專利名稱：用于配置測試模板中指定的硬件資源的方法和裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及用于配置測試模板中指定的硬件資源的方法和裝置。
背景技術(shù)：
在制造和/或銷售電氣器件(包括諸如電路板、集成電路或片上系統(tǒng)(SOC)之類的系統(tǒng)或組件)之前，通常要對該器件進(jìn)行測試，以確定其是否是按設(shè)計建造或工作的。通常，該測試由自動測試設(shè)備(ATE，也被稱為“測試器”)執(zhí)行。
在使用ATE測試器件之前，測試開發(fā)者必須開發(fā)出ATE在測試器件的同時將執(zhí)行的一系列測試。歷史上，該過程是針對ATE將測試的每個器件而以定制(custom)方式執(zhí)行的。雖然測試開發(fā)者在自定義測試時具有很大的自由度，但這是一個費錢且費時的過程，該過程會給器件“面世時間”的周期增加大量延時。
在某些情況下，測試開發(fā)可以由測試模板來輔助，所述測試模板指定用于執(zhí)行測試的硬件資源和缺省參數(shù)。這樣的示例包括SmartTest ProgramGenerator軟件，該軟件為Agilent 93000 SOC系列測試器提供測試開發(fā)能力(其兩者都是由美國加州Palo Alto的Agilent技術(shù)公司銷售的)。

發(fā)明內(nèi)容
在一個實施例中，多個機器可讀介質(zhì)存儲了指令序列，所述指令序列被機器執(zhí)行時，致使機器執(zhí)行以下動作1)顯示ATE測試模板選擇工具；2)在用戶從ATE測試模板選擇工具中選出測試模板之后，顯示所選測試模板的缺省參數(shù)；以及3)提供到測試模板配置工具的用戶訪問，該測試模板配置工具使用戶能夠配置由測試模板指定的至少一個硬件資源。
在另一實施例中，多個機器可讀介質(zhì)存儲了指令序列，所述指令序列被機器執(zhí)行時，致使機器執(zhí)行以下動作1)顯示使用戶能夠配置由ATE測試模板指定的至少一個硬件資源的測試模板配置工具；以及2)在用戶使用該工具選出硬件資源之一之后，使用戶能夠配置所選的硬件資源。
還公開了其他實施例。


在附圖中示出了本發(fā)明的示例性實施例，其中圖1和圖2示出了用于配置在測試模板中指定的硬件資源的計算機實現(xiàn)的方法；以及圖3到圖14示出了用于實現(xiàn)圖1和圖2所示方法的圖形用戶界面的各個狀態(tài)。
具體實施例方式
圖1和圖2示出了用于配置在測試模板中指定的硬件資源的計算機實現(xiàn)的方法100、200。根據(jù)方法100，自動測試設(shè)備(ATE)測試模板選擇工具被顯示(102)。然后，在用戶從ATE測試模板選擇工具中選出一個測試模板之后，所選測試模板的缺省參數(shù)被顯示(104)。然后向用戶提供對測試模板配置工具的訪問權(quán)限(106)，所述測試模板配置工具使用戶能夠配置由該測試模板指定的一個或多個硬件資源。
方法200假設(shè)已經(jīng)選出一個測試模板。因此，方法200開始于顯示(202)測試模板配置工具，該工具使用戶能夠配置由該測試模板指定的一個或多個硬件資源。然后，在用戶使用該工具選擇了硬件資源之一之后，用戶就能夠(204)配置所選的硬件資源。
方法100和200可以被包含在存儲在多個機器可讀介質(zhì)(例如一個或多個固定的或可移動的存儲器或盤)上的指令序列中。當(dāng)被機器(例如計算機或計算機網(wǎng)絡(luò))執(zhí)行時，該指令序列致使機器執(zhí)行方法100或200的動作。
例如，圖3到圖14示出了由于執(zhí)行實現(xiàn)方法100或200(及其各種修改)的指令序列而可能顯示出的示例性圖形用戶界面(GUI 300)的各個狀態(tài)。
如圖3所示，GUI 300提供對測試設(shè)置樹視圖302和測試模板選擇工具312的訪問。例如，樹視圖302可以提供可獲得的測試設(shè)置的視圖，所述測試設(shè)置例如包括RF&模擬測試設(shè)置304和數(shù)字測試設(shè)置306。在測試設(shè)置的每個群組304、306內(nèi)，該樹視圖可進(jìn)一步提供對激勵或測量測試設(shè)置308、310的選擇。然后，從點擊激活工具312(例如彈出菜單)中，可獲得的測試模板可被顯示給用戶。在圖3所示的GUI視圖中，被標(biāo)記為“S-Parameter(S參數(shù))”的測試模板314已被高亮顯示以待選擇。
優(yōu)選地，測試模板指定足以定義可執(zhí)行的測試的硬件資源和缺省參數(shù)。就是說，激勵測試的執(zhí)行應(yīng)該將激勵信號帶到至少一個ATE管腳，而測量測試的執(zhí)行應(yīng)該記錄至少一個ATE管腳的測量結(jié)果。以這種方式，用戶除了選擇用于配置器件測試的測試模板之外什么都不用做。
由測試模板指定的硬件資源和參數(shù)可以指定將在其下執(zhí)行測試的物理和電氣參數(shù)，例如包括對在測試期間將使用的ATE測試路徑和硬件資源的指示以及它們的配置(例如包括激勵和/或測量路徑的標(biāo)識，以及對于ATE的哪些管腳將被耦合到器件的哪些管腳的指示)；對測試頻率的指示(例如包括測試頻率范圍)；對調(diào)制格式的指示；對測量帶寬的指示；或?qū)β驶螂妷核降闹甘尽?br> 圖4示出了用戶已經(jīng)選出示例性的“S-Parameter”測試模板314之后的GUI 300。如圖所示，測試模板314的缺省參數(shù)400可被顯示在GUI300的右側(cè)窗口(或測試模板配置工具402)中。優(yōu)選地，該缺省參數(shù)400可由用戶選擇和配置。在一個實施例中，用戶對參數(shù)的選擇使用戶能夠例如從選項508的上拉、下拉或滾動菜單中選擇新參數(shù)。參見圖5，可替換地(或另外)，用戶可能能夠輸入(例如打字輸入)所需的替換形式。在另一實施例中，用戶對參數(shù)的選擇或者用戶對在選擇了參數(shù)之后變?yōu)榭蛇x的菜單選項的選擇可以向用戶提供對參數(shù)列表編輯器500(例如頻率列表編輯器)的訪問權(quán)限。從參數(shù)列表編輯器500中，用戶可以任選地和不同地1)指定幫助定義參數(shù)列表的列表創(chuàng)建功能502，2)從預(yù)定的參數(shù)列表504中進(jìn)行選擇，和/或3)例如利用由編輯器500提供的參數(shù)輸入表506來手工地提供列表的參數(shù)。
大約在右側(cè)窗口402的中間位置，提供了工具選擇機構(gòu)404。該機構(gòu)404僅僅是示例性的，并且可以提供對各種工具的訪問。圖6示出了使用選擇機構(gòu)404來顯示與根據(jù)測試模板314執(zhí)行的測試相關(guān)聯(lián)的結(jié)果的情形。測試執(zhí)行可以通過按下“執(zhí)行”按鈕406來觸發(fā)。可選地，可以首先從執(zhí)行模式選擇器408中選擇執(zhí)行模式。在執(zhí)行了測試之后，可以以各種預(yù)先配置或可編程的形式(包括表(例如表600)或圖表)來顯示測試結(jié)果。
圖7示出了用于使用戶能夠配置由測試模板指定的硬件資源的示例性硬件和示意性配置工具700。在某些情況下，工具700可以在用戶選擇了測試模板(例如測試模版314)之后自動啟動。在其他情況下，用戶例如可能必須通過經(jīng)由工具選擇機構(gòu)404選擇工具700來啟動它。
如圖7所示，工具700可能具有防止意外改變工具700顯示的缺省硬件的手段(例如在文本“Always Use Default HW(總是使用缺省硬件)”旁邊的復(fù)選框702)。工具700還可能具有用于恢復(fù)測試模板的缺省硬件設(shè)置的手段(例如按鈕704)。
雖然工具700可能僅顯示硬件列表，但是優(yōu)選地它還顯示示意圖706。該示意圖706可以示出由測試模板指定的硬件資源及其連接。在一個實施例中，示意圖706包括可縮放的矢量圖形(SVG)圖像。
在用戶從工具700中選擇了硬件資源(例如RF源800，圖8)之后，工具700顯示一個或多個可獲得的可替換硬件資源，從這些可替換的硬件資源中可以選出替換硬件資源802。例如，可替換的硬件資源可以經(jīng)由永久的或彈出的菜單來顯示。在某些情況下，工具700可以提供用于以多個資源來替換缺省資源的手段，或者用于指定工具700不知道的資源的手段。
工具700還提供對用于所選的硬件資源900的可配置設(shè)置902的訪問。參考圖9。在一個實施例中，在用戶選擇了資源900之后，工具700提供1)對可替換的硬件資源的單鼠標(biāo)點擊訪問(例如右鍵鼠標(biāo)點擊)，以及2)對用于硬件資源900的可配置設(shè)置902的雙鼠標(biāo)點擊訪問。如圖9所示，可配置設(shè)置902可以表的形式與所選的硬件資源900的組件示意圖904一起被顯示。
雖然未示出，但是用戶對用于資源的可配置設(shè)置的訪問還可以致使工具700為用戶提供對用于操作所選硬件資源的程序代碼的選擇。例如，如果用戶選擇數(shù)字化卡，則用戶可以被提供以用于修改卡所用的數(shù)字信號處理器(DSP)算法的手段，或者用于下載/上載所需DSP算法的手段。
如前所述，GUI 300可以包括執(zhí)行模式選擇器408。圖10示出了在用戶觸發(fā)執(zhí)行模式選擇器408之后可能顯示的示例性彈出菜單1000?？捎玫哪Ｊ街豢梢允抢L圖模式，在此情況下，第二層彈出菜單1002可以顯示可被選擇的圖表的類型。例如，對于“S-Parameter”測試模板314，圖表選擇可以是“Smith Chart(史密斯圖)”。對于功率測量模板，圖表選擇可以是“Time Domain(時域)”或“Spectrum(頻譜)”圖。對于利用頻率列表的測量模板，圖表選擇可以是“Frequency vs.Results(頻率vs結(jié)果)”。
對某些圖表類型的選擇可能觸發(fā)圖表配置工具1100的顯示。參見圖11。在用戶確認(rèn)了圖表配置(例如通過按下“OK”按鈕1102)之后，或者如果不需要配置，則在用戶選擇了繪圖模式之后，GUI 300可以顯示圖表區(qū)域1200。參見圖12。但是注意，與顯示的測試參數(shù)400相對應(yīng)的測試的執(zhí)行需要獲得執(zhí)行結(jié)果以用于在圖表區(qū)域中繪制圖表。在一個實施例中，GUI 300還提供對圖表下載功能1202的訪問，該功能1202用于將顯示的圖表1200的數(shù)據(jù)導(dǎo)出到另一進(jìn)程或應(yīng)用。
圖13示出了可利用執(zhí)行模式選擇器408選擇的步進(jìn)執(zhí)行模式的配置工具1300。例如，工具1300提供了用于選擇測試將在其上被執(zhí)行的頻率范圍的手段1302，以及用于選擇在測試執(zhí)行步驟結(jié)束時將被顯示的設(shè)置所用于的硬件資源800的手段1304。圖14示出了步進(jìn)執(zhí)行期間的資源設(shè)置的顯示1400。如圖所示，顯示1400可以使用戶能夠配置所選的硬件資源800。用于繼續(xù)步進(jìn)執(zhí)行的手段(例如“CONTINUE(繼續(xù))”按鈕1402)可被設(shè)置在窗口1400內(nèi)、窗口700內(nèi)(如圖所示)，或“Execute(執(zhí)行)”按鈕406附近。
這里公開的方法100、200和裝置300在如下方面是有益的它們對ATE測試設(shè)置既提供了高級控制(例如經(jīng)由樹視圖302、測試模板選擇控制312和測試模板配置工具402)，也提供了低級控制(例如經(jīng)由測試模板硬件和示意性配置工具700)。此外，對高級和低級控制302、402、700的訪問可以通過單個GUI 300來提供。
權(quán)利要求
1.多個存儲了指令序列的機器可讀介質(zhì)，所述指令序列在被機器執(zhí)行時，致使所述機器執(zhí)行以下動作顯示自動測試設(shè)備測試模板選擇工具；在用戶從所述自動測試設(shè)備測試模板選擇工具中選出一個測試模板之后，顯示所述所選測試模板的缺省參數(shù)；以及向用戶提供對測試模板配置工具的訪問，所述測試模板配置工具使用戶能夠配置由所述測試模板指定的至少一個硬件資源。
2.如權(quán)利要求1所述的介質(zhì)，其中與所述測試模板相關(guān)聯(lián)的指定的硬件資源和缺省參數(shù)足以定義可執(zhí)行的測試。
3.如權(quán)利要求1所述的介質(zhì)，其中所述指令序列還致使所述機器使用戶能夠選擇和配置所顯示的缺省參數(shù)中的至少一個。
4.如權(quán)利要求1所述的介質(zhì)，其中在用戶選出所顯示的缺省參數(shù)中的一個之后，所述指令序列致使所述機器向用戶提供對參數(shù)列表編輯器的訪問。
5.如權(quán)利要求1所述的介質(zhì)，其中所述指令序列致使所述機器通過在選擇了所述測試模板后自動啟動所述測試模板配置工具來向用戶提供對所述測試模板配置工具的訪問。
6.如權(quán)利要求1所述的介質(zhì)，其中所述用戶對測試模板配置工具的訪問是經(jīng)由工具選擇機構(gòu)來提供的。
7.如權(quán)利要求1所述的介質(zhì)，其中所述測試模板配置工具提供指定的硬件資源及其連接的示意圖。
8.如權(quán)利要求7所述的介質(zhì)，其中所述示意圖包括可縮放的矢量圖形圖像。
9.如權(quán)利要求1所述的介質(zhì)，其中在步進(jìn)執(zhí)行由所選測試模板定義的測試之后，所述指令序列致使所述機器顯示至少一個硬件資源的設(shè)置。
10.如權(quán)利要求9所述的介質(zhì)，其中所述指令序列致使所述機器使用戶能夠配置其設(shè)置已被顯示的硬件資源。
11.如權(quán)利要求9所述的介質(zhì)，其中所述指令序列還致使所述機器使用戶能夠選擇其設(shè)置已被顯示的硬件資源。
12.如權(quán)利要求1所述的介質(zhì)，其中在用戶從所述測試模板配置工具選擇了硬件資源之后，所述工具顯示至少一個可替換的硬件資源，從所述至少一個可替換的硬件資源中可選出替換硬件資源。
13.如權(quán)利要求1所述的介質(zhì)，其中在用戶從所述測試模板配置工具選擇了硬件資源之后，所述工具提供對所述硬件資源的可配置的設(shè)置的訪問。
14.如權(quán)利要求1所述的介質(zhì)，其中所述指令序列還致使所述機器顯示執(zhí)行模式選擇器，該執(zhí)行模式選擇器使用戶選擇所選測試模板的執(zhí)行模式。
15.如權(quán)利要求14所述的介質(zhì)，其中在用戶從所述執(zhí)行模式選擇器中選出繪圖模式之后，并且在執(zhí)行由所述所選測試模板定義的測試之后，所述指令序列致使所述機器顯示所述被顯示的缺省參數(shù)的執(zhí)行結(jié)果的圖表。
16.如權(quán)利要求15所述的介質(zhì)，其中所述指令序列還致使所述機器向用戶提供對圖表下載功能的訪問。
17.如權(quán)利要求14所述的介質(zhì)，其中在用戶從所述執(zhí)行模式選擇器中選出繪圖模式之后，并且在執(zhí)行由所述所選測試模板定義的測試之后，所述指令序列致使所述機器執(zhí)行以下動作顯示圖表配置工具；以及在用戶確認(rèn)了圖表配置之后，顯示所述被顯示的缺省參數(shù)的執(zhí)行結(jié)果的圖表。
18.多個存儲了指令序列的機器可讀介質(zhì)，所述指令序列在被機器執(zhí)行時，致使所述機器執(zhí)行以下動作顯示測試模板配置工具，該工具使用戶能夠配置由自動測試設(shè)備測試模板指定的至少一個硬件資源；以及在用戶使用所述工具選出所述硬件資源中的一個之后，使所述用戶能夠配置所選的硬件資源。
19.如權(quán)利要求18所述的介質(zhì)，其中所述測試模板配置工具提供了指定的硬件資源及其連接的示意圖。
20.如權(quán)利要求19所述的介質(zhì)，其中所述示意圖包括可縮放的矢量圖形圖像。
21.如權(quán)利要求19所述的介質(zhì)，其中在步進(jìn)執(zhí)行由所選測試模板定義的測試之后，所述指令序列致使所述機器顯示至少一個硬件資源的設(shè)置。
22.如權(quán)利要求21所述的介質(zhì)，其中所述指令序列致使所述機器使用戶能夠配置其設(shè)置已被顯示的硬件資源。
23.如權(quán)利要求21所述的介質(zhì)，其中所述指令序列還致使所述機器使用戶能夠選擇其設(shè)置已被顯示的硬件資源。
24.如權(quán)利要求18所述的介質(zhì)，其中所述測試模板配置工具提供指定的硬件及其連接的列表。
25.如權(quán)利要求18所述的介質(zhì)，其中在用戶從所述測試模板配置工具選擇了硬件資源之后，所述工具顯示至少一個可替換的硬件資源，從所述至少一個可替換的硬件資源中可選出替換硬件資源。
26.如權(quán)利要求18所述的介質(zhì)，其中在用戶從所述測試模板配置工具選擇了硬件資源之后，所述工具提供對所述硬件資源的可配置的設(shè)置的訪問。
27.如權(quán)利要求26所述的介質(zhì)，其中在用戶訪問了所述可配置的設(shè)置之后，所述測試模板配置工具顯示所選的硬件資源的組件的示意圖。
28.如權(quán)利要求27所述的介質(zhì)，其中所述所選的硬件資源的組件的示意圖與針對所述示意圖的不同組件的設(shè)置的表一起被顯示。
29.如權(quán)利要求27所述的介質(zhì)，其中在用戶訪問了所述可配置的設(shè)置之后，所述測試模板配置工具使用戶能夠選擇用于操作所述所選硬件資源的程序代碼。
30.如權(quán)利要求18所述的介質(zhì)，其中在用戶從所述測試模板配置工具中選擇了一個硬件資源之后，所述工具提供i)對至少一個可替換的硬件資源的單鼠標(biāo)點擊訪問，其中從所述至少一個可替換的硬件資源中可選出替換硬件資源，以及ii)對所述硬件資源的可配置的設(shè)置的雙鼠標(biāo)點擊訪問。
全文摘要
在一個實施例中，指令的執(zhí)行致使機器1)顯示自動測試設(shè)備(ATE)測試模板選擇工具；2)在用戶從ATE測試模板選擇工具中選出一個測試模板之后，顯示所選測試模板的缺省參數(shù)；以及3)向用戶提供對測試模板配置工具的訪問，所述測試模板配置工具使用戶能夠配置由測試模板指定的至少一個硬件資源。在另一實施例中，指令的執(zhí)行致使機器A)顯示使用戶能夠配置由ATE測試模板指定的至少一個硬件資源的工具；以及B)在用戶使用所述工具選出一個硬件資源之后，使用戶能夠配置所選的硬件資源。
文檔編號G01R31/28GK1892238SQ20061008062
公開日2007年1月10日 申請日期2006年5月23日 優(yōu)先權(quán)日2005年6月29日
發(fā)明者周正容, 阿施史·德賽, 杰森·L·史密斯 申請人:安捷倫科技有限公司