置檢測(cè)面板的示意圖。
圖4是本發(fā)明一較佳實(shí)施例的非接觸式面板檢測(cè)裝置的功能方塊圖。
圖5是本發(fā)明一較佳實(shí)施例的非接觸式面板檢測(cè)裝置檢測(cè)面板的示意圖。
圖6a、圖6b是本發(fā)明第二較佳實(shí)施例的示意圖。
圖7是本發(fā)明第三較佳實(shí)施例的示意圖。
圖8是本發(fā)明第四較佳實(shí)施例的示意圖。
主要組件符號(hào)說明面板 1，22，3，40，60，70，80水平線110，221，222，223，33垂直線120探針卡21探針 2111，2112，2113，2114，2115，2116非接觸檢測(cè)裝置30輸入傳感器31接收傳感器33金屬線401，402，403，404，601控制電路 41第一檢測(cè)長(zhǎng)條 42，62，72第二檢測(cè)長(zhǎng)條 43，63，83信號(hào)輸入傳感器421，422，423，621，721，722，821信號(hào)偵測(cè)傳感器431，432，433，6311，6312，6313，731，831，832顯示單元 44
具體實(shí)施例方式
本發(fā)明是將多個(gè)信號(hào)輸入傳感器(Signal Input Sensor)組設(shè)于第一檢測(cè)長(zhǎng)條(Detecting Bar)，將多個(gè)信號(hào)偵測(cè)傳感器(Signal Detecting Sensor)組設(shè)于第二檢測(cè)長(zhǎng)條，當(dāng)對(duì)顯示面板進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，可以直接通過第一檢測(cè)長(zhǎng)條與第二檢測(cè)長(zhǎng)條來對(duì)顯示面板上的金屬線進(jìn)行檢測(cè)，其中第一檢測(cè)長(zhǎng)條中的每一個(gè)信號(hào)輸入傳感器可以對(duì)準(zhǔn)顯示面板上的待檢測(cè)金屬線，第二檢測(cè)長(zhǎng)條中的每一個(gè)信號(hào)偵測(cè)傳感器也可以相對(duì)于第一檢測(cè)長(zhǎng)條中的信號(hào)輸入傳感器而位于顯示面板的待檢測(cè)金屬線的另一側(cè)。因此，在檢測(cè)顯示面板時(shí)，只要通過電子方式控制所述信號(hào)輸入傳感器提供偵測(cè)信號(hào)，并同時(shí)控制所述信號(hào)偵測(cè)傳感器同步偵測(cè)信號(hào)便能快速完成檢測(cè)，以大幅降低檢測(cè)時(shí)間。
有關(guān)本發(fā)明顯示面板的非接觸式檢測(cè)裝置的第一較佳實(shí)施例，請(qǐng)一并參照?qǐng)D4與圖5，其中圖4顯示非接觸式檢測(cè)裝置的功能方塊圖，圖5顯示非接觸式檢測(cè)裝置檢測(cè)顯示面板的示意圖。在圖4中，非接觸式檢測(cè)裝置包括控制電路41、多個(gè)信號(hào)輸入傳感器421，422，423以及多個(gè)信號(hào)偵測(cè)傳感器431，432，433。
上述控制電路41分別與所述信號(hào)輸入傳感器421，422，423以及所述信號(hào)偵測(cè)傳感器431，432，433電性連接。
非接觸式檢測(cè)裝置檢測(cè)顯示面板的一較佳實(shí)施例如圖5所示，是以檢測(cè)顯示面板40的水平線401，402，403為例。所述信號(hào)輸入傳感器421，422，423組設(shè)于第一檢測(cè)長(zhǎng)條42中，所述信號(hào)偵測(cè)傳感器431，432，433組設(shè)于第二檢測(cè)長(zhǎng)條43中。在本實(shí)施例中，非接觸式檢測(cè)裝置所檢測(cè)的顯示面板40可以為未切割的薄膜晶體管陣列基板。在其它實(shí)施例中，待檢測(cè)的顯示面板40也可為經(jīng)過切割的薄膜晶體管陣列基板。
此外，每一信號(hào)輸入傳感器421，422，423可以分別對(duì)準(zhǔn)顯示面板40的每一條金屬線401，402，403的一側(cè)，每一信號(hào)偵測(cè)傳感器431，432，433可以分別對(duì)準(zhǔn)顯示面板40的每一條金屬線401，402，403的另一側(cè)，且上述信號(hào)輸入傳感器421可以與信號(hào)偵測(cè)傳感器431組成一組檢測(cè)單元，以使得信號(hào)輸入傳感器421所提供的偵測(cè)信號(hào)能夠被信號(hào)偵測(cè)傳感器431接收。相類似地，信號(hào)輸入傳感器422可以與信號(hào)偵測(cè)傳感器432組成一組檢測(cè)單元，信號(hào)輸入傳感器423可以與信號(hào)偵測(cè)傳感器433組成一組檢測(cè)單元。故，第一檢測(cè)長(zhǎng)條42與第二檢測(cè)長(zhǎng)條43中的所述信號(hào)輸入傳感器421，422，423與所述信號(hào)偵測(cè)傳感器431，432，433可以組成多組檢測(cè)單元。
在檢測(cè)時(shí)，控制電路41可以一次控制一組檢測(cè)單元來對(duì)顯示面板40上的其中一條金屬線401，402，403進(jìn)行檢測(cè)。例如控制電路41控制信號(hào)輸入傳感器421對(duì)金屬線401提供電壓，以使得金屬線401產(chǎn)生感應(yīng)電荷，且與信號(hào)輸入傳感器421屬于同一組檢測(cè)單元的信號(hào)偵測(cè)傳感器431可以接收金屬線401所產(chǎn)生的感應(yīng)電荷，以判斷該金屬線401是否斷線或短路。
接著，控制電路41持續(xù)控制信號(hào)輸入傳感器422提供電壓偵測(cè)信號(hào)，以使得信號(hào)偵測(cè)傳感器432可以偵測(cè)金屬線402所產(chǎn)生的感應(yīng)電荷。所以，控制電路41可以依序控制信號(hào)輸入傳感器421，422，423提供偵測(cè)信號(hào)，并控制信號(hào)偵測(cè)傳感器431，432，433同步接收偵測(cè)信號(hào)，以能達(dá)成利用電子掃描方式來對(duì)面板40上的所述金屬線401，402，403進(jìn)行檢測(cè)，以大幅檢測(cè)時(shí)間與降低括傷顯示面板40的幾率。
顯示面板40也可能切割成多個(gè)小基板，而本發(fā)明所提供的非接觸式檢測(cè)裝置的第一檢測(cè)長(zhǎng)條42與第二檢測(cè)長(zhǎng)條43一次僅能檢測(cè)一側(cè)的多個(gè)小基板，所以在檢測(cè)完之后，第一檢測(cè)長(zhǎng)條42與第二檢測(cè)長(zhǎng)條43須位移至其它未檢測(cè)的基板，以進(jìn)行檢測(cè)。因此，在本實(shí)施例中，本發(fā)明所提供的非接觸式檢測(cè)裝置僅須位移兩次便能完成薄膜晶體管陣列基板的檢測(cè)而可有效地增加產(chǎn)能。另外，第一檢測(cè)長(zhǎng)條42與第二檢測(cè)長(zhǎng)條43中的所述信號(hào)輸入傳感器421，422，423及所述信號(hào)偵測(cè)傳感器431，432，433的位置也可加以調(diào)整，因此對(duì)于不同分辨率的基板而言，是無需再另外準(zhǔn)備不同的非接觸式檢測(cè)裝置，故能節(jié)省顯示面板檢測(cè)設(shè)備的成本。
在其它實(shí)施例中，為了加速檢測(cè)時(shí)間，控制電路410可以一次控制多組檢測(cè)單元對(duì)顯示面板40的金屬線401，402，403進(jìn)行檢測(cè)。也即，控制電路410可以同時(shí)控制奇數(shù)的信號(hào)輸入傳感器421，423來對(duì)金屬線401，403供應(yīng)電壓，以使得金屬線401，403產(chǎn)生感應(yīng)電荷，控制電路410并同時(shí)控制奇數(shù)的信號(hào)偵測(cè)傳感器431，433接收感應(yīng)電荷，以檢測(cè)金屬線401，403。之后，控制電路410可以控制偶數(shù)的信號(hào)輸入傳感器422與偶數(shù)的信號(hào)偵測(cè)傳感器432來對(duì)偶數(shù)的金屬線402進(jìn)行檢測(cè)，以大幅降低檢測(cè)時(shí)間。
圖6a與圖6b顯示本發(fā)明第二較佳實(shí)施例的示意圖。在圖6a中，第一檢測(cè)長(zhǎng)條62包括有多個(gè)信號(hào)輸入傳感器621，第二檢測(cè)長(zhǎng)條63包括有多個(gè)信號(hào)偵測(cè)傳感器6311，6312，6313，其中信號(hào)輸入傳感器621與所述信號(hào)偵測(cè)傳感器6311，6312，6313組成一個(gè)檢測(cè)單元。
由于本實(shí)施例中，檢測(cè)單元包括有一個(gè)信號(hào)輸入傳感器621與三個(gè)信號(hào)偵測(cè)傳感器6311，6312，6313，因此當(dāng)信號(hào)輸入傳感器621對(duì)顯示面板60的金屬線601提供電壓時(shí)，金屬線601能夠產(chǎn)生感應(yīng)電荷，且所述信號(hào)偵測(cè)傳感器6311，6312，6313能接收金屬線601所產(chǎn)生的感應(yīng)電荷，故能增加測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確度，并有效地增加接收的信號(hào)強(qiáng)度與過濾不必要的噪聲。
圖6b顯示本實(shí)施采用多個(gè)信號(hào)偵測(cè)傳感器的示意圖。A1為一個(gè)信號(hào)偵測(cè)傳感器所接收的信號(hào)的波形，A2為三個(gè)信號(hào)偵測(cè)傳感器所接收的信號(hào)的波形，由此可知，利用多個(gè)信號(hào)偵測(cè)傳感器同時(shí)接收一信號(hào)，可使得波形具加成性，所以在進(jìn)行檢測(cè)顯示面板時(shí)可以增加測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確度。
圖7顯示本發(fā)明第三較佳實(shí)施例的示意圖，在有些實(shí)施中，可以利用第一檢測(cè)長(zhǎng)條72與一個(gè)信號(hào)偵測(cè)傳感器731來檢測(cè)顯示面板70，其中第一檢測(cè)長(zhǎng)條72包括有多個(gè)信號(hào)輸入傳感器721，722。所以，控制電路可以控制第一檢測(cè)長(zhǎng)條72的輸入傳感器721，722依序提供偵測(cè)信號(hào)，并控制信號(hào)偵測(cè)傳感器731機(jī)械式移動(dòng)來接收偵測(cè)信號(hào)。
圖8顯示本發(fā)明第四較佳實(shí)施例的示意圖，也可以利用信號(hào)輸入傳感器821與第二檢測(cè)長(zhǎng)條83來檢測(cè)面板80，其中第二檢測(cè)長(zhǎng)條83包括有多個(gè)信號(hào)偵測(cè)傳感器831，832。所以，控制電路可以控制信號(hào)輸入傳感器821機(jī)械移動(dòng)以在不同位置提供偵測(cè)信號(hào)，并控制第二檢測(cè)長(zhǎng)條83的信號(hào)偵測(cè)傳感器831、832依序接收偵測(cè)信號(hào)。
由以上的說明可知，本發(fā)明利用多個(gè)信號(hào)輸入傳感器組成第一檢測(cè)長(zhǎng)條，并利用多個(gè)信號(hào)偵測(cè)傳感器組成第二檢測(cè)長(zhǎng)條，以供直接利用第一檢測(cè)長(zhǎng)條與第二檢測(cè)長(zhǎng)條來對(duì)顯示面板進(jìn)行檢測(cè)。此外，控制電路并控制第一檢測(cè)長(zhǎng)條的信號(hào)輸入傳感器依序提供偵測(cè)信號(hào)，且控制第二檢測(cè)長(zhǎng)條的信號(hào)偵測(cè)傳感器同步接收偵測(cè)信號(hào)，以達(dá)成電子式掃描面板，以能降低檢測(cè)時(shí)間，并有效地增加顯示面板產(chǎn)能。
上述實(shí)施例僅是為了方便說明而舉例而已，本發(fā)明所主張的權(quán)利范圍應(yīng)以權(quán)利要求所述為準(zhǔn)，而非僅限于上述實(shí)施例。
權(quán)利要求
1.一種顯示面板的非接觸式檢測(cè)裝置，用以對(duì)一包括有多條金屬線的顯示面板進(jìn)行檢測(cè)，其特征在于，該非接觸式檢測(cè)裝置包括一第一檢測(cè)長(zhǎng)條，組設(shè)有多個(gè)信號(hào)輸入傳感器；一第二檢測(cè)長(zhǎng)條，組設(shè)有多個(gè)信號(hào)偵測(cè)傳感器，所述信號(hào)輸入傳感器與所述信號(hào)偵測(cè)傳感器組成多組檢測(cè)單元；以及一控制電路，分別與所述信號(hào)輸入傳感器及所述信號(hào)偵測(cè)傳感器電性連接，當(dāng)該非接觸式檢測(cè)裝置對(duì)所述顯示面板檢測(cè)時(shí)，每一組檢測(cè)單元對(duì)應(yīng)一條金屬線，以供所述控制電路控制至少一組檢測(cè)單元對(duì)至少一條金屬線進(jìn)行檢測(cè)。
2.如權(quán)利要求1所述的非接觸式檢測(cè)裝置，其特征在于，所述控制電路控制至少一組檢測(cè)單元的信號(hào)輸入傳感器提供偵測(cè)信號(hào)，且所述控制電路控制該至少一組檢測(cè)單元的信號(hào)偵測(cè)傳感器同步偵測(cè)信號(hào)。
3.如權(quán)利要求1所述的非接觸式檢測(cè)裝置，其特征在于，所述控制電路控制至少一組檢測(cè)單元的信號(hào)輸入傳感器提供電壓，以使得至少一條金屬線產(chǎn)生感應(yīng)電荷，且所述控制電路控制該至少一組檢測(cè)單元的信號(hào)偵測(cè)傳感器，通過接收感應(yīng)電荷來檢測(cè)所述至少一條金屬線。
4.如權(quán)利要求1所述的非接觸式檢測(cè)裝置，其特征在于，所述控制電路依序控制所述至少一組檢測(cè)單元對(duì)所述至少一條金屬線進(jìn)行檢測(cè)。
5.如權(quán)利要求1所述的非接觸式檢測(cè)裝置，其特征在于，每一檢測(cè)單元包括一個(gè)信號(hào)輸入傳感器與一個(gè)信號(hào)偵測(cè)傳感器。
6.如權(quán)利要求1所述的非接觸式檢測(cè)裝置，其特征在于，每一檢測(cè)單元包括一個(gè)信號(hào)輸入傳感器與多個(gè)信號(hào)偵測(cè)傳感器。
7.如權(quán)利要求1所述的非接觸式檢測(cè)裝置，其特征在于，所述顯示面板為未切割的薄膜晶體管陣列基板。
8.如權(quán)利要求1所述的非接觸式檢測(cè)裝置，其特征在于，所述顯示面板為經(jīng)過切割的薄膜晶體管陣列基板。
9.一種非接觸式檢測(cè)裝置，用以對(duì)一包括有多條金屬線的顯示面板進(jìn)行檢測(cè)，其特征在于，該非接觸式檢測(cè)裝置包括一第一檢測(cè)長(zhǎng)條，組設(shè)有多個(gè)信號(hào)輸入傳感器；一信號(hào)偵測(cè)傳感器，能與一信號(hào)輸入傳感器組成一檢測(cè)單元；以及一控制電路，分別與所述信號(hào)輸入傳感器及所述信號(hào)偵測(cè)傳感器電性連接，當(dāng)該非接觸式檢測(cè)裝置對(duì)所述顯示面板檢測(cè)時(shí)，所述檢測(cè)單元能對(duì)應(yīng)一條金屬線，以供該控制電路控制該檢測(cè)單元對(duì)該金屬線進(jìn)行檢測(cè)，且該檢測(cè)單元檢測(cè)下一條金屬線時(shí)，所述信號(hào)偵測(cè)傳感器能位移，以使得其與另一信號(hào)輸入傳感器能對(duì)應(yīng)及檢測(cè)下一條金屬線。
10.如權(quán)利要求9所述的非接觸式檢測(cè)裝置，其特征在于，所述控制電路控制所述檢測(cè)單元的所述信號(hào)輸入傳感器提供偵測(cè)信號(hào)，且該控制電路控制該檢測(cè)單元的信號(hào)偵測(cè)傳感器同步偵測(cè)信號(hào)。
11.如權(quán)利要求9所述的非接觸式檢測(cè)裝置，其特征在于，所述控制電路控制所述檢測(cè)單元的所述信號(hào)輸入傳感器提供電壓，以使得所述金屬線產(chǎn)生感應(yīng)電荷，且該控制電路控制該檢測(cè)單元的信號(hào)偵測(cè)傳感器，通過接收感應(yīng)電荷來檢測(cè)所述金屬線。
12.如權(quán)利要求9所述的非接觸式檢測(cè)裝置，其特征在于，所述控制電路依序控制所述信號(hào)輸入傳感器來提供偵測(cè)信號(hào)，并控制所述信號(hào)偵測(cè)傳感器位移以同步偵測(cè)信號(hào)。
13.一種非接觸式檢測(cè)裝置，用以對(duì)一包括有多條金屬線的顯示面板進(jìn)行檢測(cè)，其特征在于，該非接觸式檢測(cè)裝置包括一信號(hào)輸入傳感器；一第二檢測(cè)長(zhǎng)條，組設(shè)有多個(gè)信號(hào)偵測(cè)傳感器，且所述信號(hào)輸入傳感器能與至少一信號(hào)偵測(cè)傳感器組成一檢測(cè)單元；以及一控制電路，分別與所述信號(hào)輸入傳感器及所述信號(hào)偵測(cè)傳感器電性連接，當(dāng)該非接觸式檢測(cè)裝置對(duì)所述顯示面板檢測(cè)時(shí)，所述檢測(cè)單元能對(duì)應(yīng)一條金屬線，以供所述控制電路控制該檢測(cè)單元對(duì)該金屬線進(jìn)行檢測(cè)，且該檢測(cè)單元檢測(cè)下一條金屬線時(shí)，所述信號(hào)輸入傳感器能位移，以使得其與另一至少一信號(hào)偵測(cè)傳感器能對(duì)應(yīng)及檢測(cè)下一條金屬線。
14.如權(quán)利要求13所述的非接觸式檢測(cè)裝置，其特征在于，所述控制電路控制所述檢測(cè)單元的信號(hào)輸入傳感器提供偵測(cè)信號(hào)，且該控制電路控制所述檢測(cè)單元的至少一信號(hào)偵測(cè)傳感器同步偵測(cè)信號(hào)。
15.如權(quán)利要求13所述的非接觸式檢測(cè)裝置，其特征在于，所述控制電路控制所述檢測(cè)單元的信號(hào)輸入傳感器提供電壓，以使得所述金屬線產(chǎn)生感應(yīng)電荷，且該控制電路控制所述檢測(cè)單元的至少一信號(hào)偵測(cè)傳感器，通過接收感應(yīng)電荷來檢測(cè)所述至少一金屬線。
16.如權(quán)利要求13所述的非接觸式檢測(cè)裝置，其特征在于，所述控制電路控制依序位移所述信號(hào)輸入傳感器，以對(duì)準(zhǔn)所述金屬線，并提供偵測(cè)信號(hào)，且該控制電路并控制至少一信號(hào)偵測(cè)傳感器依序同步偵測(cè)信號(hào)。
17.如權(quán)利要求13所述的非接觸式檢測(cè)裝置，其特征在于，所述檢測(cè)單元包括一信號(hào)輸入傳感器與一信號(hào)偵測(cè)傳感器。
18.如權(quán)利要求13所述的非接觸式檢測(cè)裝置，其特征在于，所述檢測(cè)單元包括一信號(hào)輸入傳感器與多個(gè)信號(hào)偵測(cè)傳感器。
19.如權(quán)利要求13所述的非接觸式檢測(cè)裝置，其特征在于，所述顯示面板為未切割的薄膜晶體管陣列基板。
20.如權(quán)利要求13所述的非接觸式檢測(cè)裝置，其特征在于，所述顯示面板為經(jīng)過切割的薄膜晶體管陣列基板。
全文摘要
本發(fā)明是有關(guān)于一種顯示面板的非接觸式檢測(cè)裝置，包括多個(gè)信號(hào)輸入傳感器、多個(gè)信號(hào)偵測(cè)傳感器以及控制電路，其中所述信號(hào)輸入傳感器組設(shè)于第一檢測(cè)長(zhǎng)條中，所述信號(hào)偵測(cè)傳感器組設(shè)于第二檢測(cè)長(zhǎng)條中。當(dāng)該裝置檢測(cè)面板時(shí)，可以通過控制電路控制第一檢測(cè)長(zhǎng)條中的所述信號(hào)輸入傳感器提供偵測(cè)信號(hào)，并控制第二檢測(cè)長(zhǎng)條中的所述信號(hào)偵測(cè)傳感器同步接收偵測(cè)信號(hào)，以大幅降低檢測(cè)時(shí)間。
文檔編號(hào)G01R31/00GK1831550SQ20061007577
公開日2006年9月13日 申請(qǐng)日期2006年4月26日 優(yōu)先權(quán)日2006年4月26日
發(fā)明者廖國(guó)廷, 陳志強(qiáng), 李國(guó)魁, 黃亦德 申請(qǐng)人:廣輝電子股份有限公司